CN1529886A - 数据记录方法和装置以及数据再现方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种在预先记录有基于将M位数据调制成N位数据而获得的数据的记录介质上记录另外的数据的方法，其中M＜N。另外的记录数据通过改变N位数据的某一位或某几位而N位数据的位的剩余部分固定不变来记录。

Description

数据记录方法和装置 以及数据再现方法和装置

技术领域

本发明涉及一种用于记录鉴别数据的方法和装置，其中鉴别数据用于鉴别记录在记录介质上的记录数据例如内容数据，以及一种用于再现记录有鉴别数据的记录介质的方法和装置。

本申请要求2002年10月31日申请的日本专利申请号2001-335406的优先权和2001年11月9日申请的日本专利申请号2001-345330的优先权，其整体在此引入作为参考。

背景技术

在下面简称为CD的用作内容数据例如音乐数据的记录介质的光盘中，基于8-14(八到十四)调制(EFM)而获得的数据通过NRZI(不归零翻转)来记录，其中脉冲极性用[0]或[1]来翻转。转向CD的帧格式，每帧包括24位的同步信号，紧跟着14位的子码，依次紧跟着每个符号包括14位的记录数据。子码是管理数据，其中在调制之前，一个符号由8位构成，并且其存储在每帧中。子码的各个位分配为P～W，其中子码P用作例如指示音乐数据之间中止的开始标记，子码Q用于记录例如地址信息，而其中剩余的六个子码R～W集中在一起用于例如图示。

在相邻的符号之间，插入有三位耦合位。这些耦合位用于避免当符号连接在一起时违背EFM转换规则，并且选择这些耦合位以使数字和值(DSV)的绝对值较小。

在光盘例如CD中，有在记录记录数据例如内容数据之后，需要后记录鉴别数据，以监控所记录的记录数据的版权的情况。如果该鉴别数据作为子码来记录，一个符号整体上变成不同的一个符号。例如，如果鉴别数据记录在子码Q中，子码P或子码R～W被改变，结果已记录的内容数据变得不可再现。

后记录在光盘上的鉴别数据通过照射光束到构成光盘的衬底上的槽脊上来熔化光束反射膜，以便不会产生光束的反射，从而形成假的凹坑来记录。

同时，在EFM中，最小行程Tmin(转变间的最小长度)设置为2，最大行程Tmax(转变间的最大长度)设置为10，并且耦合位[000]，[100]，[010]或[001]插入到14位调制模式的符号之间。如果在通过将调制模式后半部的槽脊改变成凹坑来记录鉴别数据时，选择[000]作为接连的耦合位，可能会出现在记录鉴别数据之后最大行程Tmax(转变间的最大长度)超过11从而违背调制规则的情况。

在记录后记录到光盘上的鉴别数据时，鉴别数据的记录位置是不确定的，因为记录位置可能是槽脊或凹坑，依赖于用于记录该数据的符号之前或之后的数据。因为凹坑作为凹进部分形成，其反射率低，使得如果通过照射光束到凹坑区域中来熔化反射膜，记录和/或再现装置不能检测到所记录的数据。

DVD-ROM已经作为当前用作内容数据例如音乐数据的记录介质的光盘而提出。在DVD-ROM中，BCA(突发切断区)被定义以允许记录用于鉴别主数据例如内容数据的鉴别数据作为额外信息。

BCA在不同于已记录有主数据例如内容数据的光盘区域的光盘区域中提供。提供有BCA的光盘仅可以由专用的记录和/或再现装置或者专用的再现装置来再现。

鉴别数据记录在各个光盘上，并且为了不降低生产效率，需要为例如允许在预定的时间间隔例如几秒内纪录的数据量。另一方面，如果记录装置中的记录速度增加，使得每单位时间的数据记录量增加，那么可以增加鉴别数据的数据量。因此，在提供新的光盘时，例如鉴别数据的可记录区域的记录容量有时被设置使得大于实际被记录数据的数据量。在这种情况下，必须记录例如鉴别数据的数据长度。

发明公开内容

因此，本发明的一个目的在于提供一种数据记录方法和装置以及一种数据再现方法和装置，其中用于鉴别主数据例如内容数据的数据可以作为额外数据记录在已记录有数据的区域中，而对于先前存在的格式维持兼容性，以及一种已记录有鉴别数据的记录介质。

本发明的另一个目的在于提供一种数据记录方法和装置以及一种数据再现方法和装置，其中即使在记录了用于鉴别主数据例如内容数据的鉴别数据之后，仍然可以执行记录而不违背记录在记录介质上的主数据的调制规则，以及一种已记录有鉴别数据的记录介质。

本发明的又一个目的在于提供一种数据记录方法和装置以及一种数据再现方法和装置，其中后记录在记录介质上的数据，例如鉴别数据的容量可以容易地扩展，以及一种已记录有鉴别数据的记录介质。

为了实现上面的目的，本发明提供一种记录方法，其中在预先记录有从M位数据调制成N位数据的数据的记录介质上，其中M＜N，另外的数据以这样一种方式来记录，即N位中的某一位或某几位改变，而N位数据的剩余位固定不变。

优选地，N位数据以包括凹坑部分和凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的预先记录在记录介质上，并且选择位于某一位或某几位已改变的N位数据和紧跟在第一叙述N位数据后的N位数据之间的耦合位，使其从槽脊部分改变成凹坑部分，反之亦然。

本发明也提供一种记录装置，其包括用于扫描记录介质的头部件，该记录介质以包括凹坑部分和凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的预先记录有基于将M位数据调制成N位数据而获得的数据，其中M＜N，用于基于从头部件读出的数据控制是否记录鉴别数据的控制器，用于处理记录的鉴别数据并提供输出数据到头部件的信号处理部件。头部件记录鉴别数据使得N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的剩余位固定不变。

本发明也提供一种用于从预先记录有数据的记录介质中再现从M位数据调制成N位数据的数据的方法，其中M＜N，该记录介质也记录有另外的数据，使得N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变，其中该方法包括从记录介质读出数据，提取所读出数据的N位数据的位的剩余部分，确定所提取的N位数据的位的剩余部分是否为固定的值，并且如果所提取的N位数据的剩余部分为固定的值则给出没有错误的判定。

本发明也提供一种用于从预先记录有数据的记录介质中再现从M位数据调制成N位数据的数据的方法，其中M＜N，该记录介质也记录有另外的数据，使得N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变，其中该方法包括从记录介质读出数据，提取所读出数据的N位数据的位的剩余部分，确定所提取的N位数据的位的剩余部分是否为固定的值，并且如果所提取的N位数据的剩余部分被确定为固定的值则再现另外记录的数据。

本发明也提供一种用于从预先记录有数据的记录介质中再现从M位数据调制成N位数据的数据的方法，其中M＜N，该记录介质也记录有另外的数据，使得N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变，其中该方法包括从记录介质读出数据，检测所读出的N位数据的某一位或某几位是否为固定的值，并且如果所提取的N位数据的剩余部分为固定的值则再现另外记录的数据。

本发明也提供一种再现装置，其包括用于从记录介质读出数据的头部件，在该记录介质上，数据从M位数据调制成N位数据并且这样调制的数据预先记录于其上，其中M＜N，而另外的数据也记录于其上使得N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变，用于解调由头部件读出的数据的解调部件，以及用于提取由头部件读出的N位数据的位的剩余部分，验证所提取的N位数据的位的剩余部分是否为固定的值，并且如果所提取的N位数据的位的剩余部分被验证为固定的值则将另外记录的数据提供到解调部件的控制器。

本发明也提供一种记录介质，从M位数据调制成N位数据的数据预先记录于其上，其中M＜N，而另外的数据也记录于其上使得N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的剩余位固定不变。

优选地，N位数据以包括凹坑部分和凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的预先记录在记录介质上，并且其中位于某一位或某几位已改变的N位数据和紧跟在第一叙述N位数据后的N位数据之间的耦合位从槽脊部分改变成凹坑部分，反之亦然。

本发明的其他目的，特征和优点将通过阅读如附图中所示的本发明的实施方案变得更明白。

附图简述

图1说明实施本发明的光盘的信号格式。

图2说明子码帧格式。

图3说明子码帧格式的细节。

图4说明子码Q通道的格式。

图5说明光盘的制造方法。

图6是显示用于产生压模的切断装置的框图。

图7说明EFM转换表。

图8，续图7，说明图7中所示的EFM转换表。

图9A～9D说明用于记录鉴别数据的区域的子码。

图10是说明鉴别数据记录装置的框图。

图11是说明在数据记录装置中的光盘上记录鉴别数据的操作的流程图。

图12说明用于将0X47h改变成0X07h的鉴别数据的一个记录实例。

图13是显示用于再现实施本发明的光盘的数据再现装置的框图。

图14是说明差错检测方法的流程图。

图15是说明使用Q通道子码的再现控制方法的流程图。

图16是说明使用R～W通道的子码的再现控制方法的流程图。

图17是说明使用R～W通道的子码的另一种再现控制方法的流程图。

图18说明记录在实施本发明的光盘上的子码Q通道的格式。

图19说明索引的内容。

图20是显示用于产生压模的另一种切断装置的框图。

图21是说明产生子码的顺序的流程图。

图22是显示鉴别数据的另一种记录装置的框图。

图23是说明数据记录装置的鉴别数据的记录操作的流程图。

图24说明用于将0X47h改变成0X07h的鉴别数据的一个记录实例。

图25是说明后记录鉴别数据的顺序的流程图。

图26是显示用于再现根据本发明的光盘的另一种数据再现装置的框图。

图27是说明数据再现装置的再现操作的流程图。

图28是显示用于产生压模的又一种切断装置的框图。

图29是说明选择耦合位的顺序的流程图。

图30是显示鉴别数据的又一种记录装置的框图。

图31是说明在数据记录装置中的光盘上记录鉴别数据的操作的流程图。

图32说明用于将0X47h改变成0X07h的鉴别数据的一个记录实例。

图33是显示用于再现实施本发明的光盘的又一种数据再现装置的框图。

图34是说明使用Q通道子码的再现控制方法的流程图。

图35是显示用于产生压模的另一种切断装置的框图。

图36说明当使用EFM转换表的十进制计数法中的第64个0X40h作为鉴别数据记录区域的子码时，选择耦合位的方法。

图37说明当使用EFM转换表的十进制计数法中的第68个0X44h作为鉴别数据记录区域的子码时，选择耦合位的方法。

图38说明当使用EFM转换表的十进制计数法中的第71个0X47h作为鉴别数据记录区域的子码时，选择耦合位的方法。

图39是显示鉴别数据的另一种记录装置的框图。

图40是说明在数据记录装置中的光盘上记录鉴别数据的操作的流程图。

图41说明通过将0X47h改变成0X07h来记录鉴别数据的一个记录实例。

图42是显示用于再现根据本发明的光盘的另一种数据再现装置的框图。

图43是说明使用Q通道的子码的再现控制方法的流程图。

图44是说明使用R～W通道的子码的再现控制方法的流程图。

实施本发明的最佳模式

参考附图，详细说明根据本发明第一实施方案的实施本发明的一种光盘，用于在该光盘上记录数据的一种方法和一种装置，以及用于再现记录于该光盘上的数据的一种方法和一种装置。

在根据本发明的光盘中，用于记录TOC(目录)数据的导入区接近光盘的内圈，用于记录记录数据例如内容数据的数据记录区位于导入区的径向外侧上，并且导出区位于数据记录区的径向外侧上。在该光盘上，由与CD相同的记录格式记录有数据。也就是，由八到十四调制(EFM)调制的数据根据图1中所示的记录格式来记录。也就是，参考图1，每帧从24位的同步信号(11T，11T’，其中’表示转变，以及2T的模式，或其翻转模式)开始，紧跟着子码的一个符号(14位)，依次紧跟着数据和奇偶校验的32个符号，使得每帧包括588个通道位。在相邻的符号之间，3位的符号[000]，[100]，[010]或[010]作为耦合位插入。

包括8位的一个符号作为子码记录在每帧中。在该子码中，除了例如地址信息之外，用于鉴别各个光盘的鉴别数据也被记录。构成子码的8位数据被分配通道P，Q，R，S，T，U，V和W。98帧的子码形成一个块，如图2中所示。该块以用于鉴别块的头端的同步信号S₀，S₁开始。对于这些同步信号S₀，S₁，使用不用于EFM转换表的模式。也就是，如图3中所示，子码的96字节，不包括同步信号的2字节，形成一个块。子码的通道P～W中每个的每块由从P1-W1到P96-W96的96位(连同步位在内为98位)组成。

子码的通道P用作例如表示一个音乐数据与另一个之间的点的开始标记，而Q通道用于记录例如地址信息或鉴别数据。从R到W的六个通道集体地用作图示或差错检测的用户位。

参考说明用于记录鉴别数据的Q通道的帧结构的图4。从头端看起，该98位的Q通道帧包括2位同步信号S0，S1，4位CTL，用于鉴别鉴别数据的记录和/或再现模式的4位ADR，作为鉴别数据的索引的8位UDI索引，作为用于存储56位鉴别数据的有效负载的UDI有效负载，8位地址信息AFRAME，以及16位纠错码CRC(循环冗余码)。同时，从UDI索引低4位到CRC的84位表示记录区域。

在8位UDI索引中，记录有光盘的鉴别数据的可记录时间和预先记录时间。在UDI有效负载中，作为光盘1的鉴别数据，记录有作为光盘1发行者的唱片出售公司的ID，用于鉴别光盘1的记录号，用于鉴别光盘1出售国家的国家号，光盘制造厂的ID，用于鉴别生产光盘的设备的ID，光盘的序列号，以及用于检测数据是否已被修改的检测代码，例如MDC(修改检验码)。

在记录光盘的鉴别数据之前，初始值[1]，例如，记录在块的从URI索引的低4位到CRC的每位中。在该区域中，通过用热的方法将数据记录在记录位置处的反射膜中虚拟地形成不反射光束的凹入凹坑，从而[1]求补成[0]，使得光盘鉴别数据由虚拟形成的凹坑和槽脊的模式以随后将说明的方式来记录。在除记录区域之外的区域中，预先确定的数据例如内容数据，由凹入凹坑和槽脊的模式来记录，与ROM型光盘的情况一样。同时，记录区域是至少有效负载和纠错码的区域是足够的，使得该帧整体上是可记录的，并且[1]作为初始值来记录使得整个帧完全由槽脊形成。

在R～W通道中，用于记录鉴别数据的区域为固定的值，该值在记录鉴别数据之前和之后是相同的。也就是，在记录鉴别数据的区域中，子码数据被记录，使得当记录鉴别数据之前的调制前8位序列的数据位与记录鉴别数据之后的已调制8位序列的通道位相比较时，R～W通道的值至少第三位和后面的位将是相同的。

该光盘基本上是只重放的记录介质，使得记录数据例如内容数据由槽脊和凹槽的凹坑模式来记录。在光盘的上述预置子码记录区域中，作为后记录的信息，记录有用于鉴别每张光盘的鉴别数据。

现在说明上述光盘的制造方法。在制造光盘时，在抗蚀剂涂覆步骤11中光致抗蚀剂涂覆在玻璃主盘上，并且在切断步骤12中与记录数据相对应的槽脊和凹槽的凹坑模式用激光切断来形成主盘，如图5中所示。在显影定影步骤13中，已通过激光切断形成有凹坑模式的主盘被显影和定影。在金属主盘形成步骤14中，所得到的主盘在其表面上进行电解电镀来形成作为母盘的金属主盘。在接下来的压模形成步骤15中，压模形成于金属主盘。在衬底形成步骤16中，这样形成的压模放置在铸造金属压型中，以使用注入模制部件来形成透明树脂材料例如聚碳酸酯或丙烯酸树脂制成的盘衬底。在该步骤中形成的盘衬底已转录有通过切断步骤12形成于主盘上的凹坑模式。在接下来的反射膜形成步骤17中，反射膜例如通过溅射形成于含有凹坑模式的盘衬底的表面上。使用根据本发明的光盘，鉴别数据通过使用该反射膜被写入一次(后记录)。

为了记录鉴别数据，用于光盘的反射膜需要由允许数据记录的材料来形成。反射膜由一种材料形成，该材料虽然具有与用于CD或DVD的反射膜基本相同数量级的反射系数，它可以使对于读出光束的反射系数被使用光束的热感记录来改变。也就是，反射膜由金属膜形成，作为热感记录的结果，该金属膜对于读出光束的反射系数在不小于0.5％到不大于10％的范围内变化。特别地，反射膜由包括铝和混合于铝中的痕量锗的铝合金来形成。在保护膜形成步骤18中，保护膜通过由旋涂在反射膜上涂覆紫外光可固化树脂并照射紫外光以固化该树脂来形成。使用这样形成的光盘，从涂覆有保护膜的光盘面照射光束来记录和/或再现数据。在接下来的鉴别数据记录步骤19中，鉴别数据通过熔化反射膜以形成假的凹坑来形成。

现在说明用于在切断步骤12中通过激光切断与记录数据对应的槽脊和凹槽的凹坑模式来制造主盘的切断装置21。参考图6，该切断装置21包括A/D转换器22，其通过输入终端22a被提供采样的记录数据，纠错编码电路23，用于将纠错编码应用于从A/D转换器22输出的数字信号，调制电路24，用于调制已编码的输出，子码产生器25，用于产生子码，以及数据产生器26，用于将调制电路24的输出和来自子码产生器25的数据求和来产生记录数据。切断装置21也包括激光源27，例如气体激光器例如氩激光器或He-Cd激光器，光调制器28，用于通过例如利用鲍克尔效应的EOM(电光调制器)或者利用超声波的AOM(声光调制器)基于来自数据产生器26的数据来调制激光，镜子29，用于反射已调制的激光，可移动的机械装置30，用于移动镜子29，物镜31，用于汇集激光来照射玻璃主盘35，马达32，用于旋转玻璃主盘35，以及物镜驱动机械装置33，用于在为物镜31的光轴方向的聚焦方向上驱动物镜31。

纠错编码电路23使用交叉交错里德-所罗门码(CIRC)算法来编码，例如通过将模拟内容采样成样本并通过交叉交错和四级交叉交错里德-所罗门码(CIRC)的组合来编码所得到的样品，并将所得到的已编码数据输出到调制电路24。

调制电路24根据EFM算法来调制纠错编码电路23的已编码输出，并将所得到的已调制数据输出到数据产生器26。特别地，调制电路24根据图7和8中所示的EFM转换表将8位序列转换成14位记录码序列，最小行程Tmin(转变间的最小长度)为2并且最大行程Tmax(转变间的最大长度)为10。

