CN100455031C - 一种对存储器数据进行随机处理的装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及用于电视机生产调试过程中的对存储器数据进行随机读、写或校验等处理的装置和方法,公开了一种对存储器数据进行随机处理的装置和方法,包括以下步骤:1)设置待分析存储器的屏蔽地址,将所述屏蔽地址设置为允许修改数据的地址,所述屏蔽地址以外的地址为禁止修改数据的地址,或者将所述屏蔽地址设置为禁止修改数据的地址;2)在对待分析存储器进行操作后将待分析存储器的数据读出与操作前对应地址内的数据进行比较;3)如果发生数据变化的地址是禁止修改数据的地址,则记录该地址;4)根据需要将操作前对应地址内的数据写入所述记录的待分析存储器的地址内。本发明可脱离电脑进行操作,结构简洁、通用性强、成本低、节约时间。
Description
【技术领域】
本发明涉及对存储器数据进行读、写或校验等处理的装置和方法,尤其涉及用于电视机生产调试过程中的对存储器数据进行随机读、写或校验等处理的装置和方法。
【背景技术】
串行I2C总线技术在彩电机芯上已得到了广泛应用,它在缩短开发周期、简化电路、提高可靠性及批量生产时自动调试等方面起着相当积极的作用;彩电机芯开始工作时,主控器件通过数据(SDA)和时钟(SCL)两根I2C线将预先存储在E2PROM中的参数读出,再由主控器件直接D/A或通过I2C总线将数据送往高频调谐器、解码、伴音、场IC及相关辅助电路进行模拟或逻辑控制。批量生产调试时只要操作调试遥控器或专用调试设备,主控器件又适时地将调试数据送往各个I2C模块单元,最后将最佳数据通过总线存储到E2PROM中去,以此结束了以往非总线电路通过手动调电位器调试的历史。在I2C总线技术应用普及的今天,大部分终端数据都靠E2PROM存储并掉电保护,存储器数据的可靠性及问题的分析,迫切需要能有一种方便在线处理E2PROM数据的通用装置。但是现在未有对I2C总线彩电存储器随机地址进行校验的专用数据处理装置,而专用仪器只能对整片E2PROM数据进行校验,且需要电脑,不具备随机单或多地址编辑、随机在线访问等功能,通用性差,且价格昂贵,功能单一,适用范围窄。当出现下述问题时,利用现有技术无法解决:1)彩电生产中出现E2PROM数据异常,需要在线分析,而同一批彩电E2PROM数据有些单元数据必须固定(否则无法开机)、有些数据允许变化(如搜台、线性及白平等参数),例如,对同一批彩电待分析的E2PROM数据分析时,如想要校验本次仪器操作(如白平仪)是否改了不该改的数据(只允许白平对应单元被改动,其它地址不能改)。在实际调试过程中将某个或某些允许变化的数据根据产品的个体差异进行了重新设定,但禁止修改的数据也可能受到影响而被修改,与标准母片已经不同,通过复制标准母片虽可以恢复禁止修改的数据,但也同时覆盖了根据产品的个体差异重新设定的数据,导致前功尽弃,所以无法通过将标准母片全部复制来解决个别数据异常的问题。此时只需要将操作前的数据(在该操作中需要修改的数据除外)复制到待分析的E2PROM中。2)在包装前通常需要最终测试,以校验关键数据是否改动(关键地址内只能是同样的固定数据,生产中是否被误改),这种情况只需要对待分析的E2PROM中固定地址进行校验,而不须对整片待分析的E2PROM进行校验。如果发生改动,也只须将标准母片中对应的固定地址中的标准数据复制到待分析的E2PROM的对应地址中。3)如果需要在线读出某个随机地址单元内数据并显示、或在此基础上修改数据再保存,或者想知道一个调试项目的对应数据在设计时放在E2PROM哪个单元等等情况,以便对该调试项目进行调试时可以针对该地址进行调试,利用现有技术也无法完成该操作。
【发明内容】
本发明的主要目的就是解决现有技术中无法对存储器随机单或多地址进行校验的缺陷,提出一种对存储器数据进行随机处理的装置和方法,能够脱离电脑对存储器的随机单或多地址进行校验。
