CN118067270A - 电池主板故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种电池主板故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。采用本方法能够提高电池主板的故障检测准确率。
Description
技术领域
本申请涉及电池管理技术领域，特别是涉及一种电池主板故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
电池主板(Battery management Unit，BMU)，又称电池管理单元，用于评估所测量的电池电压、电流、温度等数据，当数据异常时，则对电池进行保护，发出降低电流、切断充放电通路等控制指令，防止电池过充过放电，延长电池使用寿命。
传统技术的电池主板故障检测方案，是通过采集主板温度和主板运行状态信息后，在相邻周期内对电池主板的温度进行做差比较，以判断是否存在故障。然而，由于正常情况下温度变化相对缓慢，仅以相邻周期的温度比较则无法准确检测故障，同时，在信号波动或其他一些特殊工况下，还可能造成故障误报。
可见，目前的电池主板故障方法，仍然存在着故障检测准确率较低的问题。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高故障检测准确率的电池主板故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
第一个方面，本申请提供了一种电池主板故障检测方法，所述电池主板故障检测方法包括：
获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；
基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；
基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
在其中一个实施例中，所述获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息包括：
依次获取预设数量个采样周期的至少一个采样位置的温度值；计算目标采样周期之前所有采样周期目标采样位置的温度平均值；
基于所述温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗。
在其中一个实施例中，所述基于所述温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗包括：
基于所述温度平均值，确定目标采样周期目标采样位置的温度值是否存在异常；
若存在异常，则将目标采样周期目标采样位置的温度值替换为所述温度平均值。
在其中一个实施例中，基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值包括：
若目标采样周期为首个采样周期，则将目标采样周期目标采样位置的温度值作为目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；
若目标采样周期为非首个采样周期，则基于目标采样周期的上一采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，计算目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值。
在其中一个实施例中，所述基于目标采样周期的上一采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，计算目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值包括：
基于上一采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的最小温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最小温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的平均温度值。
在其中一个实施例中，基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态包括：
根据目标采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的最小温度值，确定第一温度差值；
根据目标采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定第二温度差值；
根据所述第一温度差值、第二温度差值以及预设阈值，判断所述电池主板的故障状态。
在其中一个实施例中，所述根据所述第一温度差值、第二温度差值以及预设温度阈值，判断所述电池主板的故障状态包括：所述预设阈值包括，第一阈值以及第二阈值；
若所述第一温度差值大于等于第一阈值和/或第二温度差值大于等于第二阈值，则所述电池主板温度存在故障。
在其中一个实施例中，所述电池主板故障检测方法还包括：
获取当前采样周期的电池主板温度信息；
删除预设数量个采样周期的电池主板温度信息中首个采样周期的电池主板温度信息，更新预设数量个采样周期的电池主板温度信息。
第二个方面，本申请提供了一种电池主板故障检测装置，所述装置包括：
获取模块，用于获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；
确定模块，用于基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；
判断模块，用于基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
