CN117877566A - 应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及固态硬盘测试技术领域，尤其是涉及应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机及其测试方法，包括服务器终端、客户测试终端、网络系统和测试仓，服务器终端通过网络系统与客户测试终端进行数据交互；通过将人工工作站1、人工工作站2、人工工作站3、人工工作站4、人工工作站5所对应的测试软件以不同测试项目的方式植入到每台客户测试终端内，并结合RDT和BIT测试环境而统一设置PWM温控系统，所有测试通过服务器进行操控，从而达到只需要一个工作站，一个岗位，便能够一站式完成传统的五个人工工作站的测试任务，并且仅通过一个工业触控屏进行控制，达到一键测试，相比于传统测试五个工作站需要周转五次来讲，其测试效率呈指数型提高。

Description

应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机及其测试方法

本申请要求2022年12月07日提交的中国发明专利申请【CN202211560754.3】、名称为"一种自动化SSD测试方法"的优先权，该优先权发明专利申请以引用方式全文并入。

技术领域

本发明涉及固态硬盘测试技术领域，尤其是涉及应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机及其测试方法。

背景技术

固态硬盘在生产制成中，一般涉及SMT→K1→RDT→K2→BIT→K3→组包，即人工工作站1、人工工作站2、人工工作站3、人工工作站4、人工工作站5；其中，SMT为表面组装技术，RDT测试是为了加速薄弱的NAND闪存块的故障，以便仅将最坚固的闪存保留在设备上，从而最大限度地提高可靠的性能和耐用性。RDT测试的确能屏蔽出坏块和不稳定的块；BIT测试是一种用于检测固态硬盘在实际使用中可能出现的问题的测试方法。这种测试方法主要是通过模拟硬盘在长时间运行和高温环境下的工作状态，以检测其是否存在潜在的故障；在进行SMT、RDT和BIT后，均需要对固态硬盘进行开卡测试（K1、K2、K3），主要为了激活固态硬盘以及修复固态硬盘的故障；

现有技术中，K1、RDT、K2、BIT、K3测试均是分开来单独进行，其测试设备不同，即固态硬盘测试设备都是分立式，多少计算机则需要多少 KVM 切换器和多台显示器，每台计算机都要去切换动作繁琐，例如现有技术主要通过RDT炉和BIT炉来对固态硬盘进行批量测试，而开卡则更多地通过人工和对应的开卡设备，来将固态硬盘连接到带有对应测试软件的电脑进行测试，因此，上述五个测试步骤需要将固态硬盘周转五次来进行操作，工作人员需要对固态硬盘进行至少拔插五次，其工作量庞大，人员需求高，整个流程繁琐，无法对固态硬盘的故障检修情况进行统一报告，导致固态硬盘返工处理流程的繁琐度提高，并且人为操作会导致误判度提高，出错率提高，测试机功能单一占地多，对固态硬盘的检测效率打不高更高的突破；传统RDT炉和BIT炉分离，多次打开RDT炉和BIT炉的门将导致热气的流失大，不仅导致工作人员长时间在高温环境中工作，且耗电高、效率低；对此，有必要提出一种新的技术方案。

发明内容

本发明为克服上述情况不足，旨在提供一种能解决上述问题的技术方案。

一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，包括服务器终端、客户测试终端、网络系统和测试仓，服务器终端通过网络系统与客户测试终端进行数据交互；

服务器终端包括服务器主机、工业触控屏和PWM温控系统，在服务器主机内植入有对固态硬盘的测试进行监控的一站式全自动测试程序模块，工业触控屏和PWM温控系统分别与服务器主机进行串口通信，操作员通过工业触控屏与服务器主机进行信息交互，PWM温控系统作用于测试仓内；

