CN117827234B - 电子产品的烧录及校准方法、系统、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及数据处理技术，公开了一种电子产品的烧录及校准方法，包括：向电子产品的待校准模组输出标准信号；接收所述待校准模组基于所述标准信号反馈的响应信号；分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，并根据所述第一差值生成校准系数；将所述校准系数输入到烧录装置，以通过所述烧录装置将所述校准系数烧录到电子产品中，其中，所述烧录装置还用于向电子产品烧录相应的应用程序。本申请还公开了一种烧录及校准系统、计算机设备和计算机可读存储介质。本申请旨在实现对电子产品中待校准模组的自动化校准和相关应用程序的烧录，以提高电子产品的生产效率。

Description

电子产品的烧录及校准方法、系统、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种电子产品的烧录及校准方法、烧录及校准系统、计算机设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着嵌入式技术的发展，嵌入式的电子产品的形态愈发多样、功能愈发丰富、应用的领域愈发广泛。而在音频、图像、射频通信等领域的涉及到模数转换的电子产品中，由于对输入输出的精度要求更高，因而除了需要为产品烧录相应的应用程序外，通常还需要额外对产品中的待校准模组（如输入/输出模组或相应的装置）进行系数校准，以保证生产出来的产品拥有相近的性能。目前，这类产品的程序烧录和校准工作一般是需要分开完成的，而且校准过程还需要人工操作完成，导致产品生产效率低下。

上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种电子产品的烧录及校准方法、烧录及校准系统、计算机设备以及计算机可读存储介质，旨在实现对电子产品中待校准模组的自动化校准和相关应用程序的烧录，以提高电子产品的生产效率。

为实现上述目的，本申请提供一种电子产品的烧录及校准方法，包括以下步骤：

向电子产品的待校准模组输出标准信号；

接收所述待校准模组基于所述标准信号反馈的响应信号；

分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，并根据所述第一差值生成校准系数；

将所述校准系数输入到烧录装置，以通过所述烧录装置将所述校准系数烧录到电子产品中，其中，所述烧录装置还用于向电子产品烧录相应的应用程序。

可选的，所述分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，并根据所述第一差值生成校准系数的步骤包括：

基于校准系数生成器分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值；

基于所述第一差值对所述响应信号进行校准处理，得到比对信号；

计算所述比对信号与所述目标信号之间的第二差值；

检测所述第二差值是否满足预设条件；

若是，则将所述第一差值作为校准系数；

若否，则根据所述第一差值和所述第二差值生成校准系数。

可选的，所述根据所述第一差值生成校准系数的步骤包括：

计算多个所述第一差值的均值，作为校准系数；

其中，所述待校准模组基于所述标准信号，采用同一处理方式多次生成所述响应信号。

可选的，所述将所述校准系数输入到烧录装置，以通过所述烧录装置将所述校准系数烧录到电子产品中的步骤之后，还包括：

接收所述待校准模组反馈的校准后的响应信号，其中，所述待校准模组基于所述标准信号再次生成响应信号，并基于校准系数对响应信号进行校准处理；

分析校准后的响应信号与相应的目标信号之间的第三差值，并根据所述第三差值和所述第一差值更新所述校准系数；

基于所述烧录装置将更新后的所述校准系数烧录到电子产品中，并检测更新后的所述校准系数与更新前的所述校准系数之间的第四差值，是否小于预设阈值；

若是，则判定所述校准系数更新完毕；

若否，则通知电子产品基于更新后的所述校准系数重新反馈校准后的响应信号，以及将更新后的校准系数更新为第一差值，并返回执行所述接收所述待校准模组反馈的校准后的响应信号的步骤。

可选的，所述将所述校准系数输入到烧录装置的步骤之后，还包括：

检测电子产品中所有的待校准模组是否已校准完成；

若未全部校准完成，则确定下一个待校准模组，并返回执行所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤；

若已全部校准完成，则控制烧录装置统一向电子产品烧录所有待校准模组对应的所述校准系数。

可选的，所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤之前，还包括：

控制烧录装置向电子产品烧录相应的应用程序，其中，所述应用程序包括校准程序；

或者，控制烧录装置向电子产品烧录校准程序，其中，在所述烧录装置向电子产品烧录所述校准系数时，还向电子产品烧录除校准程序外的其他应用程序；

其中，所述校准程序用于使所述待校准模组基于所述标准信号生成相应的响应信号。

可选的，所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤之前，还包括：

根据所述待校准模组对应的功能信息，生成所述待校准模组对应的标准信号和目标信号。

为实现上述目的，本申请还提供一种烧录及校准系统，包括校准装置和烧录装置，其中，所述校准装置包括标准信号生成器和校准系数生成器，所述烧录装置包括系数烧录器和程序烧录器；

