CN1381783A - 电子组件错误检测显示方法 - Google Patents
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Abstract
一种数据处理系统电子组件错误检测显示方法包括:通过基本输入输出系统装置测试第一电子组件是否错误;若检查结果为错误时,则基本输入输出系统装置传递第一信号至译码装置,译码装置传递第二信号至发光二极管使发光二极管以一特定频率闪烁;若检查结果为正确时,则基本输入输出系统装置测试第二电子组件。当动态随机存取内存、基本输入输出系统、或显示(VGA)卡发生错误时,发光二极管可以不同频率闪烁以表示组件损坏或装置错误。
Description
本发明有关一种电子组件错误检测显示方法。
在数据处理系统的架构中，所述的基本输入输出系统(basic input-outputsystem，BIOS)是数据处理系统开机后所执行的第一道程序，为整个系统把守第一关，倘若无法完成BIOS程序，通常代表某些硬件可能有问题。
每当我们将数据处理系统开机后，中央处理器(CPU)便会自动执行一连串的指令，这些指令分成：(一)系统组态分析(System Configuration Analysis)：分析CPU型号、内存大小、软硬盘机的数量与型式、是否安装浮点运算器等，作为后续动作的重要参考数据。(二)开机自我测试(POST，Power-on Self Test)：测试内存、芯片组、CMOS储存数据、键盘和磁盘驱动器等硬件。(三)加载操作系统：借助一小段引导装入程序(Bootstrap Loader)，找出操作系统(如MS DOS、Windows 2000/98)在硬盘的位置并予以加载。
由于数据处理系统开机后，开机自我测试部分，基本输入输出系统(BIOS)装置测试系统依序为：首先动态随机存取内存(DRAM)，基本输入输出系统(BIOS)装置本身，显示(VGA)卡然后其它外围装置测试，然而若在检测显示卡之前发生错误则无从由监视器(monitor)上得知包括BIOS本身、动态随机纯取内存、显示卡何者发生错误，使用者必须将数据处理系统机壳拆开确认，即使送至维修机构，若无法事先得知何项零件发生故障或装置错误，还必须花费时间逐一检测，造成使用者的困扰，也增加维修人员的维修时间。
在解决所述的检测问题上，现有技术方法一如图1所示，是于计算机开机后逐一测试机存取内存(DRAM)2，基本输入输出系统(BIOS)本身1，显示(VGA)卡3，当所述组件发生错误时，则通过系统芯片组中的南桥芯片4传递至系统扬声器(speaker)5分别发出不同频率的蜂鸣声，表示所述组件何项发生错误，然而事实上使用者并不容易以声音分辨其差异。
现有技术方法二，如图2所示，是在数据处理系统主机板上，安装不同颜色的发光二极管(15，16，17)，于计算机开机后逐一测试机存取内存(DRAM)12，基本输入输出系统装置(BIOS)11本身，显示(VGA)卡13，当所述组件发生错误时，则通过系统芯片组中的南桥芯片14传递至所述主机板上不同颜色的发光二极管(15，16，17)，分别显示不同组件的正确或错误，然而现有技术的这种方法必须增加发光二极管，从而增加了制造成本，且由于安装于主机板上，仅方便生产测试阶段的测试，在数据处理系统组装完成交至消费者手中后，消费者仍必须将数据处理系统机壳拆开后方能以现有技术方法二判断是何组件发生错误，实属不便。
本发明的目的在于提供一种电子组件错误检测显示方法，采用该方法在不需额外增加发光二极管以及使用者以及维修或检测人员不需拆开数据处理系统机壳的情况下，可在开机后监视器显示画面前，方便显示基本输入输出系统测试于所述阶段发生的错误。
为实现上述目的，根据本发明一方面的检测显示方法，它用以检测并显示至少一种电子组件是否错误，所述电子组件内建于数据处理系统中，所述数据处理系统包括一主机，所述主机外壳设有一发光二极管，主机内部具有至少一基本输入输出系统装置及一译码装置，它包括：通过所述基本输入输出系统装置测试所述第一种电子组件是否错误；若检查结果为错误时，则所述基本输入输出系统装置传递第一信号至所述译码装置，所述译码装置传递第二信号至所述发光二极管使所述发光二极管以一特定频率闪烁；若检查结果为正确时，则所述基本输入输出系统装置测试第二电子组件。