客户测试终端包括与服务器主机进行网络数据交互的N台客户终端计算机，每台客户终端计算机内均植入有用于测试固态硬盘的测试软件，测试软件根据固态硬盘的不同测试需求设置有可灵活调整的多个测试项目，每台客户终端计算机均连接有MCU控制板，MCU控制板上设置有至少一个PCIE控制芯片，PCIE控制芯片连接有M个测试接口，测试接口对接于测试仓内，用于连接固态硬盘，MCU控制板通过PCIE控制芯片与客户终端计算机连接。

优选地，服务器主机根据一站式全自动测试程序模块接收工业触控屏产生的控制指令信号，从而产生对应的测试指令信号，客户终端计算机根据测试指令信号选择对应的测试项目，然后根据测试项目对测试接口上连接的固态硬盘进行测试；PWM温控系统通过测试指令信号来对测试仓内的温度进行调整。

优选地，客户终端计算机对固态硬盘在测试项目中的测试情况进行反馈，服务器主机根据一站式全自动测试程序模块接收反馈的测试情况，并根据测试情况自动生成测试报表。

优选地，在MCU控制板上根据M个测试接口设置有M个指示灯组，客户终端计算机根据每个测试接口的测试情况来控制对应的指示灯组，使测试情况根据固态硬盘测试的合格或者不合格情况发出对应颜色或者对应程度的指示。

优选地，网络系统包括路由器和至少一台交换机，服务器通过路由器连接交换机，再通过交换机来分别与N台客户终端计算机进行连接。

优选地，交换机设置有两个，客户终端计算机为42台，MCU控制板上设置有两个PCIE控制芯片，每个PCIE控制芯片连接有4个测试接口。

优选地，测试接口为PCIE M2接口或者SATA接口。

优选地，PWM温控系统包括PWM控制器、温控屏、加热模块、散热模块和温度检测模块，服务器主机、温控屏、加热模块、散热模块和温度检测模块分别与PWM控制器电连接，加热模块、散热模块和温度检测模块均作用于测试仓内，PWM控制器植入有用于调整测试仓内温度的温控程序模块；

其中，温控程序模块根据温控屏录入有工作温度值和待机温度值，PWM控制器接收到测试指令信号后，温控程序模块据温度检测模块获取测试仓内的当前温度值，并通过工作温度值或待机温度值来操控加热模块和散热模块来对测试仓内的当前温度值进行调整。

优选地，服务器主机内还植入有预约程序模块，一站式全自动测试程序模块产生对应的测试指令信号后，通过预约程序模块定时将测试指令信号发送给客户终端计算机。

优选地，服务器主机通过外网还连接有远程终端。

一种一站式全自动化测试机的测试方法，应用于上述所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，包括以下步骤：

S1，构建固态硬盘自动化测试系统，自动化测试系统由PWM温控制系统、MCU控制板、服务器主机、客户终端计算机、网络系统和测试软件组成；

S2，构建PWM温控制系统，通过温度传感器把测试环境温度控制在70度正负2%误差，保证每片固态硬盘在特定环境下运行；

S3，MCU控制板设计，制作特定结构的MCU控制板，其中MCU控制板选用8个固态硬盘独立界面由二颗PCIE控制芯片采用4条专用PCIE线连接客户终端计算机和SATA口连接客户终端计算机进行信息通信，独立控制供电，每个插口有2个红、绿LED指示灯，有效地把每个测试点的测试情况，测试良品，不良品指示出来；

S4，将服务器主机和客户终端计算机进行对应连接控制，由1台服务器主机控制42台客户终端计算机，1台客户终端计算机控制2片MCU控制板，并使得1台客户终端计算机测试16个固态硬盘；

S5，在服务器主机和客户终端计算机分别安装对应测试软件，服务器主机测试软件管理42台客户终端计算机能精准发送测试指令，收集测试信息，在服务器主机软件上一键同步42台客户的测试软件和测试方案，同时也能实时获取客户端的测试信息，做到一键同步测试。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

