CN1224163A - 非接触非侵入式测量方法及测量装置 - Google Patents

Abstract

一种物理量测量装置,预先记录表示测量部分的图形与测量装置(10)之间的距离,在非接触状态下将被测物体(9)安排在规定的空间内;调整探头(2)的位置,使由距离测量装置(6)到测量部分的距离达到预先记录的距离;在改变取向的同时,取向确定机构(8)以光束照射测量部分,以确定透过测量部分最大光量的取向。这之后物理量测量装置(10)以测量光照射测量部分,并检测从测量部分输出的光,以得到物理量。

Description

非接触非侵入式测量方法及测量装置

本发明涉及一种在非接触情况下，以非侵入方式测量诸如活体中成分浓度，比如人体中血糖水平等物理量的方法，和实行该法的测量装置。

为了测量活体中的物理量，测量装置须按一定的方式与被测物体表面互相配合。另外，在通过光吸收原理进行测量的情况下，譬如将光用于活体的配合是不适用的。在通过使带传感器的探头直接与活体接触进行的测量方法中，该种接触对被测物体产生值得注意的影响，如果不把这种影响抑制到最小程度，也会因此而使测量误差增大。特别是当被测物体是有意识的生命体一如人体时，他不只在身体上而且也在精神上受到这种测量方法的影响。此外，这种影响随着人体平衡状态与探头状态之间的差异而改变。存在这样的理解，即把这种平衡调整到新状态的过程会对物理量测量造成干扰，以致影响到被测值与这些状态之间的差异、人本身是有意识抑或是无意识等有关。

正在研究比如通过使探头与被测物体接触进行测量的位置及取向等测量条件的确定。但在非接触状态下，不能确定这些测量条件，而且，就这方面而言，也不能将接触状态下的方法用于非接触状态的测量。如果这些测量条件被确定，同时使被测物体与探头等接触，则由这种接触造成的精神的或身体的影响会对被测值产生影响。为避免这种影响，确定非接触状态下测量条件的方法是必需的。例如，尤其是在测量次要成分浓度，如血液的葡萄糖浓度的情况下，所得的信号本来就是非常弱的，而且身体的或精神影响又扰乱了被测值，降低了信噪比，造成在接触状态下进行测量时难于取出信号。由于接触所引起的这种影响，目前被认为是一种妨碍改善非侵入式葡萄糖测量精度的因素。

使由这种身体或精神的影响引起之测量误差为最小的方法适于将被测物体安排在这样的空间，该空间不与由测量装置的光照射被测物体进行测量的探头接触。

众所周知的是，虽然在非接触态进行测量的情况下，可使伴随接触所产生的身体或精神的影响受到限制，但这种情况下由被测物体与测量装置之间相对位置关系的影响引起测量的误差(参见日本未决专利公开特开平9-49794(1997))。因此，如果不精确地确定被测部分(由测量光照射的位置)、测量范围(测量光照射的被测物体表面面积，即测量装置与被测物体表面之间的距离)和测量取向(测量光在被测表面上影响的方向)，就不能得到精确的测量结果。

本发明的目的在于，通过将被测物体安排在不与探头接触的情况下的空间内，并确定其关于测量装置的相对位置，以得到可重复的测量数据。

按照本发明，最好使测量的初始状态为被测物体(如人体)已在室温下处于热平衡。为此，本发明适于将被测部分设定在处于非接触状态之测量装置的规定空间中，以确定所用光的取向和探头与被测物体之间的相对位置关系，并总使测量处于恒定的位置及不变的取向。于是，就能在相同的测量条件下非侵入地总以非接触方式测量被测物体的物理量。

按照本发明的测量方法，为了测量，通过下述步骤确定物理量测量装置的位置和取向，预先记录表明被测物体上测量部分的图形、该图形与检测位置之间的距离，以及物理量测量装置在测量中关于测量部分的取向。

(A)在非接触状态下将被测物体布置在规定的空间，同时将定位机构安排在探头的检测位置，用以由所述定位机构检测预先记录的测量部分的图形，并调整探头位置，使被检测图形的位置与所记录的图形位置(X₀,Y₀)吻合；

(B)将距离测量机构调整在探头的检测位置上，并调整探头位置，使到测量部分的距离与预先记录的距离(Z₀)吻合；

(C)将取向确定机构调整在探头的检测位置，并将检测位置确定为测量部分处于预先记录的取向(θ₀)上；

(D)在将物理量测量装置调整在探头的检测位置之后，移动该装置至由取向确定机构确定的位置，在以来自物理量测量装置的测量光照射测量部分，并检测从测量部分输出的光之后，得到物理量，如图1所示。