第三个方面，本申请提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述方法的步骤。
第四个方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述方法的步骤。
上述电池主板故障检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态，从而根据多个采样周期内的温度值，分别从最大温度值、最小温度值和平均温度值进行多角度判断，可以减少因短时间信号波动导致的故障误判，以及因短时间内主板温度增速缓慢导致的故障漏判，达到提高故障检测准确率的效果。
附图说明
图1为一个实施例中电池主板故障检测方法的应用环境图；
图2为一个实施例中电池主板故障检测装置的结构框图；
图3为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种电池主板故障检测方法，包括以下步骤：
步骤S100，获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息。
其中，所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值。可以理解的是，在电池主板上可以是设置至少一个温度传感器，用于采集电池主板上不同位置的温度。进一步的，电池主板温度信息包括多个采样位置的温度值。
采样周期以及温度传感器的数量可以是根据实际需求进行设置。示例性的，可以是根据先验的电池主板故障时温度的变化情况进行确定，还可以是根据计算数据量的限制要求进行确定，还可以其他基于实际需求的设置方式，本实施例对此不作限定。
步骤S200，基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值。
其中，所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任意一个采样位置。所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任意一个采样周期。
可以理解的是，本实施例中的目标采样周期和目标采样位置可以是当前处理的采样周期和采样位置。
最大温度值、最小温度值和平均温度值，可以是基于全部或部分采样周期中，对应于目标采样位置的电池主板温度信息进行确定。进一步的，确定目标采样周期的目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值，可以是基于目标采样周期、以及在所述目标采样周期之前的采样周期中，目标采样位置的一至多个温度值进行比较或计算确定。
可以理解的是，当目标采样周期，为预设数量个采样周期中的首个采样周期，或中间采样周期，则目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值可以是临时值；当目标采样周期为最后一个采样周期，则最大温度值、最小温度值和平均温度值即为当前所有采样周期目标采样位置的最终值。
步骤S300，基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
其中，基于最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样位置的温度值进行判断，可以是基于预设规则进行判断。
在一个示例中，可以是针对最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样位置的温度值分别赋予预先确定的权重值，并基于权重值进行计算，并基于计算结果与目标阈值的关系，确定电池主板的故障状态。
在另一个示例中，为了避免因电池主板故障时温度速度增长缓慢而漏检的问题，可以是基于目标采样周期下目标采样位置的最大温度值和最小温度值的比较结果，判断是否存在故障；为了避免因信号不稳定或其他温度值测量不准确结果，所导致的误报情形，可以是基于平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值的比较结果，判断是否存在故障。
还可以是采取其他包含上述示例，或上述示例之外的，且结合最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，而进行判断的故障判断方式，本实施例对此不作限定。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态，从而根据多个采样周期内的温度值，分别从最大温度值、最小温度值和平均温度值进行多角度判断，可以减少因短时间信号波动导致的故障误判，以及因短时间内主板温度增速缓慢导致的故障漏判，达到提高故障检测准确率的效果。
在其中一个实施例中，所述获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息包括：
依次获取预设数量个采样周期的至少一个采样位置的温度值；计算目标采样周期之前所有采样周期目标采样位置的温度平均值；
基于所述温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗。
其中，依次获取预设数量个采样周期的至少一个采样位置的温度值，可以是基于温度传感器的采样周期，依次获取不同时刻下的至少一个采样位置的温度值。
在本实施例中，目标采样周期可以是当前获取到的最近一个采样周期。计算目标采样周期之前所有采样周期目标采样位置的温度平均值，可以是基于目标采样周期之前、在预设数量个采样周期内累计获取到的、目标采样位置的温度值，进行平均值的计算。
基于温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗，在本实施中，需要进行数据清洗的温度值，可以是与温度平均值存在较大差值、且明显超出正常情况下电池主板故障温度的离群温度值。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过对目标采样位置的温度值进行数据清洗，可以避免因信号波动或温度传感器自身故障等数据异常情况导致的故障误报，从而达到提高电池主板故障检测准确率的效果。
