CN109119124A - 固态硬盘的生产方法及固态硬盘 - Google Patents

Abstract

本申请提出一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘，涉及固态硬盘技术领域。颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件；开卡设备获取固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入固态硬盘组件，以对固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。本申请通过在固态硬盘组件的开卡阶段直接将闪存颗粒的坏块检测环节记录的坏块检测信息写入固态硬盘组件，而省略掉盘片的可靠性测试步骤或减少可靠性测试时间，故节约了生产时间，提升了生产效率，节约人力成本。

Description

固态硬盘的生产方法及固态硬盘

技术领域

本发明涉及固态硬盘技术领域，具体而言，涉及一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘。

背景技术

目前，固态硬盘(Solid State Drives，SSD)的生产厂家通常按照图1所示的流程进行固态硬盘的批量生产，即生产厂家首先需要采购颗粒，然后对每个颗粒进行高温筛选，保留品质优良的颗粒进行后续生产；筛选出的品质优良的颗粒经过贴片生产、盘片可靠性测试(Reliabilit Demonstration Test，RDT)、开卡、成品验证、二次开卡等流程后，便可以出货进行销售。在固态硬盘的整个生产流程中，颗粒的筛选是至关重要的一个环节，颗粒的筛选和盘片的可靠性测试均需要使用高温环境，通常耗时也比较长，盘片的颗粒筛选约占用整个生产流程30％的时间。现有的固态硬盘的生产方法，生产时间比较长，生产效率不高。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘，以节省固态硬盘的生产时间，提高生产效率。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提出一种固态硬盘的生产方法，所述方法包括：

颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；

贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；

开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。

第二方面，本发明实施例还提出一种固态硬盘，采用上述第一方面所述的固态硬盘的生产方法制成。

相对现有技术，本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例提供的固态硬盘的生产方法及固态硬盘，所述方法包括：颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。在本申请中，在闪存颗粒的坏块检测环节通过对闪存颗粒的坏块检测信息进行记录，在固态硬盘组件的开卡阶段直接将之前记录的坏块检测信息写入到固态硬盘组件中，从而省略掉盘片的可靠性测试步骤或者减少可靠性测试的时间，进而大大节约了生产时间，特别是在大规模批量生产固态硬盘时，可以有效提升生产效率，节约人力成本。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1示出了现有技术中固态硬盘的生产方法的流程示意图。

图2示出了本发明实施例所提供的固态硬盘的生产方法的一种流程示意图。

图3示出了本发明实施例所提供的固态硬盘的生产方法的另一种流程示意图。

图4示出了本发明另一实施例所提供的固态硬盘的生产方法的流程示意图。

具体实施方式

在实现本发明实施例的技术方案的过程中，本申请发明人发现：

在图1所示的固态硬盘的生产流程中，颗粒筛选和盘片可靠性测试本质上都是进行颗粒的坏块检测，即检测颗粒上的坏块数量和坏块区域，只是颗粒筛选是针对颗粒而言，盘片的可靠性测试是针对盘而言。现有的生产过程，在颗粒的坏块检测环节，并不会对颗粒的坏块信息进行保存，故在完成贴片生产后，需要针对盘上的颗粒再次进行坏块检测，得到盘上每个颗粒的坏块信息，然后依据盘上每个颗粒的坏块信息进入开卡的流程；可见，颗粒筛选和盘片可靠性测试在本质上做的是相同的事情，但各自的耗时都比较长，从而导致固态硬盘的整个生产时间比较长，生产效率不高，不利于固态硬盘的批量生产。

以上现有技术中的方案所存在的缺陷，均是发明人在经过实践并仔细研究后得出的结果，因此，上述问题的发现过程以及下文中本发明实施例针对上述问题所提出的解决方案，都应该是发明人在本发明过程中对本发明做出的贡献。

下面将结合本发明实施例中附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

请参照图2，为本发明实施例所提供的固态硬盘的生产方法的流程示意图。固态硬盘的生产厂商采用该生产方法进行固态硬盘的批量生产，可以极大节省生产时间，提高生产效率，节约人力成本。需要说明的是，本发明实施例所提供的固态硬盘的生产方法并不以图2以及以下所述的具体顺序为限制，应当理解，在其他实施例中，本发明实施例所述的固态硬盘的生产方法其中部分步骤的顺序可以根据实际需要相互交换，或者其中的部分步骤也可以省略或删除。下面结合图2对所述固态硬盘的生产方法的具体流程及步骤进行详细阐述。

