CN1726538A - 光学记录载体 - Google Patents

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Abstract

一种用在光学扫描设备中的光学记录载体，此光学记录载体包括入射面(5)、信息层(3)和位于入射面和信息层之间的至少一个透明层(2)，其中穿过此透明层从信息层读取数据，其中信息层包括以只读形式保持数据的凹凸结构(31a...31d，32a...32d；33)。保持在凹凸结构中的数据包括表示由至少一个透明层的厚度变化所引起的入射面和信息层之间的光学记录载体厚度变化的厚度变化数据。在数据载体制造的时候，在形成透明层之前冲压包括厚度变化数据的凹凸结构。

Description

光学记录载体
技术领域
本发明涉及光学记录载体，特别但不排它地适合于校正光盘上存在的厚度变化。
背景技术
光学记录载体属于多个分类中的一个，包括只读(可读但不可写)、可记录(仅仅可写一次)和可重写(写、可擦除、可重写)。当光学记录载体是光盘时，每一个上述种类的光学记录载体经过预形成的制造过程，其中此过程在盘中产生至少一个轨道。对于每一种盘，数据被放置在轨道中；其中数据被如此放置的方法取决于盘的种类。
例如，通过被称为冲压(stamp)的众所周知的制造过程从母盘复制只读光盘。所述数据轨道或者每一个数据轨道包括包含多个凹坑的凹坑链，其中这些凹坑彼此之间被不规则地隔开。由于由在盘中不同深度的凹坑到盘中插入中间的凸起构成凹坑链，所以凹坑链在盘的信息层中形成凹凸结构。
对于可记录的记录载体，所述轨道或者每一个轨道由可记录层覆盖，其中此可记录层由有机染料组成。通过使用辐射源典型地是激光，物理燃烧有机染料来把数据写入到可记录层，从而在其中产生标记。
对于可重写记录载体，所述轨道或者每一个轨道由薄膜层组覆盖，其中此薄膜层组包括至少一个记录层、反射层以及通常一个或者多个介质层。记录层包括由多种物质组成的化合物，其中此化合物能够以多种不同的状态(晶态或非晶态)存在，这取决于应用其中的辐射级别。由于晶态和非晶态区具有不同的反射率级别，在非晶态和晶态之间的可逆转变通过应用处于各种激光功率电平是可能的，所以写入和擦除数据是可能的。
可记录和可重写盘还可以包括保持只读数据的凹凸结构(reliefstructure)；此区域典型地位于导入区中，并且包含控制信息。
在常规的光盘格式(如同磁光(MO)盘格式、紧凑盘(CD)和数字多功能盘(DVD))中，通常通过注射模塑底板来形成透明层；盘穿过底板被读取。在其它种类的盘例如蓝光盘中，透明的读取层或者由粘接薄的聚碳酸酯箔到底板中而形成，或者通过″旋涂″过程而形成，其中此″旋涂″过程涉及涂敷漆到信息层的表面并且旋转盘。与盘旋转相关联的离心力促使漆分布在信息层的表面，从而形成透明层。
对于涂敷技术例如旋涂所引起的问题是透明层的厚度存在显著差异，特别的是在盘的径向上。在本领域中众所周知的，用于读取光盘的光学扫描设备的性能对于在斑点中存在的球面像差是灵敏的，其中此斑点聚焦在信息层上。当在非补偿的盘中出现厚度变化时，光斑中会出现球面像差。因此如果由于透明层意外的厚或者薄的区域而使得透明层超出预定限制的范围，那么光学扫描设备到信息层的间距可以相应地小于或超过光学扫描设备所设计的间距。这样可以导致在所聚焦的辐射源中球面像差的增大，和数据信号的退化以及用于检测在光盘中所编码信号的检测系统的故障。
为了补偿由于辐射穿过不同厚度的透明层所引入的球面像差，已经开发出若干种经验方法。现在将更详细地描述这些方法。
US 2002/0054554描述了一种方法，由此扫描光盘的测试区域，同时测量重放信号的振幅。这些测试区域至少包括第一和第二凹坑链，并且第一凹坑链时间段(period)不同于第二凹坑链的时间段。由于时间段的不同，对应于第一凹坑链的重放信号的振幅不同于对应于第二凹坑链的重放信号的振幅。如果透明层在穿过盘的半径方向上的厚度是均匀的，那么振幅信号所聚焦的点即最大振幅的点可以预料对于两个凹坑链是相同的。然而，如果透明层厚度在穿过盘半径的方向上是变化的，那么对应于第一凹坑链的最大信号出现的点不同于对应于第二凹坑链的最大信号出现的点。因此对应于各自凹坑链的最大信号振幅出现的点之间的不同可用于识别厚度变化。
