CN103165194B - 快速检测大容量NOR Flash的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种快速检测大容量NOR Flash的方法及装置，该方法包括以下步骤：擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常；若数据线正常，则判断地址线是否正常，并在地址线不正常时返回测试失败结果；若数据线不正常，则返回测试失败结果。本发明通过只向NOR Flash空间一次性写入一组构造的测试数据，在回读校验时无须遍历整个地址空间，只需通过地址线移位的方法回读所需检测的地址空间上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况，节省了大量的检测时间，达到了快速检测大容量NOR Flash的有益效果。

Description

快速检测大容量NOR Flash的方法及装置

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种快速检测大容量NOR Flash(非易失闪存)的方法及装置。

背景技术

NOR Flash是现在市场上主要的非易失闪存技术之一，NOR Flash的特点是芯片内执行，这样应用程序可以直接在Flash闪存内运行，而不必再把代码读到系统RAM(RandomAccess Memory，随机存取存储器)中，且NOR Flash的传输效率很高。

NOR Flash能够提供完整的寻址与数据总线，并允许随机存取存储器上的任何区域。因此，目前大部分的嵌入式设备产品中均采用NOR Flash作为存储设备。如射频识别技术产品线的电子标签阅读器ZXRIS6700和路侧单元ZXRIS8900，分别采用1片64MB(MByte，兆字节)容量的NOR Flash和3片64MB容量的NOR Flash；在转产过程中进行测试时，如果遍历整个NOR Flash存储空间进行检测，则需要花费大量时间。

在检测时，任何Flash器件的写入操作只能在空的或已擦除的单元内进行，所以大多数情况下，在进行写入操作之前必须先执行擦除。传统的NORFlash检测的方法是擦除NORFlash全部空间内容，花费了大量的时间。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种快速检测大容量NOR Flash的方法，旨在实现快速检测大容量NOR Flash的功能。

本发明提供了一种快速检测大容量NOR Flash的方法，包括以下步骤：

擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常；

若数据线正常，则判断地址线是否正常，并在地址线不正常时返回测试失败结果；

若数据线不正常，则返回测试失败结果。

优选地，所述擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常的步骤具体包括：

擦除NOR Flash起始地址空间的任一扇区，并在擦除的扇区写入测试数据；

回读写入的测试数据，并将其与原始写入的测试数据进行比较；

若二者相同，则判断数据线正常；

若二者不相同，则判断数据线不正常。

优选地，所述判断地址线是否正常的步骤具体包括：

判断地址线是否短路：向测试的基地址0偏移处写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据，则判断所述地址线短路，即地址线不正常；

判断地址线是否开路：若地址线开路，则其状态一直为0或1；当所述地址线为0时，向基地址空间中写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路；当所述地址线为1时，向所述基地址空间写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路，即地址线不正常。

优选地，所述判断地址线是否短路的步骤具体包括：

设置一个初始值为0的变量，并将所述变量设置为自增状态；

判断地址线移位是否结束；

若是，则在所述的变量值为1时，返回地址线正常；在所述的变量不为1时，显示出错的地址线位置，返回地址线不正常；

若否，则继续移位地址线，回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较；若二者相同，则所述的变量值自增。

优选地，所述移位地址线，回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较的步骤具体包括：

将地址线依次左移，每次移动一位，每次移位后均需回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，并判断二者是否相同，直至检测完所需检测的所有地址线。

本发明还提供了一种快速检测大容量NOR Flash的装置，包括：

数据线检测模块，用于擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常，并在数据线不正常时，返回测试失败结果；

地址线检测模块，用于在数据线正常时，判断地址线是否正常，并在地址线不正常时返回测试失败结果。

优选地，所述数据线检测模块具体用于：

擦除NOR Flash起始地址空间的任一扇区，并在擦除的扇区写入测试数据；

回读写入的测试数据，并将其与原始写入的测试数据进行比较；

若二者相同，则判断数据线正常；

若二者不相同，则判断数据线不正常。

优选地，所述地址线检测模块具体包括：

地址线短路检测单元，用于向测试的基地址0偏移处写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据，则判断所述地址线短路，即地址线不正常；

