CN101051434A - 一种用于平板显示产品edid抄写及测试的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明是一种用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法,该方法是利用计算机外接MCU,MCU再通过一些基本的控制电路及接口连接EDID,由MCU直接控制EDID的数据读写及检测,该方法包括启动步骤、写入数据步骤及检测数据步骤,计算机根据检测结果判断写入是否正确,如果发生错误,则重新执行写入操作。本发明具有成本低廉、高效率、易操作、稳定性好、易扩展的优点。

Description

一种用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法
技术领域
本发明涉及一种EDID抄写及测试系方法,该方法主要应用于平板显示产品的制造流程对EDID准确、可靠、快速地写入及检测。
背景技术
平板显示产品中普遍用到的一种技术叫做DDC,即Display Data Channel(显示数据通道),通过DDC,可以实现产品的即插即用,还可以扩展显示产品的很多功能,实现产品的兼容。DDC传输的数据称为EDID(Extended DisplayIdentification Data扩展显示器识别数据)。EDID中包含了产品支持的分辨率、场频、颜色深度、制造商等信息。
在平板显示产品的制造过程中需要抄写及检测EDID,存储EDID的是一片由I2C总线控制的E2PROM(带电可插除可编程存储器),传统的方法是预先烧入二进制文件到E2PROM中,然后通过电脑的显卡和产品通信得到EDID信息,在电脑的硬件属性中查看。这种检测方法效率低,成本高,稳定性差,对故障机的修理也很麻烦,需要拆开产品外壳,拆下E2PROM重新烧写,增加了工作量。传统的方式需要装有DVI显卡的PC,每天经受几百次的热插拔,一般的DVI显卡的寿命都只有三个月,需要经常更换新显卡,每块DVI显卡的价钱都在1000元以上,造成了大量的浪费及高额的烧制成本;而且传统方式需要专门人员预先烧入EDID到E2PROM中,在SKD工序和FA工序都需要人员进行检测,不良品修理需要拆下E2PROM,重新烧录,再重新检测,浪费了大量的人力
因此,设计高性能的EDID抄写及检测方法是很有必要的。
发明内容
本发明的目的是提供一套高效率、低成本、高可靠性的平板显示产品EDID抄写及测试方法,该方法还可进行及时地检测抄写是否准确,应用于平板显示产品制造流程中。
本发明的另一个目的是突破将传统的抄写方式,将写入及检测结合起来创造新式的写入及检测方法,保证写入数据的准确、可靠。
本发明的再一个目的是提供一种平板显示产品EDID抄写及测试方法,该方法结合计算机的使用,不仅能够准确地写入数据,在写入的同时通过双重校验实现写入的准确可靠,且利用计算机实现快速及时地进行写入数据的检测,保证了写入数据的准确性。
本发明思想是利用计算机通过产品的外部接口(目前包括VGA,DVI,HDMI接口)和内部E2PROM进行通信,实现EDID的抄写、读取、检测,同时可以进行各个接口的信源检查。
一种用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法,该方法是利用计算机控制单片机,单片机连接产品的外部接口,对产品的E2PROM中的EDID进行读写及检测,其特征在于该方法包括如下步骤:
a、启动系统,检测计算机、单片机及外部接口是否安全连接,计算机与单片机开始通讯;
b、在计算机上导入EDID源文件到缓存区,
c、在软件界面上点击不同的按钮,选择“抄写”时,计算机和单片机进行“握手”,然后计算机发送数据到单片机,再由单片机写入到产品的E2PROM中;
d、选择“校验”时,计算机和单片机进行“握手”,然后单片机发送数据到计算机,计算机接收完所有的数据后通过比较CHECKSUM和产品的型号来判断校验是否正确。
上述的数据的检测,可在写入时同时进行,也可写入完毕后再进行检测。计算机和单片机之间通过RS232接口进行串口通信。
并且使用单片机模拟I2C器件,和产品内部E2PROM进行I2C通信。
所述的对于已经写入数据的EDID,不需要步骤b,只进行步骤a和c即可。
写入EDID时,MCU会接收从PC发出的每一字节数据,然后每字节写到E2PROM中;读出EDID时,则是相反的过程,按字节读出E2PROM中的数据,然后按字节发送到PC端。
计算机和单片机在接收数据后都发出应答信号,且当接收到正确的应答信号后才开始发送数据。即读操作时,由PC先发送控制指令,通知MCU准备发送,MCU接收到后返回一个应答信号,表示MCU已准备好发送数据,PC接收到以后发送应答信号,表示PC准备好接收数据。MCU接收到应答信号后开始发送数据,发送完一个字节后会等待应答信号;PC每接收到一个字节,会返回一个应答信号,MCU接收到应答信号,再发送下一字节,直到整个数据发送完毕。