此解决方法所存在的问题是：对于每一个盘，每当输入到扫描装置中时必须分析测试区域，并且对于在测试区域之外的区域的厚度区域必须被假定或者内插。如果分析多个测试区域(例如为了识别穿过盘的非线性厚度变化)，那么这将是一个非常消耗时间的过程。此外，测试区域占据盘上的空间，其中此空间否则可以提供有用的数据容量。
US 6,381,208描述一种方法，由此在盘被制造之后，测量关于透明层厚度和折射率的数据。然后此厚度数据被写入到光盘上的信息层的可写部分中。然后当通过光学扫描设备来扫描此盘时，读取厚度数据并且被用于修正其中的透镜的位置，从而有效地补偿与厚度变化相关的球面像差。以沿着盘半径的各种间距处的平均厚度和不均匀厚度的形式存储数据，并且光学扫描设备被安排成存取说明透镜结构的检查表作为厚度的函数。因此一旦扫描装置已经读取存储在盘上的厚度和折射率信息，那么就可以从检查表检索到与其对应的透镜结构数据。
此方法所存在的问题是：由于必须在每个盘的基础上测量厚度分布，并且将其写入到每一盘中，所以这就存在附加制造费用。
JP 2001167443同样描述了一种系统，其中在制造阶段需要测量厚度信息，并且被写入到盘，因此增加了生产成本。
发明内容
本发明的一个目的是减轻现有技术配置的问题。
根据本发明的第一方面，提供一种用在光学扫描设备中的光学记录载体，此光学记录载体包括入射面、信息层和位于入射面和信息层之间的至少一个透明层，其中穿过此透明层从信息层读取数据，其中信息层包括以只读形式保持数据的凹凸结构，其中保持在凹凸结构中的数据包括表示由至少一个透明层的厚度变化所引起的入射面和信息层之间的光学记录载体厚度变化的厚度变化数据。
本发明的实施例是由实现在用于产生透明层的制造过程期间所产生的厚度分布是可重现的，并且可被表征而产生的。在此情况已经实现之后，发明者进行第二个步骤并且编码此信息到盘的只读部分中。换句话说，关于层的厚度分布的信息在盘上已经建立层之前，已经被存储到盘上。
上面所描述的所有现有技术都是在制造之后测量透明层厚度，这意味着在制造之后必须写入厚度信息，从而将厚度信息写入到盘的可写入部分。与此已知的方法相比较，在本发明的实施例中，厚度信息被存储在冲压过程期间所形成的凹凸结构中，其中此凹凸结构保持只读数据。因此，不需要附加的制造阶段，因而该盘也就没有必要包括可写部分。
提供盘的制造商可以表征其透明层的制造过程，例如作为厚度分布，在应用旋涂过程之前，此分布可以被冲压到盘中，并且根据本发明实施例从中读取，这将在下面进行详细描述。由于意味着本发明的实施例可以被应用于具有只读部分的任何一种盘，所以供应制造商关于厚度变化的冲压信息在此部分中，这具有很明显的优势。
对于定义明确的制造过程，例如用于使用规定的盘旋转速度和给定的漆组分来形成透明层的旋涂过程，可以预先知晓透明层粗略的厚度变化，并且对于不同的盘这将不会发生改变。透明层的质量(例如厚度的变化程度)不再是一个问题。就生产成本而言，这就具有明显的优点，因为旋涂过程精密要求不太高，相应地费用也就不很高，所以可以使用这种过程。
此外将在附属的权利要求中阐述本发明的另外方面，并且从以下描述的本发明的优选实施例可以使本发明的特征和优点变得很明显，这些内容只是采用举例的方式并参照附图而给出。
附图说明
图1是表示结合本发明实施例的记录载体操作的光学扫描设备的示意图；
图2是根据本发明实施例的光盘的导入区中的数据轨道的截面示意图；
图3是根据本发明另外实施例的光盘的导入区中的数据轨道的半径截面示意图；
图4是表示透明层的径向厚度分布的图形表示的示意图；
图5是表示由本发明实施例的光学扫描设备所执行步骤的流程图；和
