CN1224013C - 有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法 - Google Patents

Abstract

一种有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，该光盘烧录机具有光学头产生的侧光束加成信号，该信号经过具有第一截至频率的低通滤波器处理，而得到第一参考信号及第一上限值与第一下限值，该方法包括以下步骤：当光学头处于由读取切换为写入的烧录阶段，将第一截至频率调高为第二截至频率，使该低通滤波器得到第二参考信号，并加大第一上限值为第二上限值及降低第一下限值为第二下限值；当光学头开始写入用户数据区块时，还原第二截至频率为第一截至频率，使低通滤波器得到第一参考信号，并同时还原第二上限值为第一上限值及还原第二下限值为第一下限值；当光学头开始写入用户数据区块之前和之后，该侧光束加成信号分别与第二和第一参考信号比较。

Description

有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法

技术领域

本发明涉及一种有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，特别涉及一种光盘烧录机在烧录开始的瞬间，光学头生成的侧光束加成信号(SubBeam Add；SBAD)会骤然升高或降低，为了避免发生误判瑕疵点，通过适当的改变参考信号(SBAD_lpf)低通滤波器的频宽及更改判定瑕疵的上限值与下限值，以避免发生误判瑕疵点的方法。

背景技术

通常，由Compaq、Microsoft、Philips和Sony等公司所制定Mount Rainier支持有关CD-RW烧录格式的规范而言，对于一台具有支持瑕疵管理(DefectManagement)的光盘烧录机，一般侦测瑕疵(defect)的方法为利用光盘烧录机在烧录时，由光学头产生成的侧光束加成信号(Sub Beam Add；SBAD)会维持在一定电平(Level)大小，当遇到瑕疵时，侧光束加成信号会因盘片的反射光量异常而变化，光盘烧录机便可利用侧光束加成信号的电平变化以判定盘片上是否有瑕疵。

如图1所示，为了更准确地量测侧光束加成信号的电平变化，我们将侧光束加成信号先经过低通滤波器作处理，而得到稳定而变化缓慢的信号，将它称为SBAD_lpf，并作为参考信号电平，而在烧录的过程中将侧光束加成信号与参考信号进行比较，即当两者的差异量超出预先设定的上限值(即侧光束加成信号大于参考信号)或下限值(即侧光束加成信号小于参考信号)时，就判定该盘片位置有瑕疵(defect)，光盘烧录机即根据该瑕疵点的长度与位置，将该区域标示为瑕疵点，以便将该处数据写到磁盘另一取代位置。

如图2所示，如果在图1中的参考信号因低通滤波器的截至频率设的频宽太高，则在侧光束加成信号侦测到盘片有瑕疵时，侧光束加成信号电平会出现变化而此时的参考信号电平也会跟着大幅度下降，如此将导致瑕疵区域并没有完全被侦测到，所以在侦测盘片是否有瑕疵时，必须选择适当的参考信号频宽，使参考信号频宽缓慢变化，以期能完全侦测出瑕疵区域。

如图3所示，当烧录开始时，侧光束加成信号会骤然降低到低于参考信号某一默认值，即被认定为瑕疵(defect)，但此时的侧光束加成信号电平并不是因为盘片上的瑕疵而降低，从而误判该盘片的位置有瑕疵，也就是说烧录开始瞬间侧光束加成信号往往会有骤然降低或者也有可能升高的情况，如果不同时调整参考信号电平到与侧光束加成信号相同电平，则可能会产生瑕疵的误判。

因此，利用侧光束加成信号电平改变来判定盘片上的瑕疵点时，极有可能在光盘烧录机起始烧录的瞬间，光学头由读取切换为写入的过程中，因为光学头激光能量(Laser power)的改变(如图4所示)，将会连带造成光学头所生成的侧光束加成信号电平会随之骤然降低或骤然升高。而为了避免瑕疵误判现象的发生，我们可经由调整侧光束加成信号的增益(Gain)大小，来缩小起始烧录时侧光束加成信号与烧录前侧光束加成信号电平的差距。但这种做法事实上不能完全消除此差距，将造成起始烧录点被误侦测为瑕疵点或有瑕疵点而侦测不出。若盘片上有瑕疵点，而光盘烧录机在烧录过程时并无法侦测到此瑕疵点，则可能导致该处数据读不出来，或者若盘片上没有瑕疵点，而光盘烧录机误侦测为有瑕疵点，则不但会浪费光盘片空间，而且会增加光驱写入与读取数据的时间。

如图5所示，为了避免烧录开始瞬间侧光束加成信号往往会骤然升高或降低所造成的瑕疵误判，即利用烧录刚开始瞬间立即重设参考信号电平至侧光束加成信号电平。但却可能在烧录刚开始期间，即光学头由读取切换为写入的过程中马上遇到瑕疵点，则参考信号可能因重设太快而降至瑕疵点的侧光束加成信号电平，在切回缓慢跟随频率之后，将因为错误参考电平而误判瑕疵。导致烧录刚开始光学头由读取切换为写入时遇到瑕疵点而发生误判瑕疵点的情况(如图5中的A区域)。