步骤S101，颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录。

在本实施例中，所述闪存颗粒为NAND闪存芯片，每个闪存颗粒包括多个块，并通过这些块来存放数据；所述颗粒检测设备包括筛选板(Sorting Board)、高温温箱，闪存颗粒置于Sorting板后放到高温温箱中，通过高温温箱检测闪存颗粒中的每一个块是否为坏块，从而判断所述闪存颗粒是否存在坏块、存在多少个坏块以及坏块在闪存颗粒上的位置。因此，在本实施例中，所述坏块检测信息至少包括坏块数量及坏块区域，闪存颗粒的坏块数量越少，表明闪存颗粒的品质越好，当闪存颗粒的坏块数量为0时，表明该闪存颗粒上不存在坏块，该闪存颗粒的每一个块都能用于存放数据；当闪存颗粒的某个块被确定为坏块时，不应对该坏块写入数据，以免发生数据丢失。可以理解，该坏块检测信息是用于确认闪存颗粒上的哪些块是坏块、哪些是好块、坏块的位置以及坏块的数量。

在本实施例中，颗粒检测设备判断一个闪存颗粒上的块是否为坏块的标准就是每个块读写数据是否正常以及错误率(errbit)是否在设定的范围内。

在本实施例中，所述高温温箱优选采用60℃～70℃的温度对闪存颗粒进行坏块检测。

在本实施例中，所述对闪存颗粒的坏块检测信息进行记录的步骤具体包括：将所述闪存颗粒的坏块检测信息保存为设定格式的配置文件。也即是说，所述颗粒检测设备在完成闪存颗粒的坏块检测后，将得到的坏块检测信息保存为设定格式(即预先定义的文件格式)的配置文件，以便在后续的固态硬盘生产中直接使用该配置文件。

步骤S102，贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒。

在本实施例中，该预设条件为闪存颗粒的坏块数量小于或等于预设值，工作人员根据颗粒检测设备检测到的闪存颗粒的坏块检测信息判断该闪存颗粒的坏块数量是否小于或等于预设值，当坏块数量小于或等于预设值时，确定该闪存颗粒品质较好，为合格闪存颗粒，可以进行后续的贴片生产。固态硬盘的硬件结构通常包括主控芯片和闪存颗粒，所述贴片机采用表面贴装技术(Surface Mount Technology，SMT)将主控芯片和坏块数量小于或等于所述预设值的多个闪存颗粒贴装到印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)上，得到所述固态硬盘组件，即完成了固态硬盘的硬件生产。可以理解，坏块数量小于或等于预设值的闪存颗粒为合格闪存颗粒，固态硬盘组件上的闪存颗粒均是合格闪存颗粒。

步骤S103，开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。

在本实施例中，开卡可以简单理解为固态硬盘组件的初始化，即向固态硬盘组件烧录软件程序，固态硬盘组件只有在经过初始化后才能成为真正意义上的固态硬盘，才具备存储功能。

所述开卡设备可以采用个人计算机(Personal Computer，PC)，所述开卡设备上运行有开卡软件，所述开卡设备通过所述开卡软件将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。

在本实施例中，所述开卡设备可以将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及所述预设的运行程序写入到所述主控芯片或所述合格闪存颗粒。也即是说，固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序可以保存在主控芯片上，也可以保存在合格闪存颗粒上。

其中，所述预设的运行程序可以理解为主控芯片运行的软件代码，也可称作固件(Firmware)；所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息可理解为配置参数，工作人员利用开卡软件将配置参数和固件烧入主控芯片或固态硬盘组件上的合格闪存颗粒，使得所述固态硬盘组件成为可以真正使用的固态硬盘。在该固态硬盘中，闪存颗粒负责存储数据，主控芯片和固件协作实现从闪存颗粒读数据或向闪存颗粒写数据。由于所述坏块检测信息包括坏块区域，故所述主控芯片在向所述固态硬盘中的闪存颗粒写数据时，能够根据所述坏块检测信息将所述数据写入所述闪存颗粒上除所述坏块区域之外的可用区域，即主控芯片根据烧入的配置参数来确定每个合格闪存颗粒的哪些块是坏块，哪些块是可以使用的(即好块)，从而避免将数据写入到坏块区域，导致数据丢失。

