CN118191538A - 一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法及装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 77
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 52
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 10
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明涉及一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法及装置，属于半导体芯片测试技术领域。在该方法中，通过增加设置老化板转接板，实现多种老化设备可使用同一种老化板进行测试。在老化测试机A和B里使用同一种老化板B进行老化测试，老化板B可直接用于老化测试机B；老化板B用于作为老化测试机A的老化板时，直通板与老化板之间加入老化板转接板，所述转接板是印刷电路板，连接测试板A的信号和电源到老化板B的信号和电源。本发明提供的方法和装置能够实现多种老化设备使用同一种老化板进行测试，因此只需管理一种老化板，减少耗材管理费用；同时，存储颗粒上下料机也只需要一种，便于操作。
Description
技术领域
本发明属于半导体芯片测试技术领域，涉及一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法及装置。
背景技术
半导体芯片颗粒从第一次使用到报废为止的使用寿命周期内，其失效率呈现一定的规律，随使用时间而变化，俗称浴盆曲线，即早期失效率高，经过一定时间之后失效率较低且稳定，最后使用寿命之后失效率急剧升高。对所有颗粒进行老化测试，筛选初始不良颗粒从而使得颗粒可靠稳定是非常重要且必须的封装测试环节。
半导体芯片颗粒老化测试的总体方案是给被测半导体芯片颗粒供给电源信号和测试信号，在高低温或常温下让被测半导体芯片颗粒连续不间断地工作设定的时间，此过程称为老化(burn-in)，由此来加速半导体存储器件的失效，筛选出良品。老化测试属于半导体芯片的可靠性测试，只需做基础性功能测试即可满足要求，一般芯片的工作频率会降低到10MHz以减少测试系统的复杂度，降低测试成本。由于半导体存储器的种类很多，应用广泛，量大、性能较高且工作温度范围广，因此需要有一套容量灵活、可扩展性好、宽温度范围、功能丰富、架构可靠性和性价比均高的老化测试方法及系统才能满足实际应用。
现有的老化测试机都使用其配套的老化板，即老化板不能兼容使用，虽然老化板大小规格都是相同的450mm x 570mm，都是测同一种存储器颗粒的，但是测试板连接到老化板的连接器的信号和电源定义是不同的，如图1所示，老化板放入烤箱进行高低温测试，使用耐温材质；测试板放入室温腔体，提供测试所需的电源和信号并收集测试结果；直通板隔离烤箱温腔和室温腔体，连接测试板与老化板的信号和电源。因为不能兼容，所以老化板A只能用于A老化测试机，老化板B只能用于B老化测试机，即不同的测试机需要使用不同的老化板。
上述测试方法就造成使用不同厂家的多种老化设备，需有多种跟老化测试机一一对应的老化板，从而导致管理多种老化板是比较繁杂的工程。此外，对于不同的老化板，并列测试颗粒数和颗粒测试座坐标不一样而导致需要多种上下料机(把颗粒从托盘上料到老化板或从老化板下料到托盘的设备)。因此，现有的测试方法中不同的测试机与不同老化板无法兼容的问题显然不能满足目前的实际需求。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法及装置，从而实现多种老化设备可使用同一种老化板进行测试。
为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法，在该方法中，通过增加设置老化板转接板，实现多种老化设备可使用同一种老化板进行测试。
进一步，在该方法中，在老化测试机A和B里使用同一种老化板B进行老化测试，老化板B可直接用于老化测试机B；老化板B用于作为老化测试机A的老化板时，直通板与老化板之间加入老化板转接板，所述转接板是印刷电路板，连接测试板A的信号和电源到老化板B的信号和电源。
本发明还提供了一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的装置，包括老化板、测试板、直通板以及老化板转接板；老化板放入烤箱进行高低温测试，使用耐温材质；测试板放入室温腔体，提供测试所需的电源和信号并收集测试结果；直通板隔离烤箱温腔和室温腔体，连接测试板与老化板的信号和电源；所述老化板转接板用于进行信号转接，从而实现不同老化设备使用同一种老化板进行测试。
进一步，在老化测试机A和B里使用同一种老化板B进行老化测试，老化板B可直接用于老化测试机B；老化板B用于作为老化测试机A的老化板时，直通板与老化板之间加入老化板转接板，所述转接板是印刷电路板，连接测试板A的信号和电源到老化板B的信号和电源；
测试板连接老化板的信号有输出信号1A(所有输出信号的集合)，输入信号2A(所有输入信号的集合)和双向的输出输入信号3A(所有输出输入信号的集合)，测试板连接老化板的电源有电源1A和电源2A；老化板有输出信号1B(所有输出信号的集合)，输入信号2B(所有输入信号的集合)和双向的输出输入信号3B(所有输出输入信号的集合)；老化板有电源1B和电源2B接口，老化板转接板进行电源和信号的转接而使得测试板A与老化板B相连接。
进一步，所述老化板转接板内还设置有信号中继器(signal repeater)，用于增强信号强度。
进一步，所述老化板转接板内设置有供电模块，可连接额外需要的电源连接。
本发明的有益效果在于：
本发明提供的方法和装置能够实现多种老化设备使用同一种老化板进行测试，因此只需管理一种老化板，减少耗材管理费用；同时，存储颗粒上下料机也只需要一种，便于操作。
本发明的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。
附图说明
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作优选的详细描述，其中：
图1为现有测试机连接关系示意图；
