CN1307620C - 光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明的目的在于，避免将记录动作时的处理程序复杂化、并提高记录激光功率的调整精度。根据记录开始指令，使用内盘片驱动区执行OPC，初始设定记录激光功率Pws。然后，若有记录指令REC(1)，从数据区域的前端起，顺序以激光功率Pws记录。之后，设定间隔待机期间后，在下个记录位置上记录采样数据并执行R-OPC。这样，来重新设定记录激光功率Pws。然后，若有记录指令REC(2)，从下个记录位置、即接着REC(1)的末端部的位置起，以重新设定后的激光功率Pws进行记录。此时，该记录位置的前端的采样数据被REC(2)的前端部分的数据覆盖。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及一种对可擦写盘片记录以及再生信息的光盘装置，尤其适用于调整记录激光功率的设定值。

背景技术

现在，CD(Compact Disc)或DVD(Digital Versatile Disc) 等，各种光记录媒体随着商品化逐渐普及。由于这些光记录媒体，不同媒体其最佳激光功率都不同，因此通常，在记录/再生动作之前，先在系统一侧进行激光功率的最优化处理。

在这些光记录媒体之中，CD-RW(ReWritable)和DVD-RW(ReWritable)采用的根据γ值进行的记录激光功率的调整法(γ法)，分别在规格书中有记录。该调整法，根据试写时检测到的反射光强度的调制度、和该媒体上预设定的目标γ值，将记录激光功率设定为最佳值。

另外，在DVD+RW中，规格书特别推荐采用γ法中的线性拟合法(linerfit)。该线性拟合法，根据在试写时设定的多种记录激光功率Pwn、和分别以各种激光功率Pwn试写时的反射光强度的调制度m(Pwn)，求出Sn＝m(Pwn)×Pwn，在对求出的Sn和Pwn的关系特性进直线行拟合时，求出拟合直线为零的激光功率Pwth。再根据求出的Pwth和该媒体的目标γ值，计算Pw＝Pwth×(1+1/γ)，从而求出最佳激光功率Pw。

另外，对于γ法乃至线性拟合法下的激光功率的设定方法，例如在2002年1月22日、株式会社托利凯普斯(トリケツプス)发行、“WHITE SERIESNo.218DVD+RW/R”、P111～P113(4.2OPC(Optimum Write Power Control(最佳记录功率控制))方法)中有记载。

然而，在如上述设定记录激光功率之后，若系统的状态(媒体温度或半导体激光器的温度等)有所变化，则会产生如下问题，即媒体对应的记录特性开始变化偏离其初始状态，随之，初始设定的记录激光功率也会逐渐偏离最佳值。因此，为了避免这种问题，通常在系统一侧，依据各个时候的系统状态，适当地对初始设定的记录激光功率进行调整处理。

例如，作为该调整方法，可根据来自光检测器(光拾取器)的信号电平，对记录动作中的反射光强度(记录标记形成后的光强)进行监视，并调整记录激光功率，使该反射光强度接近初始设定时的反射光强度。但是，由于此时必须与记录动作并行着、另外进行功率调整处理，因此产生的问题是，记录动作时的处理程序(sequence)变得更加复杂。而且，该调整处理，并不是对盘片反射光的调制度进行监视，不能正确检测记录标记的形成状态，因此有不能高精度地进行记录激光功率的调整的缺点。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种避免记录动作时的处理程序复杂化，另外能够提高记录激光功率的调整精度的光盘装置。

本发明的形式之一，是一种光盘装置，在可擦写光盘上记录及再生信息，其特征在于，具有：采样数据记录模块，其在记录动作的间隔待机期间内，以与当前时刻的激光功率不同的激光功率，记录采样数据；采样数据再生模块，其在上述间隔待机期间内，对由上述采样数据记录模块记录的采样数据进行再生；记录完成数据再生模块，其在上述间隔待机期间内，对通过进入该间隔待机期间之前的记录动作所记录的数据进行再生；功率校正模块，其根据由上述采样数据再生模块以及上述记录完成数据再生模块再生的再生信号，求出当前时刻的记录特性，并依据求出的记录特性对记录激光功率进行校正。