假设与通过图2所示环形探头中心的环形面垂直的面为X-Y平面，与通过所述探头中心的X-Y平面垂直相交的轴为Z轴，则把所述环的中心圆与Z轴之间的交点称为本发明的检测位置。

预先记录的到测量部分的距离(Z₀)最好等于该环形探头的半径。在这种情况下，所述测量部分进到形成探头之圆环的中心。另外，当使形成探头之圆环转动，以致所述测量部分沿着预先记录的取向(θ₀)时，则已在步骤(A)确定之测量部分的位置(X₀,Y₀)保持不变。

测量取向表示由物理量测量用的光束与所述测量部分的垂直方向成的角。把能以多种方式确定的一个测量取向确定为使取向角为0。0取向角时的取向被称为参考方向，可以通过测量目标的形状特点检测这种方向，用于在这种参考方向下的物理量测量。当测量目标在Y-Z平面内具有比如矩形截面的形状时，则如图3A所示，在0取向角时的透射光能量为最大。如果测量目标在Y-Z平面内具有比如圆形截面形状时，则如图3B所示，在0取向角时，透射光的能量为最小。不能将测量物体在Z-Y平面内的截面形状限定为矩形或圆形，但当测量目标具有其它截面形状时，可通过传送能量的分布波形的特点检测参考方向。可以不按参考方向测量物理量，而沿其它方向测量之，这可由传送能量的波形检测。此外，可以不通过传送能量的波形本身确定所述取向，而通过其一级、二级或更高级的微分波形确定之。

为实现这种测量方法，按照本发明一种情况的测量装置有如图2所示那样，包括：环形探头2，它被设置在测量部分以非接触方式布置的空间周围；传感器，它包含定位机构4、距离测量机构6、取向确定机构8和物理量测量装置10，它们沿着探头2的圆环布置，并向着中心安装其上；探头2的支承机构(未示出)；位置控制部件(未示出)；和数据处理器(未示出)。

假设与通过探头2中心的圆环平面垂直相交的面为X-Y平面，与通过探头2中心的X-Y平面垂直相交的轴是Z轴，则探头2的支承机构支承探头2，可沿X轴、Y轴及Z轴方向移动，并可在包含所述圆环的平面内转动。

位置控制部件存储表示测量部分9图形的位置、测量时测量部分9与位于所述圆环和Z轴间交点处的检测位置之间的距离，以及测量时物理量测量装置10关于测量部分9的取向，用以将定位机构4关于测量部分9调整在检测位置处；所述位置控制部件在非接触状态下被安排在规定的空间内，并在所述定位机构4检测预先记录的测量部分9的图形时，通过沿X、Y方向控制所述支承机构调节探头2的位置，使被检测图形的位置与所记录图形的位置吻合，同时将距离测量机构6调整在所述检测位置处，通过沿Z轴方向控制所述支承机构调整探头2的位置，使到受距离测量机构6检测之测量部分9的距离等于预先记录的距离，同时还将取向确定机构8调整在所述检测位置处，确定这一位置，使被取向确定机构8检测之测量部分9的取向等于预先记录的取向，还将物理量测量装置10调整在所述检测位置处，并将该装置移至取向确定机构8所确定的位置。

数据处理器计算来自由位置控制部件定位之物理量测量装置10的物理量。

按照图1所示的测量方法，可在每个物理量的测量中重复步骤(A)至(D)，以便多次处理所述物理量。处于非接触状态之被测物体不能被长时间固定。因此，通过在每个物理量测量中调整处理部分和物理量测量装置的相对位置及取向，可使物理量总是在恒定的测量条件下被测量。此外，即使被测物体处于移动状态，也能使物理量在恒定的测量条件下被测量。

为了有助于测量条件的确定，最好采用初始定位装置，将测量部分9安排在规定的空间，在定位之后，移动该初始定位装置，并以特定的非接触方式安排测量部分9，如图1的上部所示。因此，有如上述，使探头2的检测位置、测量范围(距离)和测量取向关于测量部分9被确定，这之后，将物理量测量装置10调整在用以测量所述物理量之探头2的检测位置。