子码产生器25产生对应于记录数据的子码例如地址信息，并且通过EFM将这样产生的8位数据序列形式的子码转换成14位记录码序列。特别地，子码产生器25产生图7和8中所示的EFM转换表中的8位数据序列的数据位，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，并且将这样产生的数据位转换成14位记录码序列。特别地，子码产生器25产生8位序列的数据位作为用于记录鉴别数据的区域的子码，该8位序列的数据位基于解调已记录的鉴别数据的已调制14位记录码序列来获得，其中从开始位起的第二位，也就是子码Q通道，从[1]求补成[0]，并且从开始位起的第三位到结尾位，也就是子码R～W通道，为相同的位。该数据被选择以满足条件，即当通过照射光束到由EFM产生的14位模式中凹坑之间的槽脊来熔化反射膜以形成假的凹坑时，新形成的凹坑长度将满足规定转变间的最大长度Tmax和转变间的最小长度Tmin分别为10和2的EFM调制规则。

子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第64个0X40h[01000000]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如例如图9A中所示。原因在于0X40h基于EFM给出14位模式[01001000100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第三个槽脊L用光束照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，则产生14位模式[01001000100000]，其基于解调给出除高第二位Q通道之外与数字零第0个[00000000]相同的模式。

子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第65个0X41h[01000001]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如例如图9B中所示。原因在于0X41h基于EFM给出14位模式[10000100100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第二个槽脊L用光束照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，则产生14位模式[10000100000000]，其基于解调给出除高第二位Q通道之外与第1个0X01h[00000001]相同的模式。

子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第68个0X44h[01000100]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如例如图9C中所示。原因在于0X44h基于EFM给出14位模式[01000100100100]，并且如果用NRZI调制的格式的第二个槽脊L用光束照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，在产生14位模式[01000100000000]，其基于解调给出除高第二位Q通道之外与第4个0X04h[00000100]相同的模式。

子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第71个0X47h[01000111]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如例如图9D中所示。原因在于0X47h基于EFM给出14位模式[00100100100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第二个槽脊L用光束照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，则产生14位模式[0100100000000]，其基于解调给出除高第二位Q通道之外与第7个0X07h[00000111]相同的模式。

子码产生器25产生上述子码，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，并将预置的槽脊转换成凹坑来基于待记录的数据将8位序列的Q通道从[1]求补成[0]以允许记录鉴别数据。通过设置通道R～W使其在记录鉴别数据之前和之后固定不变，记录和/或再现装置能够检测到鉴别数据将记录或已记录于其中的区域。

参考图6，EFM调制的记录数据从调制电路24输入到数据产生器26，同时子码也从子码产生器25输入到数据产生器。数据产生器26在记录码序列的相邻14位块之间插入3位耦合位。特别地，数据产生器26从[000]，[100]，[010]和[001]中选择耦合位，其满足转变间的最大长度Tmax＝10且转变间的最小距离Tmin＝2的EFM转换规则，并且其中数字和值(DSV)的绝对值较小以减少低频成分，并且数据产生器26将这样选择的3位耦合位插入到记录码序列的14位块之间。数据产生器26形成17位的记录码序列来产生图1中所示的数据，并将这样产生的数据输出到光调制器28。

使用上述切断装置21，当采样的待记录数据输入到A/D转换器22时，A/D转换器将数据从模拟信号转换成数字信号，并将这样产生的数字信号输出到纠错编码电路23。该纠错编码电路23施加为交叉交错和四级交叉交错里德-所罗门码的组合的编码，并将所得到的已编码数据发送到调制电路24。该调制电路24用EFM来调制数据。也就是，调制电路24基于图7和8中所示的EFM表将记录数据从8位转换成14位，并将所得到的数据输出到数据产生器26。另一方面，子码产生器25产生与记录数据相关的8位子码，例如地址信息，并将这样产生的子码转换成输出到数据产生器26的14位数据。从调制电路24提供数据并且从子码产生器25提供数据例如子码，该数据产生器26将这些数据求和，并且在相邻的14位块之间插入3位耦合位来产生记录数据。这些记录数据用NRZI来调制，并输出到光调制器28。

另一方面，激光源27发射输入到光调制器28的激光。该光调制器基于来自数据产生器26的输入来调制激光。也就是，当从数据产生器26提供[1]时，光调制器调制激光。由光调制器调制的激光落在镜子29上。该镜子29由可移动的机械装置30来移动，以使激光扫过玻璃主盘35的内外圆周。激光由物镜31汇集使得照射在通过作为旋转驱动部件的主轴马达32以例如CLV(恒定线速度)旋转的玻璃主盘35上。此时，物镜31通过物镜驱动机械装置33沿激光的光轴移动作为执行聚焦控制。

参考图10，现在说明在用于鉴别数据记录步骤19的光盘上记录鉴别数据的数据记录装置40。该数据记录装置40包括主轴马达41，用于旋转地驱动实施本发明的光盘1，光学摄像管42，用于发射光束到光盘1上并且检测反射回的光束，控制器43，用于执行光学摄像管42的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并且控制主轴马达41的旋转，RF放大器44，用于从光学摄像管42的检测输出产生例如RF信号，同步信号检测部件45，用于从RF信号中检测同步信号并产生时钟，子码提取部件46，用于从RF信号中提取子码，子码解调部件47，用于将EFM调制的14位子码解调成8位以产生P～W通道的子码，以及检测部件48，用于检测R～W通道的子码。作为用于记录光盘1的鉴别数据的记录系统，数据记录装置40也包括开关部件49，用于开关待记录于光盘1上的鉴别数据的输入，调制部件50，用于在光盘1上记录鉴别数据时执行记录处理，记录处理器51，用于在光盘1上记录鉴别数据时执行记录处理，以及输出控制器52，用于控制由光学摄像管42发射的光束的输出。

光盘台，没有显示，作为一个部件安装到主轴马达41的摘锭轴上。光盘台嵌入光盘1的中心开口中从而卡紧，使得光盘1的旋转中心与摘锭轴的旋转中心保持一致。主轴马达41使光盘1旋转，并与光盘1保持一致。

光学摄像管42包括作为发射光束的光源的半导体激光器，用于汇集从半导体激光器发射的光束的物镜，以及用于检测从光盘1的反射膜反射回的返回光束的光检测器。从半导体激光器发射的光束由物镜来汇集，以照射在光盘1的信号记录表面上。半导体激光器的激光输出由输出控制器52来控制。当再现记录于光盘1上的数据时，在输出控制器52的控制下，半导体激光器以标准输出发射光束。当记录被记录的鉴别数据时，半导体激光器以高于再现时的输出级发射光束以熔化反射膜来实现热感记录。

从光盘1的信号记录表面反射回的返回光束通过光检测器转换成电信号，然后光检测器将已转换的电信号输出到RF放大器44。物镜由物镜驱动机械装置，例如双轴传动装置支撑，并且在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。

基于构成光学摄像管42的光检测器的输出信号，RF放大器44产生RF信号，聚焦误差信号和跟踪误差信号。聚焦误差信号由例如散光法来产生，而跟踪误差信号由三光束法或推挽法来产生。RF放大器44将聚焦误差信号和跟踪误差信号输出到控制器43。

从RF信号中，同步信号检测部件45检测图1中所示的帧同步信号，当检测用于解码图2和3中所示的子码的同步信号时。同步信号检测部件45从同步信号产生时钟。

基于从RF放大器44提供的聚焦误差信号和跟踪误差信号，控制器43产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，并将这些伺服信号输出到光学摄像管42的物镜驱动机械装置的驱动电路。基于聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，由物镜驱动机械装置支撑的物镜在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。控制器43也产生旋转伺服信号，使得从同步信号产生的时钟将与石英振荡器的参考时钟在频率和相位上同步。从而主轴马达41使光盘以例如CLV旋转。

从RF放大器44输入的数据中，子码提取部件46提取紧跟在帧同步信号之后提供的14位子码，并将这样提取的子码输出到子码解调部件47。基于EFM转换表，子码解调部件47将14位数据转换成8位数据。子码解调部件47从98帧形成一个块，并且产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件47产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。

检测部件48检测记录鉴别数据模式，当检测子码的R～W通道时。也就是，检测部件48从Q通道的ADR检测模式是否为记录鉴别数据模式。检测部件48检测子码的R～W通道是否为保存于存储器中的固定的值。也就是，检测部件48检测R～W通道是否是图9A的[000000]，图9B的[000001]，图9C的[000100]或图9D的[000111]。如果从子码解调部件47输入的R～W通道的数据为固定的值，检测部件48导通开关部件49来将鉴别数据从输入终端53输入到调制部件50。如果从子码解调部件47输入的R～W通道的数据不是固定的值，则检测部件48假设记录区域不是鉴别数据的记录区域，并且关闭开关部件49来禁止在光盘1上记录鉴别数据。

调制部件50根据预置的调制系统来调制从输入终端53输入的鉴别数据，并且将已调制的鉴别数据输出到记录处理器51。该记录处理器51执行在光盘1上记录所必须的记录处理，并且将已记录处理的数据输出到光学摄像管42。

参考图11，现在说明通过数据记录装置40记录鉴别数据的操作。如果用户按压鉴别数据的记录按钮，数据记录装置40以CLV驱动主轴马达41。同时，光学摄像管42发射光束到光盘1上。输出控制器52控制光学摄像管的半导体激光器以标准输出来发射光束。光学摄像管42开始读出数据，当聚焦伺服控制和跟踪伺服控制由控制器43执行时。

在步骤S1，数据记录装置40使光学摄像管42执行光道跳跃到鉴别数据的附近，以在预置的区域记录鉴别数据。在步骤S2，数据记录装置40的子码提取部件46在鉴别数据的记录区域附近提取子码。子码解调部件47解调这样提取的子码。检测部件48提取子码的R～W通道来检测数据。在步骤S3，检测部件48检测从光盘1读出的R～W通道的子码是否为预置的固定值。如果从光盘1读出的R～W通道的子码与保存于例如存储器中的固定的值一致，数据记录装置40进行到步骤S4，否则到步骤S6。原因在于鉴别数据还没有记录在图4中所示的光盘1的子码Q通道的帧中，使得用于记录鉴别数据的区域不能被识别。例如，如果使用图9D中所示的0X47h和0X07h的组合，检测部件48检测R-W通道的子码是否为[000111]。如果子码是[000111]，数据记录装置40进行到步骤S4。如果子码不是[000111]，数据记录装置40进行到步骤S6。

也有可能在进行到步骤S3之前，数据记录装置40的检测部件48检测Q通道的ADR是否指定鉴别数据记录模式，并且如果已执行该检测则进行到步骤S3。

在步骤S4中，基于从光盘1读出的R～W通道的子码与保存于例如存储器中的固定值的一致性，检测部件48确定当前访问的光盘区域是用于记录鉴别数据的区域，从而导通开关部件49。

在步骤S5，数据记录装置40开始记录鉴别数据。也就是，鉴别数据(UID)在输入终端53输入，并且经由开关部件49提供到调制部件50，在调制部件中，数据用预置的调制来处理。然后，数据在记录处理器51中记录处理，以随后输入到光学摄像管42。输出控制器52将半导体激光器的输出从标准级改变成高级，以通过熔化反射膜来实现鉴别数据的热感记录。数据记录装置40将数据记录到图4中所示的Q通道子码的记录区域中，也就是从UDI索引低4位到CRC的84位中。特别地，数据记录装置40将可记录时间或先期记录时间记录在UDI索引的低4位中，并且将鉴别数据记录在56位UDI有效负载中，当将地址信息例如帧号记录在8位AFRAME中以及将纠错码记录在16位CRC中时，以这样的顺序。

参考图12，现在说明记录这些数据的方法。同时，在图12中所示的实施方案中，图9D中所示的0X47h被改变成0X07h。在记录鉴别数据之前，鉴别数据的记录前模式A是这样的，耦合位[000]插入到紧跟在24位的帧同步信号之后，然后记录[00100100100100](0X47h)子码，随后记录耦合位[100]，如图12的(A)中所示。在光盘1上，11T槽脊L1紧跟在11T长的凹坑P1之后给出，然后给出7T凹坑P2，然后给出3T槽脊L2，然后给出3T凹坑P3，然后给出3T槽脊L3，然后给出3T凹坑P4。从凹坑P3到凹坑P4，数据记录装置40照射高输出光束以熔化反射膜来实现热感记录，从而在槽脊L3的位置形成虚拟地连接凹坑P3和凹坑P4的凹坑来给出图12的(B)中所示的记录后模式A。也就是，模式[00100100000000](0X07h)记录在记录后模式A中的子码区域中。从而，11T长的凹坑P11，11T长的槽脊L11，7T长的凹坑P12，3T长的槽脊L12和9T长的凹坑P13以这样的顺序在光盘1上给出。

转向帧同步信号的模式与上面的情况相反的情况，在记录鉴别数据之前的模式B是这样的，如图12的(C)中所示，在24位的帧同步信号之后紧跟着耦合位[001]，然后紧跟着子码[00100100100100](0X47h)和耦合位[100]，以这样的顺序。在光盘1上，记录有11T长的槽脊L21，11T长的凹坑P21，4T槽脊L22，3T凹坑P22，3T槽脊L23，3T凹坑P23，3T槽脊L24和3T凹坑P24，以这样的顺序。跨过凹坑P23和P24，数据记录装置40照射高输出光束以熔化反射膜来实现热感记录，从而在槽脊L24的位置形成虚拟地互连凹坑P23和P24的凹坑来给出如图12(D)中所示的记录后模式B。这样，模式[00100100000000](0X07h)记录在记录后模式B中的子码区域中，从而，11T长的槽脊L31，11T长的凹坑P31，4T长的槽脊L32，3T长的凹坑P32，3T长的槽脊L33和9T长的凹坑P33以这样的顺序在光盘1上给出。

这样，数据记录装置40通过开/关高输出光束，形成与鉴别数据对应的凹坑和槽脊的模式，从而将鉴别数据记录在Q通道子码中。

如果，在图11的步骤S3，检测部件48已确定从光盘1读出的R～W通道的子码与预置的固定值不一致，在步骤S6，检测部件确定现在访问的光盘1的区域不是记录鉴别数据的区域，并且关闭开关部件49来禁止输入鉴别数据从而继续搜索。然后检测部件回到步骤S2。

在上述方法中，鉴别数据的记录区域可以用R～W通道的子码来标识，使得鉴别数据可以记录在这样标识的区域中。

参考图13，以下说明用于再现通过上述数据记录装置40记录有鉴别数据的光盘1的数据再现装置60。数据再现装置60包括主轴马达61，用于旋转地驱动记录有鉴别数据的光盘1，光学摄像管62，发射光束到光盘1并且检测反射回的光束，控制器63，用于执行光学摄像管的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并且执行主轴马达61的旋转控制，RF放大器64，用于从光学摄像管62的输出产生RF信号，同步信号检测部件65，用于从RF信号中检测同步信号来产生时钟，解调部件66，用于解调EFM调制的记录数据例如内容数据，以及纠错处理器67，用于纠错已解调的数据。

数据再现装置60也包括子码提取部件68，用于从RF信号中提取子码，子码解调部件69，用于将EFM调制的14位子码解调成8位来产生P～W通道的子码，检测部件70，用于检测R～W通道的子码，开关部件71，用于开关记录于光盘1上的鉴别数据的输出，以及解调部件72，用于解调鉴别数据。

光盘台，没有显示，作为一个部分安装到主轴马达61的摘锭轴上。光盘台嵌入光盘1的中心开口中从而卡紧，使得光盘1的旋转中心与摘锭轴的旋转中心保持一致。主轴马达61使光盘1旋转，并与光盘1保持一致。

光学摄像管62包括作为发射光束的光源的半导体激光器，用于汇集从半导体激光器发射的光束的物镜，以及用于检测从光盘1的反射膜反射回的返回光束的光检测器。从半导体激光器发射的光束由物镜来汇集，以照射在光盘1的信号记录表面上。应该注意的是，再现数据时，半导体激光器以标准输出发射光束。从光盘1的信号记录表面反射回的返回光束由光检测器转换成电信号，该电信号被光检测器输出到RF放大器64。物镜由物镜驱动机械装置例如双轴传动装置来支撑，并且在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。

基于构成光学摄像管62的光检测器的输出信号，RF放大器64产生RF信号，聚焦误差信号和跟踪误差信号。例如，聚焦误差信号由例如散光法来产生，而跟踪误差信号由三光束法或推挽法来产生。RF放大器64将RF信号输出到用于解调EFM调制数据的解调部件66，当将聚焦误差信号和跟踪误差信号输出到伺服控制器63时。

同步信号检测部件65从RF信号中检测图1中所示的帧同步信号，当检测用于解码图2和3中所示的子码的同步信号时。同步信号检测部件65基于检测到的同步信号来产生时钟。

基于从RF放大器64输入的聚焦误差信号和跟踪误差信号，伺服控制器63产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，并将这样产生的信号输出到光学摄像管62的物镜驱动机械装置的驱动电路。这样，由物镜驱动机械装置支撑的物镜基于聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。伺服控制器63也产生旋转伺服信号，使得从同步信号产生的时钟将与石英振荡器的参考时钟在频率和相位上同步。从而，主轴马达61使光盘以例如CLV旋转。

解调部件66根据EFM算法来解调记录数据例如内容数据。特别地，解调部件66根据图7和8中所示的EFM转换表，将14位记录码序列转换成8位数据位序列。纠错处理器67根据算法例如CIRC来解调已调制的记录数据，并将已解调的数据输出到输出终端73。例如，如果记录数据是音频数据，从输出终端73输出的音频数据由D/A转换器从数字信号转换成模拟信号，然后该模拟信号在声换能器例如扬声器，耳机或头戴耳机处输出。

子码提取部件68从RF放大器64输入的数据中提取紧跟在帧同步信号之后给出的14位子码，并将这样提取的信号输出到子码解调部件69。基于EFM转换表，子码解调部件69将14位数据转换成8位数据。子码解调部件69用98帧形成一个块来产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件69产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。

检测部件70检测记录鉴别数据模式，当检测子码的R～W通道时。也就是，检测部件70从Q通道的ADR检测模式是否为记录鉴别数据模式。检测部件70检测子码的R～W通道是否为保存于存储器中的固定的值。也就是，检测部件70检测R～W通道是否为图9A的[000000]，图9B的[000001]，图9C的[000100]或图9D的[000111]。如果从子码解调部件69输入的R～W通道的数据为固定的值，检测部件70导通开关部件71来将从子码提取部件68输入的鉴别数据输入到解调部件72。如果从子码解调部件69输入的R～W通道的数据不是固定的值，则检测部件70认为记录区域不是鉴别数据的记录区域，并且关闭开关部件71来禁止来自子码提取部件68的鉴别数据输入到解调部件72。

从子码解调部件69通过开关部件71，鉴别数据解调部件72被提供Q通道子码。鉴别数据解调部件72参考例如记录在图4中所示UDI索引中的先期记录时间来解调记录在UDI有效负载中的鉴别数据，当使用CRC执行纠错处理时，并将已解调的鉴别数据在输出终端74输出。