这里，可令上述采样数据记录模块，以比当前时刻的激光功率仅低给定比例的激光功率，对采样数据进行记录。

另外，上述采样数据记录模块的特征是，在经过上述间隔待机期间后的下个的记录位置上，记录上述采样数据。这时，在经过上述间隔待机期间后记录的数据，从经过上述间隔待机期间后的下个的记录位置起、覆盖记录在上述采样数据上。

另外，可令上述记录完成数据再生模块，对在进入上述间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的数据进行再生。进而，可令上述记录完成数据再生模块，对在进入上述间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中、从该数据块末端部分起给定数量的数据，进行再生。

另外，上述功率校正模块，根据由上述采样数据再生模块、及上述记录完成数据再生模块再生得到的再生信号，求出决定记录特性相关的给定参数、与记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性，重新设定记录激光功率。

这里，可令上述参数，为将再生信号的调制度、和记录激光功率相乘得到的乘积值。这时，上述功率校正模块，求出决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

另外，可令上述参数，为将再生信号的调制度、和记录激光功率的平方相乘得到的乘积值。这时，上述功率校正模块，求出决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

另外，本发明中，所谓“间隔待机期间”，是指系统处于从1组程序(sequence)的记录动作向下一组程序的记录动作转移期间的记录待机状态的期间。

通过本发明，由于可以利用记录动作的间隔待机期间，进行记录激光功率的调整处理，因此不需要在记录动作时、特别进行用于激光功率调整的处理，从而能够避免记录动作时处理程序的复杂化。

另外，由于在推导记录特性时，利用来自由之前的记录动作所记录的记录数据的再生信号，能够将间隔待机期间内的采样数据的试写次数控制得较少，因此即使间隔待机期间为比较短的期间，也能够顺利进行激光功率的调整。

还有，若将采样数据记录时的激光功率设定得比当前时刻的激光功率低给定比例，则能够控制因功率过大而导致的记录层的损伤、或对相邻的沟道的不良影响(覆盖)，能够同时实现对媒体和已经记录的数据的保护。

另外，若在经过间隔待机期间后的下个数据记录位置上、对采样数据进行记录，则能将记录激光功率调整为与下个记录位置的状态对应的功率，因此能够顺利进行记录动作。

另外，若将在进入间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的数据再生来推导记录特性，则能够根据来自时间上接近的记录位置的再生信号、推导记录特性，因此，能够调整为与当前时刻的系统状态对应的记录激光功率。

再有，若将再生信号的调制度、与记录激光功率的平方相乘得到的乘积值设为上述参数，求取决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性、和对该盘片要求的γ值，对记录激光功率进行重新设定，则如以下的实施形式中所述，能够提高拟合特性的拟合精度，因此能够通过较少的采样次数、重新设定为精度高的记录激光功率。

若参照以下的附图阅读实施方式的说明，有助于更好地理解对本发明的上述以及其它目的和新颖特征。

附图说明

图1表示本实施方式中的盘片的结构。

图2表示本实施方式中的光盘装置的结构。

图3为对实施例1中的记录激光功率的设定方法进行说明的图。

图4为实施例1中的记录激光功率设定时的处理流程图。

图5为实施例1中的记录动作时的时序图。

图6为实施例2中的记录激光功率设定时的处理流程图。

图7为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图8为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图9为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图10为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图11为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

