CN1310495A - 供测试基板定位于电路板插槽的插拔装置 - Google Patents

Abstract

一种供测试基板定位于电路板插槽的插拔装置,包括收容装置、调整装置以及嵌合装置,收容装置具有沟槽,可收容测试基板。调整装置与收容装置连接,使测试基板在插槽内能进行少量位移。嵌合装置包括拉扣,当嵌合装置于第一状态时,测试基板固定于插拔装置,当嵌合装置于第二状态时,测试基板脱离插拔装置。该插拔装置可因电路板设计的不同而分离使用或组合使用。

Description

供测试基板定位于电路板     插槽的插拔装置

本发明涉及一种插拔装置，特别是涉及一种将一测试基板定位于一电路板插槽的插拔装置。

一般电路板(未插置相关CPU电子元件)的测试，是由测试基板的连接端口(泛称金手指)与待测电路板的插槽相接后进行测试，其中测试基板可为显示器介面卡、网络卡、声卡、SCSI卡等，希望通过早期的测试排除不良的电路板，以避免不必要的后续工作。测试基准是检查各线路是否短路或断路，以及检查各连接插槽部位的焊接处是否有空焊或焊接不良的情形。

早期测试方式是以人工的方式将测试基板插置于电路板的插槽内，当测试基板紧迫密合于插槽后，即可进行测试，待测试工作完成后，再用人工的方式拔除测试基板，按此种工作方式依序测试其它电路板。但是以人工的方式插置及拔除测试基板，不仅耗费人力、费时且容易造成测试基板的损坏。

因此一种改进的测试装置，可参阅台湾新型公告编号350541，如图1、图2和图3所示，其是在测试机体1的适当处安设一具有多个针管21的针板2，针板2上方为具有多个管孔31的载板3，且针管21设于管孔31内，并在针管21的一端处设一含有压簧22的探针23，探针23顶触在载板3上方的待测电路板4，针管21的另一端连接于测试硬件10，此种测试方式的特点在于：测试机体1的周缘设有多个导柱11及导套12，导套12设于一压板13四个角落的下方，压板13的上端面与测试机体1的冲压动力单元5的推杆51相接，压板13的下端面连接一测试基板7，此测试基板7与待测电路板4的插槽41为等宽度，利用一可容置测试基板7的导引块61及一设于导引块61上方的压块62，使测试基板7紧迫压制或弹性拔起于待测电路板4的插槽41，以利于测试工作的进行。此种测试装置虽然深获本领域人士的肯定，而且具有实用价值，但美中不足的是，此种测试装置中仍有许多缺点尚待改进：

1．压块62具有一沟槽(未显示)，可容置测试基板7，在压块62的壁面设有多个固定孔622，利用螺钉63贯穿测试基板7与压块62固定，因此测试基板7的装设与更换十分不便。

2．测试基板7垂直插入于待测电路板4的插槽41中，因此测试基板7与插槽41的定位非常重要。最佳情形为测试基板7在待测电路板4的插槽41内能进行小量的位移。

本发明的目的在于提供一种将一测试基板定位于一电路板插槽的插拔装置，以解决上述问题。

本发明的目的是这样实现的，即提供一种供测试基板定位于电路板插槽的插拔装置，包括有：一收容装置，可收容该测试基板；一调整装置，此调整装置与该收容装置连接，使该测试基板在该插槽内能进行少量的位移；以及一嵌合装置，当该嵌合装置于一第一状态时，该测试基板固定于该插拔装置，当该嵌合装置于一第二状态时，该测试基板脱离该插拔装置。

下面结合附图，详细说明本发明的实施例，其中：

图1为现有插拔装置与测试机体的示意图；

图2为现有测试机体的载板、针板示意图；

图3为现有测试机体的探针、针管示意图；

图4为本发明插拔装置的组合图；

图5为图4所示插拔装置的分解图；

图6为图4所示调整装置的分解图；

图7为图6所示导引装置的分解图；

图8为图4所示嵌合装置的分解图。

请参阅图4和图5，图4为本发明供一测试基板101定位于一电路板插槽(未显示)的插拔装置100组合图，其中测试基板101具有一螺孔102。图5为图4所示插拔装置100的分解图。插拔装置100包括有一收容装置70、一调整装置80及一嵌合装置90。收容装置70内具有一沟槽71，可收容测试基板101，收容装置70的两端分别包括有一组螺孔72，收容装置70的壁面另包括了多个螺孔73，与测试基板101的螺孔102相对应，如图5所示。调整装置80设于收容装置70上且与收容装置70相连接。嵌合装置90设于收容装置70的其中一侧。