地址线开路检测单元，若地址线开路，则其状态一直为0或1；用于当所述地址线为0时，向基地址空间中写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路；当所述地址线为1时，向所述基地址空间写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路，即地址线不正常。

优选地，所述地址线短路检测单元具体包括：

变量设置子单元，用于设置一个初始值为0的变量，并将所述变量设置为自增状态；

移位检测子单元，用于在判断地址线移位不结束时，移位地址线，回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，若二者相同，则所述的变量值自增；

检测结果子单元，用于在判断地址线移位结束且所述的变量值为1时，返回地址线正常；在判断地址线移位结束且所述的变量不为1时，显示出错的地址线位置，返回地址线不正常。

优选地，所述移位检测子单元具体用于：

将地址线依次左移，每次移动一位，每次移位后均需回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，并判断二者是否相同，直至检测完所需检测的所有地址线。

本发明通过只向NOR Flash空间一次性写入一组构造的测试数据，在回读校验时无须遍历整个地址空间，只需通过地址线移位的方法回读所需检测的地址空间上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况，实现了快速检测大容量NOR Flash的有益效果。

附图说明

图1是本发明快速检测大容量NOR Flash的方法一实施例流程示意图；

图2是本发明快速检测大容量NOR Flash的方法中，判断数据线是否正常一实施例流程示意图；

图3是本发明快速检测大容量NOR Flash的方法中，判断地址线是否正常一实施例流程示意图；

图4是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置一实施例的结构示意图；

图5是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线检测模块一实施例的结构示意图；

图6是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线短路检测单元一实施例的结构示意图；

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

以下结合说明书附图及具体实施例进一步说明本发明的技术方案。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参照图1，图1是本发明快速检测大容量NOR Flash的方法一实施例流程示意图，本发明快速检测大容量NOR Flash的方法包括：

步骤S01、擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据；

在检测时，任何Flash器件的写入操作只能在空的或已擦除的单元内进行，所以大多数情况下，在进行写入操作之前必须先执行擦除；本发明采用的方法是只需要擦除NORFlash的一个扇区，并向其中写入测试数据；

步骤S02、判断数据线是否正常；若是，则执行步骤S03；若否，则执行步骤S04；

通过回读校验并比较回读写入的测试数据与原始写入的测试数据是否相同来判断数据线是否正常；通常数据线不正常主要有两种情况：数据线短路和数据线开路；具体地，向测试的基地址0偏移处写入测试数据，依次读取从基地址处开始的地址空间，如果读取的数据与所述写入的测试数据相同，则证明数据线正常。

步骤S03、判断地址线是否正常；

在NOR Flash检测过程中，首先检测的是数据线，若数据线不正常，则无需再检测地址线是否正常，系统直接返回测试失败结果；只有数据线正常的情况下，检测地址线才有意义；

通常，判断地址线是否正常主要包括：

判断地址线是否短路：向测试的基地址0偏移处写入测试数据，将地址线依次左移(只将单独一根地址线拉高，其余地址线全部为低)，回读所述写入的测试数据，如果发现读出数据存在与写入相同的数据，则判断所述地址线至少与其它地址线中一根地址线短路，即地址线不正常；

判断地址线是否开路：若地址线开路，则其状态一直为0或1；当所述地址线为0时，向基地址中写入测试数据，在回读时会错误读到基地址空间的数据；即向基地址空间中写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据包含所述基地址空间数据，则可判断所述地址线开路；当所述地址线为1时，在向基地址空间写入数据时会错误写到该地址线为1时的地址空间中，即向所述基地址空间写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据包含所述基地址空间中的数据，则可判断所述地址线开路，即地址线不正常；

在地址线不正常时，执行步骤S04，系统返回测试失败结果。

步骤S04、返回测试失败结果；

若数据线不正常，即在数据线存在短路或数据线存在开路的情况下，无需再检测地址线是否正常，直接返回测试失败结果。

本发明快速检测大容量NOR Flash的方法通过仅擦除NOR Flash的一个扇区并向其中写入相应测试数据，回读校验来判断是否存在数据线和地址线开路或短路的情况，达到了快速检测大容量NOR Flash的有益效果。

参照图2，图2是本发明快速检测大容量NOR Flash的方法中，判断数据线是否正常一实施例流程示意图；本发明快速检测大容量NOR Flash的方法中擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常的步骤具体包括：