所述标准信号生成器，用于生成标准信号和目标信号，并向电子产品的待校准模组输出标准信号，以及向所述校准系数生成器输出目标信号；

所述校准系数生成器，用于接收所述待校准模组基于所述标准信号反馈的响应信号；以及分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，基于所述第一差值对所述响应信号进行校准处理，得到比对信号；计算所述比对信号与所述目标信号之间的第二差值；检测所述第二差值是否满足预设条件；若是，则将所述第一差值作为校准系数；若否，则根据所述第一差值和所述第二差值生成校准系数；所述校准系数生成器还用于将所述校准系数输入到烧录装置；

所述系数烧录器，用于将所述校准系数烧录到电子产品中；

所述程序烧录器，用于向电子产品烧录相应的应用程序。

为实现上述目的，本申请还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述电子产品的烧录及校准方法的步骤。

为实现上述目的，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述电子产品的烧录及校准方法的步骤。

本申请提供的电子产品的烧录及校准方法、烧录及校准系统、计算机设备以及计算机可读存储介质，实现对电子产品中待校准模组的自动化校准和相关应用程序的烧录。通过分析响应信号和生成校准系数，可以在烧录过程中对模组进行精确的校准，提高产品的性能一致性和准确度。同时，通过烧录装置的使用，融合校准过程和应用程序烧录过程，简化了电子产品的生产流程，提高了生产效率和质量控制水平。

附图说明

图1为本申请一实施例中电子产品的烧录及校准方法步骤示意图；

图2为本申请一实施例中烧录及校准系统示意图；

图3为本申请一实施例的计算机设备的内部结构示意框图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制，基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

另外，若本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述，仅用于描述目的（如用于区分相同或类似元件），而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

参照图1，在一实施例中，所述电子产品的烧录及校准方法包括：

步骤S10、向电子产品的待校准模组输出标准信号；

步骤S20、接收所述待校准模组基于所述标准信号反馈的响应信号；

步骤S30、分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，并根据所述第一差值生成校准系数；

步骤S40、将所述校准系数输入到烧录装置，以通过所述烧录装置将所述校准系数烧录到电子产品中，其中，所述烧录装置还用于向电子产品烧录相应的应用程序。

本实施例中，实施例的执行终端可以是烧录及校准系统，也可以是可以执行电子产品的烧录及校准方法的计算机设备或其他装置（如控制计算机设备或烧录及校准系统的虚拟装置）。

如步骤S10所述，有程序烧录和系数校准需求的电子产品，包括至少一个待校准模组，且待校准模组即为电子产品中需要校准的功能模组。例如，以电子产品为双降噪耳机为例，其需要校准的功能模组可以包括通话模组（如通话麦克风）、降噪模组（如降噪麦克风）等。

可选的，根据待校准模组的规格和特性，确定适当的标准信号，并向待校准模组输出相应的标准信号。标准信号可以是一系列预先定义好的电压、频率、脉冲或其他特征，例如标准信号为具有一定幅度的正弦波。

如步骤S20所述，待校准模组接收到标准信号后，会根据其具体功能对标准信号进行相应的处理，从而生成响应信号，并将响应信号输出反馈至终端。具体的处理方式取决于待校准模组的设计和用途。

例如，在双降噪耳机中，在接收到标准信号后，降噪模组会使用内置的降噪算法对标准信号中的噪声进行处理，并生成一段包含降噪效果的响应信号；通话模组可以使用语音编解码器和增强算法对标准信号进行处理，以提高语音质量和清晰度。

当终端接收到待校准模组反馈的响应信号后，则获取待校准模组对应的目标信号。目标信号相当于标准信号的期望信号，表征产品设计中期望待校准模组基于标准信号所生成的响应信号，即待校准模组的理想输出信号。

如步骤S30所述，在得到响应信号和相应的目标信号后，将二者进行时间对齐，以确保在二者后续可在相同的时间轴上进行比较。

可选的，可以使用目标信号减去响应信号，得到两者之间的差值，作为第一差值。这可以通过简单的相减操作，或者对信号进行差分运算得到第一差值。第一差值表示了两个信号在每个时间点上的差异大小，如增益、偏置值等。