图12为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

图13为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

图14为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

具有实施方式

以下，参照附图来说明本发明的实施方式。但是，以下的实施方式不过是本发明的一例，并非对本发明的范围特别限定。

图1，表示本实施方式中的盘片(DVD+RW)的结构。如图所示，盘片100，沿其直径方向，区域划分为：读进区域(read in area)、数据区域(data area)、读出区域(read out area)。再有，读进区域(read in area)、和读出区域(read out area)还划分为各种区(zone)，其中，使用内盘片驱动区(inner disk drive zone)以及外盘片驱动区(outer disk drive zone)，进行激光功率的初始设定(OPC：Optimum Write Power Control，最佳记录功率控制)。

另外，在盘片100上，从内周向外周形成有螺旋状的凹槽，对该凹槽记录数据。这里，凹槽沿着直径方向蛇行(摆动)，通过该摆动保持地址信息。即，被称作ADIP(Address in pre-groove，地址预制凹槽)的相位调制区间，被以一定周期插入到单调蛇行区间中，当光束扫描该相位调制区间时，根据该反射光的强度变化读取凹槽上的地址信息并再生。另外，读进区域的ADIP中，通过相位调制记录有与该盘片对应的各种控制数据，其中，包含该盘片的目标γ值(γtarget)。

图2，表示实施方式中的光盘装置的结构。

如图所示，光盘装置由：ECC编码器101、调制电路102、激光驱动电路103、激光功率调整电路104、光拾取器105、信号放大电路106、解调电路107、ECC解码器108、伺服电路109、ADIP再生电路110以及控制器111构成。

ECC编码器101，向输入的记录数据中添加纠错符号，并输出给调制电路102。调制电路102，对输入的记录数据实施给定的调制，进而生成记录信号后输出给激光驱动电路103。激光驱动电路103，在记录时、将与来自调制电路102的记录信号对应的驱动信号输出给半导体激光器105a，在再生时、将用于发射一定强度激光的驱动信号输出给半导体激光器105a。这里，设定激光功率为，由激光功率调整电路104调整设定的激光功率。

激光功率调整电路104，根据试写时检测出的再生RF信号的强度算出调制度m(Pwn)，同时，依据算出的调制度m(Pwn)和该盘片的目标γ值(γtarget)，对记录激光功率Pws进行初始设定。另外，根据反射光强度的状态对初始设定的记录激光功率Pws作适当地调整，并将调整后的功率设定值提供给激光驱动电路103。另外，对于记录激光功率的设定以及调整处理在后文详细说明。

光拾取器105，具备半导体激光器105a以及光检测器105b，通过将激光汇聚于沟槽上，对盘片进行数据的写入/读取。除此之外，该光拾取器105还具有：用于对照射到沟槽上的激光的汇聚位置进行调整的物镜执行机构；和，用于将半导体激光器105a发射的激光导入物镜、并且将来自盘片100的反射光导入光检测器105b的光学系统。

信号放大电路106，对从光检测器105b接收的信号进行放大及运算处理，生成各种信号，并将其输出给相应的电路。解调电路107，将从信号放大电路106输入进来的再生RF信号解调后生成再生数据，并输出给ECC解码器108。ECC解码器108，对从解调电路107输入的再生数据实施纠错后，输出给后段电路。

伺服电路109，根据从信号放大电路106输入的聚焦误差信号、及追踪误差信号，生成聚焦伺服信号、及追踪伺服信号，并输出给光拾取器105的物镜执行机构。另外，根据由信号放大电路106输入的摆动信号生成电机伺服信号，并输出给盘片驱动电机。

ADIP再生电路110，根据从信号放大电路106输入的摆动信号，对地址数据以及各种控制数据进行再生，并将其输出给控制器111。控制器111，依据存放在内存储器上的程序，控制各部分。

盘片100安装在该光盘装置上后，读取读进区域的ADIP上记录的各种控制数据，并存储在控制器111。之后，若输入记录开始指令，则在读进区域的内盘片驱动区或者读出区域的外盘片驱动区进行试写，再通过对试写的区域进行再生，初始设定该记录时的记录激光功率Pws。然后，以初始设定的激光功率开始记录，其后，利用记录动作的间隔待机期间进行记录激光功率的调整，接着以调整后的激光功率进行记录。