因此，由上可知，上述利用侧光束加成信号电平的改变以判定盘片上是否有瑕疵点的方法，由于光学头由读取切换为写入的过程中容易产生误判，在实际使用上，显然存在不便与缺失，而有待加以改善。

发明内容

有鉴于此，本发明为了改善上述缺失，提出一种有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法。

本发明的主要目的，在于提供一种有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，利用在烧录开始后的一段期间，烧录数据并非有用的用户数据(User Data)，所以在此时调整低通滤波器的频宽，使参考信号以较快的反应速度，改变到侧光束加成信号的电平，同时加大判定瑕疵点的上限值与下限值，以避免误侦测瑕疵点。

为了达成上述目的，本发明提供一种有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，该光盘烧录机具有光学头产生的侧光束加成信号(Sub BeamAdd；SBAD)，并由该侧光束加成信号经过具有第一截至频率的低通滤波器处理，而得到第一参考信号(SBAD_lpf)，以及用来判定盘片瑕疵状况的第一上限值与第一下限值，该方法包含下列步骤：

(a)当该光学头处于由读取切换为写入的烧录阶段时，将该第一截至频率调高为第二截至频率，使该低通滤波器得到第二参考信号，并加大该第一上限值为第二上限值及降低该第一下限值为第二下限值；及

(b)当该光学头开始写入用户数据区块时，还原该第二截至频率为该第一截至频率，使该低通滤波器得到该第一参考信号，并同时还原该第二上限值为该第一上限值及还原该第二下限值为该第一下限值；其中当该光学头开始写入用户数据区块之前，该侧光束加成信号与该第二参考信号比较，以及当该光学头开始写入用户数据区块之后，该侧光束加成信号与该第一参考信号比较。

为了进一步了解本发明特征及技术内容，现作本发明的详细说明与附图说明如下。

附图说明

图1是利用侧光束加成信号电平与参考信号电平作比较以侦测盘片上瑕疵点的波形图；

图2是利用侧光束加成信号电平与高频率的参考信号电平作比较以侦测盘片上瑕疵点的波形图；

图3是烧录刚开始时侧光束加成信号电平与参考信号电平作比较以侦测盘片上瑕疵点的波形图；

图4是光学头由读取切换为写入时激光功率强度变化的波形图；

图5是烧录开始即重设参考信号电平至侧光束加成信号电平作比较以侦测盘片上瑕疵点的波形图；

图6是将数据写入盘片所采用封包写入(Packet Write)的格式示意图；

图7是本发明烧录刚开始时侧光束加成信号电平与高频率的参考信号电平作比较以侦测盘片上瑕疵点的波形图；

图8是本发明参考信号频宽调整的流程图；及

图9是本发明烧录开始以适当频宽重设参考信号电平至侧光束加成信号电平作比较以侦测盘片上瑕疵点的波形图。

具体实施方式

如图6所示，该图为将数据写入盘片时所采用的封包写入(Packet Write)格式，封包写入是由一个链接区块(Link Block)、四个渐入区块(Run-inBlocks)、三十二个用户数据区块(UserDataBlocks)及两个渐出区块(Run-outBlocks)组成，而封包写入的前面五个区块是用来辨识数据及考虑到起始烧录时光学头激光能量不稳而提供一段缓冲时间，并在第六个区块之后才开始将真正的数据写入，以及数据写完后通过两个渐出区块作为封包写入(PacketWrite)的结束。

如图7所示，本发明主要利用封包写入的前五个区块时间，通过光盘烧录机具有光学头产生的侧光束加成信号(SBAD)，并由该侧光束加成信号经过具有第一截至频率的低通滤波器处理，而得到第一参考信号(SBAD_lpf)，以及用来判定盘片瑕疵状况的第一上限值与第一下限值，当烧录刚开始的短暂时间所烧录的数据并非有用的用户数据(User Data)，也即在尚未写入用户数据区块(User Data Block)之前，通过将第一截至频率调高为第二截至频率，使该低通滤彼器得到第二参考信号，并使第二参考信号能快速改变至侧光束加成信号电平，但并非立即将第二参考信号电平调至侧光束加成信号电平处，同时更改侦测瑕疵的上限与下限，即加大第一上限值为第二上限值及降低第一下限值为第二下限值，这样可避免在用户数据处误侦测瑕疵。