通过在服务器终端和客户测试终端的基础上搭建网络系统，基于网络系统使一台服务器能够同时控制多个客户测试终端，通过将人工工作站1、人工工作站2、人工工作站3、人工工作站4、人工工作站5所对应的测试软件以不同测试项目的方式植入到每台客户测试终端内，并结合RDT和BIT测试环境而统一设置PWM温控系统，所有测试通过服务器进行操控，从而达到只需要一个工作站，一个岗位，便能够一站式完成传统的五个人工工作站的测试任务，并且仅通过一个工业触控屏进行控制，达到一键测试，相比于传统测试五个工作站需要周转五次来讲，其测试效率呈指数型提高；

通过本发明技术手段，能够大大降低设备占据面积，设备少，人员少，环节少，产能扩展能力强，降低人工成本，降低人员培训成本，一个岗位，APP操作简单，开卡软件方案一键更新，一键测试。全程测试高温不开门，相比传统RDT炉和BIT炉来讲，其热量能够最大程度保存，从而降低热量的散失所导致的能耗提高问题。自动生产报表，记录批次FLASH，RDT及BIT记录，开卡软件方便管理，一次性完成。板卡从SMT只需插入一次，全程自动测试，拔出可以进入包装线。此外，还能够实现弹性测试，根据调整不同测试项目来达到不同的测试流程，一台工业触控屏可实时监控42台客户终端计算机，可对每台客户终端计算机重启，关机及对客户终端计算机定时开机及测试，无需传统KVM切换器。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的模块连接框图；

图2是本发明服务器终端与客户测试终端的模块连接框图；

图3是本发明客户测试终端的模块连接框图；

图4是现有技术制作固态硬盘的流程框图；

图5是本发明制作固态硬盘的流程框图；

图6是本发明工业触控屏中APP菜单界面的示意图；

图7是本发明工业触控屏中APP工作过程界面的示意图；

图8是本发明工业触控屏中APP工作结果界面的示意图；

图9是本发明中PWM温控系统的模块连接框图。

图中的附图标记及名称如下：

服务器终端10、服务器主机11、工业触控屏12、客户测试终端20、客户终端计算机21、MCU控制板22、PCIE控制芯片23、测试接口25、指示灯组26、网络系统30、路由器31、交换机32、测试仓40、PWM温控系统50、PWM控制器51、温控屏52、加热模块53、散热模块54、温度检测模块55、远程终端60。

具体实施方式

下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-8，本发明实施例中，一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，包括服务器终端10、客户测试终端20、网络系统30和测试仓40，服务器终端10通过网络系统30与客户测试终端20进行数据交互；

服务器终端10包括服务器主机11、工业触控屏12和PWM温控系统50，在服务器主机11内植入有对固态硬盘的测试进行监控的一站式全自动测试程序模块，工业触控屏12和PWM温控系统50分别与服务器主机11进行串口通信，操作员通过工业触控屏12与服务器主机11进行信息交互，PWM温控系统50作用于测试仓40内；

客户测试终端20包括与服务器主机11进行网络数据交互的N台客户终端计算机21，每台客户终端计算机21内均植入有用于测试固态硬盘的测试软件，测试软件根据固态硬盘的不同测试需求设置有可灵活调整的多个测试项目，每台客户终端计算机21均连接有两块MCU控制板22，MCU控制板22上设置有至少一个PCIE控制芯片23，PCIE控制芯片23连接有M个测试接口25，测试接口25对接于测试仓40内，用于连接固态硬盘，MCU控制板22通过PCIE控制芯片23与客户终端计算机21连接。

多个测试项目主要包括RDT测试、BIT测试和开卡测试；

有关SSD产品的RDT测试介绍：

固态硬盘的RDT测试（Reliability Demonstration Test）主要目的是为了加速薄弱的NAND闪存块的故障，以便仅将最坚固的闪存保留在设备上，从而最大限度地提高可靠的性能和耐用性。RDT测试的确能屏蔽出坏块和不稳定的块。

在RDT测试中，会对驱动器施加100%的热应力测试，当达到ECC校正阈值时，更多的弱块可以标记为“无法使用”或“无法校正”。此外，RDT测试NAND FLASH测试、也同时对整成品元件器确保在高温下正常运行等。