以下，对记录激光功率的设定以及调整处理的具体例进行说明。

(实施例1)

参照图3，对记录激光功率Pws的设定方法进行说明。

媒体(盘片)的γ值，满足以下关系式。

γ＝{dm(Pw)/dPw}×{Pw/m(Pw)}…(1)

这里，m(Pw)，为以激光功率Pw进行记录，并将其再生时的调制度。将来自非记录标记区域的反射光强度设为P0，将来自记录标记区域的反射光强度设为P1时，该调制度m(Pw)为(P0-P1)/P0。

另一方面，上述的线性拟合法，其前提为以下关系式成立。

m(Pw)×Pw＝M×(Pw-Pwth)…(2)

这里，M为Pw＝∞时调制度m(Pw)的收敛值。另外，Pwth为m(Pw)×Pw为零时的激光功率Pw的值。

将该式(2)代入式(1)，得到下式。

γ＝Pwth/(Pw-Pwth)…(3)

再有，若将该式(3)关于Pw变形后，根据上述线性拟合法得到的最佳激光功率Pws通过下式可求出。

Pws＝Pwth×(1+1/γ)…(4)

由以上，以多种记录激光功率Pwn进行试写之后，将其再生，根据各个再生信号求出调制度m(Pwn)，根据求出的调制度m(Pwn)求出Sn＝m(Pwn)×Pwn，再有，若对Sn和Pwn的关系特性进行直线拟合，则根据上述式(2)，可知能够获取Pwth作为该拟合直线为零时的激光功率。然后，可知若根据获取的Pwth和该盘片的目标γ值(γtarget)，根据上述式(4)，运算Pws＝Pwth×(1+1/γtarget)，就能够求出该盘片的最佳激光功率Pws。

例如，如图3所示，以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写之后，将其再生求出调制度m(Pw1)、m(Pw2)，根据求出的调制度求2种乘法式S1＝m(Pw1)×Pw1，S2＝m(Pw1)×Pw2，还有，若对S1、S2进行直线拟合，就可以获取Pwth作为拟合直线为零时的激光功率Pw。然后，通过根据获取的Pwth和该媒体的目标γ值(γtarget)，运算Pws＝Pwth×(1+1/γtarget)，就能获取该盘片的最佳激光功率Pws。

再者，图3中，虽然是以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写，但如果以3种以上的记录激光功率进行试写，能够提高拟合直线S的拟合精度。这种情况下，作为拟合直线S＝0求出的Pwth，更容易接近真知，但对应试写次数变多的部分，需要的处理时间也会相应延长。

本实施例中，记录激光功率Pws的初始设定，是以参照上述图3所说明的处理顺序进行的。即，对读进区域的内盘片驱动区或者读出区域的外盘片驱动区，以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写之后，将其再生，并根据该再生信号求出拟合直线S。再根据该拟合直线S获取Pwth后，计算Pws＝Pwth×(1+1/γtarget)，对记录激光功率Pws进行初始设定。另外，γtarget，如上所述，在盘片安装时，根据读进的ADIP获取。

另外，在记录动作的间隔待机期间中进行的记录激光功率Pws的重新设定如下进行：在下个记录位置的前端仅记录给定单位数量的采样数据，依据再生该采样数据时的再生信号、和将在该间隔待机期间之前刚刚记录的记录区域的末端一侧的几块(block)再生时的再生信号，如上述图3的情况同样，求出拟合直线S，根据求出的拟合直线S获得Pwth，通过计算Pws＝Pwth×(1+1/γtarget)获取记录激光功率Pws的重新设定值。