可选的，计算得到的第一差值可以作为校准系数输出。

如步骤S40所述，将生成的校准系数输入到电子产品连接的烧录装置中，通过烧录装置将校准系数写入电子产品中的待校准模组的相关存储位置。

所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤之前，还包括：

控制烧录装置向电子产品烧录校准程序，其中，所述校准程序用于使所述待校准模组基于所述标准信号生成相应的响应信号；在所述烧录装置向电子产品烧录所述校准系数时，还向电子产品烧录除校准程序外的其他应用程序。

可选的，预先根据具体的校准需求，选择合适的计算方法、滤波算法和数值方法等，开发相应的校准程序，确保程序能够实现校准目标，并满足精度和算法复杂度等方面的要求。

在步骤S10之前，先使用烧录装置将校准程序写入待校准的电子产品中。这可以包括选择正确的烧录接口和协议、配置烧录参数、安装驱动程序等步骤。该校准程序用于使待校准模组基于标准信号生成相应的响应信号。

可选的，后续当烧录装置得到校准参数时，需将校准参数烧录到电子产品中；同时，还可以将除校准程序外的其他必要应用程序一起烧录到电子产品中。这些应用程序可以包括硬件接口驱动程序、用户界面应用程序、系统服务等。

或者，所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤之前，还包括：

控制烧录装置向电子产品烧录相应的应用程序，其中，所述应用程序包括校准程序，所述校准程序用于使所述待校准模组基于所述标准信号生成相应的响应信号。

预先开发电子产品所需烧录的应用程序，该应用程序包括校准程序，以及除校准程序外的其他必要应用程序。并且在执行步骤S10之前，将所有需要烧录的应用程序烧录到电子产品中，这样后续当烧录装置得到校准参数时，只需将校准参数烧录到电子产品中即可。

在一实施例中，实现对电子产品中待校准模组的自动化校准和相关应用程序的烧录。通过分析响应信号和生成校准系数，可以在烧录过程中对模组进行精确的校准，提高产品的性能一致性和准确度。同时，通过烧录装置的使用，融合校准过程和应用程序烧录过程，简化了电子产品的生产流程，提高了生产效率和质量控制水平。

在一实施例中，在上述实施例基础上，所述分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，并根据所述第一差值生成校准系数的步骤包括：

基于校准系数生成器分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值；

基于所述第一差值对所述响应信号进行校准处理，得到比对信号；

计算所述比对信号与所述目标信号之间的第二差值；

检测所述第二差值是否满足预设条件；

若是，则将所述第一差值作为校准系数；

若否，则根据所述第一差值和所述第二差值生成校准系数。

本实施例中，基于校准系数生成器分析并计算所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值。

在得到第一差值后，利用第一差值对响应信号进行校准处理，并将校准处理后的响应信号作为比对信号。然后计算比对信号与目标信号之间的第二差值。第二差值用于检测系统校准的准确度。

可选的，检测第二差是否满足预设条件：在检测第二差值是否满足预设条件之前，需要将第二差值与预设条件进行比较。

可选的，预设条件可以是第二差值小于或等于预设阈值（可标记为第一预设阈值）。如果第二差值小于或等于第一预设阈值，则满足预设条件；否则，不满足预设条件。

应该理解的是，理想状态下（即校准系数生成器无误差的情况下），比对信号应当与目标信号一致，因此若第二差值满足预设条件，说明校准系数生成器生成的第一差值可用（即无误差或误差小）；若第二差值不满足预设条件，说明第一差值有误差，且误差较大。

可选的，当第二差值满足预设条件时，可以将第一差值作为校准系数，以确保校准的准确度和稳定性。

可选的，当第二差值不满足预设条件时，则根据第一差值和第二差值的值来生成校准系数，这样可以减少器件误差的影响，以获得更准确的校准系数。在此情况下，还可以多次计算第二差值，并取第二差值的均值后，利用第二差值的均值和第一差值生成校准系数。

在一实施例中，通过使用预设条件和比对信号的计算，确保最终生成的校准系数的准确性。

在一实施例中，在上述实施例的基础上，所述根据所述第一差值生成校准系数的步骤包括：

计算多个所述第一差值的均值，作为校准系数；

其中，所述待校准模组基于所述标准信号，采用同一处理方式多次生成所述响应信号。

本实施例中，待校准模组在生成响应信号时，可以采用同一种处理方式多次生成响应信号。

在接收到待校准模组多次反馈的响应信号后，分别计算这些响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，得到多个第一差值。然后对多个第一差值进行求均值操作，得到一个平均值作为校准系数。