1.NAND FLASH测试：检查闪存性能。通过NAND FLASH测试，RDT能够检查硬盘中的闪存是否能够正常擦写和读取数据。任何NAND FLASH测试失败都可能影响硬盘的数据存储能力。

2. TSB测试：验证轨道、扇区、块。这项测试涉及硬盘的物理存储结构，包括数据轨道、扇区和块。它的目标是验证硬盘是否能够准确寻址和存储数据。

3. 筛块：保障硬盘的稳定可靠。筛块是RDT测试中的关键策略。它是在NAND FLASH测试过程中执行的，旨在筛选出在测试过程中返回读写擦失败的块。一旦块被标记为坏块，硬盘会避免将数据存储在这些块中。这有助于确保硬盘在用户使用过程中的稳定性和可靠性。

总的来说，RDT测试对于保证固态硬盘的可靠性和耐用性至关重要。

有关SSD产品的BIT测试介绍：

固态硬盘的BIT（Burn-In Test）测试是一种用于检测固态硬盘在实际使用中可能出现问题的测试方法。这种测试方法主要是通过模拟硬盘在长时间运行和高温环境下的工作状态，以检测其是否存在潜在故障。

以下是一种常见的固态硬盘BIT测试流程：

1.BIT测试：通过软件设置每次写入磁盘的10%再校验，批量生产10圈为一次，可靠性测试时间为72小时。这一步骤主要检测固态硬盘在正常工作负荷下是否能够正常运行，并保持性能稳定。

2.高温老化：将通过BIT测试的固态硬盘样品放入老化柜中，设置温度为70℃，进行高温老化测试。这一步骤旨在模拟硬盘在高温环境下的工作状态，检测其在极端条件下的表现，确保硬盘在高温环境中不会出现性能问题。

3.坏块检测：完成高温老化后，使用HD Tune Pro进行坏块检测。结果显示全绿，说明在持续写和读时高温环境中并没有导致固态硬盘产生坏块。坏块检测是为了确保硬盘在老化测试过程中，存储单元没有受到破坏，仍然能够正常读写数据。

4.无故障使用时间计算：根据测试数据，可以计算出固态硬盘大概的无故障使用时间。例如：在BIT测试中共进行了每次写入量是次循环，按照其931.5GB的实际可用容量，此次测试共写入82577GB数据，若按一个普通办公用户10GB/天的写入量计算，相当于可以使用22年而不出错。

值得注意的是，不同的固态硬盘可能需要不同的测试模式，具体的测试流程可能会根据硬盘的具体型号和性能进行调整。

通过在服务器终端10和客户测试终端20的基础上搭建网络系统30，网络系统30包括路由器31和至少一台交换机32，服务器通过路由器31连接交换机32，再通过交换机32来分别与N台客户终端计算机21进行连接；服务器主机11还可通过外网还连接有远程终端60，从而能够实时远程控制，基于网络系统30使一台服务器能够同时控制多个客户测试终端20，通过将K1→RDT→K2→BIT→K3所对应的测试软件以不同测试项目的方式植入到每台客户测试终端20内，测试软件主要由SMI慧荣、Realtek瑞昱、YEESTOR得一微和Maxio联芸等主流SSD固态硬盘主控方案供应商，通过客户终端计算机21或者服务器主机11内部导入对应的算法来对这些测试软件进行灵活调用，当操作工业触摸屏12一键运行时，内部算法便会调用不同方案商的测试软件，例如调用对应开卡软件进行K1开卡，K1开卡完成后再调用对应的测试软件进行RDT测试；并结合RDT和BIT测试环境而统一设置PWM温控系统50，所有测试通过服务器进行操控，从而达到只需要一个工作站，一个岗位，便能够一站式完成传统的K1→RDT→K2→BIT→K3测试流程；