步骤S011、擦除NOR Flash起始地址空间的任一扇区，并在擦除的扇区写入测试数据；

将NOR Flash起始地址空间的任一扇区进行擦除后，向所述擦除的扇区中写入测试数据；优选地，本发明以16bit(位数)模式构造所述如下数据实现对NOR Flash的数据线进行检测：

WORD32 WriteBuf[10]＝{0xaaaa，

0x5555，

0xcccc，

0x3333，

0xf0f0，

0x0f0f，

0xff00，

0x00ff，

0xffff，

0x0000}；

步骤S012、回读写入的测试数据；

对数据线进行检测时，向需要测试的数据线的起始地址空间写入步骤S011所述的WriteBuf[10]数据；数据线不正常通常有两种情况：数据线短路或数据线开路；

数据线短路的情况：如果是两根数据线，只需写入并回读0b01...即可判断所述两根数据线之间是否短路；若相邻的两根数据线之间没有短路，则再将两根地址线作为一组，写入并回读0b1100...，用所述相同的方法检测相邻两组之间是否短路；依次类推，以四根数据线为一组，写入并回读0b11110000...，依次进行检测；

数据线开路的情况：检测数据线是否开路，只需将所述测试数据取反，再进行写入和回读，即可检测出数据线是否开路；

步骤S013、判断回读的测试数据与原始写入的测试数据是否相同；若是，则执行步骤S014；若否，则执行步骤S015；

依次回读从起始地址空间处开始的地址空间，将回读的测试数据与原始写入的测试数据进行比较，判断回读的测试数据与原始写入的测试数据是否相同；

步骤S014、判断数据线正常；

若回读的数据与原始写入的测试数据相同，则证明数据线正常；

步骤S015、判断数据线不正常。

若回读的数据与原始写入的测试数据不相同，则证明数据线不正常。

本发明快速检测大容量NOR Flash的方法通过仅擦除NOR Flash的一个扇区并向其中写入相应测试数据，回读校验来判断是否存在数据线和地址线开路或短路的情况，节省了大量的检测时间，达到了快速检测大容量NOR Flash的有益效果。

参照图3，图3是本发明快速检测大容量NOR Flash的方法中，判断地址线是否正常一实施例流程示意图；本发明快速检测大容量NOR Flash的方法，判断地址线是否正常的步骤具体包括：

步骤S021、设置一个初始值为0的变量，并将所述变量设置为自增状态；

在本发明中，优选地，设置所述变量为MirrorCnt，并将所述变量MirrorCnt的初始值设置为0，同时将所述变量MirrorCnt置为自增状态，即为MirrorCnt++；

步骤S022、判断地址线移位是否结束；若是，则执行步骤S023；若否，则执行步骤S024；

判断所需检测的地址线是否全部检测完毕是通过判断地址线移位是否结束来实现的，若地址线移位全部结束，则需判断步骤S021中所述的变量MirrorCnt的值；根据变量MirrorCnt的值来判断地址线是否正常；

步骤S023、判断步骤S021中所述的变量MirrorCnt的值是否为1；若是，则执行步骤S025；若否，则执行步骤S026；

判断变量MirrorCnt的值是否为1，若变量MirrorCnt的值为1，则说明所检测的地址线没有短路，一切正常；若变量MirrorCnt的值为数字1以外的其他任意值，则说明所检测的地址线有短路情况，地址线不正常；

步骤S024、继续移位地址线，判断回读写入的测试数据与原始写入的测试数据是否相同；若是，则所述的变量MirrorCnt的值自增；若否，则继续移位地址线；

若地址线的移位没有结束，则继续移位地址线，并依次回读所写入的测试数据，同时将回读的测试数据与原始写入的测试数据进行比较，判断二者是否相同；若二者相同，则所述的变量MirrorCnt的值自动增加1；若二者不相同，则继续移位地址线；

步骤S025、返回测试成功结果；

若地址线全部移位结束后，即完成了整个地址线的检测后，若变量MirrorCnt的值为1，则说明所检测的地址线一切正常；

步骤S026、显示出错的地址线位置，返回地址线测试不正常的结果；

若完成了整个地址线的检测后，变量MirrorCnt的值为数字1以外的其他任意值，则说明地址线存在短路的情况，地址线检测失败，系统显示出错的地址线位置，并返回地址线测试不正常的结果。