这样，可以减小随机噪声或误差的影响，提高校准系数的可靠性和准确性。

在一实施例中，在上述实施例的基础上，所述将所述校准系数输入到烧录装置，以通过所述烧录装置将所述校准系数烧录到电子产品中的步骤之后，还包括：

接收所述待校准模组反馈的校准后的响应信号，其中，所述待校准模组基于所述标准信号再次生成响应信号，并基于校准系数对响应信号进行校准处理；

分析校准后的响应信号与相应的目标信号之间的第三差值，并根据所述第三差值和所述第一差值更新所述校准系数；

基于所述烧录装置将更新后的所述校准系数烧录到电子产品中，并检测更新后的所述校准系数与更新前的所述校准系数之间的第四差值，是否小于预设阈值；

若是，则判定所述校准系数更新完毕；

若否，则通知电子产品基于更新后的所述校准系数重新反馈校准后的响应信号，以及将更新后的校准系数更新为第一差值，并返回执行所述接收所述待校准模组反馈的校准后的响应信号的步骤。

本实施例中，在通过烧录装置将初次生成的校准系数烧录到电子产品中后，该校准系数对应的待校准模组，可以再次基于标准信号生成响应信号，并使用校准系数对重新生成的响应信号进行校准处理，得到校准后的响应信号，并将校准后的响应信息反馈至终端。

当终端接收到校准后的响应信号后，则计算校准后的响应信号与相应的目标信号之间的第三差值。

然后基于第三差值和第一差值，运用合适的算法或数学模型（如计算第三差值与第一差值的和值），生成更新校准系数。

可选的，通过烧录装置将更新后的校准系数烧录到电子产品中，以替换之前烧录的校准系数。同时，计算更新后的校准系数与更新前的校准系数之间的第四差值，并将第四差值与预设阈值（可标记为第二预设阈值）进行比较。

可选的，若检测到第四差值小于第二预设阈值，则判定当前待校准模组对应的校准系数更新完毕。

可选的，如果第四差值大于等于第二预设阈值，则说明校准系数更新未达到要求，需要进行进一步的校准，因此需要向电子产品发送相应的指令，以通知电子产品使相应的待校准模组，再次基于标准信号生成响应信号，并使用更新后的校准系数对重新生成的响应信号进行校准处理，得到校准后的响应信号，将校准后的响应信息再次反馈至终端。同时，终端还将将更新后的校准系数更新为第一差值，并返回执行所述接收所述待校准模组反馈的校准后的响应信号的步骤，以再次更新校准系数，直到最新更新的校准系数，满足相应要求为止（即最新更新的校准系数与上一次更新的校准系数之间的第四差值，小于第二预设阈值）。

在一实施例中，提供了一个反馈循环，以保证通过不断调整校准系数来逐步提高校准效果。在每次校准后，都会进行第四差值的计算，并根据预设阈值来决定是否达到了预期的准确性。如果满足要求，则校准系数更新完毕；如果不满足要求，则继续重复校准流程，直到满足要求为止。

这样通过多次调试更新校准系数，可以减少因待校准模组硬件组成部分而导致的响应信号的生成误差。因为硬件组成部分的器件误差可能会导致生成的响应信号的不确定性（如即便是对于同一标准信号，多次生成的响应信号也可能数值不一），从而导致校准失效。因此，通过多次调试更新校准系数，可以减少因器件误差而造成的响应信号的生成误差，提高电子产品处理信号的准确性和精度。此外，补充的反馈循环能够及时检测、分析和更新校准系数，确保校准系数的精度和稳定性。这样的校准方法可以在电子产品制造生产和维护过程中得到广泛的应用。

在一实施例中，在上述实施例的基础上，所述将所述校准系数输入到烧录装置的步骤之后，还包括：

检测电子产品中所有的待校准模组是否已校准完成；

若未全部校准完成，则确定下一个待校准模组，并返回执行所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤；

若已全部校准完成，则控制烧录装置统一向电子产品烧录所有待校准模组对应的所述校准系数。

本实施例中，对于电子产品中的所有待校准模组，进行校准状态的检测，即判断是否已完成校准。

可选的，若存在未校准完成的模组，则确定下一个待校准模组，并返回执行所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤（即步骤S10），以便继续执行校准流程。这可以通过记录每个待校准模组的校准状态来实现。