本发明的次要目的是解决现有技术中无法对存储器固定地址进行校验的缺陷,提出一种对存储器数据进行随机处理的装置和方法,能够脱离电脑对存储器的固定地址进行校验。
本发明的再次目的是解决现有技术中无法对存储器随机单或多地址进行读出和修改的缺陷,提出一种对存储器数据进行随机处理的装置和方法,能够脱离电脑对存储器的随机单或多地址进行读出和修改。
为实现上述目的,本发明提出了一种对存储器数据进行随机处理的装置,其特征在于包括:
输入单元:用于输入待分析存储器的屏蔽地址以确定禁止修改数据的地址和输入控制指令;
数据暂存单元:用于存储待分析存储器被操作之前的数据;
地址暂存单元U5:用于存储由输入单元输入的待分析存储器的屏蔽地址;
控制单元:包括用于连接待分析存储器的接口1,并分别与输入单元、数据暂存单元、地址暂存单元U5相连接,所述控制单元响应输入单元的信号,对待分析存储器内的数据进行随机读出、修改或与数据暂存单元对应地址内的数据进行校验,并对比地址暂存单元U5存储的屏蔽地址将数据暂存单元内的数据写入到待分析存储器的对应地址内。
所述控制单元为微控制器U1,所述微控制器U1通过I2C总线与数据暂存单元、地址暂存单元和待分析存储器进行数据传输。
所述数据暂存单元包括扩展RAM U3和地址锁存器U2,所述扩展RAM U3的I/O口和地址锁存器U2、微控制器U1的数据口相连,所述扩展RAM U3的地址口通过所述地址锁存器U2与微控制器U1的数据口相连。
所述输入单元为遥控器及接收遥控信号的电路,所述地址暂存单元U5为E2PROM。
作为本发明的进一步改进,所述控制单元还包括用于连接标准母片U6的接口,所述数据暂存单元还用于存储标准母片U6内对应于所述屏蔽地址内的数据,所述控制单元响应输入单元的信号,对待分析存储器屏蔽地址内的数据与数据暂存单元对应地址内的数据进行校验,并将数据暂存单元对应地址内的数据写入到待分析存储器的对应地址内。
作为本发明的更进一步改进,还包括用于切换工作模式的切换开关SW1,所述切换开关SW1的一端连接控制单元,另一端在地和高电平之间切换,所述控制单元还响应输入单元的控制指令在随机读、修改、复制和编辑模式之间进行切换。
为实现上述目的,本发明还提出了一种对存储器数据进行随机处理的方法,其特征在于所述方法包括随机校验模式,所述随机校验模式包括以下步骤:
1)设置待分析存储器的屏蔽地址,将所述屏蔽地址设置为允许修改数据的地址,所述屏蔽地址以外的地址为禁止修改数据的地址,或者将所述屏蔽地址设置为禁止修改数据的地址;
2)在对待分析存储器进行操作后将待分析存储器的数据读出与操作前对应地址内的数据进行比较;
3)如果发生数据变化的地址是禁止修改数据的地址,则记录该发生数据变化的地址;
4)将操作前对应地址内的数据写入记录的待分析存储器的发生数据变化的地址内。
在步骤2)之前还包括以下步骤:将待分析存储器内的所有数据读出复制到一存储单元中作为步骤2)所述的操作前对应地址内的数据。
作为本发明的进一步改进,所述方法还包括固定校验模式,所述固定校验模式包括以下步骤:
1′)设置待分析存储器的屏蔽地址,将所述的屏蔽地址设置为禁止修改数据的地址;
2′)将标准母片中对应于屏蔽地址中的数据存入存储单元中作为标准数据;
3′)在对待分析存储器进行操作后将待分析存储器屏蔽地址内的数据读出与存储单元对应地址内的标准数据进行比较;
4′)如果发生数据变化的地址是禁止修改数据的地址,则记录该发生数据变化的地址;
5′)根据需要将存储单元中对应地址的标准数据写入记录的待分析存储器的发生数据变化的地址内。
作为本发明的更进一步改进,所述方法还包括多功能编辑模式,所述多功能编辑模式包括以下步骤:
a)接收从输入单元输入的指令;
b)当指令为随机读的指令时,设置要读数据的起始地址,从待分析存储器的与所述起始地址对应的单元起连续读出若干单元内的数据,并在显示屏上显示所读出的数据以供分析;
c)当指令为复制数据的指令时,将标准母片中的数据全部复制到待分析存储器内。