因此通过本发明技术手段，能够大大降低设备占据面积，设备少，人员少，环节少，产能扩展能力强，降低人工成本，降低人员培训成本，一个岗位，APP操作简单，开卡软件方案一键更新，一键测试。全程测试高温不开门，相比传统RDT炉和BIT炉来讲，其热量能够最大程度保存，从而降低热量的散失所导致的能耗提高问题。自动生产报表，记录批次FLASH，RDT及BIT记录，开卡软件方便管理，一次性完成。板卡从SMT只需插入一次，全程自动测试，拔出可以进入包装线。此外，还能够实现弹性测试，根据调整不同测试项目来达到不同的测试流程，一台工业触控屏12可实时监控多台客户终端计算机21，可对每台客户终端计算机21重启，关机及对客户终端计算机21定时开机及测试，无需传统KVM切换器。

请参阅图2-3在本实施例中，服务器主机11根据一站式全自动测试程序模块接收工业触控屏12产生的控制指令信号，从而产生对应的测试指令信号，客户终端计算机21根据测试指令信号选择对应的测试项目，然后根据测试项目对测试接口25上连接的固态硬盘进行测试；PWM温控系统50通过测试指令信号来对测试仓40内的温度进行调整。即操作人员先将待测试的固态硬盘插入到对应的客户终端计算机21的测试接口25上，然后通过工业触控屏12来控制指令信号，工业触控屏12根据一站式全自动测试程序模块来装在有APP界面，如图6-8所述，其包括菜单界面、工作过程界面和工作结果界面，经服务器主机11内的一站式全自动测试程序模块接受并处理后生成测试指令信号，然后将测试指令信号通过网络系统30发送到对应的客户终端计算机21，客户终端计算机21根据测试指令信号来选着对应的测试项目，从而通过MCU控制板22来对固态硬盘进行对应的软件测试。

为了更清楚详细地说明上述技术手段的目的，本实施例列出一种测试过程如下：

请参阅图2-3，在MCU控制板22上，测试接口25为PCIE M2接口或者SATA接口；根据M个测试接口25设置有M个指示灯组26，客户终端计算机21根据每个测试接口25的测试情况来控制对应的指示灯组26，使测试情况根据固态硬盘测试的合格或者不合格情况发出对应颜色或者对应程度的指示；交换机32设置有两个，客户终端计算机21为42台，MCU控制板22上设置有两个PCIE控制芯片23，每个PCIE控制芯片23连接有4个测试接口25；服务器主机11内还植入有预约程序模块，一站式全自动测试程序模块产生对应的测试指令信号后，通过预约程序模块定时将测试指令信号发送给客户终端计算机21。

测试流程：

步骤1：固态硬盘插入客户测试终端20,不认盘上报客户终端计算机21,良品绿色LED灯亮,不良品红色LED灯亮。

步骤2：APP点击“开始测试”,42台客户终端计算机21672个口同步进行，K1开卡(约5分钟)完成PASS自动进入RDT，同时服务器主机11发指令启动PWM温控系统50加热。

步骤3：RDT OK进入K2开卡(约五分钟)完成或格式化再BIT测试，BIT PASS和SMART再进行K3开卡(约五分钟)PASS测试完成，主机收集42台子机测试报告进行统计分析合成生产测试报表。

步骤4：预约定时测试功能，无人值守，全自动完成上述第2和第3点

上述技术方案中，在MCU控制板22上，测试接口25为PCIEM2接口或者SATA接口，每端口独立供电，且可控上电时序，可检测电流、电压及功率；指示灯组26主要是在每端口设有红色和绿色两个LED灯，认盘为常亮绿灯，不认盘及K1/RDT/K2/BIT/K3不良为红色灯提示；每台客户终端计算机21配有两块转接板共16个测试接口25，可识别足容与不足容。