本发明快速检测大容量NOR Flash的方法通过地址线移位的方法回读所需检测的地址空间上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况，节省了大量的检测时间，达到了快速检测大容量NOR Flash的有益效果。

参照图4，图4是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置一实施例的结构示意图；本发明快速检测大容量NOR Flash的装置包括：

数据线检测模块01：用于擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常，并在数据线不正常时，返回测试失败结果；

擦除NOR Flash起始地址空间的任一扇区，并在擦除的扇区写入测试数据；回读写入的测试数据，并将其与原始写入的测试数据进行比较；若二者相同，则判断数据线正常；若二者不相同，则判断数据线不正常。

地址线检测模块02：用于在数据线正常时，判断地址线是否正常，并在地址线不正常时返回测试失败结果；

在NOR Flash检测过程中，首先检测的是数据线，若数据线不正常，则无需再检测地址线是否正常，系统直接返回测试失败结果；只有在数据线正常的情况下，检测地址线是否正常才有意义；若地址线存在错误，则地址空间中的两个不同位置将被映射到同一物理存储位置，即写一个位置却改变了另一个位置；地址线不正常通常包括：地址线短路和地址线开路；在地址线不正常时，系统返回测试失败结果。

参照图5，图5是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线检测模块一实施例的结构示意图；本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线检测模块02包括：

地址线短路检测单元021，用于向测试的基地址0偏移处写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据，则判断所述地址线短路，即地址线不正常；

检测地址线短路的具体方法是：将地址线依次左移，每次只将单独一根地址线拉高，其余地址线全部为低，回读写入的所述WriteBuf[10]长度的测试数据，并与原始写入的所述WriteBuf[10]的测试数据进行比较，若发现回读的测试数据中有与原始写入的WriteBuf[10]的测试数据相同的数据，则表明所述地址线至少与其他地址线中的一根地址线短路，即地址线不正常，系统返回地址线检测失败结果；

地址线开路检测单元022，若地址线开路，则其状态一直为0或1；用于当所述地址线为0时，向基地址空间中写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路；当所述地址线为1时，向所述基地址空间写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路，即地址线不正常；

检测地址线开路的具体方法是：对于开路的地址线，其状态一直为0或者一直为1；当地址线状态为0时，向起始地址空间中写入测试数据在回读时，读出的数据中会包含起始地址空间的数据，即向基地址空间中写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则可判断所述地址线为开路；当地址线状态为1时，向起始地址空间写入测试数据会错误的写到地址空间为1的地址空间中，即向所述基地址空间写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所示基地址空间中的数据，亦可判断所述地址线开路，即地址线不正常，系统返回地址线检测失败结果。

参照图6，图6是本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线短路检测单元一实施例的结构示意图；本发明快速检测大容量NOR Flash的装置中地址线短路检测单元021具体包括：

变量设置子单元021a，用于设置一个初始值为0的变量，并将所述变量设置为自增状态；

在本发明中，优选地，设置所述变量为MirrorCnt，并将所述变量MirrorCnt的初始值设置为0，同时将所述变量MirrorCnt置为自增状态，即为MirrorCnt++；

移位检测子单元021b，用于在判断地址线移位不结束时，移位地址线，回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，若二者相同，则所述的变量值自增；

移位检测子单元021b具体用于：将地址线依次左移，每次移动一位，每次移位后均需回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，并判断二者是否相同，直至检测完所需检测的所有地址线；

检测结果子单元021c，用于在判断地址线移位结束且所述的变量值为1时，返回地址线正常；在判断地址线移位结束且所述的变量不为1时，显示出错的地址线位置，返回地址线不正常；

在地址线移位结束时，判断所述变量MirrorCnt的值是否为1，若变量MirrorCnt的值为1，则说明地址线不短路，返回地址线正常结果；若所述变量MirrorCnt的值为除1以外的其他任意值，则说明地址线短路，并显示出错的地址线位置，返回地址线不正常结果。