现在说明数据再现装置60的数据读出操作。当用户按压重放按钮时，数据再现装置60开动主轴马达61使装载在构成光盘装载部件的光盘台上的光盘1以恒定线速度旋转。同时，光学摄像管62发射光束到光盘1上。此时，光学摄像管62以标准输出发射光束。光学摄像管62开始读出数据，当聚焦控制和跟踪控制由伺服控制器63执行时。

使用光盘1的R～W通道的子码来误差检测的情况参考图14说明。在步骤S11，数据再现装置60访问鉴别数据的记录区域，在鉴别数据再现模式的情况下，在子码提取部件68中提取子码并通过子码解调部件69来解调这样提取的子码。在步骤S12，检测部件70提取每帧的子码的R～W通道来检测数据。检测部件70检测从光盘1读出的R～W通道的子码是否为预先确定的值。例如，如果使用图9D中所示的0X47h和0X07h的组合，检测部件70检测R～W通道的子码是否为[000111]。当检测部件70已确定R～W通道的子码是固定的值，也就是[000111]时，数据再现装置60进行到步骤S13。当检测部件70已确定R～W通道的子码不是固定的值，也就是不[000111]时，数据再现装置60进行到步骤S14。

当检测部件70已确定R～W通道的子码是固定的值时，在步骤S13，数据再现装置60确定没有错误。

当检测部件70已确定R～W通道的子码与固定的值不一致时，在步骤S14，数据再现装置60确定存有错误。例如，鉴别数据解调部件72作为Q通道的CRC检测的结果已检测到错误，由检测部件70检测的帧的Q通道的位被求补，并且再次执行CRC检测来纠错。

在上述方法中，误差检测可以通过确定保存于例如数据再现装置60的存储器中的固定值是否与从光盘读出的R～W通道的子码相一致，借助于为固定值的R～W通道的子码来实现。

该数据再现装置60也能够如下地控制数据再现：在图15的步骤S21，数据再现装置60访问鉴别数据的记录区域，并且在子码提取部件68中提取子码并在子码解调部件69中解调所提取的子码。在步骤S22中，检测部件70读出子码的Q通道来检测至少图4中所示的可记录区域是否全为[1]。原因在于，在不记录有的鉴别数据的光盘中，没有通过熔化反射膜以形成假的凹坑来记录鉴别数据，使得至少Q通道的可记录区域全为[1]。当然，如果Q通道的整个帧是可记录区域，检测Q通道的子码是否全为[1]是足够的。如果Q通道的可记录区域全为[1]，数据再现装置60进行到步骤S23，否则到步骤S24。

如果Q通道的可记录区域全为[1]，在步骤S23，数据再现装置60关闭开关部件71来禁止读出鉴别数据以及禁止再现例如记录于光盘1上的内容数据。原因在于，Q通道的可记录区域全为[1]的光盘1是还没记录有鉴别数据的光盘，因此是在记录鉴别数据之前违法发行的光盘。

如果，当Q通道的可记录区域不全为[1]时，在步骤S24，数据再现装置60的检测部件70用Q通道的ADR已检测出正在访问的区域是鉴别数据的记录区域，那么数据再现装置60设置读出鉴别数据的再现模式。在接下来的步骤S25，再现装置60读出并解调鉴别数据，然后允许再现记录于光盘1上的内容数据的处理。

使用上述方法，其中检测Q通道的可记录区域是否全为[1]，能够限制例如在记录鉴别数据之前违法发行的光盘的再现。而且，使用该方法，能够限制使用基于剥去光盘1的保护膜或反射膜以及转录光盘衬底的槽脊和凹槽的凹坑模式产生的压膜而生产的违法光盘的再现。因为鉴别数据基于熔化反射膜以形成假的凹坑来记录，因此不是槽脊和凹槽的模式。

数据记录装置60也能够如下地控制数据再现：如果，在步骤S31中，数据再现装置60的检测部件70用Q通道的ADR已检测出区域是鉴别数据记录区域，数据再现装置60设置读出鉴别数据的再现模式。在接下来的步骤S2，数据再现装置60的检测部件70提取子码的R～W通道来检测从光盘1读出的R～W通道的子码是否为预置的固定值。例如，如果使用图9D中所示的0X47h和0X07h的组合，检测部件70确定R～W通道的子码是否为[000111]。如果数据再现装置60的检测部件70已验证R～W通道的子码为固定的值，也就是[000111]，则数据再现装置60进行到步骤S33，而如果检测部件70已验证R～W通道的子码不是[000111]，数据再现装置60进行到步骤S34。

如果数据再现装置60的检测部件70已验证R～W通道的子码为固定的值，在步骤S33，数据再现装置60验证当前装载的光盘1是授权的，并且导通开关部件71来使鉴别数据可读。当从子码解调部件69通过开关部件71被提供Q通道的子码时，鉴别数据解调部件72参考例如记录在图4中所示的UDI索引上的先期记录时间来解调记录在UDI有效负载上的鉴别数据，当通过CRC来纠错已解调的数据时，并且将所得到的数据输出到输出终端74。数据再现装置60开始再现记录在光盘1上的内容数据。

当数据再现装置60的检测部件70已确定R～W通道的子码与固定的值不一致时，在步骤S34，数据再现装置60确定当前装载的光盘不是授权的或是不同种类，并且关闭开关部件71来禁止读出鉴别数据。例如，数据再现装置60禁止再现记录在光盘1上的内容数据的处理的后阶段处理。使用这种方法，能够限制违法发行的光盘或不同种类的光盘的再现。

本数据再现装置60也能够控制数据再现。参考图17，在步骤S41中，数据再现装置60使光学摄像管62执行光道跳跃到鉴别数据的记录区域附近来指定已记录有鉴别数据的区域。在接下来的步骤S42中，数据再现装置60使子码提取部件68在鉴别数据的记录区域附近提取子码，而使子码解调部件69解调这样提取的子码。检测部件70提取子码的R～W通道来检测数据。在接下来的步骤S43，检测部件70检测从光盘1读出的R～W通道的子码是否为预置的固定值。如果从光盘1读出的R～W通道的子码与保存于例如存储器中的固定的值一致，数据再现装置60进行到步骤S44，否则到步骤S46。例如，如果使用图9D中所示的0X47h和0X07h的组合，检测部件70检测R-W通道的子码是否为[000111]。如果子码是[000111]，数据再现装置60进行到步骤S44，否则到步骤S46。

在步骤S44中，基于从光盘1读出的R～W通道的子码与存储于例如存储器中的固定的值的一致性，检测部件70确定当前访问的光盘区域是已记录有鉴别数据的区域。因此，开关部件71导通来允许读出鉴别数据。当从子码解调部件69通过开关部件71被提供Q通道的子码时，鉴别数据解调部件72参考例如记录在图4中所示的UDI索引上的先期记录时间来解调记录在UDI有效负载上的鉴别数据。鉴别数据解调部件也使用CRC来纠错已解调的数据，并将所得到的数据输出到输出终端74。数据再现装置60开始再现例如记录在光盘1上的内容数据的处理。

如果，在步骤S43，检测部件70已确定从光盘1读出的R～W通道的子码与预置的固定的值不一致，在步骤S46，检测部件确定当前访问的光盘1的区域不是用于记录鉴别数据的区域，并关闭开关部件71来禁止输入鉴别数据。检测部件70继续其搜索并回到步骤S42。

使用上述方法，鉴别数据的记录区域可以用R～W通道的子码来标识，以读出记录在该指定区域中的鉴别数据。

使用上述根据本发明的光盘1，因为除Q通道之外R～W通道的子码在记录鉴别数据之前和之后为固定的值，使得在记录或再现鉴别数据的过程中，通过使用该固定的值，鉴别数据的记录区域可以被标识。通过检测从光盘1读出的R～W通道的子码是否不同于该固定的值，数据再现装置60能够检测是否出现错误。鉴别数据不是由构成平顶和凹槽模式的凹坑和槽脊来记录，而是通过熔化反射膜以禁止光束的反射来形成。从而，鉴别数据不被转录到通过使用由剥去光盘的保护膜或反射膜以及转录平顶和凹槽的凹坑模式来制作的压膜而制造的未授权光盘，从而对带有恶性意图的人制作的光盘的再现强加限制。

参考附图，以下说明光盘的第二实施方案，用于在该光盘上记录数据的一种方法和一种装置以及用于再现记录于光盘上的数据的一种方法和装置。

在这里所使用的光盘中，与上述光盘中一样，用于记录TOC(目录)数据的导入区记录在内圈侧，并且用于记录记录数据例如内容数据的数据记录区位于导入区的径向外侧。导出区位于数据记录区的径向外侧。记录成与CD相同记录格式的数据，也就是8-14(八到十四)调制数据(由EFM调制的数据)记录成图1中所示的记录格式。

参考图18，详细说明记录有这里所使用的光盘的鉴别数据的Q通道帧格式。该Q通道的帧包括总共98位，也就是从头端开始，作为2位同步信号的S0和S1，4位CTL，用于鉴别鉴别数据的记录和/或再现模式的4位ADR，作为鉴别数据索引的8位UDI索引，作为用于存储56位鉴别数据的有效负载的UDI有效负载，作为地址信息的8位AFRAME和作为纠错码的16位CRC(循环冗余码)。

8位UDI索引包括a₀～a₇八位。参考图19，a₀和a₁两位被分配来指定用于记录鉴别数据的区域在哪里给出。特别地，[00]表示在光盘中有一个鉴别数据可记录区域，[01]表示在一个节中有一个鉴别数据可记录区域，[10]表示在每个光道中有一个鉴别数据可记录区域，而[11]表示保留。

a₂和a₃两位被分配来指定帧。特别地，[00]表示开始帧，也就是头，并且[01]表示有接连的帧，而[10]和[11]表示保留。a₄～a₇四位记录用0～15表示记录有鉴别数据的帧(扇区)的数据。记录鉴别数据的扇区是100个扇区(100个子码帧：64位)～1600个扇区(1600个子码帧：1024位)。鉴别数据用100个扇区(100帧)作为一个单元来记录。

例如，如果a₂和a₃是[00]，帧(扇区)的总数记录在a₄～a₇中，也就是头，使得当头端被访问时，可记录区域的大小可以被指定。当a₂和a₃是[01]时，a₄～a₇表示从开始端数起的帧号，从而使得帧位置能够被指定。因此，如果鉴别数据的长度没有到达帧(扇区)数的总和，对于光盘，将记录鉴别数据的区域之外的区域指定为非记录的区域是可能的。

在56位的UID有效负载中，作为光盘的鉴别数据，记录有作为光盘发行者的唱片公司的唱片公司ID，用于鉴别光盘的记录号，用于鉴别光盘出售国家的国家号，用于标识光盘制造厂的生产者ID，用于标识制造光盘的设备的制造设备ID，用于检验数据是否被修改的检测码例如MDC(修改检验码)以及主数据例如内容数据的加密密钥。

同时，鉴别数据被记录使其不跨越多个光道。原因在于，当P通道是[1]时，表示再现中止(无效时间)，对于光道之间的区域，如果鉴别数据在这里记录则P通道可以改变成[0]。鉴别数据的记录速度是75子码帧/秒，一张盘的记录时间是例如5秒。如果记录时间比这个长，则鉴别数据的记录占用过多的时间，从而降低光盘的生产效率。因此，鉴别数据的记录量可以增加如果记录速度比这个快的话。

在从UDI索引低四位到CRC的块中，在记录鉴别数据之前，非例外地记录有例如[1]作为初始值。在该区域中，不反射光或仅反射少量光的凹坑通过将数据热感记录在记录位置的反射膜中来形成从而求补成[0]，使得光盘的鉴别数据有虚拟形成的凹坑和槽脊的模式来记录。在除可记录区域之外的区域中，预置的数据例如内容数据由凹坑和槽脊的模式来记录，与在ROM型光盘中一样。同时，可记录区域是从一张光盘到另一张值被改变的至少UDI索引，UDI有效负载和CRC是足够的。因此，该帧整体上可以是可记录区域，并且作为初始值，[1]可以被记录使得区域整体上变成槽脊。

在用于记录鉴别数据的区域中，R～W通道为固定的值并且被设计成在记录鉴别数据之前和之后为相同的值。也就是，子码被记录，使得如果在用于记录鉴别数据的区域中，记录鉴别数据之前的8位序列的调制前数据位与记录鉴别数据之后的8位序列的已解调通道位相比较，至少第三位之后R～W通道的值将是相同的位。

该光盘基本上是只重放的记录介质，其中记录数据例如内容数据以包括平顶和凹槽的凹坑模式来记录。在光盘的预置子码的记录区域中，作为后记录数据，记录有用于鉴别各个光盘的鉴别数据。

该光盘也通过已参考图5说明的方法来制造。在用于激光切断与待记录到光盘上的数据相对应的平顶和凹槽的凹坑模式的切断过程中使用以生产主盘的切断装置121具有与已参考图6说明的切断装置21相同的基本结构，并且另外包括用于鉴别鉴别数据的可记录区域的判定部件34。

在下面切断装置121的说明中，与图6中所示的装置相同的部分用相同的参考数字来表示，并且不逐一地说明。

图20中所示的切断装置121的子码产生器25，包括数据的地址信息的子码在用于记录主数据例如内容数据的区域中产生，并且用EFM调制以将8位序列数据位转换成14位记录码串。

子码产生器25产生图7和8中所示的EFM转换表中的8位序列的数据位作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如上所述，并将数据位转换成14位记录码序列。特别地，子码产生器25产生8位数据序列的数据位作为用于记录鉴别数据的区域的子码，该8位序列的数据位基于将鉴别数据记录于已调制的14位记录数据序列中并基于解调而获得，其中从8位数据序列头端起的第二位，也就是子码Q通道，从[1]求补成[0]，并且其中从头端起第三位到结尾位，也就是子码R～W通道，将是相同的位。这些数据位被选择，使得当通过照射光束到限定在基于EFM获得的14位模式的凹坑之间的槽脊上来熔化反射膜以形成假的凹坑时，新形成的位串将满足EFM调制规则，即转变间的最大长度Tmax和转变间的最小长度分别为10和2。

这里，子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第64个0X40h[01000000]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如图9A中所示。

而且，子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第65个0X41h[01000001]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如图9B中所示。

同样，子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第68个0X44h[01000100]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如图9C中所示。

另外，子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第71个0X47h[01000111]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，如图9D中所示。

子码产生器25产生上述子码，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，使得预置的槽脊变成凹坑，特别地，使得8位序列的Q通道从[1]求补成[0]，对应于记录数据，以允许记录鉴别数据。通过设置R～W通道使其在记录鉴别数据之前和之后为固定的值，待记录或已记录有鉴别数据的区域可以被记录和/或再现装置检测。

对于图20中所示的切断装置121的子码产生器25，连接有用于识别鉴别数据的可记录区域的判定部件34。判定部件34确定记录在用于记录主数据例如内容数据的区域中的子码是否由子码产生器25产生，或者记录在用于记录鉴别数据的可记录区域中的子码是否由子码产生器25产生。当主数据，例如内容数据被记录时，判定部件34控制子码产生器25，使得子码产生器25将产生包括，例如与数据一致的地址信息的子码，并通过EFM将这样产生的子码从8位序列的数据位转换成14位记录码序列。当正在访问的区域是用于记录鉴别数据的可记录区域时，判定部件34控制子码产生器25，使得子码产生器25将产生图7和8中所示的EFM转换表中的8位序列的数据位，如图9A～9D中所示，并将这样产生的数据位转换成14位记录码序列。

数据产生器26不仅被调制电路24提供用EFM来调制的记录数据，而且被子码产生器25提供子码，如图20中所示。数据产生器26在记录码序列的14位块之间的插入3位耦合位。特别地，数据产生器26从[000]，[100]，[010]和[001]中选择这样的耦合位，其将满足转变间的最大长度Tmax＝10以及转变间的最小长度Tmin＝2的EFM转换规则，并且其将减小DSV(数字和值)的绝对值以进一步减小低频成分，并在记录码序列的14位块之间插入三位耦合位。数据产生器26产生图1中所示的数据，记录码序列为17位长。数据产生器将这样产生的数据输出到光调制器28。

如上述构造的图20中所示的切断装置121的操作现在参考图21来说明。

当采样的记录数据经由输入终端22a输入到A/D转换器22时，A/D转换器将数据从模拟信号转换成数字信号，并将所得到的数据输出到纠错编码电路23。纠错编码电路23通过交叉交错和四级里德-所罗门码的组合来编码所得到的样本，并将已编码的信号输出到调制电路24。在步骤S101，调制电路24根据EFM算法调制来自纠错编码电路23的已编码输出，并将所得到的已调制信号输出到数据产生器26。子码产生器25在用于记录主数据例如内容数据的区域中，产生包括与数据一致的地址信息的子码，并且通过EFM将这样产生的子码从8位序列的数据位转换成14位记录码序列。子码产生器25产生图7和8中所示的EFM转换表中的8位序列的数据位，作为记录鉴别数据的区域的子码，并将这样产生的数据位转换成14位记录码序列。

在步骤S102中，判定部件34检测所考虑的区域是否为用于记录鉴别数据的区域。特别地，判定部件34可以确定从图4中所示的一张光盘到另一张其值被改变的至少UDI索引，UDI有效负载和CRC的区域，作为鉴别数据的可记录区域。当然，Q通道子码的整体可以被确定为鉴别数据的可记录区域。如果所指区域是用于记录鉴别数据的区域，判定部件34进行到步骤S103。如果所指区域不是用于记录鉴别数据的区域，也就是如果所指区域是用于以通常的模式记录主数据例如内容数据的区域，判定部件34进行到步骤S104。

如果所指区域是用于记录鉴别数据的区域，在步骤S103，子码产生器25产生8位序列的数据位作为专门的子码，该8位序列的数据位基于解调已记录有鉴别数据的已调制14位记录码序列而获得，其中在从已解调的8位序列的数据位的头端起第二位，也就是子码Q通道，从[1]求补成[0]，并且从头端起第三位开始到结尾位，也就是子码R～W通道，是相同的位。这些数据位可以由0X40h，0X41h，0X44h或0X47h作为例子，如图9A～9D中所示。子码产生器25根据图9中所示的EFM转换表将这些子码转换成14位记录码串。

如果所指区域是用于记录主数据例如内容数据的区域，在步骤S104，子码产生器25产生包括与数据相对应的地址信息的子码，并且根据图7和8中所示的EFM转换表将这样产生的子码转换成14位记录码序列。

数据产生器26被调制电路24提供数据并且被子码产生器25提供数据例如子码，将这些数据总和到一起，并且在14位块之间插入不违背EFM转换规则的3位耦合位来产生记录数据，然后该记录数据用NRZI来调制并被输出到光调制器28。