在电脑管理上，客户终端计算机21对固态硬盘在测试项目中的测试情况进行反馈，服务器主机11根据一站式全自动测试程序模块接收反馈的测试情况，并根据测试情况自动生成测试报表；通过服务器主机11可浏览42台客户终端计算机21，客户终端计算机21不良及测试报表上报服务器主机11(每个不良及其测试接口25) 服务器主机11再合成测试报表(K1/RDT/K2/BIT/SMART/K3，容量不足数，不良数及不良率，PASS及良率)。

2. 客户终端计算机21实时不良(不良项目及对应测试接口25)上报服务器主机11，服务器主机11实时检测；服务器主机11通过一台工业触控屏12可实时监控42台客户终端计算机21，可对每台客户终端计算机21重启，关机及对客户终端计算机21定时开机及测试，无需传统KVM切换器。

请参阅图9，PWM温控系统50包括PWM控制器51、温控屏52、加热模块53、散热模块54和温度检测模块55，服务器主机11、温控屏52、加热模块53、散热模块54和温度检测模块55分别与PWM控制器51电连接，加热模块53、散热模块54和温度检测模块55均作用于测试仓40内，PWM控制器51植入有用于调整测试仓40内温度的温控程序模块；

其中，温控程序模块根据温控屏52录入有工作温度值和待机温度值，PWM控制器51接收到测试指令信号后，温控程序模块据温度检测模块55获取测试仓40内的当前温度值，并通过工作温度值或待机温度值来操控加热模块53和散热模块54来对测试仓40内的当前温度值进行调整。

温控屏52为全程由服务器主机11控制开启和关闭温控，集成精准上下循环温控系统，采用PWM温控控制方式，开始测试即自动加热，从常温快升到70度且恒定在70度只需10分钟，BIT测试完后自动启动散热模式把箱内热气强风抽排到室外，使温度快速降回常温。

基于上述技术方案，设置一种一站式全自动化测试机的测试方法，应用于上述所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，包括以下步骤：

S1，构建固态硬盘自动化测试系统，自动化测试系统由PWM温控制系统50、MCU控制板22、服务器主机11、客户终端计算机21、网络系统30和测试软件组成；

S2，构建PWM温控制系统50，通过温度传感器把测试环境温度控制在70度正负2%误差，保证每片固态硬盘在特定环境下运行；

S3，MCU控制板22设计，制作特定结构的MCU控制板22，其中MCU控制板22选用8个固态硬盘独立界面由二颗PCIE控制芯片采用4条专用PCIE线连接客户终端计算机21和SATA口连接客户终端计算机21进行信息通信，独立控制供电，每个插口有2个红、绿LED指示灯，有效地把每个测试点的测试情况，测试良品，不良品指示出来；

S4，将服务器主机11和客户终端计算机21进行对应连接控制，由1台服务器主机11控制42台客户终端计算机21，1台客户终端计算机21控制2片MCU控制板22，并使得1台客户终端计算机21测试16个固态硬盘；

S5，在服务器主机11和客户终端计算机21分别安装对应测试软件，服务器主机11测试软件管理42台客户终端计算机21能精准发送测试指令，收集测试信息，在服务器主机11软件上一键同步42台客户的测试软件和测试方案，同时也能实时获取客户端的测试信息，做到一键同步测试。

有益效果对照表：

SATA型SSD测试产线对比：按100K片/月测试产能估算

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。

Claims (11)

1.一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，包括服务器终端、客户测试终端、网络系统和测试仓，服务器终端通过网络系统与客户测试终端进行数据交互；

服务器终端包括服务器主机、工业触控屏和PWM温控系统，在服务器主机内植入有对固态硬盘的测试进行监控的一站式全自动测试程序模块，工业触控屏和PWM温控系统分别与服务器主机进行串口通信，操作员通过工业触控屏与服务器主机进行信息交互，PWM温控系统作用于测试仓内；

客户测试终端包括与服务器主机进行网络数据交互的N台客户终端计算机，每台客户终端计算机内均植入有用于测试固态硬盘的测试软件，测试软件根据固态硬盘的不同测试需求设置有可灵活调整的多个测试项目，每台客户终端计算机均连接有MCU控制板，MCU控制板上设置有至少一个PCIE控制芯片，PCIE控制芯片连接有M个测试接口，测试接口对接于测试仓内，用于连接固态硬盘，MCU控制板通过PCIE控制芯片与客户终端计算机连接。