在其中一个实施例中，所述基于所述温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗包括：
基于所述温度平均值，确定目标采样周期目标采样位置的温度值是否存在异常；
若存在异常，则将目标采样周期目标采样位置的温度值替换为所述温度平均值。
其中，基于温度平均值确定目标采样位置的温度值是否存在异常，可以是基于目标采样位置的温度值与温度平均值的差值确定，示例性的，当两者的差值超出预设阈值时，则代表目标采样周期目标采样位置的温度值存在异常。
若存在异常，则将目标采样周期目标采样位置的温度值替换为所述温度平均值。进一步的，在目标采样周期之后的采样周期中，可以将后续采样周期的目标采样位置的温度值一律替换为本次所计算得到的温度平均值，并发送传感器故障信息，以通知操作人员或用户进行维修。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过将目标采样周期目标采样位置的温度值替换为所述温度平均值，可以避免因信号波动或温度传感器自身故障等的数据异常情况导致的故障误报，并进一步对目标采样位置进行传感器故障提示，从而达到提高电池主板故障检测准确率和用户安全性的效果。
在其中一个实施例中，基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值包括：
若目标采样周期为首个采样周期，则将目标采样周期目标采样位置的温度值作为目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；
若目标采样周期为非首个采样周期，则基于目标采样周期的上一采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，计算目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值。
其中，若目标采样周期为首个采样周期，则暂时无法根据其他采样周期的温度值进行比较，得到最大温度值和最小温度值，则需要对最大温度值、最小温度值和平均温度值进行定义，并以首个采样周期的温度值作为临时的最大温度值、最小温度值和平均温度值。
若目标采样周期为非首个采样周期，那么则可以基于目标采样周期，以及在目标采样周期之前确定的最大温度值、最小温度值和平均温度值，对目标采样周期下，目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值进行计算更新。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过两两采样周期下进行最大温度值、最小温度值和平均温度值更新，可以在运行内存优先的情况下完成对最大值、最小值和平均值的结果计算，达到减少运行内存占用空间、节省计算成本的效果。
在其中一个实施例中，所述基于目标采样周期的上一采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，计算目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值包括：
基于上一采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的最小温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最小温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的平均温度值。
其中，目标采样位置的最大温度值，可以是基于其在上一采样周期的最大温度值与目标采样周期中温度值进行比较得到。
目标采样位置的最小温度值，可以是基于其在上一采样周期的最小温度值与目标采样周期中温度值进行比较得到。
目标采样位置的平均温度值，可以是基于其在上一采样周期的平均温度值与目标采样周期中温度值进行平均值计算得到。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过两两采样周期下进行最大温度值、最小温度值和平均温度值更新，可以在运行内存优先的情况下完成对最大值、最小值和平均值的结果计算，进一步，当任何一个采样周期的最大值、最小值和平均值可以直接得到主板故障的结论，还可以进行结果的直接输出，减少后续重复计算的计算量，达到节省计算时间和计算成本的效果。
在其中一个实施例中，基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态包括：
根据目标采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的最小温度值，确定第一温度差值；
根据目标采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定第二温度差值；
根据所述第一温度差值、第二温度差值以及预设阈值，判断所述电池主板的故障状态。
其中，目标采样周期目标采样位置的最大温度值和最小温度值，其第一温度差值代表从首个采样周期到目标采样周期的时间区间内，电池主板温度变化的最大温度值和最小温度值；平均温度值代表从首个采样周期到目标采样周期的时间区间内，电池主板的平均温度值。
计算最大温度值与最小温度值的第一温度差值，可以计算电池主板温度在目标采样周期经历的时间内的总体温度变化情况；计算平均温度值和目标采样周期温度值的第二温度差值，可以计算目标采样周期下目标采样位置的温度偏离值。基于第一温度差值、第二温度差值和预设阈值，对电池主板的故障状态进行判断，可以实现分别从短期和长期进行电池主板故障状态的判断，从而可以达到提高电池主板故障检测准确率的效果。