所述定位机构4的一个实例是二维图形传感器，如CCD摄像机。

所述距离测量机构6的一个实例包括：第一光束应用光学系统，用于以光束照射被测物体；位置灵敏装置，用于接受由被测物体反射的光束；以及受光体光学系统，用于将被测物体反射的光聚集在所述位置灵敏装置上，以便通过会聚在所述位置灵敏装置上的位置检测所述检测位置与被测物体之间的距离。

所述取向确定机构8的一个实例包括：第二光束应用光学系统，用于以光束照射被测物体，同时改变所述取向；受光体部件，用于检测透过被测物体的光束，以确定测量光的入射角，用于通过此受光体部件检测的透射光强度或其差值测量物理量。

所述第一和第二光束应用光学系统可包含激光装置作为光源。

位置控制部件最好包含执行定位探头功能的程序。于是，当把被测物体安排在规定的位置时，可自动执行从定位到物理量测量的操作。

此外，当多次测量所述物理量时，位置控制部件最好在每次物理量测量中重复定位探头的程序。于是，可以总是在恒定的测量条件下自动地执行所述物理量测量。

按照本发明，在把被测物体安排在所述空间，并根据被测物体确定探头位置、距离和取向之后，使物理量得以被测量，从而可在非接触状态下以极好的可重复性实现非侵入式测量。

由于非接触测量，所述被测物体既不受身体上也不受精神上的来自探头的影响，而且可使测量数据的散失受到抑制，可按极好的生产效率进行所述测量。

从以下参照附图对本发明的详细描述，将使本发明前面的以及其它的目的、特点、情况以及优点变得愈加清晰。

图1是表示本发明方法的示意图；

图2是表示本发明装置的示意方框图；

图3A和3B分别示出透射光程与测量取向角θ之间关系和测量取向角θ与透射光量之间关系，用以表示确定测量取向的原则；

图4是表示二维图形检测机构、距离测量机构、取向确定机构和物理量测量装置关于探头布置的示意平面图；

图5是表示本发明实施例的测量装置透视图；

图6是表示探头、各传感器和被测物体之间相对位置关系的透视图；

图7是示意地表示本发明实施例总体装置的方框图；

图8是表示临时方向确定装置的透视图，用于预先确定被测物体的位置和取向，该被测物体被安排在一个空间内；

图9A示意地示出确定检测位置的二维图形检测机构，图9B示出定位过程；

图10A示意地示出设定测量范围的距离检测机构，图10B和10C示出其距离调节过程；

图11A示意地示出取向确定机构，图11B和11C示出取向确定过程；

图12示意地示出将物理量测量装置布置在所确定的进行测量用的探头位置处的情况；

图13是表示从确定测量条件到物理量测量的前半部分操作的流程图；

图14是表示从确定测量条件到物理量测量的后半部分操作的流程图；

图15是表示多次测量中各次进行的测量情况下程序的流程图。

图4表示二维图形检测机构4、距离测量机构6、取向确定机构8和物理量测量装置10关于探头2的布置。取向确定机构8包括光束使用部件8a和受光器部件8b，它们被安排在成环形的探头2直径的两端。定位用的二维图形检测机构4沿垂直于光束使用部件8a和受光器部件8b布置的方向布置，距离测量机构6和物理量测量装置10分别被布置于以二维图形检测机构4为参考的正、负45°位置处。

图5表示本发明实施例的测量装置。探头2被可转地支承于Z平台20上，探头2的侧面上设置齿轮22，用以与安装于电机24的转轴上的另一齿轮26配接。于是，随着电机24的转动，探头2转动。探头2的转动将二维图形检测机构4、距离测量机构6、光束使用部件8a、受光器部件8b和物理量测量装置10调整在检测位置，同时调节取向角。探头2转动θ角。

Z平台20被安装在X-Y平台30上，从而可随电机32的转动，沿Z轴方向移动。

X-Y平台30被支承器(未示出)支承，从而随着X、Y电机34和36的转动可分别沿X、Y轴方向移动。

位置控制部件(未示出)随着电机32、34、36和24转动控制平台20和30的运动，并控制探头2在预先设定的条件下的转动。

图6表示探头2、各传感器4、6、8a、8b和10以及被测物体(如手指)9之间的相对位置关系。Z轴与形成探头2的圆环彼此相交于检测位置处，图6中的二维图形检测机构4布置于该位置。分别将二维图形检测机构4、距离测量机构6和光束使用部件8a调整于所述检测位置处，以便调整探头2的位置，并确定其取向，而且在这之后，将物理量测量装置10调整于该检测位置处，用以测量物理量。