为实现上述目的，根据本发明另一方面的检测显示方法，它除了可单纯的由发光二极管以不同频率闪烁表示某一电子组件损坏外也可搭配系统扬声器发出的蜂鸣声，以实现加强显示的效果，所述方法包括：通过所述基本输入输出系统装置测试所述所述第一种电子组件是否错误；若检查结果为错误时，则所述基本输入输出系统装置传递第一信号至所述译码装置，所述译码装置传递第二信号至所述发光二极管使所述发光二极管以一特定频率闪烁并同时传递第三信号至系统扬声器使系统扬声器以所述特定频率发出声音；若检查结果为正确时，则所述基本输入输出系统装置测试第二电子组件。
所述系统扬声器所发出声音的前述频率是指一定时间内扬声器发出声音的次数，而非声音本身的频率(举例：音速＝波常*频率其中的频率)。
此方法尚有一优点在于：若不幸电源LED损坏时，尚有系统扬声器可发出声音作为检测电子组件是否错误的方法与装置；又若为系统扬声器故障时，尚有LED以不同频率闪烁作为检测电子组件是否错误的方法与装置，具有双重保障。
前述电子组件可为态随机存取内存(DRAM)，基本输入输出系统(BIOS)装置或显示(VGA)卡，而BIOS判断DRAM是否错误的方法为：若无法正确判断所述动态随机存取内存的规格型号时为错误，反之则为正确；BIOS判断BIOS本身是否错误的方法为：检查所述基本输入输出系统装置的检总(Checksum)值是否错误；BIOS判断VGA卡是否错误的方法为：若无法正确判断所述VGA卡的规格型号时为错误，反之则为正确。
所述情况在CPU无错误且BIOS执行自我测试部分程序正常时，可进行BIOS的自我测试程序；如果CPU错误或BIOS完全损坏(无法进行自我测试)则由于电源LED的初始设定为全亮，开机后若出现电源LED全亮而监视器没有画面的情况，则可知是CPU错误或BIOS完全损坏。至于DRAM、BIOS及VGA错误则可借助本发明依电源LED闪烁频率得知是何组件损坏。VGA测试完成的后的电子组件测试则可由监视器画面获得相关信息。
前述的译码装置将基本输入输出装置传递的命令译码转换成硬件设备可读取的硬件信号；前述第一信号为命令信号，前述第二、三信号为硬件信号。
发光二极管闪烁频率可为单一频率(例如每灭亮灭1次)，也可以是两种以上频率组合(例如每秒亮灭1次紧接着每秒亮灭3次)。
由于过近的闪烁频率不易由肉眼判断其中的差异，故代表不同电子组件错误的LED闪烁频率互不相同彼此间相差两倍以上为佳。所述位于数据处理系统主机外壳设置的发光二极管为电源显示发光二极管，其优点为不必另外增设新的发光二极管，当然位于数据处理系统主机外壳上的其它发光二极管也不超脱本发明的构想范围；又所述的译码装置为系统芯片组的南桥芯片或具有同效功能的电路布局。
为更清楚理解本发明的目的、特点和优点，下面将结合附图对本发明的较佳实施例进行详细说明。
图1是现有技术一的系统方块图；
图2是现有技术二的系统方块图；
图3是本发明的电子组件错误检测显示方法较佳实施例一的系统方块图；
图4是本发明的电子组件错误检测显示方法较佳实施例一的流程图；
图5是本发明的电子组件错误检测显示方法较佳实施例二的系统方块图；
图6是本发明的电子组件错误检测显示方法较佳实施例二的流程图。
较佳实施例一
请参见图3及图4，其中图3为本发明的电子组件错误检测显示方法较佳实施例一的系统方块图，图4为本发明的电子组件错误检测显示方法较佳实施例一的流程图。
本发明的电子组件错误检测显示方法，是用以检测并显示包含：动态随机存取内存102、基本输入输出系统装置101、显示卡103等电子组件是否错误，所述电子组件内建于数据处理系统(台式计算机或笔记本式计算机或及服务器)中，所述数据处理系统包括一主机，所述主机外壳设置一发光二极管106，内部具有至少一基本输入输出系统装置101及一系统芯片组中俗称南桥的芯片105(也可为输入输出(I/O)芯片或等效的电路布局)，所述检测显示方法包括：将外壳设置的发光二极管106初始设定为全亮，当数据处理系统开机后(步骤11)，以所述基本输入输出系统装置101测试动态随机存取内存102可否正确判断其型号规格(判断式12)，如无法正确判断所述动态随机存取内存102的规格型号时则所述基本输入输出系统装置101传递第一信号至所述芯片105，所述芯片105再传递第二信号至所述发光二极管(步骤13)使所述发光二极管以第一频率(例如0.25赫兹)闪烁(步骤14)，若检查结果为正确时则以位于所述基本输入输出系统装置内的