CN117872226A - 一种双连接器模组测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种双连接器模组测试方法，包括以下步骤：步骤1：提供一显示模组和测试装置；步骤2：将第一测试接口与第一连接器电性连接，将第二连接器与第二连接器电性连接；步骤3：启动测试装置进行测试，在预定时间内测试装置的连接导通测试单元通过信号传输来检测第一连接器和第二连接器之间的导通性能，如果导通异常则停止测试并报警，如果导通正常，则显示屏功能测试单元对显示模组传输显示信号进行显示屏功能测试。本发明可以在同一个机台工位实现产品显示功能及连接器之间的导通测试，提升效率，节省人力及设备成本；可以减少工位，使得产品被损坏的风险降低。
Description
技术领域
本发明涉及显示模组技术领域，尤其涉及一种双连接器模组测试方法。
背景技术
目前手机等电子设备的生产厂家为了降低成本，将原本设计中的中转FPC(包含USB线路、充电线路、喇叭线路、麦克风线路等)的功能线路均集成到显示屏的模组FPC上，因此此类显示模组的模组FPC会存在两个连接器，其中一个连接器会连接电子设备的尾插小板，另一个连接器会连接电子设备的主板，这种情况下模组FPC存在两个功能，第一种功能是：承担原本模组FPC的功能，实现电子设备可以驱动控制显示模组，第二种功能是：作为连接线路实现尾插小板的线路(包括USB线路、充电线路、喇叭线路、麦克风线路等)和主板之间的连接，其中，显示模组的模组FPC与主板连接的连接器会连接有上述两种功能的线路，与尾插小板连接的连接器只连接具有上述的第二种功能的线路。
在现有的方案中，对此类带有两个连接器的显示模组的模组FPC进行测试有两个方案：第一个方案是：显示模组厂只测连接和模组显示的导通测试，模组FPC的两个连接器之间的导通测试委托SMT厂测试，这种方式存在如下缺点：1、显示模组厂在上线前需要委托SMT厂单独测试连接之间的导通性，增加供应商的成本；2、上线后造成的连接器破坏或虚焊等不良模组厂无法测试，容易流出客户端导致投诉。第二个方案是：显示模组厂需要两个机台配两个工位，一个机台工位测试显示功能，一个机台工位测试连接器之间的导通性，这种方式存在如下缺点：1.显示功能及连接器导通测试需要两个机台工位，增加人力成本和设备成本；2.工位排布拉长，降低生产效率及易造成产品的破坏风险。
因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种双连接器模组测试方法。
本发明的技术方案如下：本发明提供一种双连接器模组测试方法，包括以下步骤：
步骤1：提供一显示模组和测试装置，所述显示模组包括第一连接器和第二连接器，所述测试装置包括主控模块以及分别与所述主控模块电性连接的第一测试接口和第二测试接口，所述主控模块包括显示屏功能测试单元和连接导通测试单元；
步骤2：将所述第一测试接口与所述第一连接器电性连接，将所述第二连接器与所述第二连接器电性连接；
步骤3：启动测试装置进行测试，在预定时间内所述测试装置的连接导通测试单元通过信号传输来检测所述第一连接器和第二连接器之间的导通性能，如果导通异常则停止测试并报警，如果导通正常，则所述显示屏功能测试单元对所述显示模组传输显示信号进行显示屏功能测试。
进一步地，所述步骤3中，所述预定时间为0.5-3秒。
进一步地，所述步骤3中，所述预定时间为0.5秒。
采用上述方案，本发明的有益效果在于：可以在同一个机台工位实现产品显示功能及连接器之间的导通测试，提升效率，节省人力及设备成本；可以减少工位，使得产品被损坏的风险降低。
附图说明
图1为本发明的测试装置的结构框图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例，对本发明进行详细说明。
请参阅图1，在本实施例中，本发明提供一种双连接器模组测试方法，包括：步骤1：提供一显示模组和测试装置，所述显示模组包括第一连接器和第二连接器，本实施例中，所述第一连接器可以为用于与电子设备的主板连接，所述第二连接器(包括USB线路、充电线路、喇叭线路、麦克风线路等)可以为用于与电子设备的尾插小板连接。所述测试装置包括主控模块以及分别与所述主控模块电性连接的第一测试接口和第二测试接口。所述主控模块包括显示屏功能测试单元和连接导通测试单元，可以是集成于同一主控MCU中，其中，显示屏功能测试单元用于对显示模组进行显示屏功能测试，所述连接导通测试单元用于对模组FPC的两个连接器之间进行导通功能测试。
步骤2：将所述第一测试接口与所述第一连接器电性连接，将所述第二连接器与所述第二连接器电性连接。
步骤3：启动测试装置进行测试，在预定时间内所述测试装置的连接导通测试单元通过信号传输来检测所述第一连接器和第二连接器之间的导通性能，如果导通异常则停止测试并报警，如果导通正常，则所述显示屏功能测试单元对所述显示模组传输显示信号进行显示屏功能测试。本方案中，先进行导通性能测试，如果正常再进行显示屏功能测试，如果异常则无法进入显示屏功能测试，这种设置形式可具有防呆功能，避免导通功能异常的模组流入下一工序。
进一步地，所述步骤3中，所述预定时间可以为0.5-3秒，其中本实施例中为0.5秒。
综上所述，本方案的有益效果在于：可以在同一个机台工位实现产品显示功能及连接器之间的导通测试，提升效率，节省人力及设备成本；可以减少工位，使得产品被损坏的风险降低。
以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种双连接器模组测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：提供一显示模组和测试装置，所述显示模组包括第一连接器和第二连接器，所述测试装置包括主控模块以及分别与所述主控模块电性连接的第一测试接口和第二测试接口，所述主控模块包括显示屏功能测试单元和连接导通测试单元；
步骤2：将所述第一测试接口与所述第一连接器电性连接，将所述第二连接器与所述第二连接器电性连接；
步骤3：启动测试装置进行测试，在预定时间内所述测试装置的连接导通测试单元通过信号传输来检测所述第一连接器和第二连接器之间的导通性能，如果导通异常则停止测试并报警，如果导通正常，则所述显示屏功能测试单元对所述显示模组传输显示信号进行显示屏功能测试。
2.根据权利要求1所述的双连接器模组测试方法，其特征在于，所述步骤3中，所述预定时间为0.5-3秒。
3.根据权利要求2所述的双连接器模组测试方法，其特征在于，所述步骤3中，所述预定时间为0.5秒。
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Country Status (1)
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2023
- 2023-12-04 CN CN202311664714.8A patent/CN117872226A/zh active Pending
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