激光源27发射输入到光调制器28的激光光束。光调制器基于来自数据产生器26的输入来调制激光。也就是，当从数据产生器26输入[1]时，光调制器调制激光。由光调制器调制的激光入射到镜子29上。该镜子29由可移动的机械装置30来移动，以使激光扫过玻璃主盘35的内外圈。激光由物镜31汇集，以照射在通过作为旋转驱动部件的主轴马达32以CLV(恒定线速度)旋转的玻璃主盘35上。物镜31通过物镜驱动机械装置33沿激光的光轴移动作为执行聚焦控制。

上面将主盘35暴露于光。在已转录有主盘35的模式的光盘中，图9A～9D中所示的14位记录码序列0X40h，0X41h，0X44h和0X47h记录在用于记录鉴别数据的可记录区域中，由此数据被记录使得图18中所示的至少UDI索引，UDI有效负载和CRC的区域全为[1]。

参考图22，现在说明用于在鉴别数据记录步骤中使用的光盘上记录鉴别数据的数据记录装置。类似于数据记录装置40，该数据记录装置140包括主轴马达41，用于旋转地驱动实施本发明的光盘101，光学摄像管42，用于发射光束到光盘101并且检测反射回的光束，控制器43，用于执行光学摄像管42的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并且控制主轴马达41的旋转，RF放大器44，用于从光学摄像管42的检测输出产生例如RF信号，同步信号检测部件45，用于从RF信号中检测同步信号并产生时钟，子码提取部件46，用于从RF信号中提取子码，子码解调部件47，用于将EFM调制的14位子码解调成8位以产生P～W通道的子码，以及检测部件48，用于检测R～W通道的子码。

作为记录光盘101的鉴别数据的记录系统，数据记录装置140包括鉴别数据调制部件149，用于调制鉴别数据，子码调制部件150，用于调制子码，开关部件151，用于开关记录于光盘1上的鉴别数据的输入，记录处理器152，用于在光盘101上记录鉴别数据时执行记录处理，以及输出控制器153，用于控制由光学摄像管42发射的光束的输出。

主轴马达41其摘锭轴与光盘台一致地安装。光盘台嵌入光盘101的中心开口中从而卡紧，使得光盘101的旋转中心与摘锭轴的旋转中心保持一致。主轴马达41使光盘101旋转，并与光盘101保持一致。

光学摄像管42包括用于发射光束的半导体激光器，用于汇集从半导体激光器发射的光束的物镜，以及用于检测从光盘101的反射膜反射回的返回光束的光检测器。从半导体激光器发射的光束由物镜来汇集，以照射在光盘101的信号记录表面上。半导体激光器的输出由输出控制器153来控制。应该注意的是，在再现记录在光盘101上的数据时，半导体激光器在输出控制器153的控制下以标准输出来发射光束。当记录鉴别数据时，以高于再现时的输出级发射光束以通过热感记录熔化反射膜。

从光盘101的信号记录表面反射回的返回光束由光检测器转换成电信号，该电信号被光检测器输出到RF放大器44。物镜由物镜驱动机械装置，例如双轴传动装置来支撑，并且在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。

基于构成光学摄像管42的光检测器的输出信号，RF放大器44产生RF信号，聚焦误差信号和跟踪误差信号。例如，聚焦误差信号由例如散光法来产生，而跟踪误差信号由三光束法或推挽法来产生。RF放大器44将聚焦误差信号和跟踪误差信号输出到伺服控制器43。

同步信号检测部件45从RF信号中检测图1中所示的帧同步信号，当检测用于解码图2和3中所示的子码的同步信号时。同步信号检测部件45从同步信号产生时钟。

基于从RF放大器44输入的聚焦误差信号和跟踪误差信号，控制器43产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，并将这样产生的信号输出到光学摄像管42的物镜驱动机械装置的驱动电路。从而，基于聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，由物镜驱动机械装置支撑的物镜在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。控制器43也产生旋转伺服信号，使得从同步信号产生的时钟将与石英振荡器的参考时钟在频率和相位上同步。因此主轴马达41使光盘以例如CLV旋转。

子码提取部件46从RF放大器44输入的数据中提取紧跟在帧同步信号之后给出的14位子码，并将这样提取的信号输出到子码解调部件47。基于EFM转换表，子码解调部件47将14位数据转换成8位数据。子码解调部件47用98帧形成一个块来产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件47产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。

检测部件48检测记录鉴别数据模式。也就是，检测部件48从Q通道的ADR检测模式是否为记录鉴别数据模式。检测部件48也可以通过检测R～W通道的子码是否为固定的值来指定用于记录鉴别数据的区域，并且将装置设置为鉴别数据记录模式。或者，检测部件48也可以通过两种方法的组合来指定记录位置是否为槽脊。

鉴别数据调制部件149根据预先确定的调制系统来调制在输入终端154输入的鉴别数据，并将所得到的数据输出到子码调制部件150。应该注意，输入到输入终端154的数据是记录在UDI索引中的a₀～a₇的数据以及记录在UDI有效负载中的鉴别数据，如图18中所示。

子码调制部件150将通过照射光束来记录鉴别数据的帧的子码从8位数据位序列调制成14位通道序列。也就是，子码调制部件150执行将用于记录鉴别数据的帧从例如0X40h改变到0X00h，从0X41h到0X01h，从0X44h到0X04h，或者从0X47h到0X07h的处理，如已参考图9A～9D所说明的，以根据图7和8中所示的EFM转换规则将8为数据为转换成14为记录码序列。

开关部件151开关待记录于光盘101上的鉴别数据。开关部件151在检测部件48的控制下，分别当检测部件48已检测到或者没有检测到记录鉴别数据模式时导通或者关闭。也就是，开关部件151只有当记录鉴别数据时才允许鉴别数据输出到记录处理器152。记录处理器152执行在光盘101上记录所必须的过程，并将已记录处理的数据输出到光学摄像管42。

参考图23，现在说明用于记录鉴别数据的上述数据记录装置140的处理。首先，当用户按压鉴别数据记录按钮时，数据记录装置140开动主轴马达41，以使装载在构成光盘装载部件的光盘台上的光盘以恒定线速度旋转。同时，光学摄像管42发射光束到光盘101上。应该注意的是，输出控制器153控制光学摄像管42的半导体激光器来以标准输出输出光束。光学摄像管42开始读出数据，当聚焦伺服和跟踪伺服操作在控制器43的控制下执行时。

在步骤S111，数据记录装置140基于例如由子码解调部件47解调的子码的TOC，使光学摄像管42执行光道跳跃到鉴别数据的可记录区域附近，以在可记录区域中记录鉴别数据。数据记录装置140使子码提取部件46提取鉴别数据的可记录区域的子码，并且使子码解调部件47解调这样提取的子码，并将所得到的8位数据输出到检测部件48。在步骤S112，检测部件48使用Q通道的子码的ADR中的鉴别数据来检测所指区域是否为用于记录鉴别数据的区域。如果确定所指区域是用于记录鉴别数据的区域，检测部件48导通开关部件151以进行到步骤S113。如果确定所指区域不是用于记录鉴别数据的区域，检测部件48关闭开关部件151以进行到步骤S114。检测部件48也可以通过检测R～W通道的子码是否为固定的值来指定用于记录鉴别数据的区域，并将装置设置成鉴别数据记录模式。或者，检测部件48也可以通过上述两种方法的组合来指定记录位置是否为槽脊。

如果区域是用于记录鉴别数据的区域，并且在步骤S113中鉴别数据在输入终端154输入，鉴别数据调制部件149根据预先确定的系统来调制鉴别数据。通过记录鉴别数据，子码调制部件150执行将光束照照射的帧的子码从8位数据位序列转换成14位数据位序列的调制处理。子码调制部件150通过开关部件151将已调制的鉴别数据输入到记录处理器152。记录处理器152将输入的鉴别数据输出到光学摄像管42。记录处理器152将半导体激光器的输出从标准级切换成高级，以通过熔化反射膜来实现热感记录。通过在槽脊中形成假的凹坑，数据记录装置140将数据记录在图18中所示的Q通道的子码记录区域中，也就是从UDI索引到CRC的84位中。特别地，数据记录装置140在UDI索引中记录a₀～a₇的数据，然后在56位的UDI有效负载中记录鉴别数据，然后在8位的AFRAME中记录地址信息，例如帧号，然后在16位的CRC中记录纠错码。

如果模式不是记录鉴别数据模式，在步骤S114，检测部件48关闭开关部件151来禁止记录鉴别数据。

记录这些数据的方法现在参考图24来说明。在本实施方案中，图9D中所示的0X47h改变成0X07h。记录鉴别数据之前的模式A在图24的(A)中显示，其中24位的帧同步信号之后紧接着耦合位[000]，紧跟着子码[00100100100100](0X47h)，依次紧跟着耦合位[100]。在光盘101上，记录有11T长的凹坑P1，紧跟着11T长的槽脊L1，7T长的凹坑P2，然后是3T长的槽脊L2，然后是3T长的凹坑P3，然后是3T长的槽脊L3，然后是3T长的凹坑P4，最后是3T～11T长的耦合位槽脊L4。

从凹坑P3到凹坑P4，数据记录装置140照射高输出的光束，以通过执行热感记录来熔化反射膜，从而在槽脊L3中虚拟地形成从凹坑P3连续到凹坑P4的凹坑，以产生图24B中所示的记录后模式A。同时，光束可以局部地照射在槽脊L3上。因此，记录后模式A是记录在子码区域中的模式[00100100000000](0X07h)。从而，在光盘101上，记录有11T长的凹坑P11，紧跟着11T的槽脊L11，紧跟着7T长的凹坑P12，然后是3T的槽脊L12，然后是9T长的凹坑P13，然后是3T～11T耦合位槽脊L13。也就是，在槽脊L4(L13)中，凹坑P13的长度是11T长或更短，并且从槽脊到接连块的通道位的前部不超过11T的长度，以避免违背EFM转换规则。

转到帧同步信号的模式与上面的模式相反的情况，图24的(C)中所示的记录鉴别数据之前的模式B以24位的帧同步信号开始，紧跟着耦合位[001]，然后紧跟着子码[00100100100100](0X47h)，依次紧跟着耦合位[100]。因此，在光盘101上，记录有11T长的槽脊L21，紧跟着11T长的凹坑P21，紧跟着4T长的槽脊L22，然后是3T长的凹坑P22，然后是3T长的槽脊L23，然后是3T长的凹坑P23，然后是3T长的槽脊L24，然后是3T长的凹坑P24，然后是3T～11T长的耦合位槽脊L25。

从凹坑P23到凹坑P24数据记录装置140照射高输出的光束，以通过执行热感来熔化反射膜，从而在槽脊L24的位置虚拟地形成从凹坑P23连续到凹坑P24的凹坑，以产生图24的(D)中所示的记录后模式B。同时，光束可以局部地照射在槽脊L24上。因此，记录后模式B是在子码区域中的模式[00100100000000](0X07h)。从而，在光盘101上，记录有11T长的槽脊L31，紧跟着11T长的凹坑P31，然后是4T长的槽脊L32，然后是3T长的凹坑P32，然后是3T长的槽脊L33，然后是9T长的凹坑P33，然后紧跟着3T～11T长的耦合位槽脊L34。也就是，槽脊L25(L34)具有不长于11T的凹坑P33的长度，使得与接连块的通道位的前部相关联时不超过11T，从而避免违背EFM转换规则。

因此，数据记录装置140通过开/关高输出光束来形成与鉴别数据相对应的凹坑和槽脊的模式，以在Q通道子码中记录鉴别数据。

数据记录装置140参考记录有鉴别数据的光盘101的UDI索引的UDI索引a₀～a₇来后记录鉴别数据，如现在参考图25说明的。

在步骤S121中，数据记录装置140执行光道跳跃到鉴别数据的可记录区域，并且访问已记录有鉴别数据的区域。数据记录装置140使子码提取部件46提取鉴别数据的可记录区域的子码，并且使子码解调部件47解调所提取的数据，并将所得到的数据输出到检测部件48。在步骤S122中，检测部件48检测图18和19中所示的UDI索引。在该步骤S122中，检测部件48检测后写入例如鉴别数据是否可能。例如，如果鉴别数据的数据长度没有达到在头中所规定的帧(扇区)的总数，检测部件48指定已记录有鉴别数据的区域之外的帧作为未记录区域。如果，在步骤S123中，检测部件48已经验证有未记录区域，检测部件48进行到步骤S124，否则，检测部件48进行到步骤S125。

如果有未记录区域，在步骤S124中，检测部件48导通开关部件151来设置鉴别数据后写使能状态。当鉴别数据从输入终端154输入时，鉴别数据调制部件149根据预先确定的系统来调制鉴别数据。子码调制部件150通过记录鉴别数据，执行将光束照射的帧的子码从8位数据位序列转换成14位通道位序列的调制处理。子码调制部件150通过开关部件151访问记录处理器152。记录处理器152将已调制的子码输出到光学摄像管42。输出控制器153将半导体激光器的输出从标准级切换成高级，以通过熔化反射膜来实现鉴别数据的热感记录。数据记录装置140在槽脊处形成假的凹坑，以在图18中所示的Q通道子码可记录区域中后写入鉴别数据。如果没有未记录区域，则检测部件48关闭开关部件151来禁止后记录鉴别数据。

参考图26，现在说明用于再现通过上述数据记录装置140已记录有鉴别数据的光盘101的数据再现装置160。数据再现装置160包括主轴马达161，用于旋转记录有鉴别数据的光盘101，光学摄像管162，用于发射光束到光盘101并检测反射回的光束，控制器163，用于执行光学摄像管162的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并执行主轴马达161的旋转伺服控制，RF放大器164，用于从光学摄像管162的输出产生RF信号，同步信号检测部件165，用于从RF信号中检测同步信号以产生时钟，解调部件166，用于解调EFM调制的记录数据例如内容数据，以及纠错部件167，用于纠错已解调的数据。

数据再现装置160包括子码提取部件168，用于从RF信号中提取子码，子码解调部件169，用于将EFM调制的14位子码解调成8位来产生P～W通道的子码，检测部件170，用于检测R～W通道的子码，开关部件171，用于开关记录于光盘101上的鉴别数据，以及解调部件172，用于解调鉴别数据。

主轴马达161其摘锭轴与光盘台一致地安装。光盘台嵌入光盘101的中心开口中从而卡紧，使得光盘101的旋转中心与摘锭轴的旋转中心保持一致。主轴马达161使光盘101的旋转，并与光盘台保持一致。

光学摄像管162包括作为发射光束的光源的半导体激光器，用于汇集从半导体激光器发射的光束的物镜，以及用于检测从光盘101的反射膜反射回的返回光束的光检测器。从半导体激光器发射的光束由物镜来汇集，以照射在光盘101的信号记录表面上。应该注意的是，再现数据时，半导体激光器以标准输出发射光束。从光盘101的信号记录表面反射回的返回光束由光检测器转换成电信号，该电信号被光检测器输出到RF放大器164。物镜由物镜驱动机械装置例如双轴传动装置支撑，并且在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。

基于构成光学摄像管162的光检测器的输出信号，RF放大器164产生RF信号，聚焦误差信号和跟踪误差信号。例如，聚焦误差信号由例如散光法来产生，而跟踪误差信号由三光束法或推挽法来产生。RF放大器164将RF信号输出到用于解调EFM调制数据的解调部件166，当将聚焦误差信号和跟踪误差信号输出到伺服控制器163时。

同步信号检测部件165从RF信号中检测图1中所示的帧同步信号，当检测用于解码图2和3中所示的子码的同步信号时。同步信号检测部件165基于检测到的同步信号来产生时钟。

基于从RF放大器164输入的聚焦误差信号和跟踪误差信号，控制器163产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，并将这样产生的信号输出到光学摄像管162的物镜驱动机械装置的驱动电路。因此，由物镜驱动机械装置支撑的物镜基于聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。控制器163也产生旋转伺服信号，使得从同步信号产生的时钟将与石英振荡器的参考时钟在频率和相位上同步。从而主轴马达161使光盘101以例如CLV旋转。

解调部件166根据EFM算法来解调记录数据例如内容数据。特别地，解调部件166根据图7和8中所示的EFM转换表，将14位记录码序列转换成8位数据位。纠错部件167根据算法例如CIRC来解调已调制的记录数据，并将已解调的数据输出到输出终端173。例如，如果记录数据是音频数据，在输出终端173输出的音频数据被D/A转换器从数字信号转换成模拟信号，并且经由例如扬声器，耳机或头戴耳机输出。

子码提取部件168从RF放大器164输入的数据中提取紧跟在帧同步信号之后给出的14位子码，并将这样提取的子码输出到子码解调部件169。子码解调部件169基于EFM转换表将14位数据转换成8位数据。子码解调部件169用98帧形成一个块来产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件169产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。

检测部件170检测记录鉴别数据模式。也就是，检测部件170从Q通道的ADR检测模式是否为记录鉴别数据模式。检测部件170也可以通过检测R～W通道的子码是否为固定的值来指定用于记录鉴别数据的区域，并且将装置设置为鉴别数据记录模式。或者，检测部件48也可以通过两种方法的组合来指定记录位置是否为槽脊。如果模式是记录鉴别数据模式，检测部件170可以导通开关部件171来将从子码提取部件168输入的鉴别数据输出到解调部件172。如果模式不是记录鉴别数据模式，正在访问的区域被假设为不是鉴别数据记录区域，使得检测部件关闭开关部件171以禁止将从子码提取部件168输入的鉴别数据输出到解调部件172。

从子码解调部件169经由开关部件171，解调部件172被提供Q通道子码。解调部件172参考记录在图18中所示的UDI索引中的a₀～a₇并且解调记录在UDI有效负载中的鉴别数据，当使用CRC执行纠错处理时，并将所得到的数据输出到输出终端174。

参考图27，现在说明用于读出鉴别数据的上述数据再现装置160的处理。首先，当用户按压重放按钮时，数据再现装置160开动主轴马达161来使装载在构成光盘装载部件的光盘台上的光盘101以恒定线速度旋转。同时，光学摄像管162照射光束到光盘101上。此时，半导体激光器以标准输出来发射光束。光学摄像管162开始读出数据，当聚焦伺服控制和跟踪伺服控制由伺服控制器163执行时。

在步骤S131，基于由子码解调部件169解调的子码的TOC，数据再现装置160执行光学摄像管162的光道跳跃到鉴别数据的可记录区域附近，以在可记录区域中记录鉴别数据。数据再现装置160使子码提取部件168提取鉴别数据的可记录区域的子码，并且在子码解调部件169中解调这样提取的数据，并将所得到的8位数据输出到检测部件170。在步骤S132，检测部件170使用Q通道子码的ADR中的鉴别数据来验证所指区域是否为已记录有鉴别数据的区域。如果确定所指区域是已记录有鉴别数据的区域，检测部件170导通开关部件171以进行到步骤S133。如果确定所指区域不是已记录有鉴别数据的区域，检测部件170关闭开关部件171以进行到步骤S134。同时，检测部件170可以检测R～W通道的子码是否为固定的值来将装置设置成鉴别数据重放模式。