图4表示记录激光功率的设定以及调整处理的处理流程图。另外，以下，将记录激光功率Pws的初始设定动作称作OPC，将记录激光功率Pws的重新设定动作称作R-OPC。

输入记录开始指令后，执行OPC，初始设定记录激光功率Pws(S101)。然后，如果有最初的记录指令(S102：是)，则光拾取器105访问记录位置，以初始设定的记录激光功率Pws，记录指定块数部分的数据(S103)。

然后，该块的记录结束结束后，接着判断是否有间隔待机期间，若有间隔待机期间(S104：是)，则光拾取器105访问下个记录位置，从其前端起，以比当前时刻的记录激光功率下降10％的激光功率Pw2(Pw2＝Pws×0.9)，记录采样数据(S105)。

如此进行采样数据的记录后，接着，光拾取器105，访问在进入该间隔待机期间之前刚刚记录的块，即，最初记录的记录块的末端位置(从末端起退回给定块数的位置)，并在该末端位置进行再生。然后，根据其再生信号算出调制度ml(S106)，再根据算出的调制度ml和当前时刻的记录激光功率Pws算出乘积值S1(S107)。

接着，再生由上述S105所记录的采样数据，并根据其再生信号算出调制度m2(S108)。然后，根据算出的调制度m2和上述记录激光功率Pw2算出乘积值S2(S109)。

在如此算出乘积值S1、S2后，接着，如上述图3所示，将S1、S2直线拟合，求出Pwth(S110)。然后，根据求出的Pwth、和该盘片的目标γ值(γtarget)，计算Pws＝Pwth×(1+1/γ)，并对记录激光功率进行重新设定(S111)。

然后，在记录激光功率被重新设定后，若没有记录结束指令(S112)，则返回S102，等待下个记录指令。然后，若有下个记录指令(S102：是)，则光拾取器105访问下个记录位置，并以重新设定的记录激光功率Pws，记录指定块数部分的数据(S103)。以下，反复进行同样的处理，直到出现记录结束指令(S112)为止。

图5，表示记录开始后的时序图。另外，该图为对未记录盘片进行记录时的图。

输入记录开始指令后，则使用读进区域的内盘片驱动区执行OPC，初始设定记录激光功率Pws。然后，若有最初的记录指令REC(1)，则从数据区域的前端起，以记录激光功率Pws顺序进行记录。该记录，进行至设定间隔待机期间为止。

之后，设定了间隔待机期间后，则在下个记录位置、即接着REC(1)的末端部的位置，记录采样数据，并执行R-OPC。这样，对记录激光功率Pws进行重新设定。

然后，若有第2次的记录指令REC(2)，则从下个记录位置、即接着REC(1)的末端部的位置起，以重新设定后的激光功率Pws依次进行记录。这时，在该记录位置的前端区域中，REC(2)的前端部分的数据覆盖在采样数据上。

之后，设定间隔待机期间后，在下个记录位置、即接着REC(2)的末端部的位置上，记录采样数据，并执行R-OPC。这样，重新设定记录激光功率Pws。以下同样，反复进行记录动作以及记录激光功率Pws的重新设定动作。

如上，通过本实施例，利用间隔待机期间，适当地对记录激光功率Pws进行重新设定。因此，能避免将记录动作时的处理复杂化，并能够动态地对记录激光功率Pws进行调整或变更，因此能够实现顺利的记录动作。还有，这时，由于通过在下个记录位置上记录采样数据而对激光功率进行重新设定，因此能够设定为反映下个记录位置的状态的激光功率。另外，由于利用在之前刚刚记录的数据进行重新设定，因此能够根据在时间上接近的调制度重新设定激光功率，尤其在未记录盘片的情况下，如图5所示，由于根据与下个记录位置接近的位置的调制度对激光功率进行重新设定，因此能够维持激光功率处于较高的最优化等级。

这样，根据本实施例，能够同时实现处理的简单化和记录激光功率的最优化。

另外，虽然上述中以比当前时刻的激光功率降低10％的激光功率记录采样数据，但如上述只要能根据S1、S2适当地求出Pwth，可为这之外的下降率。该下降率，根据实验结果等，适当地设定成合适的值即可。通常，优选设定下降率为10％至20％左右。