图7示意地示出本实施例的总体装置。设置电机驱动电路40，用以驱动电机24、32、34和36；控制·存储·数据处理单元44用作位置控制部件也用作数据处理器，它控制电机控制器42，该控制器控制电机驱动电路40的动作。将用作定位机构的二维图形传感器4，用作距离处理机构的一维位置传感器6，以及用作取向驱动机构的取向传感器8作为传感器设置于探头2上。二维图形传感器4、一维位置传感器6和取向传感器8分别适于确定检测位置(X,Y)，测量距离Z，即测量范围，以及测量取向θ。控制·存储·数据处理单元44控制这些传感器的动作，还通过电机控制器42控制电机24、32、34和36，以便根据各传感器检测的信号获得预先设定的条件。控制·存储·数据处理单元44对从作为物理量处理装置用的非侵入式血糖浓度测量仪10来的检测信号进行数据处理，并由显示器50显示之。作为显示物理量测量结果的部件的显示器50显示血糖浓度。输入部件46输入控制·存储·数据处理单元44中的检测位置(X,Y)、测量范围Z和测量取向θ的测量条件，测量条件监视单元48监视并显示探头2的状态。

本实施例中的测量条件确定装置被描述如下。

图8表示作为临时方向确定装置的支架52，用于预先确定被测物体9的位置和取向，所述被测物体是一手指，被安排在一个空间内。支架52适于将手指9接纳于其中，用以沿X轴定位该手指，它由两个U形支承部件53a和53b组成，该二部件支承手指9。支架52也可由简单的管子制成，或者可由单独一个鞍形支撑件组成。

支架52是一个预备性的部件，它被设置成在确定了手指9的布置后即被取去。考虑到位置安排的稳定性，可使被测物体9选择被粗略地定位，而取在一个位置与被测物体9接触的局部支承，不会在其上产生更大的身体上的影响。

图9A示意地示出二维图形检测机构4，它用于设定检测位置。为了定位被测物体9，使探头2在X-Y平面内移动，用以安置预先记录的测量位置，如设在手指上的星号，比如在所记录的位置(X₀,Y₀)。二维图形检测机构4由比如图形阅读器形成，所述图形阅读器包含一个二维的CCD摄像机，并附带地包含一个照明装置和一个显示器，成为一套机构。

图9B表示定位的过程。假设当前读出的图形相对于所记录图形的位置(X₀,Y₀)被表示为(X,Y)，则探头2沿着X轴和Y轴方向受到调整，使所加入的图形的位置与所记录图形的位置吻合。

图10A表示典型的距离检测机构6，它用于调整所记录的测量范围。距离检测机构6通过调整所记录的被测物体9与测量装置之间的距离设定测量范围。在沿着X轴和Y轴方向调整之后，使探头2转动，将距离检测机构6安置在检测位置处。距离检测机构6包括用于以激光束照射被测物体9的激光单元6a、用于接受被测物体9所反射的激光束的PSD(位置检测装置)6c，以及透镜6b，它用于将被测物体9反射的光会聚在PSD6c上。图形在PSD6c上形成的位置对应于激光单元6a与被测物体9之间的距离，并随此距离改变，因此，使得探头2沿Z轴方向移动，以便在预先记录的位置上定位图形在PSD6c上形成的位置。

图10B和10C示出探头2沿Z轴方向调节的过程，使当前的位置Z等于所记录的位置Z₀。

当把位置P(X,Y,Z)调节成为P(X₀,Y₀,Z₀)时，于是成为使测量位置位于取向角θ的旋转中心，即在X轴上。

在测量范围被确定之后，作为光入射角的测量取向也被确定。为了确定测量取向，要测定从被测物体9透射的光强。当光通过被测物体9被透射时，透射光的强度随着被测物体9厚度的增加而减小。因此，与最大透射光强度的入射角对应的光程是最短的。与最短光程对应的光的入射角被用作测量物理量的入射方向。

