CN1256723C

CN1256723C - 光储存装置摆置检测方法

Info

Publication number: CN1256723C
Application number: CN 02156358
Authority: CN
Inventors: 徐正煜; 符湘益; 李敦介; 陈福祥; 蔡燿州
Original assignee: Lite On IT Corp
Current assignee: Lite On IT Corp
Priority date: 2002-12-18
Filing date: 2002-12-18
Publication date: 2006-05-17
Anticipated expiration: 2022-12-18
Also published as: CN1508778A

Abstract

一种光储存装置摆置检测方法，是在光储存装置启动前分别对于光学读取头向外及向内以定力移动固定时间，借助测量光学读取头向外及向内移动的距离差，以判别该光储存装置是否在水平摆置位置下操作，另外也可以在光储存装置启动前分别对于光学读取头向外及向内以定力移动固定距离，借助测量光学读取头向外及向内移动固定距离的时间差，以判别该光储存装置是否在水平摆置位置下操作，并依据该距离差或者时间差以决定该光储存装置摆放的倾角及需补偿的增益值，以达到改善光储存装置的定位效能及读取效率的结果。

Description

光储存装置摆置检测方法

技术领域

本发明涉及一种光储存装置摆置检测方法，特别是涉及一种在光储存装置读取作业前检测摆置方式及提供适当的补偿的方法。

背景技术

光驱发展至今，其系统已经有相当固定的架构及动作原理，相对的目前改善光驱性能的首要考虑是在降低数据存取时间，因此光驱马达机构性能及伺服控制系统的设计是相当关键的一环。

光驱存取数据的动作程序，可大略分为下面几个步骤：

1.驱动主轴马达(spindle motor)：开机后，驱动主轴马达旋转光盘片；

2.移动读写头：移动光学读取头(optical pickup)至盘片内圈；

3.聚焦(focusing)：使光学读取头的镭射光点聚焦在盘片数据面上；

4.循轨(tracking)：移动接物镜使镭射光点追循单一数据轨(track)；

5.读取轨道编号(track number)：由盘片预先格式化数据区(preformattedsector)读取轨道编号，以知道光学读取头目前所在位置；

6.长程循轨：如目的轨道与光学读取头目前所在轨道差距在312轨(500um)之上，则启动长程导轨系统，移动光学读取头到目的轨道约50轨处；

7.循轨：移动接物镜使镭射光点追循单一数据轨；

8.读取轨道编号：以得知目前轨道与目的轨道的差距。

9.短程循轨：微调循轨服务器(tracking servo)以使镭射光点移动到目的轨道；

10.循轨；及

11.读取数据。

由上述操作可知光盘的读取牵涉到许多操作，尤其是光驱在作导轨(Seek)的过程中，为了达到快速的定位及译码的要求，多半以速度曲线来作长程跳轨的最佳化控制。而由于长程循轨所需花费的时间较多，因此影响数据存取时间甚多。一般在光驱中是利用长程导轨系统(sled motorservo)将搭载的光学读取头快速移动到光盘片的各数据轨去读取数据。参见图2，为一光驱系统的伺服控制系统示意图，此光驱100读取一光盘片200的数据并送到一接口300。此光驱100包含一控制电路110，可以经由一主轴伺122而控制一主轴马达120，通过一聚焦伺(focusing servo)132及一循轨伺服(tracking servo)134而控制光学读取头130内的聚焦装置(未绘示)，及通过一导轨伺服(seeking servo)142控制一长程导轨马达(sledmotor)140以控制光学读取头130沿着轨道150移动。

如果光驱为如图1A所示是水平摆置，则主轴马达120方向为Z轴；长程导轨马达140将光学读取头130沿着与Z轴垂直的XY平面上移动；聚焦伺服132将聚焦装置沿着Z轴方向做微调以聚焦；而循轨伺服134将聚焦装置沿着与Z轴垂直的XY平面移动以做循轨微调。

由于整个光学读取头130的惯性很大，如果光驱100并非为水平摆设，则重力会影响长程导轨马达140对于光学读取头130的移动行程。如图1B所示，如果光驱是以垂直方式摆置，亦即光学读取头130沿轨道150移动方向平行而非垂直于重力方向(Z轴)，则向下滑动的惯性较强。在将光学读取头130向上移动(+Z方向)的操作，会受重力影响使循轨行程不足；在将光学读取头130向下移动(一Z方向)的操作，会受重力影响使循轨行程过长。尤其是在长程循轨操作中，一般是使用直流马达来驱动，如果光驱100非为水平位置摆放，使得光学读取头130移动方向有沿着重力方向的分量，则光驱100的定位效能会恶化，影响读取效能，尤以在垂直操作肘更为严重。