图6和7是表示由根据本发明可选实施例的光学扫描设备所执行步骤的流程图。
具体实施例
图1表示具有被安排来操作根据本发明实施例的光盘的光学扫描设备的示意图。所述光学扫描设备包括辐射源6-例如半导体激光器，其发射发散的辐射束7。光束分离器8-例如半透明板被安排成朝透镜系统方向发射发散光束7。透镜系统包括沿着光轴13安排的准直透镜9和物镜10。
准直透镜9被安排成把从辐射源6发射出的发散光束7变换成基本上准直的光束15。物镜10被安排成把入射的准直辐射束15变换成为具有选定大小的孔径(NA)的会聚光束14，此会聚光束在光盘1的层(特别地是信息层3，在下面将更详细地描述)上会聚为一斑点18。检测系统16和第二准直透镜19以及光束分离器8一起被提供来检测主信息信号以及聚焦和跟踪误差信号，这些信号被用于机械地调整物镜10的轴向和径向位置。
光学系统还包括球面像差补偿器20，它由补偿信号发生器22来操作。补偿器20可以采用任何多种不同的形式，例如可变的聚焦液晶透镜。在可选择的实施例中，补偿器被安排成调整复合物镜10的两个透镜的间距，或者调整准直透镜9和辐射源6之间的间距。
光盘1包括透明层2，在此透明层的一个侧面上至少布置一个信息层3，并且在其另一侧面上具有盘的入射面5。信息层3包括反射层(未显示)。用保护层4保护了朝向离开透明层的信息层的侧面，免受环境的影响。透明层2通过为信息和反射层(一层或多层)提供物理支撑，而充当光盘的底板。可选择地，透明层2可以具有保护信息层3的唯一功能，在多层光盘的情况下，此信息层是最上面的信息层，而由在信息层3的另一面上的层-例如由保护层4或者由另一信息层和被连接到最上面信息层的透明层，来提供机械支撑。在多层光盘的情况下，在第一透明层的后面布置两个或更多信息层，并且信息层由另一透明层与另一信息层隔开。每一信息层相对于入射面5位于盘内部不同的深度。
透明层2实质上为会聚光束14提供了要穿过的折射介质。如上所述，用于产生透明层2的旋涂过程的问题在于：层2的厚度会有显著的变化，这样就使得信息层3和入射面5之间的距离在穿过盘的方向上会发生变化。如果层2的厚度在径向上是不均匀的，那么在沿着半径的各个点处的斑点18中的球面像差程度将会发生变化。结果，就可以预期数据和控制信号这两者在某一径向位置处较差。
图2表示穿过光盘1A的第一实施例的导入区中的部分数据轨道的横截面。导入区包括仔盘1被插入到设备中时初始化扫描设备的控制数据，并且此区位于盘1的可读部分的最内部圆周。盘1A包括以各种长度和沿着数据轨道交替地被插入在一系列凸起32a、32b、32c...32d之间的间隔的一系列凹坑31a、31b、31c、31d形式的凹凸结构。凹凸结构保持只读数据。数据轨道本身可以是螺旋或圆形形状。保持数据的凹凸结构通过由在其表面上具有对应图案的母盘冲压注射模塑过程而形成。
图3图示用于光盘1B的不同实施例中的导入区的不同格式，在此情况下以半径横截面来表示。在此格式中，导入区包括以凸起/凹槽结构形式表示的凹凸结构。上述凹槽或每一凹槽形成螺旋或环形轨道。在此实施例中，数据以高频调制摆动图案形式被保持在凸起/凹槽结构中，由此根据以摆动图案保持的只读数据，该凹槽从其整个路径交替地稍微弯曲到每一个侧面。此外，保持数据的凹凸结构通过在其表面上具有对应图案的母盘来形成。
为了以下实施例的目的，假定盘1(具有在图2或图3中所显示形式的导入区)是只读类型，但是应该认识到本发明的实施例可以在具有至少一个只读部分(例如在导入区中)的可记录盘中实现。
在此描述的所有实施例中，厚度分布，也就是透明层2的厚度至少粗略地随着径向定位而变化的方式，其特征在制造之前被表征了。此信息在制造的时候被冲压到光盘1的导入区中。因此信息层3可以包括关于层的数据，在冲压盘(从而产生信息层)的时候此数据还没有产生。应用于产生随后所应用的层的过程是可重现的，并且此层具有一定可表征的通用特征。盘制造商可以把其旋涂过程表征为厚度分布，在实施旋涂过程之前，识别分布的数据可以被冲压到盘中，并且根据本发明的实施例，此后当扫描盘时，在重放或写入期间，可从中读取所述数据。由于这意味着本发明的实施例可以被应用于具有只读部分的任何一种盘，所以通过冲压厚度分布数据到此部分中，这具有很明显的优势。
