CN118133464A - 一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，首先获取规划参数和目标型面数模，随后计算所述目标型面数模的最小二维包围盒，再根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长，根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样获取采样点集，最后根据规划参数对所述采样点集进行优化获取测量点位集合；与现有技术相比，本发明能适应平面、柱面、自由曲面等各种型面，在型面具有复杂内、外边界的情况下仍然具有较强的鲁棒性；同时本发明还能自动化的生成满足测点间距、测点数量、边界避让距离多条件约束的测量点位，测量点位分布合理，布局质量高。

Description

一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法

技术领域

本申请涉及航空零件质量检测技术领域，具体涉及一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法。

背景技术

三坐标测量机作为零件加工质量的检测设备，在机械加工领域广泛使用。在航空航天等有保密要求行业内，零件数模传输不便，经常使用测量点位文件作为零件测量依据，快速、高效生成测量点位文件能够有效缩短工艺准备周期，提升零件生产效率。

对各种型面特征的测量是三坐标测量的主要内容之一，由于航空零部件具有曲率变化复杂、孔洞丰富、边界复杂等特点，现有软件工具及测量点规划算法所规划的测量点位存在点位稀疏度不佳、位置不可测等问题。因此，当前型面特征的测量点位主要依赖工艺人员在CAD软件中逐一手动创建，测量点位的数量、间距等均依赖工艺人员的经验，测量点选择的效率和质量均较低，进而严重影响了航空零部件复杂型面的检测效率，因此为了提高航空零部件的复杂型面检测效率有必要设计将测量点位的选择进行规范，同时实现测量点位的自动选择，以提高工作效率。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，旨在解决现有技术中存在的点位规划精确度差的缺陷。

本申请通过以下技术方案实现上述目的：

一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，包括以下步骤：

获取规划参数和目标型面数模，其中所述规划参数包括最少测量点位数量M_p，最大测量点间距D_pp、测量点距离目标型面边界最小距离D_pe；

根据所述目标型面数模计算所述目标型面数模的最小二维包围盒；

根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长；

根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样，获取采样点集；

根据所述规划参数对所述采样点集进行优化，获取测量点位集合。

可选的，根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长，包括以下步骤：

根据型面约束条件判定所述目标型面数模是否满足采样条件，若不满足则结束计算，否则进入下一步；

根据采样步长计算公式计算初始采样步长。

可选的，型面约束条件的表达式为：u_max-u_min≥2*D_pe且

V_max-v_min≥2*D_pe；初始采样步长计算公式满足：

和

；其中u_max，u_min，v_max，v_min为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的参数。

可选的，根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样，获取采样点集，包括以下步骤：

根据所述最小二维包围盒的参数B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)计算循环变量的初始值；

根据所述循环变量的初始值计算循环次数；

将所述循环次数代入判定公式，若判定公式不成立，则根据所述循环次数在所述目标型面数模上计算采样点/>，并调节所述循环变量，重复根据所述循环变量计算循环次数；

若判定公式成立，则调节所述循环变量，重复根据所述循环变量计算循环次数，直至获取所有采样点；

将所有采样点归集，获取采样点集。

可选的，循环变量的初始值计算公式为i₀=u_min+D_pe，j₀=v_min+D_pe；所述循环变量的表达式为j_n+1=j_n+v_step，i_n+1=i_n+u_step，其中n表示循环次数，当n取0时表示循环变量的初始值，j_n表示U方向上循环次数为n的循环变量，i_n表示v方向上循环次数为n的循环变量；

循环次数的计算公式为；其中u_step表示u方向上的初始采样步长，v_step表示v方向上的初始采样步长；

判定公式的表达式为或者

；其中%表述取余数，&表示且运算，‖表示或运算，v_min和u_min为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的其中两个参数。

可选的，采样点参数计算公式的表达式为：

，其中u_max，u_min，v_max，v_min为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的参数，u_step表示u方向上的初始采样步长，v_step表示v方向上的初始采样步长。

可选的，调节所述循环变量，包括以下步骤:

根据公式j_n+1=j_n+v_step调整并生成循环变量j_n+1，若j_n+1＞v_max，则执行下一步，否则根据循环变量j_n+1和i_n重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环；