本发明快速检测大容量NOR Flash的装置，通过只向NOR Flash空间一次性写入一组构造的测试数据，在回读校验时无须遍历整个地址空间，只需通过地址线移位的方法回读所需检测的地址空间上的数据来判断数据线和地址线是否存在开路或短路的情况，节省了大量的检测时间，达到了快速检测大容量NOR Flash的有益效果。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制其专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种快速检测大容量NOR Flash的方法，其特征在于，包括以下步骤：

擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常；

若数据线正常，则判断地址线是否正常，并在地址线不正常时返回测试失败结果；

若数据线不正常，则返回测试失败结果；

所述判断地址线是否正常的步骤具体包括：

判断地址线是否短路：向测试的基地址0偏移处写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据，则判断所述地址线短路，即地址线不正常；

判断地址线是否开路：若地址线开路，则其状态一直为0或1；当所述地址线为0时，向基地址空间中写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路；当所述地址线为1时，向所述基地址空间写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路，即地址线不正常。

2.根据权利要求1所述的快速检测大容量NOR Flash的方法，其特征在于，所述擦除NORFlash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常的步骤具体包括：

擦除NOR Flash起始地址空间的任一扇区，并在擦除的扇区写入测试数据；

回读写入的测试数据，并将其与原始写入的测试数据进行比较；

若二者相同，则判断数据线正常；

若二者不相同，则判断数据线不正常。

3.根据权利要求1所述的快速检测大容量NOR Flash的方法，其特征在于，所述判断地址线是否短路的步骤具体包括：

设置一个初始值为0的变量，并将所述变量设置为自增状态；

判断地址线移位是否结束；

若是，则在所述的变量值为1时，返回地址线正常；在所述的变量不为1时，显示出错的地址线位置，返回地址线不正常；

若否，则继续移位地址线，回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较；若二者相同，则所述的变量值自增。

4.根据权利要求3所述的快速检测大容量NOR Flash的方法，其特征在于，所述移位地址线，回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较的步骤具体包括：

将地址线依次左移，每次移动一位，每次移位后均需回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，并判断二者是否相同，直至检测完所需检测的所有地址线。

5.一种快速检测大容量NOR Flash的装置，其特征在于，包括：

数据线检测模块，用于擦除NOR Flash的一个扇区，写入测试数据，并判断数据线是否正常，并在数据线不正常时，返回测试失败结果；

地址线检测模块，用于在数据线正常时，判断地址线是否正常，并在地址线不正常时返回测试失败结果；

所述地址线检测模块具体包括：

地址线短路检测单元，用于向测试的基地址0偏移处写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若读出数据存在与所述写入的测试数据相同的数据，则判断所述地址线短路，即地址线不正常；

地址线开路检测单元，若地址线开路，则其状态一直为0或1；当所述地址线为0时，向基地址空间中写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路；当所述地址线为1时，向所述基地址空间写入测试数据，将地址线依次左移并回读，若回读的数据中包含所述基地址空间中的数据，则判断所述地址线开路，即地址线不正常。

6.根据权利要求5所述的快速检测大容量NOR Flash的装置，其特征在于，所述数据线检测模块具体用于：

擦除NOR Flash起始地址空间的任一扇区，并在擦除的扇区写入测试数据；

回读写入的测试数据，并将其与原始写入的测试数据进行比较；

若二者相同，则判断数据线正常；

若二者不相同，则判断数据线不正常。

7.根据权利要求5所述的快速检测大容量NOR Flash的装置，其特征在于，所述地址线短路检测单元具体包括：

变量设置子单元，用于设置一个初始值为0的变量，并将所述变量设置为自增状态；

移位检测子单元，用于在判断地址线移位不结束时，移位地址线，回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，若二者相同，则所述的变量值自增；

检测结果子单元，用于在判断地址线移位结束且所述的变量值为1时，返回地址线正常；在判断地址线移位结束且所述的变量不为1时，显示出错的地址线位置，返回地址线不正常。

8.根据权利要求7所述的快速检测大容量NOR Flash的装置，其特征在于，所述移位检测子单元具体用于：

将地址线依次左移，每次移动一位，每次移位后均需回读写入的测试数据并与原始写入的测试数据进行比较，并判断二者是否相同，直至检测完所需检测的所有地址线。