2.根据权利要求1所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，服务器主机根据一站式全自动测试程序模块接收工业触控屏产生的控制指令信号，从而产生对应的测试指令信号，客户终端计算机根据测试指令信号选择对应的测试项目，然后根据测试项目对测试接口上连接的固态硬盘进行测试；PWM温控系统通过测试指令信号来对测试仓内的温度进行调整。

3.根据权利要求2所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，客户终端计算机对固态硬盘在测试项目中的测试情况进行反馈，服务器主机根据一站式全自动测试程序模块接收反馈的测试情况，并根据测试情况自动生成测试报表。

4.根据权利要求3所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，在MCU控制板上根据M个测试接口设置有M个指示灯组，客户终端计算机根据每个测试接口的测试情况来控制对应的指示灯组，使测试情况根据固态硬盘测试的合格或者不合格情况发出对应颜色或者对应程度的指示。

5.根据权利要求1所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，网络系统包括路由器和至少一台交换机，服务器通过路由器连接交换机，再通过交换机来分别与N台客户终端计算机进行连接。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，交换机设置有两个，客户终端计算机为42台，MCU控制板上设置有两个PCIE控制芯片，每个PCIE控制芯片连接有4个测试接口。

7. 根据权利要求6所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，测试接口为PCIE M2接口或者SATA接口。

8.根据权利要求2所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，PWM温控系统包括PWM控制器、温控屏、加热模块、散热模块和温度检测模块，服务器主机、温控屏、加热模块、散热模块和温度检测模块分别与PWM控制器电连接，加热模块、散热模块和温度检测模块均作用于测试仓内，PWM控制器植入有用于调整测试仓内温度的温控程序模块；

其中，温控程序模块根据温控屏录入有工作温度值和待机温度值，PWM控制器接收到测试指令信号后，温控程序模块据温度检测模块获取测试仓内的当前温度值，并通过工作温度值或待机温度值来操控加热模块和散热模块来对测试仓内的当前温度值进行调整。

9.根据权利要求2所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，服务器主机内还植入有预约程序模块，一站式全自动测试程序模块产生对应的测试指令信号后，通过预约程序模块定时将测试指令信号发送给客户终端计算机。

10.根据权利要求1所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，服务器主机通过外网还连接有远程终端。

11.一种一站式全自动化测试机的测试方法，应用于权利要求1-10中任一项所述的一种应用于固态硬盘的一站式全自动化测试机，其特征在于，包括以下步骤：

S1，构建固态硬盘自动化测试系统，自动化测试系统由PWM温控制系统、MCU控制板、服务器主机、客户终端计算机、网络系统和测试软件组成；

S2，构建PWM温控制系统，通过温度传感器把测试环境温度控制在70度正负2%误差，保证每片固态硬盘在特定环境下运行；

S3，MCU控制板设计，制作特定结构的MCU控制板，其中MCU控制板选用8个固态硬盘独立界面由二颗PCIE控制芯片采用4条专用PCIE线连接客户终端计算机和SATA口连接客户终端计算机进行信息通信，独立控制供电，每个插口有2个红、绿LED指示灯，有效地把每个测试点的测试情况，测试良品，不良品指示出来；

S4，将服务器主机和客户终端计算机进行对应连接控制，由1台服务器主机控制42台客户终端计算机，1台客户终端计算机控制2片MCU控制板，并使得1台客户终端计算机测试16个固态硬盘；

S5，在服务器主机和客户终端计算机分别安装对应测试软件，服务器主机测试软件管理42台客户终端计算机能精准发送测试指令，收集测试信息，在服务器主机软件上一键同步42台客户的测试软件和测试方案，同时也能实时获取客户端的测试信息，做到一键同步测试。