在步骤S133中，数据再现装置160参考图18和19中所示的UDI索引的a₀～a₇，来计算帧的总数以验证已记录有鉴别数据的区域的长度。数据再现装置160将鉴别数据从子码解调部件169通过开关部件171输出到解调部件172。解调部件172解调鉴别数据以执行纠错，并将所得到的数据输出到输出终端174。例如记录在光盘101上的内容数据由解调部件166解调，然后在纠错部件167中纠错，然后在输出终端173输出。例如，如果内容数据是例如音频数据，数据被D/A转换器从数字信号转换成模拟信号，并且经由声换能器例如扬声器，耳机或头戴耳机输出。

在步骤S134，数据再现装置160的检测部件170关闭开关部件171来禁止再现鉴别数据。同时，检测部件可以将该状态设置为错误状态，并在例如监视器上显示错误信息。

使用实施本发明的光盘101，索引(UDI索引)记录在用于记录鉴别数据的区域中作为索引，并且例如鉴别数据的长度记录于其中以保证鉴别数据容量容易扩展。也就是，即使记录速度增加使得每单位时间的记录量增加，容量可以通过改变该索引而容易地增加。如果鉴别数据的数据长度没有达到记录在头中的帧(扇区)总数，已记录有鉴别数据的区域之外的帧可以指定为未记录区域，使得另外的数据，例如鉴别数据，可以后记录在这样指定的未记录区域中。

参考附图，以下说明光盘的第三实施方案，用于在该光盘上记录数据的一种方法和一种装置以及用于再现记录于光盘上的数据的一种方法和装置。

在这里所使用的光盘中，与上述光盘中一样，用于记录TOC(目录)数据的导入区记录在内圈侧，并且用于记录记录数据例如内容数据的数据记录区位于导入区的径向外侧上。导出区位于数据记录区的径向外侧上。记录成与CD相同的记录格式的数据，也就是8-14(八到十四)调制数据(由EFM调制的数据)记录成图1中所示的记录格式。

这里所使用的光盘由已参考图5说明的方法来制造。

用于制造该光盘的主盘使用如图28中所示配置的切断装置221来制作。该切断装置221具有与切断装置21相同的基本模式，因此与图6中所示装置相同的部分用相同的参考数字标识。切断装置221除图6中所示的组件之外还包括耦合位控制器234。

图28中所示的切断装置221也包括激光源27，例如气体激光器，例如氩激光器或He-Cd激光器，光调制器28，用于通过例如利用鲍克尔效应的EOM(电光调制器)或者利用超声波的AOM(声光调制器)基于来自数据调制器26的数据来调制激光，镜子29，用于反射已调制激光，可移动机械装置30，用于移动镜子29，物镜31，用于汇集激光以照射玻璃主盘35，主轴马达32，用于旋转玻璃主盘35，以及物镜驱动机械装置33，用于在为物镜31的光轴方向的聚焦方向上驱动物镜31。

纠错编码电路23使用交叉交错里德-所罗门码(CIRC)算法来编码，例如通过将模拟内容抽样成样本并且通过交叉交错和四级交叉交错里德-所罗门码(CIRC)的组合来编码所得到的样品，并将所得到的已编码数据输出到调制电路24。

调制电路24根据EFM算法来调制纠错编码电路23的编码输出，并将所得到的已调制数据输出到数据产生器26。特别地，调制电路24将8位序列转换成14位记录码序列，最小行程Tmin(转变间的最小长度)为2并且最大行程Tmax(转变间的最大长度)为10。

子码产生器25产生对应于记录数据的子码，例如地址信息，并且通过EFM将这样产生的子码从8位数据序列转换成14位记录码序列。子码产生器25产生图7和8中所示的EFM转换表中的8位序列的数据位，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，并将该数据位转换成14位记录码序列。

特别地，子码产生器25产生8位序列的数据位，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，该8位序列的数据位基于解调已记录有鉴别数据的已调制14位记录码序列而获得，其中从开始位起的第二位，也就是8位序列数据位中的子码Q通道，从[1]求补为[0]，并且其中从开始位起的第三位到结尾位，也就是子码R～W通道，为相同的位。该数据被选择以满足条件，即当通过将光束照射到由EFM产生的14位模式中凹坑之间的槽脊来熔化反射膜以形成假的凹坑时，新形成的凹坑长度将满足规定转变间的最大长度Tmax和转变间的最小长度Tmin分别为10和2的EFM调制规则。

子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第68个0X44h[01000100]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，例如图9C中所示。原因在于0X44h基于EFM给出14位模式[01000100100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第二槽脊L用光束照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，14位模式[01000100000000]基于解调给出除高第二位Q通道之外与第四个0X04h[00000100]相同的模式。

子码产生器25选择EFM转换表的十进制计数法中的第71个0X47h[01000111]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，例如图9D中所示。原因在于0X47h基于EFM给出14位模式[00100100100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第二槽脊L用光束照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，14位模式[00100100000000]基于解调给出除高第二位Q通道之外与第七个0X07h[00000111]相同的模式。

子码产生器25产生上述子码作为用于记录鉴别数据的区域的子码，将预置的槽脊转换成凹坑，以依赖于待记录的数据将8位序列的Q通道从[1]求补成[0]来记录鉴别数据。通过设置R～W通道使其在记录鉴别数据之前和之后固定不变，记录和/或再现装置能够检测到待记录或已记录有鉴别数据的区域。

参考图28，数据产生器26被调制电路24提供用EFM调制的记录数据，当被子码产生器25提供子码时。数据产生器26将从耦合位控制器234输入的耦合位插入到记录码序列的14位块之间。数据产生器26产生图4中所示的数据，每个记录码序列是17位，并将这样产生的数据输出到光调制器28。

耦合位控制器234产生插入到记录码序列的14位块之间的3位耦合位。耦合位控制器234参考两个连续的记录码序列块，除了紧跟在鉴别数据记录区域的子码之后的耦合位，并且从[000]，[100]，[010]和[001]中选择这样的耦合位，其将满足转变间的最大长度Tmax＝10并且转变间的最小长度Tmin＝2的EFM转换规则，并且其将减小DSV(数字和值)的绝对值以进一步减少低频成分。耦合位控制器将这样选择的耦合位输出到数据产生器26。

当选择紧跟在鉴别数据记录区域的子码之后的耦合位时，耦合位控制器234从上述四个耦合位的组合中选择这样的耦合位，其将满足转变间的最大长度Tmax＝10并且转变间的最小长度Tmin＝2的EFM转换规则，并且其中预置的位总是槽脊。特别地，耦合位控制器从除[000]之外的上述耦合位，也就是从[100]，[010]和[001]中选择耦合位模式，使得所选的耦合位将给出最优的DSV。原因是记录码序列前部的0的最大长度是8，而图9C的第四个0X04h或图9D的第七个0X07h的后部的0的数目是8，使得如果使用耦合位[000]，则超过转变间的最大长度Tmax10。

耦合位控制器234总是选择[100]作为紧跟在鉴别数据记录区域的子码之后的耦合位也是可能的。原因在于，在图7和8中所示的EFM转换表中，记录码序列前部中0的最大数目是8，使得如果[100]用作耦合位，0的数目最大是10，从而总是满足转变间的最大长度Tmax的条件。也就是，耦合位控制器234选择至少具有[1]的耦合位作为紧跟在鉴别数据记录区域的子码之后的耦合位。原因在于，因为记录数据用NRZI记录并用[1]翻转，通过在子码块和接连块之间使用包括[1]的耦合位，子码块和接连块之间的转变间最大长度Tmax10不会被超过。

现在参考图29来说明上述切断装备221的操作。当采样的记录数据经由输入终端22a输入到A/D转换器22时，A/D转换器将数据从模拟信号转换成数字信号，并将所得到的数字信号输出到纠错编码电路23。纠错编码电路23用交叉交错和四级交叉交错里德-所罗门码的组合来编码样本，并将所得到的数据输出到调制电路24。在步骤S201，调制电路24用EFM来调制数据。也就是，调制电路24基于图7和8中所示的EFM表将记录数据从8位转换成14位，并将所得到的数据输出到数据产生器26。

在步骤S202，切断装置221确定所考虑的区域是否为用于记录鉴别数据的区域。如果所指区域是用于记录鉴别数据的区域，切断装置221进行到步骤S203。如果所指区域不是用于记录鉴别数据的区域，也就是如果所指区域是以通常模式记录例如内容数据的区域，切断装置221进行到步骤S204。

在步骤S203中，耦合位控制器234总是选择[100]作为紧跟在鉴别数据记录区域的子码之后的耦合位，并将数据输出到数据产生器26。同时，耦合位控制器234可以选择除[000]之外，也就是[100]，[010]，和[001]中将给出最优DSV的模式作为耦合位。

如果所指区域不是用于记录鉴别数据的区域，在步骤S204中，耦合位控制器234参考相邻块的14位数据从[000]，[100]，[010]和[001]中选择耦合位，其将满足转变间最大长度Tmax＝10并且转变间最小长度Tmin＝2的EFM转换规则。在步骤S205中，耦合位控制器234从在步骤S204中选择的耦合位中选择将使DSV最优的耦合位，并将这样选择的耦合位输出到数据产生器26。

在步骤S206中，耦合位控制器234执行下一个数据的处理，即从步骤S202起的处理。

当被调制电路24提供数据时，数据产生器26总和这些数据，并在14位块之间插入3位耦合位来产生记录数据，该记录数据用NRZI来调制并输出到光调制器28。

激光源27发射随后输入到光调制器28的激光。光调制器28基于来自数据产生器26的输入来调制激光。也就是，当从数据产生器26输入[1]时，光调制器28调制激光。由光调制器28调制的激光入射到镜子29上。该镜子29由可移动的机械装置30来移动，以使激光扫过玻璃主盘35的内外圈。激光由物镜31汇集以照射在通过作为旋转驱动部件主轴马达32以CLV(恒定线速度)旋转的玻璃主盘35上。物镜31通过物镜驱动机械装置33方法沿激光的光轴移动作为执行聚焦控制。

上面将主盘35暴露于光。在已转录有主盘35的模式的光盘中，14位记录码序列，例如图9C中所示的0X44h或图9D中所示的0X47h，记录在用于记录鉴别数据的可记录区域中，由此数据被记录使得至少图14中所示的有效负载和纠错码的区域全为[1]。

参考图30，现在说明用于在鉴别数据记录步骤中使用的光盘上记录鉴别数据的数据记录装置240。

类似于数据记录装置40，140，该数据记录装置240包括主轴马达41，用于旋转地驱动实施本发明的光盘201，光学摄像管42，用于发射光束到光盘201并且检测反射回的光束，控制器43，用于执行光学摄像管42的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并且控制主轴马达41的旋转，RF放大器44，用于从光学摄像管42的检测输出产生例如RF信号，同步信号检测部件45，用于从RF信号中检测同步信号并产生时钟，子码提取部件46，用于从RF信号中提取子码，子码解调部件47，用于将EFM调制的14位子码解调成8位以产生P～W通道的子码，以及检测部件48，用于检测R～W通道的子码。该结构与上述数据记录装置40，140相同，因此使用相同的参考数字来描绘相同的组件，而详细结构的说明为了简单被省略。

数据记录装置240包括第一开关部件249，用于转换成鉴别数据记录模式，耦合位检测部件250，用于检测紧跟在子码之后的耦合位，调制器251，用于调制鉴别数据，第二开关部件252，用于开关记录到光盘201上的鉴别数据的输入，记录处理器253，用于将鉴别数据记录到光盘201上时执行记录处理，以及输出控制器254，用于控制由光学摄像管42发射的光束的输出。

在本数据记录装置240中，子码提取部件46从RF放大器44输入的数据中提取紧跟在帧同步信号之后给出的14位子码，并将这样提取的子码输出到子码解调部件47以指定鉴别数据的记录区域，当将所提取的子码数据通过第一开关部件249输出到耦合位检测部件250以检测子码的随后位时。

子码解调部件47基于EFM转换表将已记录有鉴别数据的区域的子码从14位数据转换成8位数据。子码解调部件47用98帧形成一个块，并且产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件47产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。子码解调部件47将例如从子码提取的地址信息输出到控制器43。这允许控制器43使光学摄像管42访问鉴别数据的记录区域。

检测部件48检测指定模式是否为记录鉴别数据模式的数据。也就是，检测部件48用Q通道ADR检测指定模式是否为记录鉴别数据模式的数据。

如果模式不是记录鉴别数据模式，检测部件48在输出终端255输出例如错误信息以使监视器能够显示错误信息。如果模式是记录鉴别数据模式，检测部件48在输出终端255输出表示这一点的信息以在例如监视器上显示。检测部件48导通第一和第二开关部件249，252，仅当模式是记录鉴别数据模式时。

耦合位检测部件250检测用于记录鉴别数据的区域的子码的随后耦合位是否为预置的值，例如，前述[100]。当然，耦合位检测部件250可以检测耦合位是否不同于[000]，也就是耦合位是否具有[1]。原因在于，如果耦合位不是预先确定值的位，并且鉴别数据被记录，则Tmax可能超过10，从而违背EFM转换规则。如果紧跟在子码之后的耦合位是或不是预置的值，耦合位检测部件250分别导通或关闭第二开关部件252。也就是，如果紧跟在子码之后的耦合位不是预置的值，第二开关部件252禁止鉴别数据从调制部件251输入到记录处理器253。当耦合位不是预置的值时，耦合位检测部件250从输出终端255输出错误信息以在监视器上显示以提示用户。

调制部件251根据预置的调制系统来调制从输入终端256输入的鉴别数据，并将已调制的数据经由第二开关部件252输出到记录处理器253。记录处理器253执行在光盘201上记录所必须的记录处理，并将这样处理的数据输出到光学摄像管42。同时从输入终端256输入的数据是图4中所示的数据。

参考图31，现在说明上述数据记录装置240的记录鉴别数据的操作。

首先，当用户按压鉴别数据记录按钮时，数据记录装置240开动主轴马达41以使装载在构成光盘装载部件的光盘台上的光盘以恒定线速度旋转。同时，光学摄像管42发射光束到光盘201上。应该注意的是，输出控制器254控制光学摄像管42的半导体激光器来以标准输出发射光束。光学摄像管42开始读出数据，当聚焦伺服和跟踪伺服操作在控制器43的控制下执行时。

数据记录装置240基于例如由子码解调部件47解调的子码的TOC，使光学摄像管42执行光道跳跃到鉴别数据的可记录区域，以在预置的区域中记录鉴别数据。数据记录装置240使子码提取部件46提取鉴别数据的可记录区域的子码，并且使子码解调部件47解调这样提取的数据并将8位数据输出到检测部件48。在步骤S311，检测部件48使用Q通道的子码的ADR中的鉴别数据来检测所指区域是否为用于记录鉴别数据的区域。如果确定所指区域是用于记录鉴别数据的区域，检测部件48导通第一和第二开关部件249，252以进行到步骤S312。如果确定所指区域不是用于记录鉴别数据的区域，检测部件48关闭第一和第二开关部件249，252以进行到步骤S214。

检测部件48也可以通过检测R～W通道的子码是否为固定的值来指定用于记录鉴别数据的区域并将装置设置成鉴别数据记录模式。或者，检测部件48也可以通过上述两种方法的组合来指定记录位置是否为槽脊。

在步骤S312中，耦合位检测部件250验证在鉴别数据记录区域中，子码的随后耦合位是否为前述[100]。当然，耦合位检测部件250可以验证耦合位是否不同于[000]，也就是耦合位是否包括[1]。当耦合位为预置的值时，耦合位检测部件250导通第二开关部件252以进行到步骤S313来允许鉴别数据的记录处理。当耦合位不时预置的值时，耦合位检测部件250关闭第二开关部件252以进行到步骤S314来禁止鉴别数据的记录处理。也就是，当模式是记录鉴别数据模式，但耦合位不是预置的值，并且鉴别数据被记录时，Tmax可能超过10，导致违背EFM转换规则的危险，所以，在该步骤S314中，第二开关部件252关闭即使第一开关部件249导通。

在步骤S313，鉴别数据从输入终端256输入时，调制部件251根据预置的系统来调制鉴别数据。调制部件251将已调制的鉴别数据通过第二开关部件252输出到记录处理器253。记录处理器253将已调制的鉴别数据输出到光学摄像管42。为了通过熔化反射膜来热感记录鉴别数据，输出控制器254将半导体激光器的输出从标准级转换成高级。数据记录装置240在槽脊处形成假的凹坑以将数据记录在图4中所示的Q通道子码记录区域的84位中，也就是从UDI索引末尾起第四位到CRC。特别地，数据记录装置240将例如可记录时间或先期记录时间记录在从UDI索引末尾起的4位中，并且将鉴别数据记录在56位UDI有效负载中，当将地址信息例如帧号记录在8位的AFRAME中以及将纠错码记录在16位的CRC中时。

如果模式不是记录鉴别数据模式，在步骤S314，检测部件48在输出终端255输出例如错误信息以使错误信息在监视器上显示。此时，检测部件48关闭第一和第二开关部件249，252以禁止记录鉴别数据。当耦合位不是预置的值时，耦合位检测部件250从输出终端255输出错误信息以在监视器上显示以提示用户。耦合位检测部件250关闭第二开关部件252以禁止鉴别数据的记录处理。

现在参考图32来说明记录这些数据的方法。同时，该图中所示的实施方案将图9D中所示的0X47h改变成0X07h。在记录鉴别数据之前，模式A是这样的，如图32的(A)中所示，记录有24位的帧同步信号，紧跟着耦合位[000]，紧跟着子码[00100100100100](0X47h)，又紧跟着耦合位[100]。在光盘201上，记录有11T长的凹坑P1，紧跟着11T长的槽脊L1，紧跟着7T长的凹坑P2，紧跟着3T长的槽脊L2，紧跟着3T长的凹坑P3，紧跟着3T长的槽脊L3，紧跟着3T长的凹坑P4，最后紧跟着3T～11T的槽脊L4作为耦合位。从凹坑P3到凹坑P4，数据记录装置240照射高输出的光束以熔化反射膜来实现热感记录，从而形成连续到凹坑P3和P4的假的凹坑，以给出图32(B)中所示的记录后模式A。同时，光束可以局部地照射槽脊L3。因此，在记录后模式A中，在子码区域中记录有模式[00100100000000](0X07h)。也就是，在光盘201上，记录有11T长的凹坑P11，紧跟着11T长的槽脊L11，紧跟着7T长的凹坑P12，紧跟着3T长的槽脊L12，紧跟着9T长的凹坑P13，最后紧跟着3T～11T长的槽脊L13作为耦合位。也就是，槽脊L4(L13)具有不长于11T的凹坑P13的长度使得当凹坑P13和随后块的通道位的前部连接在一起时不会超过11T，从而避免违背EFM转换规则。