图11A表示典型的取向确定机构8，它包括光束应用部件8a和受光体部件。光束应用部件8a将激光束60引入多角镜62，再把由多角镜62反射的光引入透镜64。当把多角镜62布置成使其反射面在透镜64的焦点位置时，由多角镜62反射的光通过透镜64，并形成平行于透镜64的光学系统光轴的光束。透镜66会聚所述平行光束，并将其引入被测物体9，使受光体部件检测透过被测物体9的光。透镜66被布置成使被测物体9处于其焦点位置处，从而通过透镜66的激光束60进入被测物体9的同一位置。受光体部件检测透过被测物体9的光，用以将最大透射光强的入射角θ_p看成测量物理量所用测量光的入射角(测量取向)θ₀。图11B和11C表示调整所述测量取向θ₀的过程。在以上述方式确定测量位置(X₀,Y₀)、测量范围(距离)(Z₀)及测量取向(θ₀)之后，如图12所示那样，将用于测量血糖水平等物理量的物理量测量装置10安置在探头2的确定位置处，以便在各种确定的条件下测量所述物理量。

图13和14是操作流程图，从各种测量条件的确定到物理量的测量(如血糖水平)。测量开始时，首先确定各测量条件(X₀,Y₀,Z₀及θ₀)。如果测量是初次测量，则二维图形检测机构4引入特征图形，并重新记录特征点的坐标(X₀,Y₀)。另一方面，如果测量是第二次测量，则访问被记录的坐标(X₀,Y₀)，并参考该坐标。

此后，所述测量装置被初始化。如图4所示，本实施例中是探头2被初始化。

这之后，图8所示的临时方向确定装置将被测物体9设定于规定的位置。在这种情况下，被测物体9的设定轴与X轴之间的角α为0°，取向角θ处于θ₀。为了测量，位置P(X,Y,Z)并不仍在位置P(X₀,Y₀,Z₀)。

在非接触状态下，移动临时方向确定装置，并将被测物体9安排在所示空间内。

首先，使探头2转动，将二维图形检测机构4移到接触位置，使得二维图形检测机构4引入当前图形，并在监视器48上显示该图形。

使由二维图形检测机构4引入的当前位置与被记录的位置比较，并使X、Y电机34和36控制该当前位置(X,Y)达到所述记录位置(X₀,Y₀)。

其次，使探头2转动，将一维位置传感器的距离测量机构6带入检测位置，使得距离测量机构6测定当前距离，同时Z电机被驱动成Z=Z₀。

然后，使探头2转动，将取向驱动机构8的光束应用部件8a带入检测位置，使得光束应用部件8a以激光束照射被测物体9，同时改变所述取向，并且受光部件8b检测透射光，以确定最大透射光量的取向角θ_max。

这之后，转动探头2，使物理量测量装置10处于上面由检测位置确定的取向角θ_max。被测物体9在此位置受到整个多波长的测量光的照射，同时数据处理器检测输出的光，并对其进行数据处理。数据处理器通过多元分析计算比如血糖水平，同时显示器50显示其值。

图15表示多次测量中各次物理量测量的程序。将测量计数“m”初始化为0，并设定测量计数“n”。有如图13和14所示那样，将位置(X₀,Y₀)、距离Z₀和取向θ₀确定为测量条件，用于物理量的测量，并将“1”加于将测量计数“m”上。重复这一操作，直至测量计数“m”等于测量计数“n”。

与图15中确定每次测量之测量条件的同时，如果在调整探头时被测物体实质上不被移动为可能的，则一旦确定各测量条件之后，顺序测量物理量“n”次。

虽然本发明已被详细描述并被图示，但须清楚地理解，它们仅只作为举例，而非作为限制，作为本发明的精髓及范围仅由所附各项权利要求限制。

Claims (11)

1．一种通过预先记录图形并确定物理量测量装置(10)的位置和取向进行测量的非接触非侵入式测量方法，所述图形表示测量部分、所述测量部分与所述物理量测量装置(10)之间的距离，以及所述物理量测量装置(10)在测量时相对所述测量部分的取向，所述方法包括以下步骤：

(A)在非接触状态下将被测物体(9)布置在规定的空间，同时将定位机构(4)安排在探头(2)的检测位置，以由所述定位机构(4)检测预先记录的测量部分的图形，并调整探头(2)位置，使被检测的所述图形的位置与所记录的图形位置吻合；