可选的，当所有待校准模组都完成了校准，即不存在未校准的模组时，控制烧录装置统一向电子产品烧录所有待校准模组对应的校准系数。这可以通过与烧录装置进行通信和控制来实现。

这样，一旦所有模组都完成了校准，校准系数将被输入到烧录装置中，使其可以将校准系数烧录到相应的待校准模组中。

在一实施例中，在上述实施例的基础上，所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤之前，还包括：

根据所述待校准模组对应的功能信息，生成所述待校准模组对应的标准信号和目标信号。

本实施例中，预先对待校准模组进行分析和测试，获取与其功能相关的信息。这些信息可以包括模组的输入输出特性、调用的信号处理算法、工作范围、响应时间等。

可选的，根据待校准模组的功能信息，设计并生成与其对应的标准信号和目标信号。标准信号是一个已知的、规定好的输入信号，用于对待校准模组进行测试和测量。目标信号是根据期望的理想输出生成的信号，用于分析待校准模组的响应信号与期望值之间的偏差。

通过以上方式，确保在进行校准之前，即给待校准模组输出标准信号之前，已经生成了与待校准模组对应的标准信号和目标信号，可以灵活适应不同的待校准模组。这些信号的生成与控制是校准过程中的关键环节，用于确保校准的准确性和可靠性。

此外，参照图2，本申请实施例中还提供一种烧录及校准系统，包括：校准装置和烧录装置，其中，所述校准装置包括标准信号生成器和校准系数生成器，所述烧录装置包括系数烧录器和程序烧录器；

所述标准信号生成器，用于生成标准信号和目标信号，并向电子产品的待校准模组输出标准信号，以及向所述校准系数生成器输出目标信号；

所述校准系数生成器，用于接收所述待校准模组基于所述标准信号反馈的响应信号；以及分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，基于所述第一差值对所述响应信号进行校准处理，得到比对信号；计算所述比对信号与所述目标信号之间的第二差值；检测所述第二差值是否满足预设条件；若是，则将所述第一差值作为校准系数；若否，则根据所述第一差值和所述第二差值生成校准系数；所述校准系数生成器还用于将所述校准系数输入到烧录装置；

所述系数烧录器，用于将所述校准系数烧录到电子产品中；

所述程序烧录器，用于向电子产品烧录相应的应用程序。

基于以上烧录及校准系统，可以实现对电子产品中不同的待校准模组的高效校准和管理。系统中的标准信号生成器、校准系数生成器、系数烧录器和程序烧录器相互配合，可以充分利用自动化控制的优势，提高校准效率和程序烧录效率。

此外，本申请实施例中还提供一种计算机设备，该计算机设备内部结构可以如图3所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口和数据库。其中，该处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储计算机程序调用的数据。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行数据通信。该计算机设备的输入装置用于接收外部设备输入的信号。该计算机程序被处理器执行时以实现一种如以上实施例所述的电子产品的烧录及校准方法。

本领域技术人员可以理解，图3中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定。

此外，本申请还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如以上实施例所述的电子产品的烧录及校准方法的步骤。可以理解的是，本实施例中的计算机可读存储介质可以是易失性可读存储介质，也可以为非易失性可读存储介质。

综上所述，为本申请实施例中提供的电子产品的烧录及校准方法、烧录及校准系统、计算机设备和计算机可读存储介质，实现对电子产品中待校准模组的自动化校准和相关应用程序的烧录。通过分析响应信号和生成校准系数，可以在烧录过程中对模组进行精确的校准，提高产品的性能一致性和准确度。同时，通过烧录装置的使用，融合校准过程和应用程序烧录过程，简化了电子产品的生产流程，提高了生产效率和质量控制水平。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的和实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可以包括只读存储器（ROM）、可编程ROM（PROM）、电可编程ROM（EPROM）、电可擦除可编程ROM（EEPROM）或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器（RAM）或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM通过多种形式可得，诸如静态RAM（SRAM）、动态RAM（DRAM）、同步DRAM（SDRAM）、双速据率SDRAM（SSRSDRAM）、增强型SDRAM（ESDRAM）、同步链路（Synchlink）DRAM（SLDRAM）、存储器总线（Rambus）直接RAM（RDRAM）、直接存储器总线动态RAM（DRDRAM）、以及存储器总线动态RAM（RDRAM）等。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、装置、物品或者方法不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其它要素，或者是还包括为这种过程、装置、物品或者方法所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、装置、物品或者方法中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种电子产品的烧录及校准方法，其特征在于，包括：