转到帧同步信号的模式与上面的模式相反的情况，在记录鉴别数据之前的模式B以24位的帧同步信号开始，紧跟着耦合位[001]，紧跟着子码[00100100100100](0X47h)，紧跟着耦合位[100]。在光盘201上，记录有11T长的槽脊L21，紧跟着11T长的凹坑P21，紧跟着4T长的槽脊L22，紧跟着3T长的凹坑P22，紧跟着3T长的槽脊L23，紧跟着3T长的凹坑P23，紧跟着3T长的槽脊L24，紧跟着3T长的凹坑P24，最后紧跟着3T～11T的槽脊L25作为耦合位。从凹坑P3到凹坑P4，数据记录装置240照射高输出的光束以熔化反射膜实现热感记录，从而形成连续到凹坑P23和P24的假的凹坑，以给出图32的(D)中所示的记录后模式B。因此，在记录后模式B中，在子码区域中记录有模式[00100100000000](0X07h)。也就是，在光盘201上，记录有11T长的槽脊L31，紧跟着11T长的凹坑P31，紧跟着4T长的槽脊L32，紧跟着3T凹坑P32，紧跟着3T槽脊L33，紧跟着9T凹坑P33，最后紧跟着3T～11T的槽脊L34作为耦合位。也就是，槽脊L25(L34)具有不长于11T的凹坑P33的长度，使得当凹坑P33和随后块的通道位的前部连接在一起时不会超过11T，从而避免违背EFM转换规则。

因此，数据记录装置240通过开/关高输出光束来形成与鉴别数据相对应的凹坑和槽脊的模式，从而在Q通道子码中记录鉴别数据。

通过上述方法，使用子码中紧跟在子码之后的耦合位，鉴别数据的记录区域被指定，并将鉴别数据记录在这样指定的区域中。

参考图33，现在说明用于再现通过上述数据记录装置240已记录有鉴别数据的光盘201的数据再现装置260。数据再现装置260包括主轴马达261，用于旋转记录有鉴别数据的光盘201，光学摄像管262，用于发射光束到光盘201并检测反射回的光束，控制器263，用于执行光学摄像管262的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并且执行主轴马达261的旋转伺服控制，RF放大器264，用于从光学摄像管262的输出产生RF信号，同步信号检测部件265，用于从RF信号中检测同步信号以产生时钟，解调部件266，用于解调由EFM调制的记录数据例如内容数据，以及纠错部件267，用于纠错已解调的数据。

数据再现装置260包括子码提取部件268，用于从RF信号中提取子码，子码解调部件269，用于将EFM调制的14位子码解调成8位来产生P～W通道的子码，检测部件270，用于检测R～W通道的子码，开关部件271，用于开关记录于光盘201上的鉴别数据，耦合位检测部件272，用于检测紧跟在子码之后的耦合位，第二开关部件273，用于开关记录于光盘201上的鉴别数据的输入，以及解码器274，用于解码鉴别数据。

主轴马达261旋转地驱动光盘201，当光盘201关于盘居中时，并且以这种状态安装在光盘台上，与安装在上述各个数据再现装置的光盘台上一样。

光学摄像管262通过物镜来汇集从半导体激光器发射的光束，并将光束照射在光盘的信号记录表面上，与在上述各个数据再现装置中一样。光学摄像管262通过光检测器来检测从光盘201的信号记录表面反射回的返回光束，并将检测信号转换成电信号，该电信号然后输出到RF放大器264。

基于构成光学摄像管262的光检测器的输出信号，RF放大器264产生RF信号，聚焦误差信号和跟踪误差信号。例如，聚焦误差信号由例如散光法来产生，而跟踪误差信号由三光束法或推挽法来产生。RF放大器264将RF信号输出到用于解调EFM调制数据的解调部件266，当将聚焦误差信号和跟踪误差信号输出到伺服控制器263时。

同步信号检测部件265从RF信号中检测图1中所示的帧同步信号，当检测用于解码图2和3中所示的子码的同步信号时。同步信号检测部件265基于检测到的同步信号来产生时钟。

控制器263基于从RF放大器264输入的聚焦误差信号和跟踪误差信号来产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，并将这样产生的信号输出到光学摄像管262的物镜驱动机械装置的驱动电路。从而，由物镜驱动机械装置支撑的物镜基于聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。控制器263也产生旋转伺服信号，使得从同步信号产生的时钟将与石英振荡器的参考时钟在频率和相位上同步。从而，主轴马达261使光盘以例如CLV旋转。

解调部件266根据EFM算法来解调记录数据例如内容数据。特别地，解调部件266根据图7和8中所示的EFM转换表，将14位记录码序列转换成8位数据位。纠错部件267根据算法例如CIRC来解调已调制的记录数据，并将已解调的数据输出到输出终端275。例如，如果记录数据是音频数据，在输出终端275输出的音频数据被D/A转换器从数字信号转换成模拟信号，并且经由声换能器例如扬声器，耳机或头戴耳机输出。

子码提取部件268从RF放大器264输入的数据中提取紧跟在帧同步信号之后给出的14位子码，并将这样提取的子码输出到子码解调部件269。子码解调部件269基于EFM转换表将14位数据转换成8位数据。子码解调部件269用98帧形成一个块，以产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件269产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。

检测部件270检测再现鉴别数据模式。也就是，检测部件270从Q通道的ADR检测模式是否为再现鉴别数据模式。检测到指定鉴别数据再现模式的鉴别数据时，检测部件270导通第一和第二开关部件271，273。当没有检测到指定鉴别数据再现模式的鉴别数据时，检测部件270假设所考虑的区域不是鉴别数据记录区域，并且关闭第一和第二开关部件271，273。如果模式不是鉴别数据记录模式，检测部件270在输出终端277输出例如错误信息，以使该错误信息能够在监视器上显示。当模式是记录鉴别数据模式时，检测部件270输出表明这一点的信息，以在监视器上显示。

耦合位检测部件272检测紧跟在已记录有鉴别数据的区域的子码之后的耦合位是否为预置的值，例如，前述[100]。当然，耦合位检测部件272可以验证耦合位是否不同于上述[000]，也就是耦合位是否包括[1]。原因在于，如果耦合位为不同于预置值的值，Tmax可能超过10从而违背EFM转换规则，使得不能解调鉴别数据，并且如果耦合位为不同于预置值的值，光盘可能不是授权的光盘。如果紧跟在子码之后的耦合位为预置的值，耦合位检测部件272导通第二开关部件273，否则，耦合位检测部件272关闭第二开关部件273。也就是，当紧跟在子码之后的耦合位不是预置的值时，第二开关部件273禁止鉴别数据从子码解调部件269输入到解码器274。当耦合位不是预置的值时，耦合位检测部件272在输出终端277输出错误信息，以在监视器上显示以提示用户。

Q通道子码从子码解调部件269通过第二开关部件273输入到解码器274。解码器274参考例如记录在UDI索引中的先期记录时间来解调记录在UDI有效负载中的鉴别数据，当使用CRC纠错已解调的鉴别数据并将所得到的数据在输出终端276输出时。

参考图34，现在说明上述数据再现装置260的数据读出操作。首先，当用户按压重放按钮时，数据再现装置260开动主轴马达261，以使装载在构成光盘装载部件的光盘台上的光盘201以恒定线速度旋转。同时，光学摄像管262照射光束到光盘201上。此时，半导体激光器以标准输出发射光束。光学摄像管262开始读出数据，当聚焦伺服控制和跟踪伺服控制由伺服控制器263执行时。

基于由子码解调部件269解调的子码TOC，数据再现装置260执行光学摄像管262的光道跳跃到鉴别数据的可记录区域，以读出鉴别数据。数据再现装置260使子码提取部件268提取鉴别数据的可记录区域的子码，并且在子码解调部件269中解调这样提取的数据，并将所得到的8位数据输出到检测部件270。在步骤S321中，检测部件270使用Q通道子码的ADR中的鉴别数据来验证所指区域是否为已记录有鉴别数据的区域。如果确定所指区域是已记录有鉴别数据的区域，检测部件270导通开关部件271以进行到步骤S322。如果确定所指区域不是已记录有鉴别数据的区域，检测部件270关闭第一和第二开关部件271，273以进行到步骤S324。

同时，检测部件270可以检测R～W通道的子码是否为固定的值，以将装置设置成鉴别数据重放模式。或者，检测部件270也可以通过两种方法的组合来指定记录位置是否为槽脊。

在步骤S322中，耦合位检测部件272验证在鉴别数据记录区域中，子码的随后耦合位是否为前述[100]。当然，耦合位检测部件272可以验证耦合位是否不同于[000]，也就是耦合位是否包括[1]。当耦合位为预置的值时，耦合位检测部件272导通第二开关部件273以进行到步骤S323来允许鉴别数据的记录处理。当耦合位不是预置的值时，耦合位检测部件272关闭第二开关部件273以进行到步骤S324来禁止鉴别数据的记录处理。也就是，当模式是记录鉴别数据模式，但耦合位不是预置的值时，Tmax可能超过10，导致违背EFM转换规则的危险。而且，光盘可能不是授权的光盘。所以，第二开关部件273关闭即使第一开关部件271导通。

在步骤S323中，数据再现装置260将鉴别数据从子码解调部件269通过开关部件273输出到解码器274。解码器274解调鉴别数据以实现纠错，并将所得到的数据输出到输出端276。例如记录在光盘201上的内容数据由解调部件266解调，然后在纠错部件267中纠错，然后在输出终端275输出。例如，如果内容数据是例如音频数据，数据被D/A转换器从数字信号转换成模拟信号，该模拟信号经由声换能器例如扬声器，耳机或头戴耳机输出。

如果模式不是再现鉴别数据模式，在步骤S324，检测部件270在输出终端277输出例如错误信息，以使该错误信息能够在监视器上显示。此时，检测部件270关闭第一和第二开关部件271，273，以禁止重放鉴别数据。如果耦合位不是预置的值，检测部件270在输出终端277输出错误信息以在监视器上显示以提示用户。耦合位检测部件272关闭第二开关部件273，以禁止重放鉴别数据。

在图1所示的子码中记录鉴别数据时，在实施本发明的光盘201中，鉴别数据可以被记录，使得规定转变间的最大长度Tmax＝10的EFM转换规则被遵守，如如图32中所示。也就是，在用于记录鉴别数据的区域中，选择包含至少[1]的耦合位作为紧跟在子码之后的耦合位，由此总是可以执行记录而不违背EFM转换规则。也就是，使用上面的方法，可以记录鉴别数据而不影响随后的数据。

参考附图，以下说明光盘的第四实施方案，用于在该光盘上记录数据的一种方法和一种装置以及用于再现记录于光盘上的数据的一种方法和装置。

在这里所使用的光盘中，与上述光盘中一样，用于记录TOC(目录)数据的导入区记录在内圈侧，并且用于记录记录数据例如内容数据的数据记录区位于导入区的径向外侧上。导出区位于数据记录区的径向外侧上。记录成与CD相同的记录格式的数据，也就是8-14(八到十四)调制数据(由EFM调制的数据)记录成图1中所示的记录格式。

这里所使用的光盘由已参考图5说明的方法来制造。

用于制造该光盘的主盘使用如图35中所示配置的切断装置321来制作。该切断装置321具有与已参考图6说明的切断装置21相同的基本结构。现在参考图35来进一步地说明。

切断装置321也包括激光源327，例如气体激光器，例如氩激光器或He-Cd激光器，光调制器328，用于通过例如利用鲍克尔效应的EOM(电光调制器)或者利用超声波的AOM(声光调制器)基于来自数据调制器326的数据来调制激光，镜子329，用于反射已调制的激光，可移动机械装置330，用于移动镜子329，物镜331，用于汇集激光以照射玻璃主盘335，主轴马达332，用于旋转玻璃主盘335，以及物镜驱动机械装置333，用于在为物镜331的光轴方向的聚焦方向上驱动物镜331。

构成该切断装置321的纠错编码电路323将采样模拟内容，并且使用交叉交错里德-所罗门码(CIRC)算法通过交叉交错和四级交叉交错里德-所罗门码(CIRC)的组合来编码所得到的样品，并将所得到的已编码数据输出到调制电路324。

调制电路324根据EFM算法调制纠错编码电路323的编码输出，并将所得到的已调制数据输出到数据产生器326。特别地，调制电路324将8位序列转换成14位记录码序列，最小行程Tmin(转变间的最小长度)为2并且最大行程Tmax(转变间的最大长度)为10。

子码产生器325产生对应于记录数据的子码，例如地址信息，并且通过EFM将这样产生的8位数据序列形式的子码转换成14位记录码序列。子码产生器325产生图7和8中所示的EFM转换表中的8位序列的数据位，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，并且将8位序列转换成14位记录码序列。特别地，子码产生器325产生图7和8中所示的EFM转换表中的8位数据序列的数据位，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，并且将这样产生的数据位转换成14位记录码序列。特别地，子码产生器325产生8位序列的数据位，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，该8位序列的数据位基于解调已记录有鉴别数据的已调制14位记录码序列而获得，其中从开始位起的第二位，也就是子码Q通道，从[1]求补成[0]，并且其中从开始位起的第三位到结尾位，也就是子码R～W通道，为相同的位。该数据被选择以满足条件，即当通过照射光束到由EFM产生的14位模式中凹坑之间的槽脊来熔化反射膜以形成假的凹坑时，新形成的凹坑长度将满足规定转变间的最大长度Tmax和转变间的最小长度Tmin分别为10和2的EFM调制规则。

子码产生器325选择EFM转换表的十进制计数法中的第64个0X40h[01000000]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，例如图9A中所示。原因在于0X40h基于EFM给出14位模式[01001000100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第三槽脊L用光束来照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，14位模式[01001000100000]基于解调给出除高第二位Q通道之外与第零个0X00h[00000000]相同的模式。

子码产生器325也选择EFM转换表的十进制计数法中的第68个0X44h[01000100]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，例如图9C中所示。原因在于0X44h基于EFM给出14位模式[01000100100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第二槽脊L用光束来照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，产生14位模式[01000100000000]，其基于解调给出除高第二位Q通道之外与第四个0X04h[00000100]相同的模式。

子码产生器325选择EFM转换表的十进制计数法中的第71个0X47h[01000111]作为用于记录鉴别数据的区域的子码，例如图9D中所示。原因在于0X47h基于EFM给出14位模式[00100100100100]，并且如果用NRZI调制的模式的第二槽脊L用光束来照射以熔化反射膜来形成假的凹坑，14位模式[00100100000000]基于解调给出除高第二位Q通道之外与第七个0X07h[00000111]相同的模式。

子码产生器325产生上述子码，作为用于记录鉴别数据的区域的子码，并将预置的槽脊转换成凹坑，以依赖于待记录的数据将8位序列的Q通道从[1]求补成[0]以记录鉴别数据。通过设置R～W通道，使其在记录鉴别数据之前和之后固定不变，记录和/或再现装置能够检测到待记录或已记录有鉴别数据的区域。

参考图35，数据产生器326被调制电路324提供用EFM调制的记录数据，当被子码产生器325提供子码时。数据产生器326在记录码序列的14位块之间插入3位耦合位。特别地，数据产生器326从[000]，[100]，[010]和[001]中选择这样的耦合位，其将满足转变间的最大长度Tmax＝10并且转变间的最小长度Tmin＝2的EFM转换规则，并且其将减小数字和值(DSV)的绝对值以减少低频成分，并且将这样选择的3位耦合位插入到记录码序列的14位块之间。耦合位控制器形成记录码序列，每个包括17位，以产生图1中所示的数据，并将这样产生的数据输出到光调制器328。

如果所考虑的区域是鉴别数据的记录区域，数据产生器326产生用在预置子码，例如0X40h，0X44h或0X47h之前的耦合位。该数据产生器326连接到用于验证用于记录鉴别数据的区域的耦合位的判定部件334。当数据产生器326选择插入到同步信号和子码之间的耦合位的模式时，判定部件334检测这样的耦合位是否从上述四个耦合位的组合中选择，其满足转变间的最大长度Tmax＝10并且转变间的最小长度Tmin＝2的EFM转换规则，并且其中预置的位总是槽脊。

EFM转换表的十进制计数法中的第64个0X40h用作鉴别数据记录区域的子码的情况参考图36来说明。在图36A中所示的实例中，11T凹坑紧跟在同步信号的11T槽脊之后给出。为了使14位记录码序列中的低三位[100]为假的凹坑以记录鉴别数据，0X40h的子码需要总是槽脊。为此目的，0X40h的子码需要是以槽脊开始的模式。另一方面，同步信号的结尾在第二低位的[1]处翻转成槽脊。因此，数据产生器326选择[000]作为同步信号和子码之间的耦合位，其保证将满足EFM转换规则，并且也保证0X40h的子码以槽脊开始。

在图36B中所示的实例中，11T槽脊紧跟在同步信号的11T凹坑之后给出。0X40h的子码中的低三位[100]需要总是槽脊，因此需要为以槽脊开始的模式。另一方面，同步信号的后端在低第二位的[1]处翻转成凹坑。因此，数据产生器326选择[010]作为同步信号和子码之间的耦合位，其保证将满足EFM转换规则，并且也保证0X40h的子码以槽脊开始。

EFM转换表的十进制计数法中的第68个0X44h用作鉴别数据记录区域的子码的情况参考图37来说明。在图37的(A)中所示的实例中，11T凹坑紧跟在同步信号的11T槽脊之后给出。为了使14位记录码序列中从高第九位开始到第十一位的[100]为假的凹坑以记录鉴别数据，0X44h的子码需要总是槽脊。为此目的，0X44h的子码需要为以凹坑开始的模式。另一方面，同步信号的结尾端在第二低位的[1]处翻转成槽脊。因此，数据产生器326选择[010]作为同步信号和子码之间的耦合位，其保证将满足EFM转换规则，并且也保证0X44h的子码以凹坑开始。

在图37(B)中所示的实例中，11T槽脊紧跟在同步信号的11T凹坑之后给出。0X44h的子码中的从第九位到第十一位的三位[100]需要总是槽脊，因此需要为以凹坑开始的模式。另一方面，同步信号的尾端在低第二位的[1]处翻转成凹坑。因此，数据产生器326选择[000]作为同步信号和子码之间的耦合位，其保证将满足EFM转换规则，并且也保证0X44h的子码以凹坑开始。