本发明的有益效果:本发明能完全脱离电脑对E2PROM的数据进行随机访问。本发明包括对随机地址进行校验和对固定地址进行校验。利用对随机地址进行校验的方案,通过设置屏蔽地址,由于对电视机调试的操作过程中有可能修改E2PROM中不需要修改的数据,所以在调试操作完后对E2PROM进行校验时,如果校验到禁止修改的数据被修改,则记录该地址,并将操作前的对应地址的数据再写入对应地址内,不会影响其他数据,不至于前功尽弃。利用对固定地址进行校验的方案,通过设置屏蔽地址,只对屏蔽地址内的数据进行校验,既节约时间又不会影响其他地址内的数据。还可随机读出要求地址的数据并显示出来进行分析,当数据需要改变时可通过遥控器输入修改指令将正确数据写入E2PROM的对应地址内。本发明还可以在几个功能之间进行切换,可广泛用于生产现场进行数据监测、数据纠错、数据读出、数据复制、数据编辑等场合,快捷方便地分析解决问题。
本发明的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。
【附图说明】
图1表示本发明的一种实施例的方框图;
图2表示本发明的一种实施例的三种模式的流程图之一;
图3表示本发明的一种实施例的三种模式的流程图之二;
图4表示本发明的一种实施例的电路图。
【具体实施方式】
如图1所示为本发明的第一具体实施例,控制单元由微控制器U1实现,微控制器U1选用ATMEL公司的AT89C51嵌入式单片机充当系统的控制核心,芯片内固化有软件,主要完成虚拟三对I2C总线时序模拟、与地址暂存单元U5、标准母片U6及I2C总线待分析存储器及扩展RAM U3四者之间的数据交换(读、写、校验)及系统状态的红外遥控与按键输入、LED和LCD输出等。
为了使本实施例具有功能多、使用灵活、兼容性好的特点,这里设计了三组独立的I2C模拟总线SDA0-SDA2、SCL0-SCL2;总线0连接地址暂存单元U5,用于存放模式1(M1)随机校验、模式2(M2)固定校验两种工作方式工作所需数据,当装置工作在模式1或2时,其7脚写保护作用,工作在模式3时,写保护失效,由单片机U1的P1.3脚控制;总线1连接标准母片U6,用于存放模式2(M2)固定校验工作方式的标准数据,其7脚写保护常作用,保证标准数据不被误修改;总线2连接待分析E2PROM存储器。
具体工作过程如图2所示:M1模式为随机校验模式,即允许单次操作前后待分析E2PROM存储器的部分地址内数据改变,其它地址内的数据不能变,使用该模式前先要在模式3下设置为工作模式1及允许变化地址的数量和具体地址以及发现其它地址变化后是否纠正工作数据,工作时装置先读取总线2上的待分析存储器内所有数据并将数据暂存到扩展RAM U3中,此时等待分析数据存储器经过其它操作完成后(这里可以是白平仪器调试或人为改动调试参数或用另一对比存储器),进行校验操作,操作时不管允许变化地址内的数据变化,而对允许变化地址外地址内的数据变化要记录下,并检查是否要纠正,如需纠正则将待分析存储器操作前的对应数据写入该地址内并再校验,最后将符合条件的地址和对应的出错数据显示在LCD屏幕上供技术人员直观分析,完成M1随机校验功能。
如图3所示,M2模式为固定校验模式,即操作过程前后待分析E2PROM存储器的固定地址内(该地址可编辑多个)数据不能被改变,一般为关键数据,其它地址内的数据允许改变,使用该模式前先要在模式3下设置为工作模式2及固定数据的地址的数量和具体地址以及发现这些地址变化后是否纠正等工作数据,工作时装置先读取总线1上的标准母片U6内固定地址内的数据并将数据暂存到扩展RAM U3中,此时再与总线2上的待分析存储器(这里可以是经过整个调试过程后怀疑数据被误改动的存储器),进行校验操作,操作时不管非固定地址内的数据变化,而对固定地址内的数据变化要记录下,并检查是否要纠正,如需纠正则将标准母片U6暂存到扩展RAM U3中的对应数据写入该地址内并再校验,最后将符合条件的地址和对应的出错数据显示在LCD屏幕上供技术人员直观分析,完成M2固定校验功能。