写操作时,由PC先发送控制指令,通知MCU准备接收,MCU接收到后返回一个应答信号,表示MCU已准备好接收数据,PC接收到应答信号后开始发送第一字节,并等待应答信号;MCU每接收到一个字节后,返回一个应答信号,PC接收后再发送下一字节,直到数据发送完毕。
上述的检测步骤中,MCU向计算机发送的数据加入校验信息,即检测步骤中具有校验过程,以核实数据的准确可靠性。
上述的校验过程采取了CHECKSUM校验和产品型号双重校验的算法,即单片机从产品中读取所有数据,计算其CHECKSUM,同时获取产品的型号信息,和CHECKSUM一起发送到计算机端,和计算机端由原始文件生成的CHECKSUM及产品型号比较,只有两者都与原始文件相符,才判为校验正确。
本发明具有成本低廉、高效率、易操作、稳定性好、易扩展的优点。
设备成本方面,传统的方式需要装有DVI显卡的PC,每天经受几百次的热插拔,一般的DVI显卡的寿命都只有三个月。需要经常更换新显卡,每块DVI显卡的价钱都在1000元以上,造成了大量的浪费。而现在的系统只需要一片MCU、一片电平转换IC,和一些电阻电容,再加上一台普通的PC即可,每年可节省显卡的费用在10000元以上。
人力方面,传统的方式需要专门人员预先烧入EDID到E2PROM中,在SKD工序和FA工序都需要人员进行检测,不良品修理需要拆下E2PROM,重新烧录,再重新检测,浪费了大量的人力;使用本系统,只需在FA工序配置一人即可完成所有的工作。
效率及稳定性方面,传统的方式检测两次EDID需要时间是15秒,且由于电脑及显卡的稳定性问题,很多时候需要检测多次才能成功,甚至需要更换电脑,造成堵线;本系统经过测试,抄写和检测三次EDID总共只需要8秒钟,软件系统中有严格的通信协议,可以防止传输过程中数据丢失,还有错误处理程序,防止误操作导致电脑死机,稳定性能好。
检测的准确性方面,以前的检测方法只能检测到产品的名称,现在的系统同时检测产品名称和所有数据的CHECKSUM,双重校验更加准确,保证EDID的完整无误。
系统维护及扩充方面,传统的方式所用的电脑及显卡需专门人员进行定期维护,重装驱动程序或重装操作系统;本系统硬件系统很简单,制作完成后基本上无需再更改,当有新产品出现时,只需编写相应的硬件配置文件,导入系统对系统进行配置即可。
附图1为本发明应用的系统硬件框架图
信号源中VGA信号可利用PC发出的信号,加上一个信号分配器即可,一路接到PC的显示器中,另一路接到信号转接板上,转接后输入到产品的VGA接口中。由于DVI信号和HDMI信号只是接口封装形式不同,DVI信号发生器发出的信号可以同时作为DVI信号和HDMI信号,故只需一台DVI信号发生器即可,从一个端口输入,转接成两个端口分别输入到产品的DVI和HDMI中。
附图2、3、4、5为信号转接板线路图,信号转接板上包括MCU,电平转换器件,DB9串行接口,还有VGA,DVI,HDMI的信号转接接口。MCU用的是AT89C52,电平转换器件用的是MAX232。
信号转接板上待检测产品各个接口中的信号线是和各自的信号发生器相通的,而I2C总线是和MCU相通的,信号线和I2C总线分开使用,达到检测信源和对EDID操作同时进行的目的。
由于产品上存储EDID所用的E2PROM不同,其写保护脚的定义不同,当写入数据时必须去掉E2PROM的写保护,比如目前有些产品的VGA接口存储EDID的E2PROM是24c21,要求写保护脚接高电平才可写入数据,而经过测量,产品工作时该引脚电压仅为1.5V左右,是不可能写入的,只有想办法从外部给写保护脚供电。
附图3中VGA接口的第14脚接上双刀开关,就是解决这个问题的,VGA接口的14脚(场同步信号引脚)是和E2PROM的写保护脚相通,所以可以从这个引脚供电到内部去掉其写保护,但这样VGA信号不能被正常地显示,即抄写EDID时图像不能正常显示,需抄写完成后开关切换到另一边,图像才能正常显示,再检查图像的质量。彻底解决这个问题需要在产品的主板上直接把写保护脚接高电平。
附图6为MCU端软件流程图,串口通信采用循环检测接收标志RI的方式,等待PC发出控制指令,PC发出的控制指令有几种,包括检测通信,读出EDID,写入EDID,校验EDID,返回初始化信息,接收初始化信息等。
根据接收到的指令的类型的不同,MCU会执行以下几项操作:
1、读出EDID并返回所有的数据到PC。
2、接收PC发送的数据,并写入到E2PROM中
3、计算CHECKSUM,返回CHECKSUM和产品型号
4、根据产品型号配置相应的参数
5、返回一些运行参数的信息
软件中串口初始化部分如下
TMOD=0x20;//采用定时器1方式2产生波特率