在其中一个实施例中，所述根据所述第一温度差值、第二温度差值以及预设温度阈值，判断所述电池主板的故障状态包括：所述预设阈值包括，第一阈值以及第二阈值；
若所述第一温度差值大于等于第一阈值和/或第二温度差值大于等于第二阈值，则所述电池主板温度存在故障。
其中，当第一温度差值大于等于第一阈值，即最大温度值与最小温度值之差大于第一阈值，则代表总体温度变化超出允许范围，电池主板出现故障的可能性较高；当第二温度差值大于等于第二阈值，即平均温度值与目标采样周期目标采样位置的温度值之差大于第二阈值，则代表目标采样周期下目标采样位置的温度偏离值超出允许范围，电池主板出现故障的可能性较高。
在本实施例中，第一温度差值大于等于第一阈值，和第二温度差值大于等于第二阈值，可以是作为同时满足的条件以判断电池主板温度存在故障，也可以是作为择一满足的条件以判断电池主板温度存在故障，上述选择可以是基于操作人员对电池主板故障检测严格程度的实际需求的设置。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过在第一温度差值大于等于第一阈值和/或第二温度差值大于等于第二阈值的情况下判断电池主板温度存在故障，可以实现基于短期或长期周期下对电池温度故障检测的判断。
在其中一个实施例中，所述电池主板故障检测方法还包括：
获取当前采样周期的电池主板温度信息；
删除预设数量个采样周期的电池主板温度信息中首个采样周期的电池主板温度信息，更新预设数量个采样周期的电池主板温度信息。
其中，获取当前采样周期的电池主板温度信息，当前采样周期可以是随时间的变化，电池主板上温度传感器的新的采样周期。
删除预设数量个采样周期的电池主板温度信息中首个采样周期的电池主板温度信息，可以是在预设数量的采样周期中，移除最早一个采样周期的温度信息。
更新预设数量个采样周期的电池主板温度信息并将当前采样周期的电池主板温度信息进行写入，得到更新后的预设数量个采样周期的电池主板温度信息。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过删除首个采样周期的电池主板温度信息，并基于当前采样周期的电池主板温度信息进行更新，可以实现电池主板故障温度的实时检测。
为了更清楚地阐述本申请的技术方案，本申请还提供了一个详细实施例。在一个实施例中，提供了一种电池主板故障检测方法，包括如下步骤：
持续收集多个采样周期内电池主板温度信息，写入至数据库中。其中，定义TN/M为第N个采样周期第M个温度传感器的温度值，其中，每个温度传感器分别设置于电池主板的不同位置，因此也可以理解为，第N个采样周期第M采样位置的温度值。
以电池主板上的温度传感器的个数为10个，采样周期的预设数量为6个，且6个采样周期的用时为3秒为例：
在收集多个采样周期的电池主板温度信息的过程中，对每个采样周期的电池主板温度信息进行数据清洗：将首个采样周期的10个温度值作为相应位置的最新平均温度值，当下一采样周期的温度信息上传后，将该采样周期作为当前采样周期，并把上个采样周期求的平均值与当前采样周期温度值重新计算一个最新平均温度值；基于最新平均温度值与当前采样周期的温度值的差值，判断是否达到异常温度设定的阈值，若条件成立就把对应采样位置的温度点屏蔽；在本实施例中，温度点屏蔽可以是以最新平均温度值对当前及后续采样周期的对应采样位置的温度值进行替换。在首个采样周期计算时，把温度传感器实时上传获取所有的有效数值作为判断BMU板温故障的初始有效值，电池管理系统经过公式转换得出温度值，把相同采样周期的所有采样位置的温度值，记为该采样周期的电池主板温度信息，写作TN，其中，T表示电池主板温度信息，N表示采样周期编号，代表其为第N个周期的电池主板温度信息。
判断温度数据有效后，电池管理系统接收10个温度传感器的值，在第3秒后开始计入温度值：
第1采样周期T1：T1/1、T1/2、T1/3、T1/4……T1/9、T1/10；
第2采样周期T2：T2/1、T2/2、T2/3、T2/4……T2/9、T2/10；
第3采样周期T3：T3/1、T3/2、T3/3、T3/4……T3/9、T3/10；
第4采样周期T4：T4/1、T4/2、T4/3、T4/4……T4/9、T4/10；
第5采样周期T5：T5/1、T5/2、T5/3、T5/4……T5/9、T5/10；
第6采样周期T6：T6/1、T6/2、T6/3、T6/4……T6/9、T6/10；
……
第N采样周期TN：TN/1、TN/2、TN/3、TN/4……TN/9、TN/10；
可以理解的是，随着时间的推移，在温度传感器的持续采样过程中，实质的采样周期数量可以是远大于6个，在本实施例中，对于电池主板温度故障的判断，则是选择当前最近的6个采样周期写入数据库中，进行温度故障判断。
将上述采集的电池主板温度信息放在数据库中，在本实施例中，软件的采样周期时长为100ms，每个采样周期从采集到上传至数据库需要500ms的时长，且以3S内的温度信息是否触发故障作为判断条件，因此设计6个周期为一个数据库，数据库中一次有且只能存放6个周期的温度数据，使得当数据库中存满6个周期的数据时正好需经历3S。
数据库第一次存满时，数据库中已经有了前六个周期的电池主板温度信息，此时把第1采样周期的电池主板温度信息的值当作每个采样位置的临时最大温度值和临时最小温度值，并及时计算平均温度值，依次再与数据库中相同位置的第2至第6采样周期的温度值，进行两两比较。
在每一个采样周期的比较过后，得到对应于该采样周期的最大温度值、最小温度值和平均温度值，将最大温度值和最小温度值做差，得到第一温度差值，将第一温度差值与第一阈值进行比较，判断是否满足电池主板故障的触发条件，在本实施例中，第一阈值为5℃；将平均温度值和当前温度值做差，得到第二温度差值，将第二温度差值与第二阈值进行比较，判断是否满足电池主板故障的触发条件，在本实施例中，第二阈值为5℃；因此有：
Δ1＝(T最大–T最小≥5或T平均–T当前≥5)；