EFM转换表的十进制计数法中的第71个0X47h用作鉴别数据记录区域的子码的情况参考图38来说明。在图38的(A)中所示的实例中，11T凹坑紧跟在同步信号的11T槽脊之后给出。为了使14位记录码序列中从高第九位开始到第十一位的[100]为假的凹坑以记录鉴别数据，0X47h的子码需要总是槽脊。为此目的，0X47h的子码需要为以凹坑开始的模式。另一方面，同步信号的结尾端在第二低位的[1]处翻转成槽脊。因此，数据产生器326选择[010]或[001]作为同步信号和子码之间的耦合位，其保证将满足EFM转换规则，并且也保证0X47h的子码以凹坑开始。

在图38的(C)中所示的实例中，11T槽脊紧跟在同步信号的11T凹坑之后给出。0X47h的子码中的从第九位到第十一位的三位[100]需要总是槽脊，因此需要为以凹坑开始的模式。另一方面，同步信号的尾端在低第二位的[1]处翻转成凹坑。因此，数据产生器326选择[000]作为同步信号和子码之间的耦合位，其保证将满足EFM转换规则，并且也保证0X47h的子码以凹坑开始。

使用上述切断装置321，当采样的记录数据经由输入终端322a输入到A/D转换器322时，A/D转换器322将数据从模拟信号转换成数字信号，并将所得到的信号输出到纠错编码电路323。纠错编码电路323对样本施加包括交叉交错和四级交叉交错里德-所罗门码的组合的编码，并将所得到的数据输出到调制电路324。调制电路324用EFM调制数据。调制电路324基于图7和8中所示的EFM转换表将记录数据从8位转换成14位，并将这样转换的数据输出到数据产生器326。子码产生器325产生与记录数据一致的8位子码，例如地址信息，并且将所产生的数据转换成14位数据，该14位数据输出到数据产生器326。被调制电路324提供数据并且被子码产生器325提供数据例如子码，数据产生器326将这些数据总和起来，并且在14位块之间插入耦合位以产生记录数据，该记录数据在用NRZI调制之后输出到光调制器328。

激光源327发射随后输入到光调制器328的激光。光调制器328基于来自数据产生器326的输入来调制激光。也就是，当从数据产生器326输入[1]时，光调制器328调制激光。由光调制器328调制的激光入射到镜子329上。该镜子329由可移动的机械装置330来移动以使激光扫过玻璃主盘335的内外圈。激光由物镜331汇集以照射在通过作为旋转驱动部件的主轴马达332以CLV(恒定线速度)旋转的玻璃主盘335上。物镜331通过物镜驱动机械装置333沿着激光的光轴移动作为执行聚焦控制。

参考图39来说明用于在鉴别数据记录过程中使用的光盘上记录鉴别数据的数据记录装置。

类似于数据记录装置40，140或240，该数据记录装置340包括主轴马达341，用于旋转地驱动光盘301，光学摄像管342，用于发射光束到光盘301并且检测反射回的光束，伺服控制器343，用于执行光学摄像管342的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并且控制主轴马达341的旋转，RF放大器344，用于从光学摄像管342的检测输出产生例如RF信号，同步信号检测部件345，用于从RF信号中检测同步信号并产生时钟，子码提取部件346，用于从RF信号中提取子码，检测部件347，用于检测鉴别数据的记录位置，以及子码解调部件348，用于将EFM调制的14位子码解调成8位并产生P～W通道的子码。

作为用于记录光盘301的鉴别数据的记录系统，图39中所示的数据记录装置340也包括开关部件349，用于开关鉴别数据的输入，调制部件350，用于调制记录于光盘301上的鉴别数据，记录处理器351，用于在光盘301上记录鉴别数据时执行记录处理，以及输出控制器352，用于控制由光学摄像管342发射的光束的输出。

主轴马达341其摘锭轴与光盘台一致地安装。光盘台嵌入光盘301的中心开口中从而卡紧，使得光盘301的旋转中心与摘锭轴的旋转中心保持一致。主轴马达341使光盘301旋转，并与光盘301保持一致。

光学摄像管342包括作为用于发射光束的光源的半导体激光器，用于汇集从半导体激光器发射的光束的物镜，以及用于检测从光盘301的反射膜反射回的返回光束的光检测器。从半导体激光器发射的光束由物镜来汇集，以照射在光盘301的信号记录表面上。

半导体激光器的激光输出由输出控制器352来控制。当读出用于记录鉴别的数据时，在输出控制器352的控制下，半导体激光器以标准输出来发射光束。当记录记录于光盘301上的鉴别数据时，半导体激光器以高于再现时的输出级来发射光束，以熔化反射膜来实现热感记录。

从光盘301的信号记录表面反射回的返回光束由光检测器转换成电信号，然后光检测器将已转换的电信号输出到RF放大器344。物镜由物镜驱动机械装置例如双轴传动装置支撑，并且在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。

基于构成光学摄像管342的光检测器的输出信号，RF放大器344产生RF信号，聚焦误差信号和跟踪误差信号。聚焦误差信号由例如散光法来产生，而跟踪误差信号由三光束法或推挽法来产生。RF放大器344将聚焦误差信号和跟踪误差信号输出到控制器343。

从RF信号中，同步信号检测部件345检测图1中所示的帧同步信号，当检测用于解码图2和3中所示的子码的同步信号时。同步信号检测部件345从同步信号产生时钟。

基于从RF放大器344提供的聚焦误差信号和跟踪误差信号，控制器343产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，并将这些伺服信号输出到光学摄像管342的物镜驱动机械装置的驱动电路。基于聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，由物镜驱动机械装置支撑的物镜在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。控制器343也产生旋转伺服信号，使得从同步信号产生的时钟将与石英振荡器的参考时钟在频率和相位上同步。因此，主轴马达341使光盘以例如CLV旋转。

子码提取部件346从RF放大器344输入的数据中提取紧跟在帧同步信号之后给出的14位子码，并将这样提取的子码输出到检测部件347，当将它输出到子码解调部件348以指定鉴别数据的记录区域时。

检测部件347检测用于记录鉴别数据的位置是否为槽脊。也就是，检测部件347检测由图36～38中的箭头指示的位置是否为槽脊。检测部件347将检测的结果经由输出终端354输出到例如监视器，以使例如错误信息能够显示于其上。检测部件347可以判定，如果直接在鉴别数据记录位置之前的位置是凹坑，那么记录位置是槽脊。

基于EFM转换表，子码解调部件348将已记录有鉴别数据的区域的子码从14位数据转换成8位数据。子码解调部件348用98帧形成一个块，并产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件348产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。子码解调部件348将从子码提取的地址信息输出到控制器343。这允许控制器343使光学摄像管342访问鉴别数据的记录区域。

调制部件350根据预置的调制系统来调制从输入终端353输入的鉴别数据，并将所得到的数据经由开光部件349输出到记录处理器351。开关部件349响应于来自检测部件347的输出而转换开关。也就是，当鉴别数据的记录位置是槽脊时，检测部件347导通开关部件349以允许由调制部件350调制的鉴别数据输出到记录处理器351。当鉴别数据的记录位置不是槽脊时，检测部件347关闭开关部件349以禁止由调制部件350调制的鉴别数据输出到记录处理器351。

记录处理器351执行在光盘301上记录所必须的记录处理，并将这样处理的数据输出到光学摄像管342。

转向上述数据再现装置340的处理，当用户按压鉴别数据记录按钮时，数据记录装置340开动主轴马达341，以使装载在构成光盘装载部件的光盘台上的光盘301以恒定线速度旋转。同时，光学摄像管342发射光束到光盘301上。应该注意的是，输出控制器352控制光学摄像管342的半导体激光器来以标准输出输出光束。光学摄像管342开始读出数据，当聚焦伺服和跟踪伺服控制操作在控制器343的控制下执行时。

在步骤S301中，光学摄像管342基于例如由子码解调部件348解调的子码的TOC执行光道跳跃到鉴别数据的记录区域，以在数据记录装置340的控制器343的控制下在预置的区域中记录鉴别数据，如图40中所示。数据记录装置340的子码提取部件346提取鉴别数据记录区域的子码，并将14位数据输出到检测部件347中。在接下来的步骤S302中，检测部件347检测由图36～38中的箭头指示的位置是否为槽脊。如果记录位置是槽脊，在步骤S303中，检测部件347导通开关部件349，相反，如果记录位置是凹坑，在步骤S304中，检测部件347关闭开关部件349，并搜索下一个位置。另一方面，如果鉴别数据从输入终端353输入，调制部件350以预置的格式来调制鉴别数据。当检测部件347已导通开关部件349时，调制部件350将已调制的鉴别数据经由开关部件349输出到记录处理器351。记录处理器351将其已处理的数据输出到光学摄像管342。

同时，鉴别数据的记录区域可以使用Q通道子码的ADR中的鉴别数据来指定。可选地，用于记录鉴别数据的区域可以通过检测R～W通道的子码是否为固定的值来指定，以将装置设置成鉴别数据记录模式。

为了通过熔化反射膜来热感记录鉴别数据，输出控制器352将半导体激光器的输出从标准级转换成高级。数据记录装置340在槽脊处形成假的凹坑，以将数据记录在Q通道子码的记录区域的84位中，也就是从UDI索引尾端起的第四位到CRC。特别地，数据记录装置340将例如可记录时间或先期记录时间记录在从UDI索引尾端起的4位中，并将鉴别数据记录在56位的UDI有效负载中，当将地址信息例如帧号记录在8位的AFRAME中以及将纠错码记录在16位的CRC中时。

现在参考图41来说明记录这些数据的方法。同时，该图中所示的实施方案将图9D中所示的0X47h改变成0X07h。在记录鉴别数据之前，模式A是这样的，如图41中所示，记录有24位的帧同步信号，紧跟着耦合位[000]，紧跟着子码[00100100100100](0X47h)，依次紧跟着耦合位[100]。在光盘301上，记录有11T长的凹坑P1，紧跟着11T的槽脊L1，紧跟着7T长的凹坑P2，紧跟着3T长的槽脊L2，紧跟着3T长的凹坑P3，紧跟着3T长的槽脊L3，紧跟着3T长的凹坑P4。从凹坑P3到凹坑P4，数据记录装置340照射高输出的光束以熔化反射膜来实现热感记录，从而在槽脊L3的位置形成连续到凹坑P3和P4的假的凹坑，以给出图41的(B)中所示的记录后格模式A。因此，在记录后模式A中，在子码区域中记录有模式[00100100000000](0X07h)。也就是，在光盘301上，记录有11T长的凹坑P11，紧跟着11T长的槽脊L11，紧跟着7T长的凹坑P12，紧跟着3T长的槽脊L12，紧跟着9T长的凹坑P13。

转到帧同步信号的模式与上面的模式相反的情况，在记录鉴别数据之前的模式B以24位的帧同步信号开始，紧跟着耦合位[001]，紧跟着子码[00100100100100](0X47h)，紧跟着耦合位[100]。在光盘301上，记录有11T长的槽脊L21，紧跟着11T的凹坑P21，紧跟着4T的槽脊L22，紧跟着3T的凹坑P22，紧跟着3T的槽脊L23，紧跟着3T的凹坑P23，紧跟着3T的槽脊L24，紧跟着3T的凹坑P24。从凹坑P23到凹坑P24，数据记录装置340照射高输出的光束以熔化反射膜来实现热感记录，从而形成连续到凹坑P23和P24的假凹坑，以给出图41的(D)中所示的记录后模式B。因此，在记录后模式B中，在子码区域中记录有模式[00100100000000](0X07h)。也就是，在光盘301上，记录有11T长的槽脊L31，紧跟着11T长的凹坑P31，紧跟着4T长的槽脊L32，紧跟着3T的凹坑P32，紧跟着3T的槽脊L33，紧跟着9T的凹坑P33。

因此，数据记录装置340通过开/关高输出光束来形成与鉴别数据相对应的凹坑和槽脊的模式，从而将鉴别数据记录在Q通道子码中。

通过上述方法，使用例如子码中的地址信息，鉴别数据的记录区域被指定，以将鉴别数据记录在这样指定的区域中。

参考图42，现在说明再现通过上述数据记录装置340已记录有鉴别数据的光盘301的数据再现装置360。

类似于数据再现装置60，160，260，数据再现装置360包括主轴马达361，用于旋转记录有鉴别数据的光盘301，光学摄像管362，用于发射光束到光盘301并检测反射回的光束，控制器363，用于执行光学摄像管362的物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制并且执行主轴马达361的旋转伺服控制，RF放大器364，用于从光学摄像管362的输出产生RF信号，同步信号检测部件365，用于从RF信号中检测同步信号以产生时钟，解调部件366，用于解调由EFM调制的记录数据例如内容数据，以及纠错部件367，用于纠错已解调的数据。

数据再现装置360包括子码提取部件368，用于从RF信号中提取子码，子码解调部件369，用于将EFM调制的14位子码解调成8位以产生P～W通道的子码，检测部件370，用于检测R～W通道的子码，开关部件371，以及解调部件372，用于解调鉴别数据。

主轴马达361旋转地驱动光盘301，当光盘301关于盘居中时，并且以这种状态安装在光盘台上，与安装在上述各个数据再现装置的光盘台上一样。

光学摄像管362通过物镜汇集从半导体激光器发射的光束，以将光束照射在光盘301的信号记录表面上，与在上述各个数据再现装置中一样。光学摄像管362通过光检测器检测从光盘301的信号记录表面反射回的返回光束，并将检测信号转换成电信号，该电信号然后输出到RF放大器364。当再现数据时，半导体激光器以标准输出来发射光束。物镜由物镜驱动机械装置，例如双轴传动装置支撑，并且在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。

基于构成光学摄像管362的光检测器的输出信号，RF放大器364产生RF信号，聚焦误差信号和跟踪误差信号。例如，聚焦误差信号由例如散光法来产生，而跟踪误差信号由三光束法或推挽法来产生。RF放大器364将RF信号输出到用于解调EFM调制数据的解调部件366，当将聚焦误差信号和跟踪误差信号输出到伺服控制器363时。

同步信号检测部件365从RF信号中检测图1中所示的帧同步信号，当检测用于解码图2和3中所示的子码的同步信号时。同步信号检测部件365基于检测到的同步信号来产生时钟。

控制器363基于从RF放大器364输入的聚焦误差信号和跟踪误差信号，来产生聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，并将这样产生的信号输出到光学摄像管362的物镜驱动机械装置的驱动电路。从而，由物镜驱动机械装置支撑的物镜基于聚焦伺服信号和跟踪伺服信号，在平行于物镜光轴的聚焦方向和垂直于物镜光轴的跟踪方向上移动。控制器363也产生旋转伺服信号，使得从同步信号产生的时钟将与石英振荡器的参考时钟在频率和相位上同步。从而，主轴马达361使光盘以例如CLV旋转。

解调部件366根据EFM算法来解调记录数据例如内容数据。特别地，解调部件366根据图7和8中所示的EFM转换表，将14位记录码序列转换成8位数据位。纠错部件367根据算法例如CIRC来解调已调制的记录数据，并将已解调的数据输出到输出终端373。例如，如果记录数据是音频数据，在输出终端373输出的音频数据被D/A转换器从数字信号转换成模拟信号，并且经由例如扬声器，耳机或头戴耳机输出。

子码提取部件368从RF放大器364输入的数据中提取紧跟在帧同步信号之后给出的14位子码，并将这样提取的子码输出到子码解调部件369。子码解调部件369基于EFM转换表将14位数据转换成8位数据。子码解调部件369用98帧形成一个块，以产生P，Q，R，S，T，U，V和W通道的子码。也就是，子码解调部件369产生从P1-W1到P96-W96，也就是96位子码。

检测部件370检测记录鉴别数据模式。也就是，检测部件370通过Q通道的ADR检测模式是否为再现鉴别数据模式，以指定已记录有鉴别数据的区域。当检测到指定再现鉴别数据模式的鉴别数据时，检测部件370导通开关部件371，以将从子码提取部件368输入的鉴别数据输出到解码部件372。如果检测部件370没有检测到指定再现鉴别数据模式的鉴别数据，检测部件370假设所指区域不是鉴别数据的记录区域，并且关闭开关部件371以禁止将从子码提取部件368输入的鉴别数据输入到解调部件372。

检测部件370可以通过检测子码R～W通道并检测这些子码是否为保存于存储器中的固定的值来指定鉴别数据的记录区域。也就是，检测部件370检测R～W通道是否为图9A的[000000]，图9C的[000100]或图9D的[000111]。如果从子码解调部件369输入的R～W通道的数据为固定的值，检测部件370导通开关部件371，以将从子码提取部件368输入的鉴别数据输入到解调部件372。如果从子码解调部件369输入的R～W通道的数据不是固定的值，检测部件370认为记录区域并不是鉴别数据的记录区域，并且关闭开关部件371以禁止来自子码提取部件368的鉴别数据输入到解调部件372。

从子码解调部件369通过开关部件371，鉴别数据的解调部件372被提供Q通道子码。鉴别数据的解调部件372参考例如记录在图4中所示的UDI索引中的先期记录时间来解调记录在UDI有效负载中的鉴别数据，当使用CRC来执行纠错处理并将已解调的鉴别数据在输出终端374输出时。

现在说明由数据再现装置360的数据读出操作。当用户按压按钮重放时，数据再现装置360开动主轴马达361，以使装载在构成光盘装载部件的光盘台上的光盘301以恒定线速度旋转。同时，光学摄像管362发射光束到光盘301上。此时，光学摄像管362以标准输出来发射光束。光学摄像管362开始读出数据，当聚焦控制和跟踪控制由伺服控制器363执行时。

参考图43，在步骤S311中，数据再现装置360访问鉴别数据的记录区域，当从子码提取部件368提取子码并且在子码解调部件369中解调这样提取的子码时。在步骤S312中，检测部件370读出子码Q通道，以检测至少图4中所示的可记录区域是否全体为[1]。原因在于，在还没记录有鉴别数据的光盘301中，没有通过熔化反射膜形成假的凹坑来记录鉴别数据，使得至少Q通道的可记录区域全为[1]。当然，如果Q通道的整个帧是可记录区域，检测Q通道的子码是否全为[1]是足够的。如果Q通道的可记录区域全为[1]，数据再现装置360进行到步骤S313，否则到步骤S314。

如果Q通道的可记录区域全为[1]，在步骤S313中，数据再现装置360关闭开关部件371以禁止读出鉴别数据以及禁止再现例如记录于光盘301上的内容数据。应该注意的是，Q通道的可记录区域全为[1]的光盘301是没有记录鉴别数据的光盘，因此是在记录鉴别数据之前违法发行的。

如果Q通道的可记录区域不全为[1]，并且在步骤S314中，检测部件370用Q通道的ADR已检测出所考虑的区域是鉴别数据的记录区域，那么数据再现装置360设置读出鉴别数据的再现模式。然后，在步骤S315中，数据再现装置360读出并解调鉴别数据，然后允许再现记录于光盘301上的内容数据。