图2为本发明的实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明技术方案进行详细说明。
本发明提供了一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法和装置，通过增加设置老化板转接板，实现多种老化设备可使用同一种老化板进行测试。
如图2所示，在本方案中，在老化测试机A和B里使用同一种老化板B进行老化测试，老化板B可直接用于老化测试机B；老化板B用于作为老化测试机A的老化板时，直通板与老化板之间加入老化板转接板，所述转接板是印刷电路板，连接测试板A的信号和电源到老化板B的信号和电源。
在本实施例中，老化板放入烤箱进行高低温测试，使用耐温材质；测试板放入室温腔体，提供测试所需的电源和信号并收集测试结果；直通板隔离烤箱温腔和室温腔体，连接测试板与老化板的信号和电源；老化板转接板用于进行信号转接，从而实现不同老化设备使用同一种老化板进行测试。
在老化测试机A和B里使用同一种老化板B进行老化测试，老化板B可直接用于老化测试机B；老化板B用于作为老化测试机A的老化板时，直通板与老化板之间加入老化板转接板，所述转接板是印刷电路板，连接测试板A的信号和电源到老化板B的信号和电源；
测试板连接老化板的信号有输出信号1A(所有输出信号的集合)，输入信号2A(所有输入信号的集合)和双向的输出输入信号3A(所有输出输入信号的集合)，测试板连接老化板的电源有电源1A和电源2A；老化板有输出信号1B(所有输出信号的集合)，输入信号2B(所有输入信号的集合)和双向的输出输入信号3B(所有输出输入信号的集合)；老化板有电源1B和电源2B接口，老化板转接板进行电源和信号的转接而使得测试板A与老化板B相连接。
此外，所述老化板转接板内还可以设置有信号中继器(signal repeater)，用于增强信号强度。老化板转接板内也可以设置有供电模块，可连接额外需要的电源连接。
最后说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改而不脱离本技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (6)
1.一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法，其特征在于：在该方法中，通过增加设置老化板转接板，实现多种老化设备可使用同一种老化板进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法，其特征在于：在该方法中，在老化测试机A和B里使用同一种老化板B进行老化测试，老化板B可直接用于老化测试机B；老化板B用于作为老化测试机A的老化板时，直通板与老化板之间加入老化板转接板，所述转接板是印刷电路板，连接测试板A的信号和电源到老化板B的信号和电源。
3.一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的装置，其特征在于：包括老化板、测试板、直通板以及老化板转接板；老化板放入烤箱进行高低温测试，使用耐温材质；测试板放入室温腔体，提供测试所需的电源和信号并收集测试结果；直通板隔离烤箱温腔和室温腔体，连接测试板与老化板的信号和电源；所述老化板转接板用于进行信号转接，从而实现不同老化设备使用同一种老化板进行测试。
4.根据权利要求3所述的一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的装置，其特征在于：在老化测试机A和B里使用同一种老化板B进行老化测试，老化板B可直接用于老化测试机B；老化板B用于作为老化测试机A的老化板时，直通板与老化板之间加入老化板转接板，所述转接板是印刷电路板，连接测试板A的信号和电源到老化板B的信号和电源；
测试板连接老化板的信号有输出信号1A，输入信号2A和双向的输出输入信号3A，测试板连接老化板的电源有电源1A和电源2A；老化板有输出信号1B，输入信号2B和双向的输出输入信号3B；老化板有电源1B和电源2B接口，老化板转接板进行电源和信号的转接而使得测试板A与老化板B相连接。
5.根据权利要求4所述的一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的装置，其特征在于：所述老化板转接板内还设置有信号中继器，用于增强信号强度。
6.根据权利要求5所述的一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的装置，其特征在于：所述老化板转接板内设置有供电模块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311790833.8A CN118191538A (zh) | 2023-12-25 | 2023-12-25 | 一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311790833.8A CN118191538A (zh) | 2023-12-25 | 2023-12-25 | 一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法及装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN118191538A true CN118191538A (zh) | 2024-06-14 |
Family
ID=91393847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202311790833.8A Pending CN118191538A (zh) | 2023-12-25 | 2023-12-25 | 一种实现多种老化测试机兼容使用同一种老化板的方法及装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN118191538A (zh) |
-
2023
- 2023-12-25 CN CN202311790833.8A patent/CN118191538A/zh active Pending
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