(B)将距离测量机构(6)调整在所述探头(2)的检测位置上，并调整所述探头(2)位置，使得所述测量部分的距离达到所述预先记录的距离；

(C)将取向确定机构(8)调整在所述探头(2)的检测位置，并将检测位置确定为所述测量部分处于所述预先记录的取向上；

(D)在将所述物理量测量装置(10)调整在所述探头(2)的检测位置之后，移动该装置至由所述取向确定机构(8)确定的位置，再以来自所述物理量测量装置(10)的测量光照射所述测量部分，并检测从所述测量部分输出的光之后，得到物理量。

2．如权利要求1所述的非接触非侵入式测量方法，其特征在于其中

所述探头(2)成圆环形，使所述测量部分安排于所述探头(2)的中心，而在步骤(B)中使得所述测量部分的所述预先记录的距离被设定为等于形成所述探头(2)之圆环的半径。

3．如权利要求1所述的非接触非侵入式测量方法，其特征在于其中

所述步骤(A)包括由预先定位装置(52)定位所述被测物体(9)的步骤，并在这之后取去所述预先定位装置(52)，以便在非接触状态下，将所述被测物体安排在所述规定的空间。

4．如权利要求1所述的非接触非侵入式测量方法，其特征在于重复确定所述物理量测量装置(10)位置和取向的操作，用以多次测量所述物理量。

5．一种测量装置，其特征在于包括：

成环形的探头(2)，它被设置在测量部分以非接触方式布置的空间周围；

支承机构(20,30)支承所述探头(2)可沿X、Y及Z轴方向移动，假设一个与通过所述探头(2)中心的平面垂直相交的平面为X-Y平面，与通过所述探头(2)中心的X-Y平面垂直相交的轴是Z轴，所述支承机构将所述探头(2)可旋转地支承在包含所述圆环的平面内；

传感器，它包括定位机构(4)、距离测量机构(6)、取向确定机构(8)和物理量测量装置(10)，它们沿着所述探头(2)的圆环布置，并向着中心安装其上；

位置控制部件，它用于提供表示所述测量部分的图形的位置、所述测量部分与在测量中位于所述圆环和Z轴间交点的检测位置之间的距离，以及所述物理量测量装置(10)在测量中关于所述测量部分的取向，以便将所述定位机构(4)相对以非接触状态布置在规定空间内的被测物体(9)安排在所述检测位置；它还用于在所述定位机构(4)检测预先记录之所述测量部分的图形，使所述被检测的图形的位置与所述记录的图形吻合时，通过沿所述X和Y轴方向控制所述支承机构(30)，调整所述探头(2)的位置；将所述距离测量机构(6)调整于所述检测位置；通过沿所述Z轴方向控制所述支承机构(20)，使所述距离到被所述距离测量机构(6)检测的所述测量部分达到预先记录的距离，调整所述探头(2)的位置；将所述取向确定机构(8)调整在所述检测位置处，确定此位置，使由所述取向确定机构(8)检测的所述测量位置处于预先记录的取向；将所述物理量测量装置(10)调整在所述检测位置处，并将该装置移至由所述取向确定机构(8)所确定的位置；

数据处理器，它从由所述位置控制部件定位之物理量测量装置(10)的检测信号计算物理量。

6．如权利要求5所述的测量装置，其特征在于其中所述定位机构(4)为二维图形传感器。

7．如权利要求5所述的测量装置，其特征在于其中

所述距离检测机构(6)包括：第一光束照射光学系统(6a)，用于以光束照射被测物体；位置检测装置(6c)，它接受所述被测物体(9)反射的光束；以及受光体光学系统(6b)，它用于将所述被测物体(9)反射的光会聚在所述位置检测装置(6c)上，以便根据会聚在所述位置检测装置(6c)上的位置，检测所述检测位置与被测物体(9)之间的距离。

8．如权利要求5所述的测量装置，其特征在于其中所述取向确定机构(8)设有第二光束照射光学系统(8a)，用于在改变取向的同时以光束照射所述被测物体(9)，和受光器部件(8b)，用于检测透过所述被测物体(9)的光束，并由所述受光器部件(8b)检测的透射光强，或其差值确定测量物理量所用测量光的入射角。

9．如权利要求5所述的测量装置，其特征在于还包括可取下的临时方向确定装置(52)，用于预先确定位置和方向，以将被测物体(9)安排在所述规定的位置。

10．如权利要求5所述的测量装置，其特征在于其中

所述位置控制部件包含执行定位所述探头(2)功能的程序。

11．如权利要求5所述的测量装置，其特征在于其中

所述位置控制部件适于在多次测量所述物理量的每次测量中重复定位所述探头(2)的程序。

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