如图3所示,M3模式为多功能编辑模式,该模式下的全部输入操作红外遥控接收完成,当一体化的红外接收头U4接收到遥控信号时,将中断信号传送到微控制器U1的P3.3口,微控制器U1对遥控码进行解码,当解码符合自定协议的“随机读”码时,为随机读总线2上待分析存储器地址内的数据功能,此时LCD屏幕提示输入要读的起始地址,当用遥控器输入地址后,微控制器U1再从待分析存储器的对应单元将连续6个单元内的数据读出并显示在LCD屏幕上供分析;当解码符合自定协议的“修改”码时,可以对上述地址内的数据进行修改,有光标在LCD屏幕上移动,修改后的数据可经遥控按键“存储”后“取消”;当解码符合自定协议的“复制”码时,微控制器U1将标准母片U6内的所有数据复制到总线2上待分析存储器内并完成校验;当解码符合自定协议的“编辑”码时,LCD提示要设置M1还是M2工作方式,是否要纠错,要屏蔽地址或固定地址的数量,随后根据数量设置地址暂存单元U5的存储器空间用于存放将要输入的具体地址,通过LCD的提示用遥控器顺序地输入特殊地址,装置对地址的有效性给予自动判断。
如图4所示为实施例一的电路连接图,微控制器U1(AT89C51)由晶振X1及电容C07、C08提供工作时钟,由电容C05、电阻R04提供开机自动复位信号,开关K1及电阻R03、R04构成手动复位电路供系统异常需复位时用;地址暂存单元U5所在I2C总线0的“SDA0、SCL0”分别接微控制器U1的P1.4、P1.5脚;标准母片U6所在I2C总线1的“SDA1、SCL1”分别接微控制器U1的P3.0、P3.4脚;待分析存储器所在I2C总线2的“SDA2、SCL2”分别接微控制器U1的P1.6、P1.7脚。电阻R07-R12分别为三组总线的上拉电阻,开关SW1提供装置工作方式选择,接地为M3多功能编辑,接电阻高电平端工作方式为M1或M2模式,一体化红外接收头U4通过电阻R02连接微控制器U1的P3.3,将遥控发出的红外波解调成低频串码直接经电阻R02输入给微控制器U1的P3.3中断口,用于作M3多功能编辑的输入单元。地址锁存器U2为74LS373,与微控制器U1相连,以匹配微控制器U1复用P0口为地址和数据口,扩展RAM U3为8K随机RAM HM6264,用于暂存数据用;开关K2接微控制器U1的P3.1口用于模式M1、M2方式下启动校验用,LCD字符型液晶屏与单片机U1复用P0口相连,主要用于显示地址和数据用,装置的工作状态同时适时由单片机U1的P1.0、P1.1、P1.2分别串联发光二极管LED1和电阻R14、发光二极管LED2和电阻R15、发光二极管LED3和电阻R16后接电源完成,由发光二极管LED1指示出错、发光二极管LED2指示OK、发光二极管LED3指示有效遥控操作。
对于背景技术中存在的问题1)即对同一批彩电待分析的E2PROM数据分析时,如想要校验本次仪器操作(如白平仪)是否改了不该改的数据(只允许白平对应单元被改动,其它地址不能改),可通过本发明的模式M1来解决。或者想知道一个调试项目的对应数据在设计时放在E2PROM哪个单元等等情况,以便对该调试项目进行调试时可以针对该地址进行调试,也可通过本发明的模式M1来解决,可将屏蔽地址的数量设为0,将操作前数据复制到扩展RAM中后,只针对于该调试项目进行调试,之后进行校验,即可找到存放该调试数据的地址。对于背景技术中存在的问题2)即对E2PROM的固定地址进行校验,可通过本发明的模式M2来解决。对于背景技术中存在的问题3)即对E2PROM的随机地址内的数据进行读出、修改,可通过本发明的模式M3来解决。
本发明结构简洁、通用性强、成本低、功能灵活多样,软硬件保障数据的高可靠性,可以作为终端测试仪器用于无电脑和专用记忆仪的场合,快捷方便地分析解决一切E2PROM数据访问问题。
Claims (10)
1.一种对存储器数据进行随机处理的装置,其特征在于包括:
输入单元:用于输入待分析存储器的屏蔽地址以确定禁止修改数据的地址和输入控制指令;
数据暂存单元:用于存储待分析存储器被操作之前的数据;