令j₀=v_min+D_pe，i_n+1=i_n+u_step，若i_n+1＞u_max，则结束采样点计算，否则根据循环变量j_n+1和i_n+1重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环，u_max为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的参数的一个参数，j_n表示u方向上循环次数为n的循环变量，i_n表示v方向上循环次数为n的循环变量，其中u_step表示u方向上的初始采样步长，v_step表示v方向上的初始采样步长。

可选的，根据所述规划参数对所述采样点集进行优化，获取测量点位集合，包括以下步骤：

获取采样点集中任意一点/>，计算点/>与所述目标型面数模/>的距离，若距离大于0，则剔除点/>，否则保留，得到一次筛选采样点集/>；

从一次筛选采样点集中任选一点/>，计算点/>与所述目标型面数模/>每条边界的距离，若任一距离值小于测量点距离目标型面边界最小距离D_pe，则剔除点/>，否则保留点/>，得到二次筛选采样点集/>；

统计所述二次筛选采样点集中的采样点个数；

若所述采样点个数小于最少测量点位数量M_p，则对所述初始采样步长进行缩放，再重复采样，直至获取测量点位集合；

若所述采样点个数大于最少测量点位数量M_p，则对所述二次筛选采样点集进行重新排序，输出测量点位集合/>。

可选的，对所述初始采样步长进行缩放，包括以下步骤：

确定缩放因子t，其中所述缩放因子t的取值范围为1＜t＜1.5;

比较初始采样步长u_step和v_step；

若>/>,则/>=/>，/>=/>，否则/>=/>，/>=/>。

可选的，对所述二次筛选采样点集进行重新排序，包括以下步骤：

对二次筛选采样点集进行初始化排序，获取排序采样点集；

将所述二次筛选采样点集中的最后一个元素转移排序采样点集中；

计算中每一个元素与/>中最后一个元素距离，并将距离最小的元素从/>中移除而加入到/>最后；

重复步骤计算中每一个元素与/>中最后一个元素距离，并将距离最小的元素从/>中移除而加入到/>最后，将所述二次筛选采样点集/>中的所有元素加入到排序采样点集中，输出测量点位集合/>。

与现有技术相比，本申请具有以下有益效果：

本申请首先获取规划参数和目标型面数模，随后计算所述目标型面数模的最小二维包围盒，再根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长，根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样获取采样点集，然后根据规划参数对所述采样点集进行优化获取测量点位集合，最后，对测量点位集合进行排序，优化测量顺序，得到最终测量集合；

与现有技术相比，本申请能够在多重参数的约束下，自动调整采样的密度，并删除不良采样点的，最终生成满足约束条件的采样点集。然后，再对此点集按最近距离排序，从而优化测量路径，得到较优的测量数据集合。

附图说明

图1为本申请实施例1提供的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法的流程图；

图2为目标型面数模的最小二维包围盒的示意图；

图3最小二维包围盒内采样点示意图；

图4为一次筛选采样点集的示意图；

图5为二次筛选采样点集的示意图；

图6为二次筛选采样点集排序前后对比图；

本申请目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图作进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“机器人坐标系和/或m”为例，包括机器人坐标系方案、或m方案、或机器人坐标系和m同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

实施例1

参照图1到图4，本实施方式公开了一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，同时本申请将结合具体实例对本申请进行具体说明，包括以下步骤：

S1、获取规划参数和目标型面数模；

根据技术要求获取规划参数，所述规划参数包括最少测量点位数量M_p，最大测量点间距D_pp、测量点距离目标型面边界最小距离D_pe；

获取目标型面数模；

在具体实例中，输入最少测量点位数量=10、最大测量点间距/>=50mm、测量点距离边界距离/>=5mm

S2、根据所述目标型面数模计算所述目标型面数模的最小二维包围盒；

再具体实际中根据目标型面数模计算最小二维包围盒的表达式为=(-68.0782,-25.9564,69.1531,64.1265)；

S3、根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长；

S31、根据型面约束条件判定所述目标型面数模是否满足采样条件，若不满足则结束计算，否则进入下一步；

将测量点距离目标型面边界最小距离D_pe和最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)代入到型面约束条件内，所述型面约束条件的表达式为：u_max-u_min≥2*D_pe且V_max-v_min≥2*D_pe；