如图8所示，为本发明参考信号频宽调整的流程图，包含下列步骤：

步骤11：烧录开始，即光学头由读取切换为写入的过程中，此时的光学头激光能量电平会作改变(如图4所示)，并会影响由光学头所生成的侧光束加成信号电平的变化；

步骤12：调高第一参考信号的频宽，同时加大判定瑕疵的上限值与下限值，即将低通滤波器的第一截至频率调高为第二截至频率，低通滤波器可得到较高频宽的第二参考信号，并使第二参考信号能以较快的反应速度改变至侧光束加成信号电平，但并非立即将第二参考信号电平调至侧光束加成信号电平处，并使第一上限值调高为第二上限值及第一下限值降低为第二下限值；

步骤13：等待一段时间，即在封包写入的前五个区块时间内；

步骤14：还原第二参考信号为低频宽，同时还原判定瑕疵的上限值与下限值，即将低通滤波器的第二截至频率降低为第一截至频率，低通滤波器可得到较低频宽的第一参考信号，并将第二上限值还原为第一上限值及第二下限值还原为第一下限值，使第一参考信号与稳定的侧光束加成信号电平作比较，并开始将用户数据写入。

如图9所示，为依据图8参考信号频宽调整的步骤，所得的侧光束加成信号电平与参考信号电平作比较的波形图，其中在T1为烧录开始的时间点，即光学头由读取切换为写入的过程中，而此时的参考信号是由第一参考信号切换为高频宽的第二参考信号，并以适当频宽(如160Hz)朝侧光束加成信号电平处靠近，且加大判定瑕疵的上限值与下限值，而不是如图5中烧录开始参考信号电平即瞬间重设至侧光束加成信号电平处，而且也没有加大判定瑕疵的上限值与下限值，因此本发明有着有明显不同，相较于已知作法本发明可有效避免误侦测瑕疵的发生，在T2时间点是将第二参考信号切换成低频宽的第一参考信号(如13Hz)，并还原判定瑕疵的上限值与下限值，在T3时间点则为用户数据区块(User Data Blocks)的开始烧入处。

据此，当烧录刚开始时侧光束加成信号电平会随之骤然降低或骤然升高，若此时盘片位置恰有瑕疵点，通过加大判定瑕疵的上限值与下限值以避免瑕疵点的误判，以维持在正常情况下侧光束加成信号与参考信号在判定瑕疵的上限值与下限值的一定差距，反之若此时盘片位置并没有瑕疵点，通过将参考信号调成高频宽的第二参考信号至侧光束加成信号电平处，也同样能达到避免误判瑕疵点的效果；而上述调整参考信号频宽及加大判定瑕疵的上限值与下限值均在封包写入的前五个区块时间，并在封包写入的第六个区块来临前，将参考信号还原成低频宽的第一参考信号，并同时还原判定瑕疵的上限值与下限值，以期能正确判断盘片是否有瑕疵并顺利将用户数据写入。

因此，通过本发明的有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，具有如下特点：

(1)通过烧录刚开始调高参考信号频宽及加大判定瑕疵的上限值与下限值，可有效避免误判瑕疵点的发生。

(2)减少误判瑕疵点后，可让烧录的过程更为顺利，即盘片烧录的数据不至于读不出来，且同样可达到避免光盘片空间无谓的浪费及避免浪费在读取数据所花的时间。

以上所述，仅为本发明最佳具体实施例之一的详细说明与图式，但是本发明的特征并不局限于此，本发明的范围应以权利要求书的保护范围为准，凡符合本发明的精神与其类似变化的实施例，均应包含于本发明的范畴中，任何熟悉该项技艺的人在本发明的领域内，可轻易思及的变化或修饰均可涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，该光盘烧录机具有光学头产生的侧光束加成信号SBAD，并由该侧光束加成信号经过具有第一截至频率的低通滤波器处理，而得到第一参考信号SBAD_lpf，以及用来判定盘片瑕疵状况的第一上限值与第一下限值，其特征在于，该方法包含下列步骤：

(a)当该光学头处于由读取切换为写入的烧录阶段时，将该第一截至频率调高为第二截至频率，使该低通滤波器得到第二参考信号，并加大该第一上限值为第二上限值及降低该第一下限值为第二下限值；及

(b)当该光学头开始写入用户数据区块时，还原该第二截至频率为该第一截至频率，使该低通滤波器得到该第一参考信号，并同时还原该第二上限值为该第一上限值及还原该第二下限值为该第一下限值；

其中当该光学头开始写入用户数据区块之前，该侧光束加成信号与该第二参考信号比较，以及当该光学头开始写入用户数据区块之后，该侧光束加成信号与该第一参考信号比较。

2.如权利要求1所述的有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，其特征在于，所述第一参考信号的较佳频率为13Hz。

3.如权利要求1所述的有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，其特征在于，所述步骤(a)的第二参考信号的较佳频率为160Hz。

4.如权利要求1所述的有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，其特征在于，该光学头将数据写入碟片时采取封包写入格式。

5.如权利要求4所述的有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法，其特征在于，所述用户数据区块之前进一步包括链接区块及渐入区块。

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