厚度分布数据可以有不同的格式。在一个实施例中，所述数据包括描述在沿着光盘1选定半径位置处的厚度偏差的数值。位置的数目和所规定的不同的可能厚度偏差的对应数目优选地是至少三个，另一种优选方案是至少五个，还有一种优选方式是十个或更多。
分布数据可以包含绝对值或相对值，此数值描述沿着光盘1在半径位置处的层的厚度。当数据是绝对值时，它们优选地被转换为相对值。这涉及选择一个半径的位置作为基准位置，并且相对于基准位置处的厚度，计算在另一位置处的厚度。
在一种方案中，分布数据包含一组数值，例如表示在表格1中的那些数值，这些数值规定了与在选定半径处的厚度变化量对应的偏差(以任意单位给出)。
表格1
 半径R[mm]   偏差
  23   -1
  27   +2
  31   +5
  35   +3
  39   +3
  43   +2
  47   +3
  51   +1
  55   -1
  59   -3
在一可选实施例中，分布数据规定了一函数，该函数描述偏差随着离基准位置的距离而产生的变化。例如，在光盘上的分布数据可以描述预定多项式函数的常量和系数。例如，如果函数是多项式y＝-8E(-05)x4+0.0124x3-0.7227x2+18.359x-171.55，如图4中所示，那么可以把系数-8.5E(-0.5)，0.0124，-0.7227，18.359和多项式次数(这里是4)和常量(如果有的话，这里是171.55)存储在一起。
现在将更详细地描述球面像差补偿子系统的各个方面。如图1所示，该子系统包括被安排成用于读入在导入区中存储的厚度分布数据的控制单元51。控制单元51还被安排成用于处理所读取的数据，并且用于把与其对应的控制数据施加到补偿信号发生器22。信号发生器22使用所述输出数据来产生一个信号，该信号使得补偿器20把球面像差补偿量增加到与当前正在扫描的半径位置处的透明层2的厚度相对应的光束。控制单元51优选地执行计算机程序，或者一组计算机程序的一部分，此计算机程序与检测系统16的处理电路协作操作。
参考图4、5和6，现在将描述涉及估计解决厚度变化所需的补偿信号的步骤。
首先参考图5，在步骤501，控制单元51识别厚度数据在信息层3上的位置。在本实施例中，数据被存储在导入区中，因此步骤501包括：控制单元51指示扫描设备读取在导入区中存储的数据。在步骤503中，检测系统16从所识别的区域中读取数据，并且把此数据传递到控制单元51，此控制单元把此数据作为数据文件存储。
然后，在步骤503中，控制单元51识别第一基准位置。第一基准位置可以是预定的位置，此预定位置被存储在扫描设备中，或者从在导入区中存储的厚度分布数据中读取，或者此第一基准位置可以在分析厚度分布数据之后被选择。当在分析厚度分布数据之后被选择时，第一基准位置优选地被选择为具有接近厚度数值范围或者在其一端的厚度数值的半径位置。上述情况也适用于第二基准位置，在下面要做更详细的描述，此第二基准位置可以是预定的，或者在分析厚度数据之后被选择。如果在分析厚度分布数据之后被选择，那么第二基准位置优选地是具有接近厚度数值范围或者在其另一端的厚度数值的位置。在任何情况下，第一和第二基准位置将具有不同的厚度值，以便可以在扫描设备中测试光盘之后计算把厚度偏差(任意单位)与对应补偿信号相关的比例因子。
然后，在步骤507，扫描设备在光盘上的第一基准位置处执行测试过程，以便确定最优球面像差(SA)补偿信号。在只读盘的情况下，是这样的一个实施例，按照如下方式来实施：以具有各种不同球面像差补偿设置在选定半径位置处读取数据，同时检测在主信息信号中的抖动数值，把所述设置优化为最小抖动数值。在可写盘的情况下，可以使用标准球面像差补偿设置把数据写入到盘中的基准位置处，然后实施球面像差补偿设置，同时把数据读取回来。一旦获得用于读取的最优设置，就可以使用为读取所获得的最优设置来重写所述数据，并且可以使用新写入的数据再次实施所述最优化过程，原因在于使用标准设置首先写入的数据本身可能没有被优化，这样就会在优化过程中导致误差。
