CN1811991A - 一种nand闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其是由一主机板、一转接板及在PC上的应用程序所构成。其中主机板为内嵌式系统,所有测试、修复、烧录及分析的软件皆包含其中;而转接板系针对不同包装的NAND闸闪存如TSOP、WSOP、BGA、Smart Media TM等包装做一转接板,并与主机板连接,使本工具更具弹性可支持所有的NAND闸闪存;另,在PC上的应用程序是用以连接计算机与主机板,其功能为操纵主机板使其达到想完成的功能。经此达到可在同一装置上对封装完成的NAND闸快闪忆体进行测试、修复、烧录及分析的功能,以快速测试出良品及不良品,并进而达到对可修复的不良品进行修复。
Description
技术领域:
本发明涉及一种对NAND闸闪存测试的装置,尤指一种能具有测试、修复、烧录及分析NAND闸闪存的装置。
背景技术:
闪存(flash memory)为非挥发性内存,即使在电源切断后其内部所储存的数据仍能保存,不同于DRAM或SRAM。且闪存不需一个特别的电池来保存储存的数据。同时,闪存不会占据大的空间,在使用时也不会消耗大量的电力。并且,它能快速的写入程序。由于这些优点,闪存被广泛的使用在不同的仪器中,例如相机、电子游戏机、小型计算机、工作站及记忆卡。
在闪存中有两种型式,一种为NOR式,另一为NAND式,其是依据内存进入的方式而分类。其中NAND闸闪存经其中一个输入/输出总线而传送指令、地址及数据,并经由此输入/输出总线(BUS)而使用一个特定的控制讯号分辨被传送的数据。
NAND闸闪存(NAND flash)的应用日益广泛,特别像是数字相机、行动电话等需要大量的内存来储存数据的厂商,更是重要。这些厂商一方面享受着NAND闸闪存所带来的高容量低价格的好处,然而另一方面又必须面临NAND闸闪存不易操控及不良率常意外的偏高的困境。
发明内容:
本发明所要解决的技术问题是:针对现有技术的不足,提供一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,一种全新的NANDflash的测试工具,其将测试、修复、烧录及分析功能同时以一四合一装置来完成,而该装置具一主机板以及一针对不同IC封装的转接板,利用内嵌于主机板的软件配合PC上的操作接口来进行测试,以达到快速测试出良品及不良品的效果。
为了解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案是:此装置包括:一主机板,内具有内嵌式系统,包含所有测试、修复、烧录及分析的软件,以及一个USB接口(通用序列汇排流)、一个UART接口(通用异步收发传输器);
一转接板,针对不同包装的NAND闸闪存包装做一转接板,而可与上述主机板连接,并可支持所有的NAND闸闪存;
以及运用程序,内存于一个人计算机,可连接该计算机与主机板,该应用程序的功能为操纵主机板,使其达到所述主机板内嵌软件的功能。
藉由上述各组件的连结,将NAND闸闪存放置于转接板上,并连接至主机板;开启上述计算机电源后执行开机程序,主机板内的所有测试、修复、烧录及分析的软件加载,做为可执行的程序;透过计算机上操作程序,经由UART接口,可执行测试/修复/分析的功能;透过USB接口执行烧录功能。
所述主机板进一步包括一SDRAM内存、一微处理机及一NOR闸闪存。所述主机板的软件储存于NOR闸闪存,开机后,微处理机将NOR闸闪存的程序加载SDRAM内存,做为可执行的程序。所述转接板是由一个印刷电板加上一活动式IC连接器构成。
所述主机板的测试流程为,待测的内存经转接板而与主机板连接时,主机板可以自动或手动侦测内存是否可以修复;如果可以读到内存的manufacture ID(产品制造代码)及device ID(组件代码)则表示可以修复,反之不行。所述主机板的测试流程进一步提供查看坏区块功能。所述主机板的测试流程进一步提供检查常为high位(高电压位)功能,可以检查出NAND闸闪存中,经过擦拭后其值为”1”但却是损坏的位;其方法为擦试后,将”0”写入整个NAND闸闪存,然后检查NAND闸闪存是否有”1”的位存在,如果存在则将此区块标示为坏区块。所述主机板的测试流程进一步提供手动标记坏区块功能。所述主机板的测试流程进一步计算坏区块的数量。
所述主机板的修复程序,是将待测NAND闸闪存(Smart MediaTM封装)连接主机板,经执行测试程序,如为不正常,则为无法修复;如为正常,则检查内存大小,超过64M字节,则写入FAT 16(16位的档案配置表)目录;未超过则写入FAT 12(12位的档案配置表)目录;如此,完成修复。所述主机板的修复程序中,对于那些可以读到ID的NAND闸闪存,提供最佳化NAND闸闪存功能,可以将NAND闸闪存修复至最佳状态;其方法为先擦拭区块,然后检查区块内所有字节,如果存在一个以上的字节,其值非,则将此区块标示为坏区块,反之将此区块标示为好区块,不论初始设定为何。