向电子产品的待校准模组输出标准信号；

接收所述待校准模组基于所述标准信号反馈的响应信号；

分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，并根据所述第一差值生成校准系数；

将所述校准系数输入到烧录装置，以通过所述烧录装置将所述校准系数烧录到电子产品中，其中，所述烧录装置还用于向电子产品烧录相应的应用程序；

其中，所述分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，并根据所述第一差值生成校准系数的步骤包括：

基于校准系数生成器分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值；

基于所述第一差值对所述响应信号进行校准处理，得到比对信号；

计算所述比对信号与所述目标信号之间的第二差值；

检测所述第二差值是否满足预设条件；

若是，则将所述第一差值作为校准系数；

若否，则根据所述第一差值和所述第二差值生成校准系数。

2.如权利要求1所述的电子产品的烧录及校准方法，其特征在于，所述根据所述第一差值生成校准系数的步骤包括：

计算多个所述第一差值的均值，作为校准系数；

其中，所述待校准模组基于所述标准信号，采用同一处理方式多次生成所述响应信号。

3.如权利要求1所述的电子产品的烧录及校准方法，其特征在于，所述将所述校准系数输入到烧录装置，以通过所述烧录装置将所述校准系数烧录到电子产品中的步骤之后，还包括：

接收所述待校准模组反馈的校准后的响应信号，其中，所述待校准模组基于所述标准信号再次生成响应信号，并基于校准系数对响应信号进行校准处理；

分析校准后的响应信号与相应的目标信号之间的第三差值，并根据所述第三差值和所述第一差值更新所述校准系数；

基于所述烧录装置将更新后的所述校准系数烧录到电子产品中，并检测更新后的所述校准系数与更新前的所述校准系数之间的第四差值，是否小于预设阈值；

若是，则判定所述校准系数更新完毕；

若否，则通知电子产品基于更新后的所述校准系数重新反馈校准后的响应信号，以及将更新后的校准系数更新为第一差值，并返回执行所述接收所述待校准模组反馈的校准后的响应信号的步骤。

4.如权利要求1-3中任一项所述的电子产品的烧录及校准方法，其特征在于，所述将所述校准系数输入到烧录装置的步骤之后，还包括：

检测电子产品中所有的待校准模组是否已校准完成；

若未全部校准完成，则确定下一个待校准模组，并返回执行所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤；

若已全部校准完成，则控制烧录装置统一向电子产品烧录所有待校准模组对应的所述校准系数。

5.如权利要求1所述的电子产品的烧录及校准方法，其特征在于，所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤之前，还包括：

控制烧录装置向电子产品烧录相应的应用程序，其中，所述应用程序包括校准程序；

或者，控制烧录装置向电子产品烧录校准程序，其中，在所述烧录装置向电子产品烧录所述校准系数时，还向电子产品烧录除校准程序外的其他应用程序；

其中，所述校准程序用于使所述待校准模组基于所述标准信号生成相应的响应信号。

6.如权利要求1所述的电子产品的烧录及校准方法，其特征在于，所述向电子产品的待校准模组输出标准信号的步骤之前，还包括：

根据所述待校准模组对应的功能信息，生成所述待校准模组对应的标准信号和目标信号。

7.一种烧录及校准系统，其特征在于，包括校准装置和烧录装置，其中，所述校准装置包括标准信号生成器和校准系数生成器，所述烧录装置包括系数烧录器和程序烧录器；

所述标准信号生成器，用于生成标准信号和目标信号，并向电子产品的待校准模组输出标准信号，以及向所述校准系数生成器输出目标信号；

所述校准系数生成器，用于接收所述待校准模组基于所述标准信号反馈的响应信号；以及分析所述响应信号与相应的目标信号之间的第一差值，基于所述第一差值对所述响应信号进行校准处理，得到比对信号；计算所述比对信号与所述目标信号之间的第二差值；检测所述第二差值是否满足预设条件；若是，则将所述第一差值作为校准系数；若否，则根据所述第一差值和所述第二差值生成校准系数；所述校准系数生成器还用于将所述校准系数输入到烧录装置；

所述系数烧录器，用于将所述校准系数烧录到电子产品中；

所述程序烧录器，用于向电子产品烧录相应的应用程序。

8.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的电子产品的烧录及校准方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的电子产品的烧录及校准方法的步骤。