程序检查所述基本输入输出系统装置的检查总值(Checksum)104是否错误(判断式15)，当检查结果为错误时则传递第三信号至所述芯片105，所述芯片105再传递第四信号至所述发光二极管(步骤16)使所述发光二极管以第二频率(例如1赫兹)闪烁(步骤17)，如可正确判断所述动态随机存取内存的规格型号时则测试显示(VGA)卡103可否正确判断其型号规格(判断式18)，如无法正确判断所述显示(VGA)卡103的规格型号时则传递第五信号至所述芯片105，所述芯片105再传递第六信号至所述发光二极管(步骤19)，使所述发光二极管以第三频率(例如10赫兹)闪烁(步骤20)，如可正确判断所述显示(VGA)卡103的规格型号时则继续其它基本输入输出系统测试(步骤21)。较佳实施例二
请参见图5及图6，其中图5为本发明的电子组件错误检测显示方法与装置较佳实施例二系统方块图，图6为本发明的电子组件错误检测显示方法与装置较佳实施例二的流程图。
本发明的电子组件错误检测显示方法与装置，是用以检测并显示包含：动态随机存取内存202、基本输入输出系统装置201、显示卡203等电子组件是否错误，所述电子组件内建于数据处理系统(台式计算机或笔记本式计算机或及服务器)中，所述数据处理系统包括一主机，所述主机外壳设置一发光二极管206，内部具有至少一基本输入输出系统装置201、一系统芯片组中俗称南桥的芯片205(也可为输入输出(I/O)芯片或等效的电路布局)及一系统扬声器207，所述检测显示方法与装置包括：将外壳设置的发光二极管206初始设定为全亮，当数据处理系统开机后(步骤31)，以所述基本输入输出系统装置201测试动态随机存取内存202可否正确判断其型号规格(判断式32)，如无法正确判断所述动态随机存取内存202的规格型号时则所述基本输入输出系统装置201传递第一信号至所述芯片205，所述芯片205再传递第二信号至所述发光二极管206(步骤23)使所述发光二极206体以第一频率(例如0.33赫兹)闪烁，所述芯片并同时传递第三信号至系统扬声器207使系统扬声器207以第一频率发出声音(步骤34)；若检查结果为正确时则以位于所述基本输入输出系统装置内的程序，检查所述基本输入输出系统装置的检查总值(Checksum)204是否错误(判断式35)，当检查结果为错误时则传递第四信号至所述芯片205，所述芯片205再传递第五信号至所述所述发光二极管(步骤36)使所述发光二极管以第二频率(例如1赫兹)闪烁，所述芯片并同时传递第三信号至系统扬声器207使系统扬声器207以第二频率发出声音(步骤37)；如可正确判断所述动态随机存取内存的规格型号时则测试显示(VGA)卡203可否正确判断其型号规格(判断式38)，如无法正确判断所述显示(VGA)卡203的规格型号时则传递第五信号至所述芯片205，所述芯片205再传递第六信号至所述发光二极管(步骤30)，使所述发光二极管以第三频率(例如16赫兹)闪烁，所述芯片并同时传递第三信号至系统扬声器207使系统扬声器207以第三频率发出声音(步骤40)；如可正确判断所述显示(VGA)卡203的规格型号时则继续其它基本输入输出系统测试(步骤41)。
Claims (19)
1.一种检测显示方法，用以检测并显示至少一种电子组件是否错误，所述电子组件内建于数据处理系统中，所述数据处理系统包括一主机，所述主机外壳设有一发光二极管，主机内部具有至少一基本输入输出系统装置及一译码装置，所述检测显示方法包括：
通过所述基本输入输出系统装置测试所述第一种电子组件是否错误；
若检查结果为错误时，则所述基本输入输出系统装置传递第一信号至所述译码装置，所述译码装置传递第二信号至所述发光二极管使所述发光二极管以一特定频率闪烁；