可以使用一种可选的方法来实施SA补偿信号的优化；例如可以使用推挽式跟踪误差信号；在该情况下，最优设置被确定在读出期间跟踪误差信号的包络线具有最大振幅的设置。通过使用跟踪误差信号，在盘的空白部分中可以检测最优SA补偿信号，从而就避免在测试过程中把数据写入到可写盘的需要了。
在最优化的SA补偿设置中，标注由信号发生器22应用的信号。然后，光学扫描设备在步骤509把光头移动至第二基准位置，并且在步骤511按类似的方式检测和存储最优球面像差补偿信号。
然后，该控制单元根据以下表达式计算比例因子：
SF＝[I(Rref1)-I(Rref2)]/[D(Rref1)-D(Rref2)]公式1
其中SF是用于盘的比例因子；Rref1是在第一基准位置处的半径并且Rref2是在第二基准位置处的半径；I是要在半径Ri处施加的电流；并且D是在半径Ri处的偏差。
然后，存储此比例因子，以供球面像差补偿子系统在任意半径位置处扫描光盘的时候结合厚度偏差数据使用。
现在参考图6，它图示当以厚度分布函数的参数形式保持厚度分布数据时的球面像差补偿过程，在步骤601中，控制单元51首先检测光头是否已经被移动到新的扫描位置。如果光头位于新的扫描位置，那么控制单元51在步骤603检索厚度分布数据，并且在步骤605应用对应于厚度分布数据的函数，以便计算在当前半径处的厚度偏差。然后控制单元51在步骤607通过应用先前所计算的比例因子，把偏差值转换为补偿信号值，并且在步骤609指示信号发生器22把适当的补偿信号应用到补偿器20。
图7是当厚度分布数据作为一组多个选定半径位置中的每一个半径位置的数值时而存储的相应过程。
现在参考图7，在扫描操作期间，在只读盘的情况下，此操作可以是读取操作，在可记录或可重写盘的情况下，此操作可以是读取操作或者写入操作，控制单元51在步骤701检测光头是否已经被移动到新的扫描位置。如果光头位于新的扫描位置，那么控制单元51在步骤703检索厚度分布数据，并且在步骤704中检测当前半径是否不同于在数据文件中可以获得厚度偏差数据的位置。如果是这样，那么在步骤707从数据文件中读取当前厚度偏差。如果当前半径不同于在数据文件中可以获得的位置之一，那么在步骤705，在数据文件中的两个相邻位置之间执行偏差的内插，以便计算在当前半径处的当前所预期的厚度偏差。在步骤709，该控制单元为所读取或计算的偏差把偏差值转换为补偿信号值，此补偿信号值被提供给信号发生器22，该信号发生器在步骤711把适当的补偿信号应用到补偿器20。
在本发明的另外的实施例中，提供了包括至少第一和第二信息层和对应的第一和第二透明层的多层光盘。这样就有了至少两个透明层，所述两个透明层的每一个经过旋涂已经被涂敷到它们各自的信息层，它们的厚度可能具有相应的变化。在此实施例中，双层光盘的一个或者多个只读部分包括两组厚度分布数据，一组用于第一透明层并且一组用于第二透明层。规定每一透明层的厚度变化，控制单元51为每一层计算对应的电流比例因子，这与上面所述的一样，为每一个信息层计算当扫描两个信息层的任何一个时沿着盘的半径所必需的调节。
在上述实施例中，测试过程被用于确定与所给出的一组不同厚度相对应的一组适当的最优球面像差补偿设置。可选择地，此设置可以通过从预先存储在光学扫描设备中的表进行查找来确定。