在本实施例中，该步骤S103具体包括：所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的配置文件，并将所述每个合格闪存颗粒对应的配置文件以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。

由于所述颗粒检测设备在完成闪存颗粒的坏块检测后，将每个闪存颗粒对应的坏块检测信息保存为设定格式的配置文件，故工作人员利用开卡设备对所述固态硬盘组件进行开卡操作时，可将固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒所对应的配置文件导入到开卡设备上运行的开卡软件中，然后通过该开卡软件将该配置文件和运行程序写入主控芯片或合格闪存颗粒。

进一步地，如图3所示，在步骤S103之后，所述方法还包括：

步骤S104，固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试，以判断所述固态硬盘是否为合格产品，其中，所述性能测试包括读写功能测试、掉电测试、系统休眠测试、老化测试及兼容性测试。

在本实施例中，在对固态硬盘组件烧入软件程序后，所得到的固态硬盘需要进行读写功能测试、掉电测试、系统休眠测试、老化测试及兼容性测试等性能测试，以判断该固态硬盘为合格产品还是次品。在本实施例中，该固态硬盘测试设备包括，但不限于，个人计算机、温箱、掉电设备等。

在本实施例中，该步骤S104具体包括：所述固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试并获得测试数据，通过对所述测试数据与设定的参考数据进行比较来判断所述固态硬盘是否为合格产品。可以理解，不同类型的性能测试对应的参考数据有所不同，固态硬盘测试设备每对固态硬盘进行一项性能测试，便能得到对应的测试数据，进而将该测试数据与对应的参考数据进行比较，若测试数据与参考数据一致或相差很小，则可以判断该固态硬盘为合格产品。

步骤S105，当判断所述固态硬盘为合格产品时，所述开卡设备对所述固态硬盘再次进行开卡操作。

在本实施例中，对于通过测试的固态硬盘(即合格产品)，需要开卡设备对该固态硬盘再次进行开卡操作。可以理解的是，该步骤S105中的开卡操作与上述步骤S103中的开卡操作类似，步骤S103中进行开卡操作的目的是便于在步骤S104中对固态硬盘做性能测试，当固态硬盘通过测试后，盘片变成已使用的状态，故需要对该固态硬盘重新进行一次开卡操作(第二次开卡)，以使固态硬盘恢复至初始阶段，然后对该固态硬盘进行成品包装就可出货进行销售。

与现有技术相比，图2及图3所示的固态硬盘的生产方法，在贴片机完成固态硬盘的贴片生产过程后，直接跳过盘片的可靠性测试步骤，开卡设备在对固态硬盘组件开卡过程中，通过获取颗粒检测设备所记录的配置文件，并将所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的配置文件以及预设的运行程序写入到主控芯片或合格闪存颗粒，得到固态硬盘。也即是说，本发明实施例所提供的固态硬盘的生产方法在闪存颗粒的坏块检测步骤中将每个闪存颗粒的坏块检测信息保存为设定格式的配置文件，并通过所述配置文件将闪存颗粒的坏块检测以及固态硬盘组件的开卡这两个相对独立的步骤关联起来，省略掉盘片的可靠性测试步骤，达到节约生产时间、提高生产效率的目的。

如图4所示，为本发明另一实施例提供的固态硬盘的生产方法的流程示意图。下面结合图4对所述固态硬盘的生产方法的具体流程及步骤进行详细阐述。

步骤S201，颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录。

在本实施例中，该步骤S201的具体内容与上述步骤S101一致，此处不再赘述。

步骤S202，贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒。

在本实施例中，该步骤S202的具体内容与上述步骤S102一致，此处不再赘述。

步骤S203，可靠性测试设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并根据所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息对所述每个合格闪存颗粒上的除所述坏块区域之外的区域再次进行坏块检测，得到所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息。

在本实施例中，闪存颗粒在贴片生产过程中，原本的好块可能会变成坏块，故在完成贴片生产后，需要通过可靠性测试设备对固态硬盘组件上的合格闪存颗粒再次进行坏块检测。所述可靠性测试设备可以采用高温温箱，工作人员使用可靠性测试设备对固态硬盘组件进行可靠性测试时，可将固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的配置文件导入到该可靠性测试设备，该可靠性测试设备基于导入的配置文件可确定所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块数量和坏块区域，此时只需对合格闪存颗粒上除该坏块区域之外的区域(即好块)再次进行坏块检测，无需对之前已检测出的坏块区域再次进行坏块检测，从而得到所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息，然后将每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息保存为新配置文件。由于该可靠性测试设备只需对合格闪存颗粒上的好块进行检测，故与现有技术中的盘片可靠性测试步骤相比，可以减少可靠性测试的次数，进而达到节约生产时间，提高生产效率的目的。

