CN1264614C - 两级颗粒分级装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种两级颗粒分级装置，包括一向下倾斜的第一反射板，还包括一个用于对颗粒物料进行偏析的二次偏析器，所述二次偏析器带有可用于承载颗粒物料的上表面，所述二次偏析器位于所述第一反射板下方并且处于颗粒流的运动路径上。本发明的两级颗粒分级装置对颗粒物料的粒度偏析效果好，适应性强，结构及操作均非常简单，成本也极低。该装置可适用于烧结混合料偏析布料以及矿业、农业和制药等行业的粒状物的偏析筛分工艺。
Description
技术领域
本发明涉及一种粒状物料的分级装置。
背景技术
在烧结混合料偏析布料工艺，以及矿业、农业和制药等行业中，通常需要对粒状物料进行偏析筛分，以实现物料中粗细颗粒的分级。现有的颗粒分级工艺通常采用反射板偏析法。反射板偏析法是一种比较常见的散体物料的偏析方法，该方法利用一向下倾斜的反射板来实现颗粒物料的分级。颗粒物料由料斗通过传送带或辊轮落到反射板上，由于物料粒径大小的差异以及由此产生的动量及速度的差异，使得在反射板形成的颗粒流呈现大颗粒在颗粒流的上层富集而小颗粒在颗粒流的下层富集的状态，从而达到大小颗粒偏析的效果。该方法由于设备简单，在烧结布料装置中得到了广泛的应用。但这种方法对颗粒物料的偏析程度较小，不能完全满足生产的要求，因此往往需要添加附属设备。如在反射板的上部安装能振动的条形筛、网筛等等。近来日本川崎钢铁公司发明了一种在反射板的背面或紧挨反射板的下沿或上沿安装磁体的方法来加强不同粒径铁矿石偏析的新方法。但实验表明，这种方法的实际效果强烈依赖于磁场的强度及其分布，设计不好，不但起不了的偏析作用，还可能导致严重粘料从而影响正常生产。总的来说，这些附属设备有的结构复杂，有的不易操作，成本也较高。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有的颗粒分级装置的缺点和不足，提供一种结构及操作均非常简单，成本也极低、颗粒偏析效果更好的两级颗粒分级装置。
为了实现上述发明目的，本发明的技术方案为：
一种两级颗粒分级装置，包括一向下倾斜的第一反射板，还包括一个用于对粒状物料进行偏析的二次偏析器，所述二次偏析器带有可用于承载粒状物料的上表面，所述二次偏析器位于所述第一反射板下方并且处于颗粒流的运动路径上。
所述的二次偏析器的上表面为一平面或凸面。
所述的二次偏析器为一平面板。
所述的二次偏析器的上表面为一伞状面。所述的二次偏析器由两个平面板组成，该两个平面板的位置布置成伞状，并且所述两个平面板的倾斜角度可调。所述两个平面板通过铰链或其它可进行角度调节的方式连接。
所述的二次偏析器的上表面的宽度至少与第一反射板的宽度相同。
该分级装置还包括用于调节所述二次偏析器高度的升降装置。所述二次偏析器的下方设有用于调节其水平位置的滑轮或导轨。
所述二次偏析器宽度方向的两侧带有向上的折边。
所述第一反射板的倾斜角度可调。
该分级装置还包括一第二反射板，该第二反射板与第一反射板的倾斜方向基本上相同；该第二反射板靠近所述二次偏析器，并且位于所述二次偏析器上表面的用于承载大部分小颗粒的一侧。
本发明的两级颗粒分级装置对颗粒物料的粒度偏析效果好，适应性强，结构及操作均非常简单，成本也极低。该装置可适用于烧结混合料偏析布料以及矿业、农业和制药等行业的粒状物的偏析筛分工艺。
附图说明
图1是本发明一种两级颗粒分级装置的结构示意图；
图2是图1中的A位置的放大示意图；
图3是图1中的B位置的放大示意图；
图4是图1中的C位置的放大示意图；
图5是图1中的D位置的放大示意图；
图6是具有凸面上表面的二次偏析器的形状示意图；
图7是本发明具有伞状二次偏析器的两级颗粒分级装置的结构示意图。
图8是本发明带有第二反射板的两级颗粒分级装置的部分结构示意图。
图面说明：
第一反射板1 颗粒流2 二次偏析器3 A位置4
B位置5 C位置6 升降器7 滑轮/导轨8
传送带9 第二反射板10 D位置11
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
在图1中，一个第一反射板1向下倾斜放置，其倾斜角度可调。呈颗粒状的物料通过传送带或辊轮(图中未示出)落到第一反射板1上，并沿第一反射板1向下流动，形成颗粒流2。由于物料粒径大小的差异以及由此产生的动量的差异，粒状物料在第一反射板1上初步偏析分级，使得粒状物料中的大颗粒在颗粒流2的上层富集而小颗粒在颗粒流2的下层富集。图2是图1的A位置4的放大示意图，可以清楚地看到颗粒流2的分级状态。
为了进一步增强粒状物料的偏析分级效果，本发明利用一个二次偏析器3来对粒状物料进行二次偏析。该二次偏析器3位于第一反射板1的下方并且处于颗粒流2的运动路径上。
该二次偏析器3具有一个上表面，用于承载随颗粒流2落下的颗粒物料，其宽度与第一反射板1的宽度相同或者要略宽一些。利用颗粒物料在二次偏析器3上的堆积过程所产生的偏析效应，还利用颗粒流2中的物料粒径大小的差异以及由此产生的动量及速度的差异，使得从第一反射板1落下来的已有一定程度偏析的颗粒流2进一步偏析。这样，颗粒流2中大部分的大颗粒落在二次偏析器3的上表面的右边，而颗粒流2中大部分的小颗粒落在二次偏析器3的上表面的左边。这一点可以在图3和图4中看得更清楚，其中，图3是图1中的B位置5的放大示意图，图4是图1中的C位置6的放大示意图。