Δ2＝(T最大–T最小≥5或T平均–T当前≥5)；
Δ3＝(T最大–T最小≥5或T平均–T当前≥5)；
……
ΔN-1＝(T最大–T最小≥5或T平均–T当前≥5)；
其中，ΔN代表第N+1采样周期以及第N+1采样周期之前的目标位置中，最大温度值与最小温度值差值的故障判断结果，或平均温度值与当前温度值差值的故障判断结果。在本实施例中，第一温度差值和第二温度差值中有一个大于等于5℃，即视为电池主板温度存在故障，并将存在温度故障的目标采样位置上报电池主板温度的故障判断结果。
当第7采样周期T7的温度值上传时，将数据库中的第1采样周期T1的数据删除，把第7采样周期的电池主板温度信息补充进数据库中，组成一个新的数据库，再按照上述步骤进行故障判断。
本实施例提供的一种电池主板故障检测方法，通过将多个采样周期的数值先缓存到数据库中，再依次计算库中的所有温度值，用做差的结果来判断是否触发故障，可以有效提高电池主板故障检测的准确性；通过对采样周期内异常的温度值，通过数据清洗把无效的温度点屏蔽，保证用作电池主板故障检测的温度都是真实有效的，提高了诊断结果的可靠性；通过对所有电池主板的采样位置进行定位，有效提高温升故障诊断的准确性，在输出电池主板故障时，同步上报出现电池主板故障的采样位置，有助于后期的排查。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的电池主板故障检测方法的电池主板故障检测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个电池主板故障检测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于电池主板故障检测方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种电池主板故障检测装置，包括：获取模块100、确定模块200和判断模块300，其中：
获取模块100，用于获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；
确定模块200，用于基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；
判断模块300，用于基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
在其中一个实施例中，所述获取模块100还用于：
依次获取预设数量个采样周期的至少一个采样位置的温度值；计算目标采样周期之前所有采样周期目标采样位置的温度平均值；
基于所述温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗。
在其中一个实施例中，所述获取模块100还用于：
基于所述温度平均值，确定目标采样周期目标采样位置的温度值是否存在异常；
若存在异常，则将目标采样周期目标采样位置的温度值替换为所述温度平均值。
在其中一个实施例中，所述确定模块200还用于：
若目标采样周期为首个采样周期，则将目标采样周期目标采样位置的温度值作为目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；
若目标采样周期为非首个采样周期，则基于目标采样周期的上一采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，计算目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值。
在其中一个实施例中，所述确定模块200还用于：
基于上一采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的最小温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最小温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的平均温度值。
在其中一个实施例中，所述判断模块300还用于：
根据目标采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的最小温度值，确定第一温度差值；
根据目标采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定第二温度差值；
根据所述第一温度差值、第二温度差值以及预设阈值，判断所述电池主板的故障状态。
在其中一个实施例中，所述判断模块300还用于：所述预设阈值包括，第一阈值以及第二阈值；
若所述第一温度差值大于等于第一阈值和/或第二温度差值大于等于第二阈值，则所述电池主板温度存在故障。
在其中一个实施例中，所述电池主板故障检测方法还包括：
获取当前采样周期的电池主板温度信息；
删除预设数量个采样周期的电池主板温度信息中首个采样周期的电池主板温度信息，更新预设数量个采样周期的电池主板温度信息。
上述电池主板故障检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图3所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种电池主板故障检测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述任一实施例的电池主板故障检测方法：
获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；
基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；
基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施例的电池主板故障检测方法：
获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；