所述主机板的烧录程序,先将待烧录的NAND闸闪存连接主机板,再侦测NAND闸闪存的ID而判断结构型态,并透过USB接口将欲烧录的程序下载至主机板的微处理机的缓冲区域;判断烧录型态是否为Bootloader(开机执行程序)加欲执行的主程序,如果为是,则缓冲区域地址加一个区块大小的偏移量,并下载主程序至新的RAM缓冲区地址,然后直接选定烧录型态,执行烧录;如果为否,则直接选定烧录型态,执行烧录。所述主机板的烧录支持两种接口做为下载欲被烧录的程序或数据用,一为UART,另一个为USB界面。
所述主机板的分析程序具有区块数据型态的分析,先将待测NAND闸闪存连接至主机板,侦测NAND闸闪存的ID并选定数据结构;再扫描区块,并判断区块内所有位是否皆为「1」;如果为是,则记录成未使用的区块;如果为否,则记录成有数据的区块;重复此动作至最后区块,并显示出两种数据型态的所有区块编号。所述主机板的分析程序具有区块中页面数据型态的分析;先输入区块编号,并扫描页面;判断页面内所有位是否全为0或全为1;如果全为0,则记录成系统宣告但未使用的空白区;如果全为1,则记录成未使用的页面;如果皆非,则记录成数据存在的页面;重复至最后页面,并显示三种型态数据的所有页面编号。
所述主机板的分析程序具有无法动作的NAND闸闪存分析方法,此分析方法是采用比较法,先将无法工作的NAND闸闪存内的数据读出,然后将客户所烧录的程序烧录至另一片好的且型号相同的NAND闸闪存上;再将它的内容读出;如果两个NAND闸闪存的第一笔数据和最后一笔数据的内容和地址相同,则表示为待测的NAND闸闪存为好的;如果比较出第一笔数据内容不同,那表示烧录不成功,即客户的烧录工具有问题;如果第一笔数据相同但最后一笔资出现的地址不同,则表示客户的烧录方式错误。所述主机板的分析程序分析的方法包括搜寻有用的区块,验证每一个区块,检查区块内所有的字节是否存在非「0×ff」的值。如果存在则表示此区块被使用过,为有用的区块。
所述主机板的分析程序分析的方法包括搜寻有用的页面,扫描区块内所有的页面,并依内部存在的数据将为规类为全为”1”的页面、全为”0”的页面及有用的页面。所述主机板的分析程序分析的方法包括打印所有页面的备用区域,将区块内所有页面的备用区域全部显示出来。所述主机板的分析程序分析的方法包括倾倒任一页面内容,显示NAND闸闪存中所有页面以及备用区域内的数据,以十六进制机器码显示。
所述软件是具有防盗拷功能且具有时效性的,其是运用主机板的微处理机产生及时的时钟,并设定好时间使其与使用当地标准时间同步,并在主机板的软件上设定好可使用的期限。
与现有技术相比,本发明的优点是:
1、此装置充分满足了人们强烈的需求,对于从生产在线所取下的不良品,经此装置可测试并判断其是否可以修复,如果可以修复,可将其修复至最佳状态、使其良率提高,降低成本。
2、此装置亦可以当做烧录器使用,透过USB界面可快速下载所需要烧录的程序,缩短庞大程序烧录的时间,提升生产效率。
3、此装置具有强大的分析能力,这对于研发工程师而言是个很好的利器,可以有效的找出问题缩短开发时程,并可增进研发人员对NAND闸闪存的了解。
为使审查员对本发明能进一步的了解,以下,将依据图面所示的实施例而详加说明本发明的结构特征、操作方法及功效,兹举一较佳实施例,配合图式、图号,将本发明的构成内容及其所达成的功效详细说明如后:
附图说明:
图1是本发明的硬件测试境示图。
图2是本发明的系统构架图。
图3是本发明的NAND闸闪存测试流程图。
图4是本发明的NAND闸闪存修复程序图。
图5是本发明的NAND闸闪存烧录程序图。
图6是本发明的NAND闸闪存中区块数据型态的分析程序图。
图7是本发明的NAND闸闪存区块中页面数据型态的分析图。
图8是本发明的无法动作的NAND闸闪存分析方法。
图9是本发明的软件防拷及客户租赁期限控制硬件说明图。
图号说明:
10……主机板
11……SDRAM内存
12……微处理机
13……NOR闸闪存
14……USB界面14
15……UART界面
16……所有测试、修复、烧录及分析的软件
20……转接板
30……个人计算机
具体实施方式:
请参见图1,本发明主要是由三个部分组构而成:一主机板10、一转接板20及一个人计算机30。
在主机板10内具有内嵌式系统,所有测试、修复、烧录及分析的软件16以及一个USB接口14(USB通用序列汇排流)、一个UART接口15(通用异步收发传输器)。主机板测试装设固定不定的部分,型号为MCP2410,产地台湾。
转接板20为针对不同包装的NAND闸闪存,如TSOP、WSOP、BGA、Smart MediaTM等,(转接板依待测flash的包装而定,不同的包装有不同的转接板,如产地台湾,型号为T48NF2D的转接板,)包装做一转接板与主机板连接,使本发明的装置更具弹性,可支持所有的NAND闸闪存。而转接板20是由一个印刷电板加上一活动式IC连接器而构成。