(实施例2)

本实施例，与上述实施例1相比，对记录激光功率的设定方法进行部分变更，从而提高激光功率的最优化等级。即，上述实施例1中，是根据上述式(1)至式(4)，对记录激光功率进行设定，而本实施例中，改变其中的式(2)至式(4)，来设定记录激光功率。

即，由于上述线性拟合法，是以式(2)成立为前提，本发明者通过验证，发现实际的记录特性与该前提并非高精度地一致。然后，本发明者，发现下式比上述式(2)更符合实际的记录特性。

m(Pw)×Pw²＝M×(Pw-Pwth)…(5)

将式(5)代入上述式(1)，可得到下式。

γ＝{2Pwth-Pw}/(Pw-Pwth)…(6)

对式(6)关于Pw进行变形后，以下式求出最佳激光功率Pws。

Pws＝Pwth×{1+1/(γ+1)}…(7)

本实施例中，根据式(5)和式(7)，进行记录激光功率的初始设定(OPC)和重新设定(R-OPC)。即，OPC中，以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写后，将其再生求出调制度m(Pw1)、m(Pw2)，根据求出的调制度求出2种乘积值S1＝m×(Pw1)×Pw1²、S2＝m(Pw2)×Pw2²，再对S1、S2进行直线拟合，并获取Pwth作为拟合直线为零的激光功率Pw。然后，根据获取的Pwth和该盘片的目标γ值(γtarget)，通过计算Pws＝Pwth×{1+1/(γtarget+1)}，获取该盘片的最佳激光功率Pws。

另外，在R-OPC中，在下个记录位置的前端仅记录给定单位数量的采样数据，根据将该采样数据再生时的再生信号、和将在该间隔待机期间之前刚刚记录的记录区域的末端一侧的数块再生时的再生信号，与上述OPC的情况同样，求出拟合直线S，根据求出的拟合直线S获取Pwth，通过计算Pws＝Pwth×{1+1/(γtarget+1)}，获取记录激光功率Pws的重新设定值。

图6，表示记录激光功率的设定以及调整处理的处理流程图。该处理流程，与上述实施例1的处理流程(图4)相比，上述计算式变更所对应的处理步骤(S120、S121、S122、S123)不同。其它处理步骤，与上述实施例1的处理流程相同。

以下，通过验证例来说明采用该计算式的技术效果。

(验证例1)

本验证例，将制造商A的DVD+RW作为采样盘片，对调制度m(Pwn)、乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)，乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn²(本实施例)进行实测及计算，并据此算出最佳激光功率Pw。

图7中用数值表示该情况下的实测计算结果。图8将求出的调制度m(Pwn)表示为曲线图；图9将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(实施例1：线性拟合法)表示为曲线图；图10将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn²(本实施例)表示为曲线图。

如图9所示，可看出在乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)中，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝147.09x-1632.1)上蛇行。因此，当以例如16(mw)～20(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，与以20(mw)～24(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，拟合直线的斜率相差较大，两种情况下获取的Pwth1也相差较大。即，线性拟合法中，会因进行试写的激光功率范围不同导致Pwth1产生较大差异。因此，据此算出的激光功率Pw，也会受到试写时设定的激光功率Pwn很大的影响。

再者，图9中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和上述线性拟合法算出的Pwth1以及最佳激光功率Pws。

与此相对，本实施例中的激光功率调整方法中，如图10所示，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝4132.1x-55751)上，基本一致吻合。因此，无论以哪个范围的激光功率进行试写，拟合直线的斜率都基本相同，其结果是，总能获得基本相同的Pwth2。因此，据此算出的激光功率Pws，也与试写时采用何种激光功率Pwn无关，具有基本相同的值。