请参阅图6和图7，图6为图4所示调整装置80的分解图，图7为图6所示导引装置81的分解图。调整装置80包括一导引装置81、一组导柱82以及一组缓冲装置83。导引装置81包括一组调整块811、一组螺钉812与一组垫片813，导引装置81利用螺钉812与垫片813连接该组调整块811，使导引装置81内部形成一空间，可供测试基板101在导引装置81之内上下移动，如图7所示。导柱82的上端为一凸出部，导柱82的下端内部具有螺纹(未显示)。缓冲装置83套在导柱82之外，其中缓冲装置83可为一弹簧。导柱82由上往下置入导引装置81的螺孔815，导柱82的凸出部卡合于螺孔815内，导柱82以可上下移动的方式与导引装置81相接，导柱82的下端穿过螺孔815后，插入收容装置70上的螺孔72中，由一组螺钉85固定导柱82与收容装置70。当导引装置81受压力向下移动时，缓冲装置83成压缩状，当导引装置81向上移动时，缓冲装置83弹回原状。通过以上叙述，使测试基板101在电路板插槽(未显示)内能作X、Y、Z方向的位移，因此本发明插拔装置100具备自动导正的功能。

请参阅图8，图8为图4所示嵌合装置的分解图。嵌合装置90包括一嵌合块91、一组固定销92与一拉扣93。固定销92设于嵌合块91的一侧。拉扣93的一端具有螺纹，可穿越嵌合块91，使嵌合装置90与测试基板101、收容装置70相接。当测试基板101厚度小于沟槽71的厚度时，可旋转拉扣93使测试基板101贴紧收容装置70。当嵌合装置90在第一状态(紧迫)时，嵌合装置90往收容装置70的方向移动，将固定销92插入收容装置70的螺纹73与测试基板101壁面的螺孔102内，可将测试基板101定位在插拔装置100中。当嵌合装置90在第二状态(松弛)时，嵌合装置90往反方向移动，固定销92离开螺孔73与螺孔102，测试基板101可迅速脱离插拔装置100。嵌合装置90还包括了一组导引螺柱95、一组弹簧96以及一组螺钉97，可固定测试基板101、收容装置70与嵌合装置90。

需要说明的是，本实施例是以单一插拔装置作说明，但本发明插拔装置可因电路板设计的不同而分离使用或组合使用。综合以上所述，本发明具有以下优点：

1．此供测试基板定位在电路板插槽的插拔装置，通过拉扣的作用，使装设与更换测试基板更迅速方便。

2．插拔装置具备自动导正功能。

3．在维持产品质量的前提下能大幅度提高测试速度。

4．结构轻便简单，可降低生产所耗费的成本，并提高产品质量。

以上仅对本发明的实施例加以描述，但并不能限制本发明，依本发明精神所作的各种变化或修改，都包括在本发明的权利要求中。

Claims (8)

1．一种供测试基板定位于电路板插槽的插拔装置，包括有：

一收容装置，可收容该测试基板：

一调整装置，此调整装置与该收容装置连接，使该测试基板在该插槽内能进行少量的位移：以及

一嵌合装置，当该嵌合装置于一第一状态时，该测试基板固定于该插拔装置，当该嵌合装置于一第二状态时，该测试基板脱离该插拔装置。

2．如权利要求1所述的插拔装置，其中该收容装置与该测试基板的壁面包括多个螺孔，该嵌合装置还包括一组固定装置，可将该测试基板定位于该收容装置的一位置。

3．如权利要求1所述的插拔装置，该调整装置包括：

一导引装置；

一组缓冲装置，该缓冲装置为一弹簧；以及

一组导柱，其中该收容装置与该导引装置的两端还包括有一组螺孔，该导柱安装于该螺孔内，该缓冲装置套于该导柱之外，通过该调整装置以调整该测试基板的位置。

4．如权利要求3所述的插拔装置，其中该导引装置为一组调整块，利用一组螺钉与一组垫片固定。

5．如权利要求1所述的插拔装置，其中该收容装置内具有一沟槽，可收容该测试基板。

6．如权利要求1所述的插拔装置，其中该嵌合装置于该第一状态时，为紧迫状态。

7．如权利要求1所述的插拔装置，其中该嵌合装置于该第二状态时，为松弛状态。

8．如权利要求1所述的插拔装置，其中该插拔装置可因电路板设计的不同而分离使用或组合使用。

Images