个人计算机30内存有应用程序,可连接计算机30与主机板10,该应用程序的功能为操纵主机板10,使其达到想完成的功能。
针对主机板10的测试、修复、烧录及分析软件的四项功能做以下说明:
一、测试:
请参阅图3所示的测试流程图,当待测的内存经转接板20而与主机板10连接时,主机板10可以自动或手动侦测内存是否可以修复;如果可以读到内存的manufacture ID(产品制造代码)及device ID(组件代码)则表示可以修复,反之不行。其中Manufacture ID由vendor ID(制造厂商代码)和device ID(组件代码)组成:0×VVDD,VV为vendor ID,DD为Device ID。而图3中″0×ec″代表Samsung公司,此为本发明之一例,但不以此为限制。
本发明的测试软件中提供一项功能「查看坏区块(view badblocks)」,可以观察目前存在于NAND闸闪存中所有坏区块(bad block)的位置。另一项功能「检查,常为high位(高电压位)」,可以检查出NAND闸闪存中,经过擦拭(erase)后其值为”1”但确是损坏的位;其方法为擦试后,将”0”写入整个NAND闸闪存,然后检查NAND闸闪存是否有”1”的位存在,如果存在则将此区块标示为坏区块(badblock)。另还有一项功能「手动标记坏区块(Mark bad blockmanually)」,可将一些有疑问但不能确定的区块(block)标示为坏区块(bad block)。计算坏区块的数量,如超过最大坏区块限制(由NANDflash制造商订定)则被认定为不良品;未超过则为正常品。
二、修复:
请参见图4所示的修复程序,将待测NAND闸闪存连接主机板,经执行测试程序,如果NAND flash接口损坏,则为无法修复;如为正常,则检查内存大小,超过64M字节(Bytes),则写入FAT 16(16位的档案配置表)目录;未超过则写入FAT 12(12位的档案配置表)目录;如此,则完成修复。
有些NAND闸闪存封装成记忆卡的模式(Smart Media(TM)),就如同PC上的软式磁盘驱动器(floppy disk),必须要给予内存FAT(档案分配目录File Allocated Table)后PC才能看得懂。如果内存小于64M字节(Bytes)就使用FAT 12(用12bit来表示档案的地址),超过64M字节(Bytes)就必须使用FAT 16,因为12bits无法表示64M字节(Bytes)的范围。
对于那些可以读到ID的NAND闸闪存,提供一项功能「最佳化NAND闸闪存(NAND flash optimum)」,可以将NAND闸闪存修复至最佳状态。其方法为先擦拭区块(erase block),然后检查区块(block)内所有字节(byte),如果存在一个以上的字节(byte),其值非「0×ff」,则将此区块(block)标示为坏区块(bad block),反之将此区块(block)标示为好区块(good block),不论初始如何设定。
如果字节(byte)为Smart MediaTM包装,则须执行另一项功能「写入Smart MediaTM FAT格式(Write SmartMediaTM FAT format)」,完成后始可让一般的卡片阅读机存取。
在每个NAND闸闪存的区块(block)中有一个特定的字节(byte)用来表示此区块(block)是否为坏区块(bad block),只要此字节(byte)不等于「0×ff」就是坏区块(bad block),「0×ff」表示好的好区块(goodblock)。
三、烧录:
请参阅图5所示的烧录程序,先将待烧录的NAND闸闪存连接主机板10,再侦测NAND闸闪存的ID而判断结构型态,并透过USB接口将欲烧录的程序下载至主机板的微处理机的缓冲区域;判断烧录型态是否为Boot loader(开机执行程序)加欲执行的主程序(image),如果为是,则缓冲区域地址加一个区块大小的偏移量,并下载主程序(image)至新的RAM缓冲区地址,然后直接选定烧录型态,执行烧录;如果为否,则直接选定烧录型态,执行烧录。
本发明所提供的装置支持两种接口做为下载欲被烧录的程序或数据用,一为UART、另一个为USB界面。UART下载速率为115200bps,USB接口则支持USB specification1.1。
使用者可以把在个人计算机30上的程序或数据透过USB接口快速的下载到主机板10上,主机板再将所下载的程序或数据写入到NAND闸闪存。
四、分析:
本发明的分析程序可参见图6所示区块数据型态的分析,图7所示区块(block)中页面(page)数据型态的分析,以及图8所示无法动作的NAND闸闪存分析方法。
参见图6所示区块数据型态的分析,先将待测NAND闸闪存连接至主机板10,侦测NAND闸闪存的ID并选定数据结构;再扫描区块(block),并判断区块(block)内所有位是否皆为「1」;如果为是,则记录成未使用的区块(block);如果为否,则记录成有数据的区块(block);重复此动作至最后区块,并显示出两种数据型态的所有区块编号。经此方便分析者检视。