另外，图10中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和实施方式算出的Pwth2以及最佳激光功率Pws。

(验证例2)

本验证例，将不同于上述制造商A的制造商B的DVD+RW盘片作为采样盘片，对调制度m(Pwn)、乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)、乘积值Sn＝m(Pwn)×pwn²(本实施例)进行实测计算，并据此算出最佳激光功率Pw。

图11中用数值表示该情况下的实测计算结果。图12将求出的调制度m(Pwn)表示为曲线图；图13将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(实施例1：线性拟合法)表示为曲线图；图14将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn²(本实施例)表示为曲线图。

如图13所示，可看出在乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)中，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝139.96x-1036.9)上蛇行。因此，当以例如11(mw)～15(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，与以15(mw)～19(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，拟合直线的斜率相差较大，两种情况下获取的Pwth1也相差较大。即，线性拟合法中，会因进行试写的激光功率范围不同导致Pwth1产生较大差异。因此，据此算出的激光功率Pw，也会受到试写时设定的激光功率Pwn很大的影响。

再者，图13中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和上述线性拟合法算出的Pwth1以及最佳激光功率Pws。

与此相对，本实施例中的激光功率调整方法中，如图14所示，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝3155.1x-30661)上，基本一致吻合。因此，无论以哪个范围的激光功率进行试写，拟合直线的斜率都基本相同，其结果是，总能获得基本相同的Pwth2。因此，据此算出的激光功率Pws，也与试写时采用何种激光功率Pwn无关，具有基本相同的值。

另外，图14中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和实施方式算出的Pwth2以及最佳激光功率Pws。

这样，本实施例中，无论试写时或者重新设定时设定为怎样的激光功率，都能够顺利地设定最佳激光功率。而且，由于乘积值Sn的曲线，与拟合直线基本吻合，因此如上述，即使只通过2个点的乘积值Sn，也能够获取合适的拟合直线，因此，即使通过较少的试写次数也能够设定合适的激光功率。

以上，虽对本发明的实施方式作了说明，但本发明并非仅限于上述实施方式，当然还可以有其它各种变更。

例如，上述实施方式中，OPC下的试写次数为2次，但也可以是2次以上的试写次数。另外，R-OPC下的试写次数，受到与间隔待机期间之间的关系的制约。上述实施例2中，虽然即使是试写1次也能够以比较高的精度对记录激光功率Pws进行重新设定，但若间隔待机期间比较长，可改变激光功率并同时进行2次以上的试写，也可依据间隔待机期间的长度相应地适当改变试写次数。

另外，上述实施方式中，虽然是等待间隔待机期间到来后，执行R-OPC，但也可以是当1次记录动作持续超过给定时间时，强制结束记录动作并执行R-OPC。这样，能够避免记录激光功率Pws长期维持的状况发生，因此能够顺利实现记录动作。另外，当这样强制结束记录动作时，优选随着激光功率的重新设定的结束，迅速地恢复记录动作。

再有，上述实施方式中，虽然是每次间隔待机期间到来时都执行R-OPC，但也可在从上一个R-OPC执行时起、到经过一定时间为止的这段期间内，即使下个间隔待机期间到来也不执行R-OPC等，在间隔待机期间的到来、和R-OPC的执行之间，指定给定的规则。

此外，本发明的实施方式，可在权利要求所述的技术思想范围内，适当地进行各种变更。

Claims (17)