发明内容

因此本发明的目的在于提供一种光储存装置摆置检测方法，可以有效在光储存装置读取作业前检测光储存装置摆置方式及提供适当的补偿。

本发明的上述目的是这样实现的：一种光储存装置摆置检测方法，其中，包含下列步骤：

(a).对该光储存装置内的--可移动光学单元沿一第一方向施加一第一力量，使该可移动光学单元移动一第一时间；

(b).测量该可移动光学单元的一第一移动距离；

(c).对该可移动光学单元沿与该第一方向相反的一第二方向施加一第二力量，便该可移动光学单元移动一第二定时间，其中该第一力量与该第二力量大小相等且该第一时间等于该第二时间；

(d).测量该可移动光学单元的一第二移动距离；

(e).当该第一移动距离与该第二移动距离相减后距离之差是在一容许误差距离之外，则判定该光储存装置为非水平摆放。

本发明所述的光储存装置摆置检测方法，其中，该光储存装置为一光驱。

本发明所述的光储存装置摆置检测方法，其中，该可移动光学单元为一光学读取头。

本发明所述的光储存装置摆置检测方法，其中，该第一力量为一随时间变动的力量。

本发明所述的光储存装置摆置检测方法，其中，该第一方向是远离一主轴马达的方向。

本发明所述的光储存装置摆置检测方法，其中，该第一方向是接近一主轴马达的方向。

本发明所述的光储存装置摆置检测方法，其中，所述的步骤(b)、(d)是用光感测组件来测量该可移动光学单元的移动距离。

本发明所述的光储存装置摆置检测方法，其中，该第一力量为一固定力量。

本发明所述的一种光储存装置摆置检测方法，其中，包含下列步骤：

(a).对该光储存装置的一可移动光学单元沿一第一方向施加一第一力量，使该可移动光学单元移动一第一距离；

(b).测量该可移动光学单元移动所需的一第一移动时间；

(C).对该可移动光学单元沿与该第一方向相反的一第二方向施加一第二力量，使该可移动光学单元移动一第二定距离，其中，该第一力量与该第二力量大小相等且该第一距离等于该第二距离；

(d).测量该可移动光学单元移动所需的一第二移动时间；

(e).当该第一移动时间与该第二移动时间相减后时间之差是在一容许误差时间之外，则判定该光储存装置为非水平摆放。

根据本发明所述的光储存装置摆置检测方法，是在光储存装置启动前分别对于光学读取头向外及向内以定力移动固定时间，藉助测量光学读取头向外及向内移动的距离差，以判别该光储存装置是否在水平摆置位置下操作，以达到改善光储存装置的定位效能及读取效率的结果。

根据本发明所述的光储存装置摆置检测方法，是在光储存装置启动前分别对于光学读取头向外及向内以定力移动固定距离，藉助测量光学读取头向外及向内移动固定距离的时间差，以判别该光储存装置是否在水平摆置位置下操作，以达到改善光储存装置的定位效能及读取效率的结果。

为使本发明目的及特征更为人了解，现配合附图说明本发明的较佳具体实例。

附图说明

图1A、图1B分别是说明光驱水平摆置及垂直摆置的示意图；

图2是一光驱系统的伺服控制系统示意图；

图3是本发明光储存装置摆置检测方式的第一较佳具体实施例的流程图；

图4是本发明的另一可行施加电压波形图；

图5是本发明光储存装置摆置检测方式的第二较佳具体实施例的流程图。

具体实施方式

参见图3，为本发明光储存装置摆置检测方法的第一较佳具体实施例的流程图。本发明的方法包含下列步骤：

S100施加固定力量，将光学读取头沿着远离主轴马达的方向推动固定时间；

S102测量光学读取头的第一移动距离；

S104施加固定力量，将光学读取头沿着接近主轴马达的方向推动固定时间；

S106测量光学读取头的第二移动距离；

S108比较第一移动距离及第二移动距离是否相等，如果不相等，则进行步骤S110，否则进行步骤S112；

S110判定此光驱为非水平操作；

S112结束。

在上述的流程中，在步骤S100是对长程导轨马达施加一固定电压，因此可以固定力量推动该光学读取头。在步骤S102是用光感测组件如光遮断器(photo interrupter)或是霍尔传感器组件(Hall sensor)来测量该光学读取头的移动距离。