在上面的描述并且在附属的权利要求中，术语″凹凸结构″已经被用于描述表面具有高度变化的结构。这种高度变化在本领域中称为″凸起″，可能由于在冲压过程期间所使用的母盘上有对应的高度变化而导致。此凹凸结构可以包括凹坑/凸起链、凹槽中的摆动图案、这些特征的组合，和/或被冲压到表面上的高度变化所提供的其它特征。根据本发明，凹凸结构保持包括厚度变化数据的数据。在优选实施例中，厚度变化数据指示如下的变化，即，与层的厚度变化成比例地对应的变化，或者与正被描述的厚度分布所在的层成比例地对应的变化。然而，本发明延伸至这样的变化，此变化起因于包括厚度参数和另一参数例如折射率变化的至少两个参数，这些变化使得球面像差校正成为必要。从而，如果考虑导致需要球面像差校正的其它变化，那么厚度变化数据不可以直接地指示所给出的厚度变化。然而，在产生存在问题的层之前，任何此其它的变化将是可表征的。典型地，其它变化不是预先可表征的，和/或其它变化仅仅引起相对次要的球面像差问题，并且厚度变化数据可以被限制为唯一表示厚度变化。
应该理解，与任一个实施例相关描述的任何特征可以单独使用，或者与所描述的其它特征结合使用，并且还可以与任何其它实施例或者任何其它实施例的任何组合的一个或者多个特征的组合结合使用。此外，只要不违背本发明的范围，还可以采用上面没有描述的等价内容和改进，这将在附属的权利要求中定义。

Claims (10)

1.一种用在光学扫描设备中的光学记录载体，此光学记录载体包括入射面、信息层和位于入射面和信息层之间的至少一个透明层，其中穿过此透明层从信息层读取数据，其中信息层包括以只读形式保持数据的凹凸结构，其特征在于：
保持在凹凸结构中的数据包括表示由至少一个透明层的厚度变化所引起的入射面和信息层之间的光学记录载体厚度变化的厚度变化数据。
2.根据权利要求1所述的光学记录载体，其中保持在凹凸结构中的所述数据包括根据一组厚度数据指示厚度分布的数据，该组中的每项厚度数据指示在穿过入射面的多个位置的不同位置处的厚度偏差。
3.根据权利要求1所述的光学记录载体，其中保持在凹凸结构中的所述数据包括指示厚度分布的数据，其中此厚度分布包括一组厚度函数参数，当组合使用预定算法时，这些厚度分布参数提供表示穿过入射面的厚度分布的函数。
4.根据上述权利要求的任何一个的光学记录载体，其中所述凹凸结构包括保持厚度变化数据的凹坑/凸起结构。
5.根据权利要求1至3的任何一个的光学记录载体，其中所述凹凸结构包括具有保持厚度变化数据的摆动图案的凹槽结构。
6.根据上述权利要求的任何一个的光学记录载体，其中记录载体以盘的形式存在，并且厚度变化数据指示径向厚度分布。
7.一种在具有能够球面像差补偿的光学系统的光学扫描设备中扫描光学记录载体的方法，此光学记录载体包括入射面、信息层和位于入射面和信息层之间的至少一个透明层，其中穿过此透明层从信息层读取数据，其中信息层包括表示由至少一个透明层的厚度变化所引起的入射面和信息层之间的光学记录载体厚度变化的厚度变化数据，该信息层包括以只读形式保持数据的凹凸结构，
此方法包括：光学扫描设备读取厚度变化数据，并且当穿过入射面扫描时调整光学系统，以便根据厚度变化数据执行球面像差补偿，
其特征在于光学扫描设备读取保持在凹凸结构中的数据，以便获得所述厚度变化数据。
8.根据权利要求7所述的方法，其中当穿过入射面扫描时调整光学系统的步骤包括：
根据预定的算法估计厚度变化数据，以便产生用于穿过入射面的多个选定位置的至少一个的厚度指示器，
根据预定转换函数，把上述或者每一个厚度指示器转换为表示球面像差补偿数值的数据；和
根据球面像差补偿数值操作光学扫描系统，以便补偿在上述或者每一个选定位置处的球面像差。
9.一种制造用在光学扫描设备中的光学记录载体的方法，其中此光学记录载体包括入射面、信息层和位于入射面和信息层之间的至少一个透明层，其中穿过此透明层从信息层读取数据，其中此方法还包括如下步骤：冲压所述信息层的至少一部分，以便包括以只读形式保持数据的凹凸结构，并且随后形成透明层，
其特征在于：保持在凹凸结构中的数据包括表示由至少一个透明层的厚度变化所引起的入射面和信息层之间的光学记录载体厚度变化的厚度变化数据。
10.根据权利要求9的方法，其中此方法包括通过旋涂来形成透明层。
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