CN1722100A - 内存测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种内存测试系统包括：一用户界面，用于输入测试命令及参数；一驱动程序，其包括一命令行编辑器，以及一命令翻译器，用于依据用户输入的测试命令及参数调用相关子程序；一测试执行装置，用于对内存进行读写测试，并将测试结果通过驱动程序返回用户界面。
Description
【技术领域】
本发明涉及一种产品测试系统及方法，尤其涉及一种内存测试系统及方法。
【背景技术】
内存(包括SDRAM，DDR，Flash memory等易失性或非易失性存储器)于制造完成后需经过测试，以达到出货品质需求。
常见的内存测试方法一般是使用专用设备对内存进行测试，通过检测读写过程中数据正确与否以判断内存是否工作正常。包括有：对内存进行随机地址测试；对内存进行存储列测试；对内存进行随机区块测试；对内存进行自刷新测试等。
上述内存测试方法的项目较为全面，适合于内存的实验室测试。然而对于产品出货测试而言，其不足之处主要在于：由于内存在进行大规模生产时，其良品率是可预估的变量，也就是说大多数内存的品质较有保障。此时大部分内存测试项目非常基础并且简单，测试任务的实现并不复杂，如果采用上述方法则过于繁琐，降低了测试效率。
【发明内容】
基于上述现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种内存测试系统及方法，通过对内存进行读写操作以确定内存是否达到出货品质需求。
本发明提供的内存测试系统包括：一用户界面，用于输入测试命令及参数；一驱动程序；以及一测试执行装置，用于对内存进行读写测试，并将测试结果通过驱动程序返回用户界面。其中，驱动程序包括一命令行编辑器，用户在使用用户界面之前需首先激活该命令行编辑器；一命令翻译器，依据用户输入的测试命令及参数调用相关子程序；一错误标志位，当被测试的内存出现错误时进行标识；以及一错误计数位，统计被测试的内存错误出现的次数。
本发明提供的内存测试方法包括：用户在用户界面输入测试命令及参数；驱动程序的命令翻译器依据用户输入的测试命令及参数调用相关子程序；测试执行装置执行相关子程序对内存进行测试；测试完成后测试执行装置通过驱动程序将测试结果返回用户界面。
其中，测试执行装置执行相关子程序对内存进行测试的步骤具体包括：测试执行装置设置内存的测试地址范围及循环次数；测试执行装置在内存中依序写入某一规格化比特序列(如0x55AA55AA)；写入完成后测试执行装置读取内存，若数据读出异常(如某地址无法读取或读出的数据不是所写入的数据)则将错误标志位置1后继续下一步操作；若数据读出正常，则测试执行装置在内存中依序写入另一规格化比特序列(如0xAA55AA55)，重复上述步骤；测试完成后返回测试结果。
采用本发明的测试系统及方法，用简单的读写操作即可测试内存的品质，从而有效提高了测试速度。
【附图说明】
图1是本发明内存测试系统的结构示意图。
图2是本发明内存测试方法的流程示意图。
图3是图2中测试执行装置执行相关子程序对内存进行测试步骤的流程示意图。
【具体实施方式】
请参阅图1，是本发明内存40测试系统的架构示意图。该系统包括：一用户界面10，用于输入测试命令及参数，在本具体实施方式中，该用户界面10为命令行界面；一驱动程序20以及一测试执行装置30。其中，驱动程序20包括一命令行编辑器201，用户在使用用户界面10之前需首先激活该命令行编辑器201，以控制其所输入命令的最大允许长度，在本具体实施方式中，该最大允许长度为255个字符；一命令翻译器202，依据用户输入的测试命令及参数调用相关子程序；一错误标志位203，当被测试的内存40出现错误时进行标识；以及一错误计数位204，统计被测试的内存40错误出现的次数。测试执行装置30用于对内存40进行读写测试，并将测试结果通过驱动程序20返回用户界面10。
请参阅图2，是本发明内存40测试方法的流程示意图。用户在使用用户界面10前，需首先激活驱动程序20的命令行编辑器201(步骤100)。用户通过用户界面10输入测试命令及参数，所输入的参数包括地址范围及循环次数(步骤200)。驱动程序20的命令翻译器202依据用户输入的测试命令及参数调用相关子程序(步骤300)。测试执行装置30执行相关子程序对内存40进行测试(步骤400)。测试完成后测试执行装置30通过驱动程序20将测试结果返回到用户界面10(步骤500)。
请参阅图3，是图2中测试执行装置30执行相关子程序对内存40进行测试步骤的流程示意图。
本发明的实施方式中，测试执行装置30以0x55AA55AA填充内存40(步骤4110)，写入后读取内存40，检查其内容是否为0x55AA55AA(步骤4120)，若否则将错误标志位203置1(步骤4130)，进行下一步操作；若是则直接进行下一步操作。
