CN1330971C - 老化测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明为一种老化测试系统，其与多个平面显示面板电连接，用以对平面显示面板进行老化测试，该老化测试系统至少包含：一信号发生器，用以产生一电源信号及一第一控制信号；至少一信号调节电路，其电连接于信号发生器，用以根据一检测条件而将第一控制信号调整成第二控制信号输出；以及至少一升压电路，其电连接于信号调节电路，用以提升电源信号及第二控制信号的信号电平及驱动能力，进而利用升压实现的电源信号驱动平面显示面板及第二控制信号对平面显示面板进行老化测试。

Description

老化测试系统
技术领域
本发明为一种检测系统，特别是指一种老化检测系统。
背景技术
近年来由于消费者的消费意识提高，对于产品的品质要求也愈益严苛，使得液晶显示器面板的制造业者不仅要在产品设计上下工夫，更要在制造工艺上有所提升才能在如此竞争的市场上一争长短。对液晶显示器面板的制造业者而言，产品的寿命周期一直是业者所关注的对象，老化测试(burn-in)提供给制造业者一种制造工艺认证及提升产品可靠度的途径之一。经过老化测试过后的产品，不只可以确保产品的可靠度与寿命周期，更可使出厂的产品不会轻易故障。
由于液晶显示器面板很容易在用过一段不确定的时间后就会发生故障，因此老化检测为了解决这种缺陷而发展出来的一种检测方法。为使这些可能有缺陷的产品在老化测试的过程中加速老化，并在测试过程中早早就被淘汰，以免这些有缺陷的产品流入客户手中，所以必要的老化过程可确保制造厂满足客户及使用者对可靠度的要求，且可视检测结果以寻求制造工艺的改进并解决之。
随着科技时代的进步，小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块(LowTemperature Poly Silicon Thin Film Transistor Liquid CrystalModule，LTPS TFT-LCM)已经是日常生活中经常使用的电子装置，其主要被应用在数字相机、移动电话等等信息家电产品中。为了检测小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块在各种使用环境及条件的老化状态，通常会在生产测试时使用老化检测系统加强环境测试参数变化，用以加速小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块老化的速度及缩短老化时间，进而根据检测所得的数据来加以分析小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块老化情况。
目前，传统的老化测试系统主要包含有具一现场可编程门阵列(FPGA)芯片的印刷电路板，其中该印刷电路板设置于环境测试腔体中并可电连接一平面显示面板，以提供该平面显示面板所需要的信号与驱动电压，以进行老化的检测过程。
然而由于目前信息家电(IA)系统结构非常凌乱，没有一个制式规定，信号源规格众多，所设计的大部分也仅止于中尺寸以上的液晶面板使用，而市面上并无法购买到小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块所使用的信号源规格，使得业者必须自行开发设计一现场可编程门阵列(FPGA)芯片以符合小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块所需的信号源与驱动电压。此外，目前所使用的单一现场可编程门阵列芯片(FPGA)所能提供的信号源的驱动能力不足所以只能驱动单一平面显示面板，并无法同时驱动许多面板，而现场可编程门阵列芯片(FPGA)的价格并不便宜，如此亦使得架设老化测试系统的成本因而提高许多，而且也因驱动能力不足，致使产能无法增加。
因此，如何提供一种老化测试系统使其能够提供小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块所需的信号源与驱动电压，及能够同时驱动许多平面显示面板，为发展本发明的主要方向。
发明内容
本发明的一主要目的为提供一种老化测试系统，使其可利用单一现场可编程门阵列(FPGA)芯片所输出的信号源，同时驱动多个平面显示面板。
本发明的另一主要目的提供一种老化测试系统，其利用单一现场可编程门阵列(FPGA)芯片与多组信号调整电路与升压电路设计以增加系统的驱动能力，进而达到驱动许多面板的需求，以增加产能及节省成本。
为达上述目的，本发明提供一种老化测试系统，其与多个平面显示面板电连接，用以对平面显示面板进行老化测试。本发明的老化测试系统至少包含：一信号发生器，用以产生一电源信号及一第一控制信号；至少一信号调节电路，其电连接于信号发生器，用以根据一检测条件而将第一控制信号调整成一第二控制信号输出；以及至少一升压电路，其电连接于一对应的信号调节电路，用以提升电源信号及第二控制信号的信号电平及驱动能力，进而利用升压实现的电源信号驱动平面显示面板及第二控制信号对平面显示面板进行老化测试。
根据本发明，其中信号发生器为一现场可编程门阵列(FPGA)芯片，用以产生电源信号及第一控制信号。
根据本发明，其中老化测试系统配置于一环境测试腔体内。
根据本发明，其中信号发生器还产生一第一参考信号，其为平面显示面板内部电路所需的参考信号。
根据本发明，其中信号调节电路包含一运算放大(OPA)电路，用以调整第一参考信号的电压电平以产生一第二参考信号输出。
根据本发明，其中信号调节电路包含一电流放大电路，其调节第一控制信号的电流增益，用以增加老化测试系统所能驱动的平面显示面板数量。
根据本发明，其中升压电路为一直流向直流转换电路。
根据本发明，其中平面显示面板为一低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块。
根据本发明，其中老化测试系统具有十组信号调节电路与升压电路。
根据本发明，其中每一组信号调节电路与升压电路可驱动至少6个平面显示面板。
本发明利用下列附图及详细说明，得以更深入地了解。
附图说明
图1：其为本发明优选实施例的老化测试系统的电路方块示意图。
图2：其为图1所示的信号调节电路中的运算放大电路的电路示意图。
附图符号说明
10：老化测试系统      11：信号发生器
12：信号调节电路      13：升压电路
14：平面显示面板      20：运算放大电路
21：运算放大器        Sp：电源信号
Sc1：第一控制信号     Sc2：第二控制信号
Vcom_in：第一参考信号
Vcom_out：第二参考信号
具体实施方式
请参阅图1，其为本发明优选实施例的老化测试系统的电路方块示意图。本发明图1所示的实施例是以驱动60个的平面显示面板来举例说明，但是依据相同的原理及应用，使用者可依需求自行设计系统且调整可平面显示面板的数量。
如图1所示，本发明的老化测试系统10可与60个平面显示面板14电连接，用来对这些平面显示面板14进行老化检测。本发明的老化测试系统10主要由信号发生器11、至少一信号调节电路12与至少一升压电路13组合而成，其中老化测试系统10及平面显示面板14设置于一环境测试腔体内(未示出)。
于上述的实施例中，信号发生器11可为一现场可编程门阵列(FPGA)芯片，其可由使用者自行撰写检测条件，且可用来产生多个信号源包括一电源信号Sp、一第一控制信号Sc1以及一第一参考信号(Vcom_in)。另外，多个信号调节电路12则分别电连接于信号发生器11，且每一信号调节电路12主要包含有一运算放大(OPA)电路及一电流放大电路。
每一信号调节电路12的运算放大(OPA)电路及电流放大电路为业界所熟知的电路设计实现。请参阅图2，其为图1所示的信号调节电路中的运算放大电路的电路示意图。如图2所示，运算放大(OPA)电路20根据不同的检测条件的需求，而利用可变电阻R1及R3、电阻R2以及运算放大器21以将信号发生器11输出的第一参考信号(Vcom_in)调整其电压电平而产生第二参考信号(Vcom_out)输出，以提供给平面显示面板14使用。
另外，电流放大电路(未图示)可为多个晶体管组成的电路，可用以增加信号发生器11输出的第一控制信号Sc1的电流增益而产生第二控制信号Sc2，使老化检测系统10可同时驱动更多数量的平面显示面板14。由于电流放大电路的设计为业界所熟知，因此不再赘述。
请再参阅图1，多个升压电路13则分别与一对应的信号调节电路12电连接，且每一升压电路13可与多个平面显示面板14电连接，以进行老化测试。当然，于此实施例中以每个升压电路13配合对应的信号调整电路12可同时驱动6个平面显示面板14为最佳。每一升压电路13可为一直流向直流转换电路(DC/DC converter)，  其主要用来提升信号发生器11与信号调节电路12输出的电源信号Sp及第二控制信号Sc2的信号电平及驱动能力(例如将信号从3.3V提升至平面显示面板所需的12V)，进而利用升压实现的电源信号驱动这些平面显示面板14以及将第二控制信号Sc2输入这些平面显示面板14，以进行老化测试。
由上述实施例可知，本发明的老化测试系统10主要是由一现场可编程门阵列(FPGA)芯片提供的信号源，再利用10组信号调节电路12与升压电路13的信号调节与升压以增加驱动能力，进而各驱动至少6个的平面显示面板，使总平面显示面板数可达到60个。当然，本发明适用的平面显示面板以小尺寸低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块(LTPS TFT-LCM)为最佳。
综上所述，本发明所提供的老化测试系统利用信号调节电路及升压电路确实能够提供对平面显示面板进行老化检测所需的信号源与驱动电压，且所提升的信号电平及驱动能力能够驱动更多数量的平面显示面板。本发明的老化检测系统只需利用一个现场可编程门阵列芯片即可对多个检测面板进行老化测试，可节省生产成本及提升产能，因此本发明极具产业的价值。
故本发明在不脱离权利要求所要求保护范围的情况下，本领域技术人员可对本发明的老化测试系统进行修改。