1、一种光盘装置，在可擦写光盘上记录及再生信息，其特征在于，具有：

采样数据记录模块，其在记录动作的间隔待机期间内，以与当前时刻的激光功率不同的激光功率，记录采样数据；

采样数据再生模块，其在上述间隔待机期间内，对通过上述采样数据记录模块记录的采样数据进行再生；

记录完成数据再生模块，其在上述间隔待机期间内，对由进入该间隔待机期间之前的记录动作所记录的数据进行再生；

功率校正模块，其根据由上述采样数据再生模块以及上述记录完成数据再生模块再生的再生信号，求出当前时刻的记录特性，并依据求出的记录特性对记录激光功率进行校正。

2、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

上述采样数据记录模块，以比当前时刻的激光功率低给定比例的激光功率记录采样数据。

3、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

上述采样数据记录模块，在与刚刚记录的数据的末尾相接的下个记录位置上记录上述采样数据。

4、根据权利要求3所述光盘装置，其特征在于，

经过上述间隔待机期间后记录的数据，从与刚刚记录的数据的末尾相接的下个记录位置起，覆盖记录在上述采样数据上。

5、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

上述记录完成数据再生模块，对在进入上述间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的数据进行再生。

6、根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，

上述记录完成数据再生模块，对在进入上述间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中、从该数据块的末端部分起给定量的数据进行再生。

7、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

上述功率校正模块，根据由上述采样数据再生模块及上述记录完成数据再生模块再生得到的再生信号，求出决定记录特性相关给定参数、与记录激光功率之间的关系的拟合特性，依据求出的拟合特性，对记录激光功率进行重新设定。

8、根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于，

上述参数，为将再生信号的调制度、和记录激光功率相乘得到的乘积值；上述功率校正模块，求出决定该乘积值与记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

9、根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于，

上述参数，为将再生信号的调制度、和记录激光功率的平方相乘得到的乘积值；上述功率校正模块，求出决定该乘积值与记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

10、一种光盘装置，在可擦写光盘上记录及再生信息，具备进行如下控制处理的控制器：

控制处理1，其用于在记录动作的间隔待机期间内，以与当前时刻的激光功率不同的激光功率记录采样数据；

控制处理2，其用于在上述间隔待机期间内，读取记录的上述采样数据；

控制处理3，其用于在上述间隔待机期间内，读取由进入该间隔待机期间之前的记录动作所记录的记录完成数据；

控制处理4，其用于根据由上述采样数据的读取、及上述记录完成数据的读取得到的再生信号，求出当前时刻的记录特性，并依据求出的记录特性对记录激光功率进行校正。

11、根据权利要求10所述的光盘装置，其特征在于，

上述控制器，在用于记录上述采样数据的控制处理中，以比当前时刻的激光功率低给定比例的激光功率记录采样数据。

12、根据权利要求10所述的光盘装置，其特征在于，

上述控制器，在用于记录上述采样数据的控制处理中，在与刚刚记录的数据的末尾相接的下个记录位置上进行记录上述采样数据的控制处理。

13、根据权利要求10所述的光盘装置，其特征在于，

上述控制器，在用于读取上述记录完成数据的控制处理中，进行读取进入上述间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的数据的控制处理。

14、根据权利要求13所述的光盘装置，其特征在于，

上述控制器，在用于读取上述记录完成数据的控制处理中，进行：读取进入上述间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中、从该数据块的末端部分起给定量的数据的控制处理。

15、根据权利要求10所述的光盘装置，其特征在于，

上述控制器，在用于校正上述记录激光功率的控制处理中，进行：根据由上述采样数据的读取及上述记录完成数据的读取获得的再生信号，求出决定记录特性相关给定参数与记录激光功率的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性，重新设定记录激光功率的控制处理。

16、根据权利要求15所述的光盘装置，其特征在于，

上述参数，为将再生信号的调制度和记录激光功率相乘得到的乘积值；上述控制器，在用于校正上述激光功率的控制处理中，进行：求出决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性和对该光盘要求的γ值，重新设定记录激光功率的控制处理。

17、根据权利要求15所述的光盘装置，其特征在于，

上述参数，为将再生信号的调制度和记录激光功率的平方相乘得到的乘积值；上述控制器，在用于校正上述记录激光功率的控制处理中，进行：求出决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的拟合特性，并依据求出的拟合特性和对该光盘要求的γ值，重新设定记录激光功率的控制处理。

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