若满足上述约束条件，则判定目标型面数模满足要求，可以进行特征点自动规划，否则判定目标型面数模不符合要求，结束整个自动规划程序；

通过该判定公式与循环计算，可以实现测量数据在面片上u,v方向上交错分布，从而更精准的反应面片精度情况；

在具体实例中，将相关参数代入型面约束条件内，即：

，

且；因此满足型面约束条件。

S32、根据采样步长计算公式计算初始采样步长。

若判定目标型面数模符合要求，则进行初始采样步长的计算，所述初始采样步长公式的表达式为：

和

；其中u_max，u_min，v_max，v_min为最小二维包围盒的参数B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的参数；

根据上述公式即可计算得到初始采样步长u_step和v_step。

在具体实例中，因为，所以/>mm

因为，

所以mm。

上述公式计算步长，可根据面片面积大小，自动调节初始采样距离，从而兼顾采样效率与采样质量。

S4、根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样，获取采样点集；

S41、根据所述最小二维包围盒的参数B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)计算初始循环变量的初始值；

根据循环变量的初始值计算公式为i₀=u_min+D_pe，j₀=v_min+D_pe计算循环变量的初始值i₀和j₀；

将所述循环变量的初始值i₀和j₀代入到循环次数的计算公式中计算循环次数，所述循环次数的计算公式为；

在具体实例中，初始化循环变量，；

同时循环次数为。

S42、将所述循环次数代入判定公式，若判定公式不成立，则根据所述循环次数计算采样点参数，再根据所述采样点参数所述目标型面数模上计算采样点/>，并调节所述循环变量，重复根据所述循环变量计算循环次数；

将步骤S41中计算得到的循环次数N_i=0和N_j=0代入到判定公式内，所述判定公式的表达式为

或：其中%表述取余数，&表示且运算，‖表示或运算；

通过上述判定公式可以使测量点延U，V方向交错布置，提高对异常型面的检出率。

若判定公式不成立，则将步骤S41中计算得到的循环次数N_i和N_j代入到采样点计算公式内，采样点/>计算公式的表达式为：

；

计算得到采样点的详细参数，将计算得到的采样点参数/>归集到采样点集/>内。

在具体实例中，采样点参数为；

在具体实例中，获取采样点集为：={/>，，/>}；

计算完成后，根据公式根据公式j_n+1=j_n+v_step调整并生成循环变量j_n+1；若j_n+1＞v_max,则执行下一步，否则将循环变量j_n+1和i_n导入步骤S41中的循环次数的计算公式，重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环。

令j₀=v_min+D_pe，i_n+1=i_n+u_step，若i_n+1＞u_max，则结束采样点计算，否则将循环变量j_n+1和i_n+1导入步骤S41中的循环次数的计算公式，重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环。

通过上述循环的不间断进行获取所有采样点；

上述采样点参数计算公式从型面中心位置开始布置测量点，可以避免测量点偏向型面的一侧，从而提高测量点规划质量。

S43、若判定公式成立，则调节所述循环变量，重复根据所述循环变量计算循环次数，直至获取所有采样点；

若判定公式成立，则需要调整循环变量，其具体调整方法如下;

根据公式j_n+1=j_n+v_step调整并生成循环变量j_n+1，若j_n+1＞v_max,则执行下一步，否则根据循环变量j_n+1和i_n重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环。

令j₀=v_min+D_pe，i_n+1=i_n+u_step，若i_n+1＞u_max，则结束采样点计算，否则根据循环变量j_n+1和i_n+1重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环。