SCON=0x50;//串口工作方式1,10位UART(1位起始位,8位数据,1位停止位)
TH1=0xF3;    //波特率2400bps
TL1=0xF3;
附图7为PC和MCU通信的协议,读操作时,由PC先发送控制指令,通知MCU准备发送,MCU接收到后返回一个应答信号,表示MCU已准备好发送数据,PC接收到以后发送应答信号,表示PC准备好接收数据。MCU接收到应答信号后开始发送数据,发送完一个字节后会等待应答信号;PC每接收到一个字节,会返回一个应答信号,MCU接收到应答信号,再发送下一字节,直到整个数据发送完毕。
写操作时,由PC先发送控制指令,通知MCU准备接收,MCU接收到后返回一个应答信号,表示MCU已准备好接收数据,PC接收到应答信号后开始发送第一字节,并等待应答信号;MCU每接收到一个字节后,返回一个应答信号,PC接收后再发送下一字节,直到数据发送完毕。
具体的EDID写入数据及检测的流程如下:
首先MCU上电,运行初始化程序。然后循环监测串口,判断PC是否有指令发送过来。PC端运行主程序,启动时检测和MCU的通信,若正常则会发送默认产品的初始化信息给MCU。这样每次运行都会使MCU保持一致的状态。
用户在产品列表中选择待检测产品的型号,或在调试界面中设置好数据,然后PC发送产品的初始化信息给MCU。MCU接收到后把和产品有关的参数设置好。
用户导入各个接口(VGA/DVI/HDMI)的EDID文件到缓存区,界面上会显示产品的名称,及EDID文件的CHECKSUM,用于以后的校验操作。此时MCU端正在等待PC的指令。
用户在系统界面上点击读、写、校验等按钮,PC发送相应的指令给MCU,MCU接收后调用相应的I2C程序,对产品的E2PROM进行读写操作,然后返回相关信息给PC,系统的界面上显示相关信息,包括运行中的错误信息,和操作成功的信息。操作完成后,PC和MCU都回到等待指令的状态,等待用户下一次操作。
在以上操作的同时可以检测各接口的信源,也即检测图像信号和伴音信号。
通常EDID有多种型号,不同的型号具有不同的E2PROM,将所用的E2PROM列表,每个E2PROM对应相应的EDID,用户只需选择相应的型号,E2PROM选项会相应的变化,然后PC发送相关数据对MCU进行初始化,使之配合相应的产品。
在写入及检测时,每种产品型号对应有5个参数需要设置,包括存储VGA,DVI和HDMI三种信号的EDID的E2PROM的型号,这样可以确定缓存区的大小,还有EDID中存储产品型号的数据开始和结束的地址,图中用BEGIN-ADDR,END-ADDR表示,用来读出产品的型号,和标准文件比较进行校验。

Claims (5)

1、一种用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法,该方法是利用计算机控制单片机,单片机连接产品的外部接口,对产品的E2PROM中的EDID进行读写及检测,其特征在于该方法包括如下步骤:
a、启动系统,检测计算机、单片机及外部接口是否安全连接,计算机与单片机开始通讯;
b、在计算机上导入EDID源文件到缓存区,
c、在软件界面上点击不同的按钮,选择“抄写”时,计算机和单片机进行“握手”,然后计算机发送数据到单片机,再由单片机写入到产品的E2PROM中;
d、选择“校验”时,计算机和单片机进行“握手”,然后单片机发送数据到计算机,计算机接收完所有的数据后通过比较CHECKSUM和产品的型号来判断校验是否正确。
2、如权利要求1所述的用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法,其特征在于,计算机和单片机之间通过RS232接口进行串口通信。
3、如权利要求1所述的用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法,其特征在于,使用单片机模拟I2C器件,和产品内部E2PROM进行I2C通信。
4、如权利要求1所述的用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法,其特征在于,计算机和单片机在接收数据后都发出应答信号,且当接收到正确的应答信号后才开始发送数据。
5、如权利要求1所述的用于平板显示产品EDID抄写及测试的方法,其特征在于,上述的校验过程采取了CHECKSUM校验和产品型号双重校验的算法,即单片机从产品中读取所有数据,计算其CHECKSUM,同时获取产品的型号信息,和CHECKSUM一起发送到计算机端,和计算机端由原始文件生成的CHECKSUM及产品型号比较,只有两者都与原始文件相符,才判为校验正确。
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