参见图7所示区块(block)中页面(page)数据型态的分析;先输入区块编号(blockn umber),并扫描页面(page);判断页面(page)内所有位是否全为0或全为1;如果全为0,则记录成系统宣告但未使用的空白区;如果全为1,则记录成未使用的页面(page);如果皆非,则记录成数据存在的页面(page);重复至最后页面(page),并显示三种型态数据的所有页面编号(page number),方便分析者检视。
参见图8所示无法动作的NAND闸闪存分析方法,此分析方法是采用比较法。先用本发明装置将无法工作的NAND闸闪存内的数据读出,然后将客户所烧录的程序利用本发明装置烧录至另一片好的且型号相同的NAND闸闪存上;再将它的内容读出。如果两片都是好的,那幺两个NAND闸闪存的第一笔数据和最后一笔数据的内容和地址应该一样。因此,如果比较出第一笔数据(block 0,page 0)内容不同,那表示烧录不成功,即客户的烧录工具有问题。如果第一笔数据相同但最后一笔资出现的地址不同,则表示客户的烧录方式错误。因NAND闸闪存有三种不同的资料架构:
a.1b lock=16pages,1page=512Bytes,spare page=16Byte,
b.1b lock=32pages,1page=512Bytes,spare page=16Byte,
c.1b lock=64pages,1page=2048Bytes,spare page=64Byte)
客户常因对构架不熟及没有对坏区块(bad block)采取回避的措施而出错。
烧录过的内存常发生无法开机或无法执行的问题,由上述的分析程序可知本发明装置提供了强大的分析功能,分析的方法如下:
1)搜寻有用的区块(Find valid blocks):验证每一个block,检查区块内所有的字节(Byte)是否存在非「0×ff」的值。如果存在则表示此区块被使用过,为有用的区块。
2)搜寻有用的页面page(Find valid pages):区块的验证速度快但不够精确,且某些情况下「0×00」并非有用的数据,而是代表某些数据格式的空白或备用区域,因此本项功能将扫描区块(block)内所有的页面(page),并依内部存在的数据将为规类为全为”1”的页面(page)、全为”0”的页面(page)及有用的页面(page)。
3)打印所有页面的备用区域(Print all pages’spare area):备用区域(Spare area)在NAND闸闪存中有其特殊的用途,一般而言都是储存重要的信息如坏区块(bad block)的标示、ECC错误更正码的储存、logical block(逻辑区块位置)的指示等等。本功能会将区块内所有页面的备用区域全部显示出来,方便了解整个NAND闸闪存分布的情形。
4)倾倒出任一页面内资料(Dump any page):显示NAND闸闪存中所有页面以及备用区域内的数据,以十六进制机器码显示,此功能可以检查出任意位置的数据是否正确。
透过上面四项功能的运用,可以使从事开发的人员很快的找出问题的所在,缩短开发的时程。
请参阅图2所示的本发明系统构架图,其中主机板10具有一SDRAM内存11、一ARM9微处理机12及一NOR闸闪存13。当计算机30开启电源后执行开机程序(boot),此时微处理机12将NOR闸闪存13的程序加载SDRAM内存11,做为可执行的程序。参考图中箭头线L1。
透过计算机30上的操作程序,可以执行测试/修复/分析的功能。其经由UART接口15完成操作。参考图中箭头线L2。
如果执行烧录功能,则需要透过USB接口14执行,计算机30上的程序或数据透过USB接口14快速的下载到主机板10微处理机12的缓冲区域上,再将所下载的程序或数据写入到NAND闸闪存。参考图中箭头线L3。
另外,本发明装置中的软件是可具有防盗拷功能且具有时效性的,参见图9所示的软件防拷及客户租赁期限控制硬件说明图,其是运用主机板10的微处理机12产生及时的时钟(real time clock),并设定好时间使其与台北标准时间同步,并在主机板的软件上设定好可使用的期限,如此一来软件是有时效性的,逾期将使本发明装置无法工作,除非经过原厂提供更新的程序才可继续使用,这对于租用客户的管理是绝对有效的方法。即使想要盗拷产品的软件及硬件也因其具有时效性而没有意义。
综上所述,本发明一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,为一种NAND闸闪存的测试/修复/烧录/分析四合一的装置,且可具以衍生的运用范围广泛,另因功能齐备,故倍增生产效率亦可兼顾生产成本,并在使用者的购买费用上可大幅降低,适于大量生产,实具产业利用价值,诚符合发明专利申请要件的产业利用性,并且,本发明一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置又与最接近的先前技艺(The closest prior art)相较之下,明显具有相当大的进步跨距(Inventive Step),诚符合发明专利申请要件的进步性。