在具体实例中，/>，/>，不满足条件，重新计算循环变量；

，/>，/>，重新计算循环次数；

，/>，/>，重新计算循环次数；

，满足条件，进行下一步；

，令/>，此时，/>，/>，，/>=/>。

S45、将所有采样点归集，获取采样点集；

S5、根据所述规划参数对所述采样点集进行优化，获取测量点位集合。

S51、获取采样点集中任意一点/>，计算点/>与所述目标型面数模/>的距离，若距离大于0，则剔除点/>，否则保留；

由于面片边界与UV边界不重叠，可能位于面片边界外部，该步骤可删除位于边界外部的点。

S52、遍历所述采样点集，从所述采样点集/>中删除所有不合格点，得到一次筛选采样点集/>；

遍历，计算任意一点/>与有界曲面/>的距离，经计算；到/>的距离为4.65mm，/>到/>的距离为0，的距离为9.55mm。仅有/>在有界曲面/>内，得到：

={/>}

该步骤可删除距离边界太近的点，避免测量时发生干涉。

通过删除采样点集中不在目标型面数模上的点，从而避免采样异常点成为检测点，从而提高检测点质量。

S53、从一次筛选采样点集中任选一点/>，计算点/>与所述目标型面数模每条边界的距离，若任一距离值小于测量点距离目标型面边界最小距离D_pe，则剔除点/>，否则保留点/>

上述方法步骤能够删除采样点集中距离型面边界更近的点，从而提高检测点质量；

S54、遍历一次筛选采样点集，从所述一次筛选采样点集/>中删除所有不合格点，得到二次筛选采样点集/>；

遍历，对于/>中任意一点/>，计算其与目标型面/>任意一条边的距离，其中，/>与/>各边的距离的最大值为2.15mm，小于/>=5mm，从中删除/>，得到测量点位集合/>，/>=/>。

S55、统计所述二次筛选采样点集中的采样点个数；

S56、若所述采样点个数小于最少测量点位数量M_p，则对所述初始采样步长进行缩放，在重复采样，直至获取测量点位集合。

在具体实例中，采样点的个数为0，小于=10，因此对初始采样步长进行缩放；

S561、确定缩放因子t，其中所述缩放因子t的取值范围为1＜t＜1.5；

缩放因子t根据需要由技术员确定，其取值范围为1＜t＜1.5；

S562、比较初始采样步长和/>；

S563、若>/>,则/>=/>，/>=/>，否则/>=/>，/>=/>。

在具体实例中，>/>,取/>，/>=/>，/>=/>。重复执行步骤（3）到步骤（6），得到新的/>，直到/>中采样点个数大于等于/>=10。此时：

={/>，/>，/>，，/>，/>，/>，，/>，/>，/>}

缩放采样步长可增加采样密度，扩充二次筛选采样点集。

通过上述方法步骤在u或V方向上进行单方向缩放，使其对狭长型面有更好的适应性。

S57、若所述采样点个数大于最少测量点位数量M_p，则对所述二次筛选采样点集进行重新排序，输出测量点位集合/>；

S571、对二次筛选采样点集进行初始化排序，获取排序采样点集；

S572、将所述二次筛选采样点集中的最后一个元素移入到排序采样点集中；

在具体实例中，在中加入/>中的最后一个元素/>，同时/>删除其最后一个元素/>；

S573、计算中每一个元素与/>中最后一个元素距离，并将距离最小的元素从/>中移除而加入到/>最后；

在具体实例中，计算中每一个元素与/>中最后一个元素/>的距离，距离最小的元素为/>，最小距离为16.7mm，将从/>中移除而加入到/>最后；

S574、重复步骤计算中每一个元素与/>中最后一个元素距离，并将距离最小的元素从/>中移除而加入到/>最后，将所述二次筛选采样点集/>中的所有元素加入到排序采样点集中，输出测量点位集合/>。

在具体实例中，计算中每一个元素与/>中最后一个元素/>的距离，距离最小的元素为/>，最小距离为26.073mm，将/>从/>中移除而加入到/>最后；

重复上述步骤，最终输出测量点位集合={/>，，/>，/>，/>，，/>，/>，/>，，/>}。

通过上述排序能够使测量点的顺序更有利于测量轨迹规划，从而提高后续测量效率。

以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所做的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取规划参数和目标型面数模，其中所述规划参数包括最少测量点位数量M_p，最大测量点间距D_pp、测量点距离目标型面边界最小距离D_pe；

根据所述目标型面数模计算所述目标型面数模的最小二维包围盒；

根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长；

根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样，获取采样点集；

根据所述规划参数对所述采样点集进行优化，获取测量点位集合。

2.根据权利要求1所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长，包括以下步骤：

根据型面约束条件判定所述目标型面数模是否满足采样条件，若不满足则结束计算，否则进入下一步；

根据采样步长计算公式计算初始采样步长。

3.根据权利要求2所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述型面约束条件的表达式为：u_max-u_min≥2*D_pe且