此外，如在步骤S108判别光驱为非水平摆置，则可以依据第一移动距离及第二移动距离的差异量，计算出光驱摆放的倾角及需补偿的增益值。例如在对抗重力的方向上要增加长程导轨马达的驱动电压，在顺应重力的方向上要减少长程导轨马达的驱动电压，以改善光驱的定位效能及读取效率。另外，在步骤S100也可先将光学读取头沿着接近主轴马达的方向推动固定时间，而在步骤S104将光学读取头沿着远离主轴马达的方向推动固定时间。

再者，为了增加对于光驱摆置检测的鉴别率，也可以改变施加于长程导轨马达的电压波形。如图4所示，例如可以改为多段的不同位准电压施力，起初用较大的电压来克服静摩擦力，接着用较小的电压来推动光学读取头。然而必须注意的是，施加于长程导轨马达的电压波形必须完全相同但电性相反，因此施于二方向的力量才会大小相等方向相反。

参见图5为本发明光储存装置摆置检测方法的第二较佳具体实施例的流程图。本发明的方法包含下列步骤：

S200施加固定力量，将光学读取头沿着远离主轴马达的方向推动固定距离；

S202测量光学读取头移动所需的第一移动时间；

S204施加固定力量，将光学读取头沿着接近主轴马达的方向推动固定距离；

S206测量光学读取头的第二移动时间；

S208比较第一移动时间及第二移动时间是否相等，如果不相等，则进行步骤S210，否则进行步骤S212：

S210判定此光驱为非水平操作；

S212结束。

同样的，在步骤S200也可先将光学读取头沿着接近主轴的方向推动固定行程，而在步骤S204将光学读取头沿着远离主轴的方向推动固定行程。

再者，为了增加对于先驱摆置检测的鉴别率，也可以改变施加电压的波形。如图4所示，例如可以改为多段的不同位准电压施力，起初用较大的电压来克服静摩擦力，接着用较小的电压来推动光学读取头。

再者，本发明并不限定于第一移动距离要等于第二移动距离，当第一移动距离与第二移动距离相减后在一呵容许误差距离之内也可视为第一移动距离约等于第二移动距离。同理，本发明并不限定于第一移动时间要等于第二移动时间，当第一移动时间与第二移动时间相减后在一可容许误差时间之内也可视为第一移动时问约等于第二移动时间。

综上所述，本发明提供一种光储存装置摆置检测方法，可在光储存装置启动前判别该光储存装置是否在水平摆置位置下操作，另外也可以在非水平操作提供适当的增益补偿值，以达到改善光储存装置的定位效能及读取效率的结果。

以上所述仅为本发明的具体实施例，但本发明的范围并不局限于此，因此任何熟悉此项技艺者在本发明的领域内所实施的变化或修饰皆被涵盖在本案的专利范围内。

Claims

1.一种光储存装置摆置检测方法，其特征在于，包含下列步骤：

(a).对该光储存装置内的一可移动光学单元沿一第一方向施加一第一力量，使该可移动光学单元移动一第一时间；

(b).测量该可移动光学单元的一第一移动距离；

(c).对该可移动光学单元沿与该第一方向相反的一第二方向施加一第二力量，使该可移动光学单元移动一第二时间，其中该第一力量与该第二力量大小相等且该第一时间等于该第二时间；

(d).测量该可移动光学单元的一第二移动距离：

2.如权利要求1所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该光储存装置为一光驱。

3.如权利要求1所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该可移动光学单元为一光学读取头。

4.如权利要求1所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该第一力量为一随时间变动的力量。

5.如权利要求1所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该第一方向是远离一主轴马达的方向。

6.如权利要求1所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该第一方向是接近一主轴马达的方向。

7.如权利要求1所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，所述的步骤(b)、(d)是用光感测组件来测量该可移动光学单元的移动距离。

8.如权利要求1所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该第一力量为一固定力量。

9.一种光储存装置摆置检测方法，其特征在于，包含下列步骤：

(b).测量该可移动光学单元移动所需的一第一移动时间；

(d).测量该可移动光学单元移动所需的一第二移动时间；

10.如权利要求9所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该光储存装置为一光驱。

11.如权利要求9所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该可移动光学单元为一光学读取头。

12.如权利要求9所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该第一力量为一随时间变动的力量。

13.如权利要求9所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该第一方向是远离一主轴马达的方向。

14.如权利要求9所述的光储存装置摆置检测方法，其特征在于，该第一方向是接近一主轴马达的方向。

15.如权利要求9所述的光储存装置摆着检测方法，其特征在于，该第一力量为一固定力量。