随着二次偏析器3上颗粒物料的堆积，大颗粒主要从二次偏析器3的右侧落下，而小颗粒主要从二次偏析器3的左侧落下。这样就实现了对颗粒物料的二次分级。为了防止物料从二次偏析器3宽度方向上的两侧落下，可在这两侧设置向上的折边(图中未示出)。
升降器7位于二次偏析器3下方，可调节二次偏析器3的高度。根据具体应用，二次偏析器3还可设置滑轮或者导轨，以便调整其水平位置。
二次偏析器3的上表面可以为一平面，此时，二次偏析器3可为一平面板，如图1所示。二次偏析器3的上表面还可为凸面，如图6中示出的三种二次偏析器3的形状。
如图7所示，二次偏析器3的上表面还可以为伞状面，此时，二次偏析器3可由通过铰链或其它方式连接的两个平面板组成，这两个平面板的位置布置成伞状。而且，构成二次偏析器3的两个平面板的倾斜角度可调。对不同特性的物料，可通过调节二次偏析器3的水平和垂直位置以及两块平面板的角度和长度来强化大、小颗粒物料的偏析，使大颗粒主要从右侧落下，而小颗粒从左侧落下，从而到达生产的粒度分级要求。
在本发明的两级颗粒分级装置的一个应用中，如图1所示，二次偏析器3上的颗粒物料落到了传送带9上。调节传送带的运动方向，可以使粒状颗粒物料落到传送带上以后，在料层高度上按需要的粒度大小分布，以满足不同生产工艺的要求。例如，在图1中，传送带9逆时针方向运动，二次偏析器3上的大颗粒首先从其右侧落到传送带9上，然后随传动带9运动至二次偏析器3的左侧，这样，二次偏析器3上的小颗粒从其左侧落到传送带9上的大颗粒的上面，从而形成大颗粒在下而小颗粒在上的分层分布，这在图5中看得最清楚，图5是将图1中D位置11放大后得到的示意图。类似图5的这种分层分布在烧结混合料偏析布料工艺中是非常有益的。
在上述应用中，如图1和图4所示，考虑到二次偏析器3的左侧也会有少量的大颗粒，此时还可以在二次偏析器3的左侧另外设置一块反射板。在图8中详细示出了这种情况，第二反射板10的倾斜角度与第一反射板1(图8中未示出)基本相同，第二反射板10位于二次偏析器3的左侧，也就是二次偏析器3承载大部分小颗粒的一侧。第二反射板10对从二次偏析器3左侧落下的物料再次偏析，使其中的大颗粒先落到传送带上，这将进一步改善垂直传送带方向上大、小颗粒从下到上的分布效果。
在本发明的装置的另外一个应用中，如图7所示，二次偏析器3上的颗粒物料分别落到了两个传送带9上，这样就可以对颗粒物料中的大小颗粒分别进行收集。这在一些需要对颗粒物料进行两级筛选的工艺中是非常有用的。
Claims (12)
1、一种两级颗粒分级装置，包括一向下倾斜的第一反射板，其特征在于，还包括一个用于对粒状物料进行偏析的二次偏析器，所述二次偏析器带有可用于承载粒状物料的上表面，所述二次偏析器位于所述第一反射板下方并且处于颗粒流的运动路径上。
2、根据权利要求1所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述的二次偏析器的上表面为一平面或凸面。
3、根据权利要求2所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述的二次偏析器为一平面板。
4、根据权利要求2所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述的二次偏析器的上表面为一伞状面。
5、根据权利要求4所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述的二次偏析器由两个平面板组成，该两个平面板的位置布置成伞状，并且所述两个平面板的倾斜角度可调。
6、根据权利要求5所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述两个平面板通过铰链连接。
7、根据权利要求1所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述的二次偏析器的上表面的宽度至少与第一反射板的宽度相同。
8、根据权利要求1所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，还包括用于调节所述二次偏析器高度的升降装置。
9、根据权利要求1所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述二次偏析器的下方设有用于调节其水平位置的滑轮或导轨。
10、根据权利要求1所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述二次偏析器宽度方向的两侧带有向上的折边。
11、根据权利要求1所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，所述第一反射板的倾斜角度可调。
12、根据权利要求1所述的两级颗粒分级装置，其特征在于，还包括一第二反射板，该第二反射板与第一反射板的倾斜方向基本上相同；该第二反射板靠近所述二次偏析器，并且位于所述二次偏析器上表面的用于承载大部分小颗粒的一侧。
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