测试执行装置30以0xAA55AA55填充内存40(步骤4210)，写入后读取内存40，检查其内容是否为0xAA55AA55(步骤4220)，若否则将错误标志位203置1(步骤4230)，进行下一步操作；若是则直接进行下一步操作。
测试执行装置30以0填充内存40(步骤4310)，写入后读取内存40，检查其内容是否为0(步骤4320)，若否则将错误标志位203置1(步骤4330)，进行下一步操作；若是则直接进行下一步操作。
测试执行装置30以0xFFFFFFFF填充内存40(步骤4410)，写入后读取内存40，检查其内容是否为0xFFFFFFFF(步骤4420)，若否则将错误标志位203置1(步骤4430)，进行下一步操作；若是则直接进行下一步操作。
测试执行装置30检查错误标志位203是否为1(步骤450)，若为1则说明此次测试中存在错误，将错误计数位204加1，同时将错误标志位203重新置0(步骤460)，进行下一步操作；若为0则说明此次测试中未发现错误，直接进行下一步操作。
测试执行装置30判断是否已达到预设的循环次数(步骤470)，若否则跳转至步骤4201重新执行上述测试过程。若是则结束测试，将错误计数做为测试结果返回(步骤480)。
Claims (9)
1.一种内存测试系统包括：一用户界面，用于输入测试命令及参数，以及一测试执行装置，用于对内存进行读写测试，并将测试结果返回用户界面，其特征在于还包括一驱动程序，该驱动程序包括一命令行编辑器，以及一命令翻译器，依据输入的测试命令及参数调用相关子程序。
2.如权利要求1所述的内存测试系统，其特征在于用户界面是命令行界面。
3.如权利要求1所述的内存测试系统，其特征在于命令行编辑器用于限定所输入命令的最大允许长度，在使用用户界面之前需首先激活该命令行编辑器。
4.如权利要求1所述的内存测试系统，其特征在于驱动程序包括一错误标志位，用于当被测试的内存出现错误时进行标识。
5.如权利要求1所述的内存测试系统，其特征在于驱动程序包括一错误计数位，用于统计被测试的内存出现错误的次数。
6.一种采用如权利要求1所述的内存测试系统对内存进行测试的方法，其特征在于包括如下步骤：
(a)激活驱动程序的命令行编辑器；
(b)在用户界面输入测试命令及参数；
(c)驱动程序的命令翻译器依据所输入的测试命令及参数调用相关子程序；
(d)测试执行装置执行相关子程序对内存进行测试；
(e)测试完成后测试执行装置通过驱动程序将测试结果返回用户界面。
7.如权利要求6所述的内存测试方法，其特征在于所输入的参数包括内存的测试地址范围及循环次数。
8.如权利要求6所述的内存测试方法，其特征在于测试执行装置执行相关子程序对内存进行测试的步骤包括：
(d1)以第一规格化比特序列填充内存，写入后读取内存检查其内容是否为该比特序列，若否则将错误标志位置1，进行下一步操作，若是则直接进行下一步操作；
(d2)以第二规格化比特序列填充内存，写入后读取内存检查其内容是否为该比特序列，若否则将错误标志位置1，进行下一步操作，若是则直接进行下一步操作；
(d3)以第三规格化比特序列填充内存，写入后读取内存检查其内容是否为该比特序列，若否则将错误标志位置1，进行下一步操作，若是则直接进行下一步操作；
(d4)以第四规格化比特序列填充内存，写入后读取内存检查其内容是否为该比特序列，若否则将错误标志位置1，进行下一步操作，若是则直接进行下一步操作；
(d5)检查错误标志位，若为1则将错误计数位加1，同时将错误标志位重新置0，进行下一步操作；若为0则直接进行下一步操作；
(d6)判断是否已达到预设的循环次数，若否则跳转至步骤(d1)重新执行上述测试过程；若是则结束测试，将错误计数做为测试结果返回。
9.如权利要求8所述的内存测试方法，其特征在于所采用的规格化比特序列包括：0x55AA55AA、0xAA55AA55、0及0xFFFFFFFF。
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| CN 200410028145 CN1722100A (zh) | 2004-07-13 | 2004-07-13 | 内存测试系统及方法 |
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Family Applications (1)
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2004
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