若检查结果为正确时，则所述基本输入输出系统装置测试第二电子组件。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述数据处理系统开机后其监视器可显示画面。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子组件之一为动态随机存取内存(DRAM)、基本输入输出系统装置(BIOS)或显示(VGA)卡。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，测试动态随机存取内存是否错误的方法为若所述基本输入输出系统装置可正确判断所述动态随机存取内存的规格型号，则为正确，反之则为错误；检查所述基本输入输出系统装置是否错误的方法是以位于所述基本输入输出系统装置内的程序，检查所述基本输入输出系统装置的检查总值(Checksum)是否错误；而测试显示卡是否错误的方法为若所述基本输入输出系统装置可正确判断所述显示卡的规格型号，则为正确，反之则为错误。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，主机外壳设置的发光二极管初始设定为全亮。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一信号是一命令信号。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二信号是一硬件信号。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，第二电子组件是依基本输入输出系统装置预先规划电子组件检测顺序所决定。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，闪烁频率是单一频率。
10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，闪烁频率是两种或两种以上频率的组合。
11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，数据处理系统为台式计算机、笔记本式计算机或服务器。
12.如权利要求1所述的方法，其特征在于，设置在数据处理系统主机外壳的发光二极管是电源显示发光二极管。
13.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的译码装置是系统芯片组中的南桥芯片或一输入输出(I/O)芯片。
14.一种检测显示方法，用以检测并显示至少一种电子组件是否错误，所述电子组件内建于数据处理系统中，所述数据处理系统包括一主机，所述主机外壳设有一发光二极管，主机内部具有至少一基本输入输出系统装置、一译码装置及一系统扬声器(speaker)，所述检测显示方法包括：
通过所述基本输入输出系统装置测试所述所述第一种电子组件是否错误；
若检查结果为错误时，则所述基本输入输出系统装置传递第一信号至所述译码装置，所述译码装置传递第二信号至所述发光二极管使所述发光二极管以一特定频率闪烁并同时传递第三信号至系统扬声器使系统扬声器以所述特定频率发出声音；
若检查结果为正确时，则所述基本输入输出系统装置测试第二电子组件。
15.如权利要求21所述的方法，其特征在于，所述电子组件为动态随机存取内存(DRAM)，而测试动态随机存取内存是否错误的方法为若所述基本输入输出系统装置可正确判断所述动态随机存取内存的规格型号，则为正确，反之则为错误。
16.如权利要求21所述的方法，其特征在于，所述电子组件之一为基本输入输出系统装置(BIOS)，而检查所述基本输入输出系统装置是否错误的方法是以位于所述基本输入输出系统装置内的程序，检查所述基本输入输出系统装置的检查总值(Checksum)是否错误。
17.如权利要求21所述的方法，其特征在于，所述电子组件之一为显示(VGA)卡，而测试显示卡是否错误的方法为若所述基本输入输出系统装置可正确判断所述显示卡的规格型号，则为正确，反之则为错误。
18.如权利要求14所述的方法，其特征在于，所述第一信号是一命令信号，而所述第二信号及第三信号是一硬件信号。
19.如权利要求14所述的方法，其特征在于，扬声器发出声音的频率是指一定时间内扬声器发出声音的次数。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNB011166975A Expired - Lifetime CN1170223C (zh) | 2001-04-18 | 2001-04-18 | 电子组件错误检测显示方法 |
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| CN (1) | CN1170223C (zh) |
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