步骤S204，所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。

由于在进行固态硬盘组件的可靠性测试时，该可靠性测试设备将检测得到的每个合格闪存颗粒的新坏块信息保存为新配置文件，故工作人员利用开卡设备对所述固态硬盘组件进行开卡操作时，可将固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒所对应的新配置文件导入到开卡设备上运行的开卡软件中，然后通过该开卡软件将该新配置文件和运行程序写入主控芯片或合格闪存颗粒。

步骤S205，固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试，以判断所述固态硬盘是否为合格产品，其中，所述性能测试包括读写功能测试、掉电测试、系统休眠测试、老化测试及兼容性测试。

在本实施例中，该步骤S205的具体内容与上述步骤S104一致，此处不再赘述。

步骤S206，当判断所述固态硬盘为合格产品时，所述开卡设备对所述固态硬盘再次进行开卡操作。

在本实施例中，该步骤S206的具体内容与上述步骤S105一致，此处不再赘述。

图4所示的固态硬盘的生产方法中，虽然保留了固态硬盘组件的可靠性测试步骤，但是由于该可靠性测试设备是基于闪存颗粒的坏块检测步骤得到的配置文件对所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的好块再次进行坏块检测，故与现有技术中的盘片可靠性测试步骤相比，可以减少可靠性测试的时间，进而达到节约生产时间，提高生产效率的目的。

综上所述，本发明实施例提供的固态硬盘的生产方法及固态硬盘，所述方法包括：颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。在本申请中，在闪存颗粒的坏块检测环节通过对闪存颗粒的坏块检测信息进行记录，在固态硬盘组件的开卡阶段直接将之前记录的坏块检测信息写入到固态硬盘组件中，从而省略掉盘片的可靠性测试步骤或者减少可靠性测试的时间，进而大大节约了生产时间，特别是在大规模批量生产固态硬盘时，可以有效提升生产效率，节约人力成本。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

Claims (10)

1.一种固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述方法包括：

颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测信息进行记录；

贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；

开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。

2.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述对闪存颗粒的坏块检测信息进行记录的步骤包括：

将所述闪存颗粒的坏块检测信息保存为设定格式的配置文件；

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤包括：

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的配置文件，并将所述每个合格闪存颗粒对应的配置文件以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。

3.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测信息包括坏块区域，所述贴片机将主控芯片以及所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件的步骤之后，所述方法还包括：

可靠性测试设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并根据所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息对所述每个合格闪存颗粒上的除所述坏块区域之外的区域再次进行坏块检测，得到所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息；

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤包括：

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测信息以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。

4.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测信息包括坏块数量，所述贴片机将所述坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件的步骤包括：

所述贴片机将所述坏块数量小于或等于预设值的闪存颗粒贴装到所述印制电路板上，得到所述固态硬盘组件，其中，所述坏块数量小于或等于预设值的闪存颗粒为所述合格闪存颗粒。

5.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测信息包括坏块区域，所述主控芯片在向所述固态硬盘中的闪存颗粒写数据时，根据所述坏块检测信息将所述数据写入所述闪存颗粒上除所述坏块区域之外的可用区域。

6.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘的步骤之后，所述方法还包括：

固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试，以判断所述固态硬盘是否为合格产品，其中，所述性能测试包括读写功能测试、掉电测试、系统休眠测试、老化测试及兼容性测试；

当判断所述固态硬盘为合格产品时，所述开卡设备对所述固态硬盘再次进行开卡操作。

7.如权利要求6所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试，以判断所述固态硬盘是否为合格产品的步骤包括：

所述固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试并获得测试数据，通过对所述测试数据与设定的参考数据进行比较来判断所述固态硬盘是否为合格产品。

8.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述开卡设备上运行有开卡软件，所述开卡设备将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤包括：

所述开卡设备通过所述开卡软件将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。

9.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述开卡设备将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤包括：

所述开卡设备将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及所述预设的运行程序写入到所述主控芯片或所述合格闪存颗粒。

10.一种固态硬盘，其特征在于，采用如权利要求1-9任一项所述的固态硬盘的生产方法制成。