地址暂存单元(U5):用于存储由输入单元输入的待分析存储器的屏蔽地址;
控制单元:包括用于连接待分析存储器的接口(1),并分别与输入单元、数据暂存单元、地址暂存单元(U5)相连接,所述控制单元响应输入单元的信号,对待分析存储器内的数据进行随机读出、修改或与数据暂存单元对应地址内的数据进行校验,并对比地址暂存单元(U5)存储的屏蔽地址将数据暂存单元内的数据写入到待分析存储器的对应地址内。
2.如权利要求1所述的一种对存储器数据进行随机处理的装置,其特征在于:所述控制单元为微控制器(U1),所述微控制器(U1)通过I2C总线与数据暂存单元、地址暂存单元(U5)和待分析存储器进行数据传输。
3.如权利要求2所述的一种对存储器数据进行随机处理的装置,其特征在于:所述数据暂存单元包括扩展RAM(U3)和地址锁存器(U2),所述扩展RAM(U3)的I/O口和地址锁存器(U2)、微控制器(U1)的数据口相连,所述扩展RAM(U3)的地址口通过所述地址锁存器(U2)与微控制器(U1)的数据口相连。
4.如权利要求2所述的一种对存储器数据进行随机处理的装置,其特征在于:所述输入单元为遥控器及接收遥控信号的电路,所述地址暂存单元(U5)为E2PROM。
5.如权利要求1至4中任一项所述的一种对存储器数据进行随机处理的装置,其特征在于:所述控制单元还包括用于连接标准母片(U6)的接口,所述数据暂存单元还用于存储标准母片(U6)内对应于所述屏蔽地址内的数据,所述控制单元响应输入单元的信号,对待分析存储器屏蔽地址内的数据与数据暂存单元对应地址内的数据进行校验,并将数据暂存单元对应地址内的数据写入到待分析存储器的对应地址内。
6.如权利要求5所述的一种对存储器数据进行随机处理的装置,其特征在于:还包括用于切换工作模式的切换开关(SW1),所述切换开关(SW1)的一端连接控制单元,另一端在地和高电平之间切换。
7.一种对存储器数据进行随机处理的方法,其特征在于所述方法包括随机校验模式,所述随机校验模式包括以下步骤:
1)设置待分析存储器的屏蔽地址,将所述屏蔽地址设置为允许修改数据的地址,所述屏蔽地址以外的地址为禁止修改数据的地址,或者将所述屏蔽地址设置为禁止修改数据的地址;
2)在对待分析存储器进行操作后将待分析存储器的数据读出与操作前对应地址内的数据进行比较;
3)如果发生数据变化的地址是禁止修改数据的地址,则记录该发生数据变化的地址;
4)将操作前对应地址内的数据写入记录的待分析存储器的发生数据变化的地址内。
8.如权利要求7所述的一种对存储器数据进行随机处理的方法,其特征在于在步骤2)之前还包括以下步骤:将待分析存储器内的所有数据读出复制到一存储单元中作为步骤2)所述的操作前对应地址内的数据。
9.如权利要求7所述的一种对存储器数据进行随机处理的方法,其特征在于:所述方法还包括固定校验模式,所述固定校验模式包括以下步骤:
1′)设置待分析存储器的屏蔽地址,将所述的屏蔽地址设置为禁止修改数据的地址;
2′)将标准母片中对应于屏蔽地址中的数据存入一存储单元中作为标准数据;
3′)在对待分析存储器进行操作后将待分析存储器屏蔽地址内的数据读出与存储单元对应地址内的标准数据进行比较;
4′)如果发生数据变化的地址是禁止修改数据的地址,则记录该发生数据变化的地址;
5′)将存储单元中对应地址的标准数据写入记录的待分析存储器的发生数据变化的地址内。
10.如权利要求9所述的一种对存储器数据进行随机处理的方法,其特征在于:所述方法还包括多功能编辑模式,所述多功能编辑模式包括以下步骤:
a)接收从输入单元输入的指令;
b)当指令为随机读的指令时,设置要读数据的起始地址,从待分析存储器的与所述起始地址对应的单元起连续读出若干单元内的数据,并在显示屏上显示所读出的数据以供分析;
c)当指令为复制数据的指令时,将标准母片中的数据全部复制到待分析存储器内。
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