Claims (21)
1、一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其包括:一主机板,内具有内嵌式系统,包含所有测试、修复、烧录及分析的软件,以及一个USB接口(通用序列汇排流)、一个UART接口(通用异步收发传输器);
一转接板,针对不同包装的NAND闸闪存包装做一转接板,而可与上述主机板连接,并可支持所有的NAND闸闪存;
以及运用程序,内存于一个人计算机,可连接该计算机与主机板,该应用程序的功能为操纵主机板,使其达到所述主机板内嵌软件的功能。
藉由上述各组件的连结,将NAND闸闪存放置于转接板上,并连接至主机板;开启上述计算机电源后执行开机程序,主机板内的所有测试、修复、烧录及分析的软件加载,做为可执行的程序;透过计算机上操作程序,经由UART接口,可执行测试/修复/分析的功能;透过USB接口执行烧录功能。
2、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板进一步包括一SDRAM内存、一微处理机及一NOR闸闪存。
3、如权利要求2所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的软件储存于NOR闸闪存,开机后,微处理机将NOR闸闪存的程序加载SDRAM内存,做为可执行的程序。
4、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述转接板是由一个印刷电板加上一活动式IC连接器构成。
5、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的测试流程为,待测的内存经转接板而与主机板连接时,主机板可以自动或手动侦测内存是否可以修复;如果可以读到内存的manufacture ID(产品制造代码)及device ID(组件代码)则表示可以修复,反之不行。
6、如权利要求5所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的测试流程进一步提供查看坏区块功能。
7、如权利要求6所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的测试流程进一步提供检查常为high位(高电压位)功能,可以检查出NAND闸闪存中,经过擦拭后其值为”1”但却是损坏的位;其方法为擦试后,将”0”写入整个NAND闸闪存,然后检查NAND闸闪存是否有”1”的位存在,如果存在则将此区块标示为坏区块。
8、如权利要求7所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的测试流程进一步提供手动标记坏区块功能。
9、如权利要求7所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的测试流程进一步计算坏区块的数量。
10、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的修复程序,是将待测NAND闸闪存(SmartMediaTM封装)连接主机板,经执行测试程序,如为不正常,则为无法修复;如为正常,则检查内存大小,超过64M字节,则写入FAT 16(16位的档案配置表)目录;未超过则写入FAT 12(12位的档案配置表)目录;如此,完成修复。
11、如权利要求10所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的修复程序中,对于那些可以读到ID的NAND闸闪存,提供最佳化NAND闸闪存功能,可以将NAND闸闪存修复至最佳状态;其方法为先擦拭区块,然后检查区块内所有字节,如果存在一个以上的字节,其值非,则将此区块标示为坏区块,反之将此区块标示为好区块,不论初始设定为何。
12、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的烧录程序,先将待烧录的NAND闸闪存连接主机板,再侦测NAND闸闪存的ID而判断结构型态,并透过USB接口将欲烧录的程序下载至主机板的微处理机的缓冲区域;判断烧录型态是否为Boot loader(开机执行程序)加欲执行的主程序,如果为是,则缓冲区域地址加一个区块大小的偏移量,并下载主程序至新的RAM缓冲区地址,然后直接选定烧录型态,执行烧录;如果为否,则直接选定烧录型态,执行烧录。
13、如权利要求12所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的烧录支持两种接口做为下载欲被烧录的程序或数据用,一为UART,另一个为USB界面。