Claims (9)

1.一种老化测试系统，其与多个平面显示面板电连接，用以对这些平面显示面板进行老化测试，该老化测试系统至少包含：
一信号发生器，用以产生一电源信号及一第一控制信号；
至少一信号调节电路，其电连接于该信号发生器，用以根据一检测条件而将该第一控制信号调整成一第二控制信号输出；以及
至少一升压电路，其电连接于一对应的该信号调节电路，用以提升该电源信号及该第二控制信号的信号电平及驱动能力，进而利用该升压实现的该电源信号驱动这些平面显示面板及该第二控制信号对这些平面显示面板进行老化测试。
2.如权利要求1所述的老化测试系统，其中该信号发生器为一现场可编程门阵列芯片，用以产生该电源信号及该第一控制信号。
3.如权利要求1所述的老化测试系统，其中该信号发生器还产生一第一参考信号，其为该平面显示面板内部电0路所需的参考信号。
4.如权利要求3所述的老化测试系统，其中该信号调节电路包含一运算放大电路，用以调整该第一参考信号的电压电平而产生一第二参考信号输出。
5.如权利要求1所述的老化测试系统，其中该信号调节电路包含一电流放大电路，其调节该第一控制信号的电流增益，用以增加该老化测试系统所能驱动的平面显示面板数量。
6.如权利要求1所述的老化测试系统，其中该升压电路为一直流向直流转换电路。
7.如权利要求1所述的老化测试系统，其中这些平面显示面板为一低温多晶硅薄膜晶体管液晶模块。
8.如权利要求1所述的老化测试系统，其中该老化测试系统具有十组该信号调节电路与该升压电路。
9.如权利要求8所述的老化测试系统，其中每一组信号调节电路与升压电路可驱动至少6个平面显示面板。
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