基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；
基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
需要说明的是，本申请所涉及的用户信息(包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等)和数据(包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等)，均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (11)
1.一种电池主板故障检测方法，其特征在于，所述电池主板故障检测方法包括：
获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；
基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；
基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
2.根据权利要求1所述的电池主板故障检测方法，其特征在于，所述获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息包括：
依次获取预设数量个采样周期的至少一个采样位置的温度值；计算目标采样周期之前所有采样周期目标采样位置的温度平均值；
基于所述温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗。
3.根据权利要求2所述的电池主板故障检测方法，其特征在于，所述基于所述温度平均值，对目标采样周期目标采样位置的所述温度值进行数据清洗包括：
基于所述温度平均值，确定目标采样周期目标采样位置的温度值是否存在异常；
若存在异常，则将目标采样周期目标采样位置的温度值替换为所述温度平均值。
4.根据权利要求1所述的电池主板故障检测方法，其特征在于，基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值包括：
若目标采样周期为首个采样周期，则将目标采样周期目标采样位置的温度值作为目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；
若目标采样周期为非首个采样周期，则基于目标采样周期的上一采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，计算目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值。
5.根据权利要求4所述的电池主板故障检测方法，其特征在于，所述基于目标采样周期的上一采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，计算目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值包括：
基于上一采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的最小温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最小温度值；
基于上一采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的平均温度值。
6.根据权利要求1所述的电池主板故障检测方法，其特征在于，基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态包括：
根据目标采样周期目标采样位置的最大温度值以及目标采样周期目标采样位置的最小温度值，确定第一温度差值；
根据目标采样周期目标采样位置的平均温度值以及目标采样周期目标采样位置的温度值，确定第二温度差值；
根据所述第一温度差值、第二温度差值以及预设阈值，判断所述电池主板的故障状态。
7.根据权利要求6所述的电池主板故障检测方法，其特征在于，所述根据所述第一温度差值、第二温度差值以及预设温度阈值，判断所述电池主板的故障状态包括：所述预设阈值包括，第一阈值以及第二阈值；
若所述第一温度差值大于等于第一阈值和/或第二温度差值大于等于第二阈值，则所述电池主板温度存在故障。
8.根据权利要求1所述的电池主板故障检测方法，其特征在于，所述电池主板故障检测方法还包括：
获取当前采样周期的电池主板温度信息；
删除预设数量个采样周期的电池主板温度信息中首个采样周期的电池主板温度信息，更新预设数量个采样周期的电池主板温度信息。
9.一种电池主板故障检测装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取预设数量个采样周期的电池主板温度信息；所述电池主板温度信息包括至少一个采样位置的温度值；
确定模块，用于基于每个采样周期每个采样位置的温度值，确定目标采样周期目标采样位置的最大温度值、最小温度值和平均温度值；所述目标采样位置为至少一个采样位置中的任一采样位置；所述目标采样周期为预设数量个采样周期中的任一采样周期；
判断模块，用于基于目标采样周期目标采样位置的所述最大温度值、最小温度值、平均温度值和目标采样周期目标采样位置的温度值，判断所述电池主板的故障状态。
10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至权利要求8中任一项所述的方法的步骤。
11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至权利要求8中任一项所述的方法的步骤。
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