V_max-v_min≥2*D_pe；初始采样步长计算公式满足：

；其中u_max，u_min，v_max，v_min为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的参数。

4.根据权利要求1所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样，获取采样点集，包括以下步骤：

根据所述最小二维包围盒的参数计算循环变量的初始值；

根据所述循环变量的初始值计算循环次数；

将所述循环次数代入判定公式，若判定公式不成立，则根据所述循环次数计算采样点参数，再根据所述采样点参数所述目标型面数模上计算采样点/>，并调节所述循环变量，重复根据所述循环变量计算循环次数；

若判定公式成立，则调节所述循环变量，重复根据所述循环变量计算循环次数，直至获取所有采样点；

将所有采样点归集，获取采样点集。

5.根据权利要求4所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述循环变量的初始值计算公式为i₀=u_min+D_pe，j₀=v_min+D_pe；所述循环变量的表达式为j_n+1=j_n+v_step，i_n+1=i_n+u_step，其中n表示循环次数，当n取0时表示循环变量的初始值，j_n表示U方向上循环次数为n的循环变量；i_n表示v方向上循环次数为n的循环变量；

循环次数的计算公式为；其中u_step表示u方向上的初始采样步长，v_step表示v方向上的初始采样步长；

判定公式的表达式为或者

；其中%表述取余数，&表示且运算，‖表示或运算，v_min和u_min为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的其中两个参数。

6.根据权利要求4所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述采样点参数计算公式的表达式为：，其中u_max，u_min，v_max，v_min为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的参数，u_step表示u方向上的初始采样步长，v_step表示v方向上的初始采样步长。

7.根据权利要求4所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述调节所述循环变量，包括以下步骤:

根据公式j_n+1=j_n+v_step调整并生成循环变量j_n+1，若j_n+1＞v_max，则执行下一步，否则根据循环变量j_n+1和i_n重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环；

令j₀=v_min+D_pe，i_n+1=i_n+u_step，若i_n+1＞u_max，则结束采样点计算，否则根据循环变量j_n+1和i_n+1重新计算循环次数；其中n为循环次数编号，其中0表示初始循环，u_max为最小二维包围盒B_2d(u_min，v_min，u_max，v_max)的参数的一个参数，j_n表示u方向上循环次数为n的循环变量，i_n表示v方向上循环次数为n的循环变量，其中u_step表示u方向上的初始采样步长，v_step表示v方向上的初始采样步长。

8.根据权利要求1所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述根据所述规划参数对所述采样点集进行优化，获取测量点位集合，包括以下步骤：

获取采样点集中任意一点/>，计算点/>与所述目标型面数模/>的距离，若距离大于0，则剔除点/>，否则保留，得到一次筛选采样点集/>；

从一次筛选采样点集中任选一点/>，计算点/>与所述目标型面数模/>每条边界的距离，若任一距离值小于测量点距离目标型面边界最小距离D_pe，则剔除点/>，否则保留点/>，得到二次筛选采样点集/>；

统计所述二次筛选采样点集中的采样点个数；

若所述采样点个数小于最少测量点位数量M_p，则对所述初始采样步长进行缩放，再重复采样，直至获取测量点位集合；

若所述采样点个数大于最少测量点位数量M_p，则对所述二次筛选采样点集进行重新排序，输出测量点位集合/>。

9.根据权利要求8所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述对所述初始采样步长进行缩放，包括以下步骤：

确定缩放因子t，其中所述缩放因子t的取值范围为1＜t＜1.5;

比较初始采样步长u_step和v_step；

若>/>,则/>=/>，/>=/>，否则/>=/>，/>=/>。

10.根据权利要求8所述的一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法，其特征在于，所述对所述二次筛选采样点集进行重新排序，包括以下步骤：

对二次筛选采样点集进行初始化排序，获取排序采样点集；

将所述二次筛选采样点集中的最后一个元素转移到排序采样点集中；

计算中每一个元素与/>中最后一个元素距离，并将距离最小的元素从/>中移除而加入到/>最后；

重复步骤计算中每一个元素与/>中最后一个元素距离，并将距离最小的元素从/>中移除而加入到/>最后，将所述二次筛选采样点集/>中的所有元素加入到排序采样点集中，输出测量点位集合/>。