使用上述方法，其中检测Q通道的整个可记录区域是否全为[1]，能够施加限制于例如在记录鉴别数据之前违法发行的光盘的再现。使用该方法，能够施加限制于由基于剥去光盘301的保护膜或反射膜以及转录光盘衬底的槽脊和凹槽的凹坑模式制作的压膜而制造的违法光盘的再现。因为鉴别数据通过熔化反射膜虚拟地形成凹坑来记录，因此不是槽脊和凹槽的模式，这些鉴别数据不会转录到压膜。

在该数据再现装置360中，可以如下地来控制数据再现：如果，在图44的步骤S321中，数据再现装置360的检测部件370使用Q通道的ADR检测出所考虑的区域是鉴别数据的记录区域，数据再现装置360设置读出鉴别数据的再现模式。在步骤S322中，数据再现装置360提取子码的R～W通道以检测从光盘301读出的R～W通道的子码是否为预置的固定的值。例如，如果使用图9D中所示的0X47h和0X07h的组合，检测部件370检测R～W通道的子码是否为[000111]。当数据再现装置360的检测部件370已确定所读出的子码为固定的值，也就是R～W通道的子码是[000111]时，数据再现装置360进行到步骤S323。当数据再现装置360的检测部件370已确定所读出的子码不是固定的值，也就是R～W通道的子码不是[000111]时，数据再现装置360进行到步骤S324。

如果数据再现装置360已确定R～W通道的子码为固定的值，在步骤S323，数据再现装置360确定当前装载的光盘301是授权的光盘，并且导通开关部件371以允许读出鉴别数据。如果从子码解调部件369通过开关部件371输入Q通道的子码，鉴别数据解调部件372参考例如记录在图4中所示的UDI索引上的先期记录时间来解调记录在UDI有效负载中的鉴别数据，当使用CRC来纠错已解调的数据并且将所得到的数据在输出终端374输出时。数据再现装置360开始记录在例如光盘301上的内容数据的再现处理。

如果数据再现装置360的检测部件370已确定R～W通道的子码与固定的值不一致，在步骤S324中，数据再现装置360判定当前装载的光盘301是违法的光盘或者是不同种类的光盘。因此，数据再现装置360禁止读出鉴别数据，并且禁止记录在光盘301上的内容数据的再现处理的后阶段处理。使用该方法，能够限制违法发行的光盘或不同种类的光盘的再现。

使用上述根据本发明的光盘301，在图1中所示的子码中记录鉴别数据时，选择这样的鉴别数据，其满足转变间的最大长度Tmax为10并且转变间的最小长度Tmin为2的EFM转换规则并且其中预置的位总是变成槽脊，如图36～38中所示。从而，鉴别数据可以记录在光盘301上，使得预置的槽脊翻转成凹坑。因为当记录鉴别数据时鉴别数据的位置是固定的，周期性地转换输出是足够的，从而简化控制。鉴别数据不是由构成平顶和凹槽模式的凹坑和槽脊来记录，而是熔化反射膜来禁止光束的反射。因此，鉴别数据不会转录到使用通过剥去光盘301的保护膜或反射膜并且转录平顶和凸槽的凹坑模式制作的压膜而制造的违法光盘，从而限制由带有不良意图的人制造的光盘的再现。

虽然本发明已结合根据本发明的光盘，用于在光盘上记录鉴别数据的数据记录装置，以及用于再现记录在光盘上的数据的数据再现装置来描述，但本发明并不局限于这样的配置。例如，在上述实施方案中，数据用EFM来调制以记录数据。但是，关于调制系统，没有对调制系统的特别的限制，只要调制系统允许M位块到N位的转换，其中M＜N，例如8-16调制或8-10调制。用于记录调制数据的通道可以不同于Q通道，而固定的值不局限于R～W通道的子码。虽然在8位序列中Q通道中的[1]改变成[0]，但也可能是[0]改变成[1]。

虽然鉴别数据后记录在其中例如内容数据通过在光盘衬底上形成凹坑模式来记录的只重放的光盘上，但也可以将例如内容数据记录在写一次或可记录光盘上并且通过熔化反射膜将鉴别数据记录在这里用作实施本发明的光盘中。

虽然本发明已根据附图中所示例的其某些优选实施方案来描述并且在上面的说明书中详细描述，本领域技术人员应该明白的是，本发明并不局限于实施方案，可以不背离于由附加的权利要求书所提出并定义的本发明的范围和精神实现各种修改，可选结构或等价形式。

工业适用性

在已记录有从M位数据调制成N位数据，其中M＜N，的记录介质中记录另外的数据时，另外的数据被记录，使得N位数据中某些位被改变，而N位的剩余位固定不变，从而能够在已记录有数据的区域中记录用于鉴别主数据例如内容数据的数据，使得保持与先存在格式的兼容性。结果，可以实现记录在每个记录介质上的主数据例如内容数据的可靠保护。

Claims (92)

1.一种记录方法，其中在记录介质上，使预先记录的数据从M位数据调制成N位数据并且使所得到的数据预先记录于其上，其中M＜N，另外的数据以这样一种方式来记录，其中所述N位的某一位或某几位改变，而所述N位数据的剩余位固定不变。

2.根据权利要求1的记录方法，其中所述N位数据以包括凹坑部分和限定于所述凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凸槽的模式来预先记录。

3.根据权利要求2的记录方法，其中另外的数据通过将所述N位数据的槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

4.根据权利要求3的记录方法，其中鉴别数据通过改变所述N位数据的某一位或某几位来记录。

5.根据权利要求4的记录方法，其中所述鉴别数据包括用于指定记录鉴别数据的区域的数据。

6.根据权利要求4的记录方法，其中包括内容数据和子码数据的主数据通过基于所述N位数据的调制来记录在所述记录介质上，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的一位或几位。

7.根据权利要求6的记录方法，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

8.根据权利要求1的记录方法，其中所述N位数据包括耦合位。

9.根据权利要求8的记录方法，其中所述N位数据以包括凹坑部分和所述凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的模式预先记录在所述记录介质上，并且其中耦合位被选择使得所述某一位或某几位被改变并被记录的区域是槽脊。

10.根据权利要求9的记录方法，其中另外的位通过将所述N位数据的槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

11.根据权利要求10的记录方法，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于8-14调制而调制的所述M位数据。

12.根据权利要求11的记录方法，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X47h改变成0X07h，反之亦然。

13.根据权利要求11的记录方法，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X44h改变成0X04h，反之亦然。

14.根据权利要求11的记录方法，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X40h改变成0X00h，反之亦然。

15.根据权利要求8的记录方法，其中所述N位数据以包括凹坑部分和所述凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的模式预先记录在所述记录介质上，并且其中位于所述某一位或某几位已被改变的所述N位数据和紧跟在所述第一陈述的N位数据之后的N位数据之间的所述耦合位被选择，以从槽脊部分改变成凹坑部分，反之亦然。

16.根据权利要求15的记录方法，其中所述另外的数据通过将所述N位数据的所述槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

17.根据权利要求16的记录方法，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

18.根据权利要求17的记录方法，其中选择不同于[000]的模式作为所述耦合位。

19.根据权利要求17的记录方法，其中选择模式[100]作为所述耦合位。

20.根据权利要求1的记录方法，其中验证所述N位的剩余数据部分是否为固定的值，并且其中如果所述N位的剩余模式被确定为所述固定的值，所述某一位和某几位的数据被改变以实现记录。

21.根据权利要求20的记录方法，其中如果所述N位的剩余数据部分被确定不是所述固定的值，不执行记录操作。

22.根据权利要求20的记录方法，其中如果所述N位的剩余数据部分被确定为具有所述固定的值，所述某一位和某几位的数据被改变以实现所述鉴别数据的记录。

23.根据权利要求22的记录方法，其中包括内容和子码数据的主数据通过调制到所述N位数据来记录在所述记录介质上，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的一位或几位。

24.根据权利要求22的记录方法，其中验证所述某一位或某几位是否为预置的值，并且其中如果所述某一位或某几位是预置的值，所述鉴别数据被记录。

25.一种记录装置，包括：

头部件，用于扫描记录介质，该记录介质以包括凹坑部分和所述凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的模式预先记录有基于将M位数据调制成N位数据而获得的数据，其中M＜N；

控制器，用于基于从所述头部件读出的数据来控制是否记录鉴别数据；

信号处理部件，用于处理所述鉴别数据，以记录数据并且将输出数据提供到所述头部件；

所述头部件记录所述鉴别数据，使得所述N位数据的所述某一位或某几位改变，而所述N位数据的剩余位固定不变。

26.根据权利要求25的记录装置，其中所述鉴别数据通过由所述头部件将所述N位数据的所述槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

27.根据权利要求25的记录装置，其中所述鉴别数据包括用于指定记录鉴别数据的区域的数据。

28.根据权利要求25的记录装置，其中包括内容数据和子码数据的主数据通过基于所述N位数据的调制来记录在所述记录介质上，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的一位或几位。

29.根据权利要求28的记录装置，其中记录在所述记录介质上的N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

30.根据权利要求25的记录装置，其中所述N位数据包括耦合位。

31.根据权利要求30的记录装置，其中所述信号处理器选择所述耦合位，使得其中某一位或某几位通过记录被改变的所述区域是槽脊。

32.根据权利要求28的记录装置，其中所述鉴别数据通过由所述头部件将所述N位数据的所述槽脊部分改变成所述凹坑部分来记录。

33.根据权利要求32的记录装置，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

34.根据权利要求33的记录装置，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X47h改变成0X07h，反之亦然。

35.根据权利要求33的记录装置，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X44h改变成0X04h，反之亦然。

36.根据权利要求33的记录装置，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X40h改变成0X00h，反之亦然。

37.根据权利要求30的记录装置，其中所述信号处理器选择位于所述某一位或某几位已被改变的所述N位数据和紧跟在所述第一陈述的N位数据之后的N位数据之间的所述耦合位，使得所述耦合位从槽脊部分改变成凹坑部分，反之亦然。

38.根据权利要求37的记录装置，其中所述鉴别数据通过所述头部件将所述N位数据的所述槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

39.根据权利要求38的记录装置，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

40.根据权利要求39的记录装置，其中所述信号处理器选择不同于[000]的模式作为所述耦合位。

41.根据权利要求39的记录装置，其中所述信号处理器选择模式[100]作为所述耦合位。

42.根据权利要求25的记录装置，其中所述控制器验证所述N位的剩余数据部分是否为固定的值，并且其中如果所述N位的剩余模式被确定为所述固定的值，所述某一位和某几位的数据被改变以实现记录。

43.根据权利要求42的记录装置，其中所述控制器包括用于验证所述N位的剩余数据部分是否为固定的值的判定部件，以及基于所述判定部件的判定结果转换开关的开关电路部件，并且其中当所述N位的剩余模式被确定为所述固定值时，所述开关电路部件转换开关，使得所述鉴别数据输入到所述信号处理器。

44.根据权利要求42的记录装置，其中如果所述N位的剩余数据部分被验证不是所述固定的值，所述控制器不执行记录操作。

45.根据权利要求42的记录装置，其中如果所述N位的剩余数据部分被确定为所述固定的值，所述某一位和某几位的数据被改变以实现记录。

46.根据权利要求45的记录装置，其中包括内容数据和子码数据的主数据通过调制到所述N位数据来记录在所述记录介质上，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的一位或几位。

47.根据权利要求45的记录装置，其中所述控制器验证所述某一位或某几位是否为预置的值，并且其中如果所述某一位或某几位是预置的值，所述鉴别数据被记录。

48.根据权利要求25的记录装置，其中所述控制器包括用于检测所述鉴别数据在所述记录介质上的记录位置是否为槽脊部分，并且其中如果所述检测部件已经检测到所述记录位置是槽脊部分，所述鉴别数据被记录在所述记录介质上。

49.一种用于从预先记录有数据的记录介质中再现从M位数据调制成N位数据的数据的方法，其中M＜N，所述记录介质也具有记录于其上的另外的数据，使得所述N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变，所述方法包括：

从所述记录介质中读出数据；

提取读出数据的N位数据的位的剩余部分；

确定所提取的N位数据的位的剩余部分是否为固定的值；

如果所提取的N位数据的剩余部分为固定的值，给出没有错误的判定。

50.根据权利要求49的再现方法，其中鉴别数据通过改变所述N位数据的某一位或某几位来记录。

51.根据权利要求50的再现方法，其中包括内容数据和子码数据的主数据通过调制到所述N位数据来记录在所述记录介质上，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的一位或几位。

52.根据权利要求50的再现方法，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

53.根据权利要求49的再现方法，其中所提取的所述N位数据的剩余部分与存储的固定的值相比较；并且其中

验证所提取的所述N位数据的剩余部分是否与所述固定的值相一致。

54.一种用于从预先记录有数据的记录介质中再现从M位数据调制成N位数据的数据的方法，其中M＜N，所述记录介质也具有记录于其上的另外的数据，使得所述N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变，所述方法包括：

从所述记录介质中读出数据；

提取所述读出数据的N位数据的位的剩余部分；

确定所提取的N位数据的位的剩余部分是否为固定的值；

如果所提取的N位数据的剩余部分为固定的值，再现所述另外的记录数据。

55.根据权利要求54的再现方法，其中所提取的所述N位数据的剩余部分与存储的固定的值相比较；并且其中

验证所提取的所述N位数据的剩余部分是否与所述固定的值相一致。

56.根据权利要求54的再现方法，其中如果所提取的N位数据的剩余部分被确定不是固定的值，禁止所述记录介质的再现。

57.根据权利要求54的再现方法，其中如果所提取的N位数据的剩余部分被确定不是固定的值，访问接下来的N位数据。

58.根据权利要求54的再现方法，其中鉴别数据通过改变所述N位数据的所述某一位或某几位来记录在所述记录介质上。

59.根据权利要求58的再现方法，其中包括内容和子码数据的主数据通过调制到所述N位数据来记录，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的一位或几位。

60.根据权利要求59的再现方法，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

61.一种用于从预先记录有数据的记录介质中再现从M位数据调制成N位数据的数据的方法，其中M＜N，所述记录介质也具有记录于其上的另外的数据，使得所述N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变，所述方法包括：

从所述记录介质中读出数据；

检测所读出的N位数据的所述某一位或某几位是否为固定的值；

如果所述某一位或某几位不具有所述固定的值，再现另外的记录数据。

62.根据权利要求61的再现方法，其中如果所述某一位或某几位不是所述预置的值，禁止所述另外的记录数据的再现。

63.根据权利要求61的再现方法，其中如果所述某一位或某几位具有所述预置的值，禁止所述记录介质的再现。

64.根据权利要求61的再现方法，其中鉴别数据通过改变所述N位数据的某一位或某几位来记录在所述记录介质上。

65.根据权利要求64的再现方法，其中包括内容和子码数据的主数据通过调制到所述N位数据来记录，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的位。

66.根据权利要求65的再现方法，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

67.一种再现装置，包括：

头部件，用于从记录介质读出从M位数据调制成N位数据的数据，其中M＜N，所述记录介质上记录于其上的另外的数据，使得所述N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变；

解调部件，用于解调由所述头部件读出的数据；

控制器，用于提取由所述头部件读出的N位数据的位的剩余部分，验证所提取的N位数据的位的剩余部分是否为固定的值，并且如果所提取的N位数据的位的剩余部分被验证为所述固定的值，则将所述另外的记录数据提供到所述解调部件。

68.根据权利要求67的再现装置，其中所述控制器具有用于存储所述固定的值的存储部件；所述控制器将所提取的N位数据的位的剩余部分与存储在所述存储部件中的所述固定值相比较，以验证所提取的N位数据的位的剩余部分是否与所述固定的值相一致。

69.根据权利要求67的再现装置，其中如果所提取的N位数据的位的剩余部分被确定不是所述固定的值，所述控制器禁止所述记录介质的再现。

70.根据权利要求67的再现装置，其中如果所提取的N位数据的位的剩余部分被确定不是所述固定的值，所述控制器访问接下来的N位数据。

71.根据权利要求67的再现装置，其中鉴别数据通过改变所述N位数据的某一位或某几位来记录在所述记录介质上。

72.根据权利要求71的再现装置，其中包括内容数据和子码数据的主数据通过调制到所述N位数据来记录，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的。

73.根据权利要求72的再现装置，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

74.一种记录介质，从M位数据调制到N位数据的数据预先记录于其上，其中M＜N，并且另外的数据记录于其上，使得所述N位数据的某一位或某几位改变，而N位数据的位的剩余部分固定不变。

75.根据权利要求74的记录介质，其中所述N位数据以包括凹坑部分和限定于所述凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凸槽的模式来记录。

76.根据权利要求75的记录介质，其中另外的数据通过将所述N位数据的槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

77.根据权利要求76的记录介质，其中鉴别数据通过改变所述N位数据的某一位或某几位来记录。

78.根据权利要求77的记录介质，其中所述鉴别数据包括用于指定记录鉴别数据的区域的数据。

79.根据权利要求77的记录介质，其中包括内容数据和子码数据的主数据通过调制到所述N位数据来记录在所述记录介质上，并且其中所述某一位或某几位是关于所述子码数据的一位或几位。

80.根据权利要求79的记录介质，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

81.根据权利要求74的记录介质，其中所述N位数据包括耦合位。

82.根据权利要求81的记录介质，其中所述N位数据以包括凹坑部分和在所述凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的模式来预先记录在所述记录介质上，并且其中耦合位被选择使得所述某一位或某几位被改变并被记录的区域是槽脊。

83.根据权利要求82的记录介质，其中另外的位通过将所述N位数据的槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

84.根据权利要求83的记录介质，其中所述N位数据是基于用8-14调制来调制所述M位而获得的数据。

85.根据权利要求84的记录介质，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X47h改变成0X07h，反之亦然。

86.根据权利要求84的记录介质，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X44h改变成0X04h，反之亦然。

87.根据权利要求84的记录介质，其中作为改变所述某一位或某几位的结果，所述N位数据从0X40h改变成0X00h，反之亦然。

88.根据权利要求81的记录介质，其中所述N位数据以包括凹坑部分和在所述凹坑部分之间的槽脊部分的平顶和凹槽的模式来预先记录在所述记录介质上，并且其中位于所述某一位或某几位已被改变的所述N位数据和紧跟在所述第一陈述N位数据之后的N位数据之间的所述耦合位从槽脊部分改变成凹坑部分，反之亦然。

89.根据权利要求88的记录介质，其中所述另外的数据通过将所述N位数据的所述槽脊部分改变成凹坑部分来记录。

90.根据权利要求89的记录介质，其中记录在所述记录介质上的所述N位数据是基于通过8-14调制来调制所述M位数据而获得的数据。

91.根据权利要求90的记录介质，其中选择不同于[000]的模式作为所述耦合位。

92.根据权利要求90的记录介质，其中选择模式[100]作为所述耦合位。

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