14、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的分析程序具有区块数据型态的分析,先将待测NAND闸闪存连接至主机板,侦测NAND闸闪存的ID并选定数据结构;再扫描区块,并判断区块内所有位是否皆为「1」;如果为是,则记录成未使用的区块;如果为否,则记录成有数据的区块;重复此动作至最后区块,并显示出两种数据型态的所有区块编号。
15、如权利要求14所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的分析程序具有区块中页面数据型态的分析;先输入区块编号,并扫描页面;判断页面内所有位是否全为0或全为1;如果全为0,则记录成系统宣告但未使用的空白区;如果全为1,则记录成未使用的页面;如果皆非,则记录成数据存在的页面;重复至最后页面,并显示三种型态数据的所有页面编号。
16、如权利要求15所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的分析程序具有无法动作的NAND闸闪存分析方法,此分析方法是采用比较法,先将无法工作的NAND闸闪存内的数据读出,然后将客户所烧录的程序烧录至另一片好的且型号相同的NAND闸闪存上;再将它的内容读出;如果两个NAND闸闪存的第一笔数据和最后一笔数据的内容和地址相同,则表示为待测的NAND闸闪存为好的;如果比较出第一笔数据内容不同,那表示烧录不成功,即客户的烧录工具有问题;如果第一笔数据相同但最后一笔资出现的地址不同,则表示客户的烧录方式错误。
17、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的分析程序分析的方法包括搜寻有用的区块,验证每一个区块,检查区块内所有的字节是否存在非「0xff」的值。如果存在则表示此区块被使用过,为有用的区块。
18、如权利要求17所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的分析程序分析的方法包括搜寻有用的页面,扫描区块内所有的页面,并依内部存在的数据将为规类为全为”1”的页面、全为”0”的页面及有用的页面。
19、如权利要求18所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的分析程序分析的方法包括打印所有页面的备用区域,将区块内所有页面的备用区域全部显示出来。
20、如权利要求19所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述主机板的分析程序分析的方法包括倾倒任一页面内容,显示NAND闸闪存中所有页面以及备用区域内的数据,以十六进制机器码显示。
21、如权利要求1所述的一种NAND闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置,其特征在于:所述软件是具有防盗拷功能且具有时效性的,其是运用主机板的微处理机产生及时的时钟,并设定好时间使其与使用当地标准时间同步,并在主机板的软件上设定好可使用的期限。
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CN 200510004920 Pending CN1811991A (zh) | 2005-01-28 | 2005-01-28 | 一种nand闸闪存测试/修复/烧录/分析四合一装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN1811991A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101794624A (zh) * | 2009-02-01 | 2010-08-04 | 金士顿科技(上海)有限公司 | 个人计算机母板串行寻址存储器模块故障诊断 |
CN101740137B (zh) * | 2008-11-06 | 2012-08-22 | 奇岩电子股份有限公司 | 存储器的测试方法 |
-
2005
- 2005-01-28 CN CN 200510004920 patent/CN1811991A/zh active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN101740137B (zh) * | 2008-11-06 | 2012-08-22 | 奇岩电子股份有限公司 | 存储器的测试方法 |
CN101794624A (zh) * | 2009-02-01 | 2010-08-04 | 金士顿科技(上海)有限公司 | 个人计算机母板串行寻址存储器模块故障诊断 |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |