CN117792526B - 一种天线射频性能的测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种天线射频性能的测试系统及方法，属于电信号的测试领域，本发明在监测点对天线的辐射强度进行采集，获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算，将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，进行天线射频异常报警，通过对天线射频数据进行综合计算对天线射频性能进行综合分析，提高了天线射频性能测试的准确性和测试效率。
Description
技术领域
本发明属于电信号的测试领域，具体的说是一种天线射频性能的测试系统及方法。
背景技术
天线射频性能的测试主要为方向图测试：方向图是表示天线辐射或接收电磁波的主导方向的图形，通过方向图测试可以确定天线在不同方向上的强度和覆盖范围，在测试过程中，需要注意测量准确性和环境影响等因素，通过天线射频性能，可以全面评估天线的射频性能，为产品设计、调试和优化提供参考依据，现有技术在进行天线射频性能测试过程中，无法通过对天线射频数据进行综合计算对天线射频性能进行综合分析，导致天线射频性能测试的准确性和测试效率较差，现有技术中均存在上述问题；
例如在授权公布号为CN102148649B的中国专利中公开了一种实现多天线设备空间射频性能OTA测试的方法，通过现有的暗室测量方法测得的被测设备各天线的性能参数，重置用于模拟空间信道的信道模拟器的参数，再由重置后的信道模拟器，完成被测设备的链路仿真或链路测试，最终得到被测设备的OTA测试结果。该发明还公开了一种实现多天线设备空间射频性能测试的系统， 本发明给出了一种新的思路，使用两阶段分步进行，实现了MIMO系统或MIMO终端的OTA测试，只需要使用传统暗室不需要对暗室进行改造即可完成测试，测试难度低，易于实现；
以上专利均存在本背景技术提出的问题：现有技术在进行天线射频性能测试过程中，无法通过对天线射频数据进行综合计算对天线射频性能进行综合分析，导致天线射频性能测试的准确性和测试效率较差，为了解决这些问题，本申请设计了一种天线射频性能的测试系统及方法。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提出了一种天线射频性能的测试系统及方法，本发明将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集，获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算，将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，进行天线射频异常报警，通过对天线射频数据进行综合计算对天线射频性能进行综合分析，提高了天线射频性能测试的准确性和测试效率。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种天线射频性能的测试方法，其包括以下具体步骤：
S1、将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集；
S2、获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算；
S3、获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算；
S4、将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算；
S5、将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，若得到的测试异常值大于等于设定的测试异常阈值，则进行天线射频异常报警，若得到的测试异常值小于设定的测试异常阈值，则显示天线射频正常。
具体的，所述S1包括以下具体步骤：
S11、将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的额定辐射强度的边界轮廓图像，将边界轮廓图像还原至实际场景中，以测试台的中心位置对应为边界轮廓图像的中心位置；
S12、沿着实际场景的边界轮廓图像的边沿等间距设置若干个监测点，将天线接通电源，使天线以额定发射功率进行辐射输出，在监测点对天线发射至监测点的辐射强度进行采集；
S13、获取全部监测点采集的辐射强度储存在储存模组中。
具体的，所述S2中的第一测试值计算策略包括以下具体内容：
S21、获取全部监测点的辐射强度、全部监测点距离天线的距离和监测点的标准辐射强度；
S22、将获取得到的全部监测点的辐射强度、全部监测点距离天线中轴线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算公式中计算第一测试值，其中，第一测试值计算公式为：，其中，exp()为e的幂次，n为全部监测点的个数，/>为第i个监测点距离天线中轴线的距离，/>为第i个监测点的辐射强度，/>为监测点的标准辐射强度；
具体的，所述S3中第二测试值计算策略包括如下具体步骤：
S31、获取各个监测点的辐射强度，对各个监测点的辐射强度进行求平均得出监测点辐射强度的平均值z；
S32、将计算得到的监测点辐射强度的平均值z、各个监测点的辐射强度和第一测试值代入第二测试值计算公式中进行第二测试值的计算，其中，第二测试值计算公式为：。
具体的，所述S4中测试异常值计算策略包括如下具体步骤：
S41、获取计算得到的第一测试值和第二测试值后，获取设定周期后的监测点的辐射强度再次进行第一测试值和第二测试值的计算；这里需要说明的是，设定周期设置为大于等于设备的预热时间；这样避免了一次测量导致的偶然误差的同时避免了设备预热阶段的误差；
S42、将获取的两组第一测试值求平均后得到第一测试平均值，将获取的两组第二测试值求平均后得到第二测试平均值/>；
S43、将计算得到的第一测试平均值和第二测试平均值代入测试异常值计算公式中进行测试异常值计算，其中，测试异常值计算公式为：，其中，/>为第一测试平均值占比系数，/>为第二测试平均值占比系数，其中，/>。
具体的，所述S5的具体步骤如下：
S51、提取计算得到的测试异常值，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比；
S52、若得到的测试异常值大于等于设定的测试异常阈值，则进行天线射频异常报警，若得到的测试异常值小于设定的测试异常阈值，则显示天线射频正常。
在此需要说明的是，这里的第一测试平均值占比系数、第二测试平均值占比系数和设定的测试异常阈值的取值方式为：获取5000组天线射频性能数据，聘请500名本领域的专家进行正常产品和异常产品的分类，将天线射频性能数据代入测试异常值计算公式中进行测试异常值的计算，将计算得到的测试异常值和分类结果导入拟合软件中，输出符合判断准确度的最优第一测试平均值占比系数、第二测试平均值占比系数和设定的测试异常阈值的取值。
一种天线射频性能的测试系统，其基于上述一种天线射频性能的测试方法实现，其包括数据采集模块、第一测试值计算模块、第二测试值计算模块、测试异常值计算模块、数据对比模块、显示模块和控制模块，所述数据采集模块用于将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集，所述第一测试值计算模块用于获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，所述第二测试值计算模块用于获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算。
具体的，所述测试异常值计算模块用于将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，所述数据对比模块用于将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，所述显示模块用于进行天线射频异常或正常报警显示。
具体的，所述控制模块用于控制数据采集模块、第一测试值计算模块、第二测试值计算模块、测试异常值计算模块、数据对比模块和显示模块的运行。
一种电子设备，包括：处理器和存储器，其中，所述存储器中存储有可供处理器调用的计算机程序；
所述处理器通过调用所述存储器中存储的计算机程序，执行上述的一种天线射频性能的测试方法。
一种计算机可读存储介质，储存有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如上述的一种天线射频性能的测试方法。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
本发明将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集，获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算，将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，进行天线射频异常报警，通过对天线射频数据进行综合计算对天线射频性能进行综合分析，提高了天线射频性能测试的准确性和测试效率。
附图说明
图1为本发明一种天线射频性能的测试方法流程示意图；
图2为本发明一种天线射频性能的测试系统整体框架示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例1
请参阅图1，本发明提供的一种实施例：一种天线射频性能的测试方法，其包括以下具体步骤：
S1、将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集；
S2、获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算；
S3、获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算；
S4、将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算；
S5、将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，若得到的测试异常值大于等于设定的测试异常阈值，则进行天线射频异常报警，若得到的测试异常值小于设定的测试异常阈值，则显示天线射频正常。
在此需要说明的是，S1包括以下具体步骤：
S11、将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的额定辐射强度的边界轮廓图像，将边界轮廓图像还原至实际场景中，以测试台的中心位置对应为边界轮廓图像的中心位置；
S12、沿着实际场景的边界轮廓图像的边沿等间距设置若干个监测点，将天线接通电源，使天线以额定发射功率进行辐射输出，在监测点对天线发射至监测点的辐射强度进行采集；
一个完整的Python代码来实现这一过程涉及多个步骤，以下是一个概念性的Python代码示例：
python
import cv2
import numpy as np
import gpiozero
# 假设有一个函数来控制天线的发射功率
def set_antenna_power(power):
# 这里应该是控制天线发射功率的代码
print(f"Setting antenna power to {power} dBm")
# 假设我们有一个函数来读取辐射强度
def read_radiation_intensity(monitor_point):
# 这里应该是读取辐射强度的代码
# 这可能涉及硬件接口，如GPIO读取传感器数据
radiation_intensity = np.random.rand() # 示例数据
return radiation_int
# 读取图像并找到边界轮廓
image_path = 'path_to_your_image.jpg'
image = cv2.imread(image_path)
gray = cv2.cvtColor(image, cv2.COLOR_BGR2GRAY)
edges = cv2.Canny(gray, 50, 150, apertureSize=3)
contours, _ = cv2.findContours(edges, cv2.RETR_EXTERNAL, cv2.CHAIN_APPROX_SIMPLE)
# 在轮廓上等间距地设置监测点
monitoring_points = []
for contour in contours:
x, y, w, h = cv2.boundingRect(contour)
monitoring_points.append((x + w//2, y + h//2)) # 示例：在中心设置监测点
# 设置天线功率并发射
set_ant_power(10) # 假设设置10 dBm的发射功率
# 在监测点采集辐射强度
radiation_data = []
for point in monitoring_points:
radiation_intensity = read_radiation_intensity(point)
radiation_data.append(radiation_intensity)
print(f"Radiation intensity at {point}: {radiation_intensity}")
请注意，这段代码仅作为一个示例，实际应用中需要根据硬件和软件环境进行调整；需要确保有适当的硬件接口来控制天线和读取传感器数据，并且代码需要与这些硬件的API相匹配；此外，可能需要处理图像处理的结果，以确保正确地找到了边界轮廓，并且在监测点正确地采集了辐射数据；
S13、获取全部监测点采集的辐射强度储存在储存模组中。
在此需要说明的是，S2中的第一测试值计算策略包括以下具体内容：
S21、获取全部监测点的辐射强度、全部监测点距离天线的距离和监测点的标准辐射强度；
S22、将获取得到的全部监测点的辐射强度、全部监测点距离天线中轴线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算公式中计算第一测试值，其中，第一测试值计算公式为：，其中，exp()为e的幂次，n为全部监测点的个数，/>为第i个监测点距离天线中轴线的距离，/>为第i个监测点的辐射强度，/>为监测点的标准辐射强度；
在此需要说明的是，S3中第二测试值计算策略括如下具体步骤：
S31、获取各个监测点的辐射强度，对各个监测点的辐射强度进行求平均得出监测点辐射强度的平均值z；
S32、将计算得到的监测点辐射强度的平均值z、各个监测点的辐射强度和第一测试值代入第二测试值计算公式中进行第二测试值的计算，其中，第二测试值计算公式为：。
在此需要说明的是，S4中测试异常值计算策略包括如下具体步骤：
S41、获取计算得到的第一测试值和第二测试值后，获取设定周期后的监测点的辐射强度再次进行第一测试值和第二测试值的计算；这里需要说明的是，设定周期设置为大于等于设备的预热时间；这样避免了一次测量导致的偶然误差的同时避免了设备预热阶段的误差；
S42、将获取的两组第一测试值求平均后得到第一测试平均值，将获取的两组第二测试值求平均后得到第二测试平均值/>；
S43、将计算得到的第一测试平均值和第二测试平均值代入测试异常值计算公式中进行测试异常值计算，其中，测试异常值计算公式为：，其中，/>为第一测试平均值占比系数，/>为第二测试平均值占比系数，其中，/>。
在此需要说明的是，S5的具体步骤如下：
S51、提取计算得到的测试异常值，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比；
S52、若得到的测试异常值大于等于设定的测试异常阈值，则进行天线射频异常报警，若得到的测试异常值小于设定的测试异常阈值，则显示天线射频正常。
在此需要说明的是，这里的第一测试平均值占比系数、第二测试平均值占比系数和设定的测试异常阈值的取值方式为：获取5000组天线射频性能数据，聘请500名本领域的专家进行正常产品和异常产品的分类，将天线射频性能数据代入测试异常值计算公式中进行测试异常值的计算，将计算得到的测试异常值和分类结果导入拟合软件中，输出符合判断准确度的最优第一测试平均值占比系数、第二测试平均值占比系数和设定的测试异常阈值的取值；
在此需要说明的是，本实施例相对于现有技术的好处为：将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集，获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算，将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，进行天线射频异常报警，通过对天线射频数据进行综合计算对天线射频性能进行综合分析，提高了天线射频性能测试的准确性和测试效率。
实施例2
如图2所示，一种天线射频性能的测试系统，其基于上述一种天线射频性能的测试方法实现，其包括数据采集模块、第一测试值计算模块、第二测试值计算模块、测试异常值计算模块、数据对比模块、显示模块和控制模块，数据采集模块用于将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集，第一测试值计算模块用于获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，第二测试值计算模块用于获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算；测试异常值计算模块用于将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，数据对比模块用于将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，显示模块用于进行天线射频异常或正常报警显示；控制模块用于控制数据采集模块、第一测试值计算模块、第二测试值计算模块、测试异常值计算模块、数据对比模块和显示模块的运行。
实施例3
本实施例提供一种电子设备，包括：处理器和存储器，其中，存储器中存储有可供处理器调用的计算机程序；
处理器通过调用存储器中存储的计算机程序，执行上述的一种天线射频性能的测试方法。
该电子设备可因配置或性能不同而产生比较大的差异，能够包括一个或一个以上的处理器（Central Processing Units，CPU）和一个或一个以上的存储器，其中，该存储器中存储有至少一条计算机程序，该计算机程序由该处理器加载并执行以实现上述方法实施例提供的一种天线射频性能的测试方法。该电子设备还能够包括其他用于实现设备功能的部件，例如，该电子设备还能够具有有线或无线网络接口以及输入输出接口等部件，以便进行数据的输入输出。本实施例在此不做赘述。
实施例4
本实施例提出一种计算机可读存储介质，其上存储有可擦写的计算机程序；
当计算机程序在计算机设备上运行时，使得计算机设备执行上述的一种天线射频性能的测试方法。
例如，计算机可读存储介质能够是只读存储器（Read-Only Memory，简称：ROM）、随机存取存储器（Random Access Memory，简称：RAM）、只读光盘（Compact Disc Read-OnlyMemory，简称：CD-ROM）、磁带、软盘和光数据存储设备等。
应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
应理解，根据A确定B并不意味着仅仅根据A确定B，还能够根据A和/或其它信息确定B。
上述实施例，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或其他任意组合来实现。当使用软件实现时，上述实施例可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。计算机程序产品包括一个或多个计算机指令或计算机程序。在计算机上加载或执行计算机指令或计算机程序时，全部或部分地产生按照本发明实施例的流程或功能。计算机可以为通用计算机、专用计算机、计算机网络或者其他可编程装置。计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线网络或/和无线网络方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集合的服务器、数据中心等数据存储设备。可用介质可以是磁性介质（例如，软盘、硬盘、磁带）、光介质（例如，DVD）或者半导体介质。半导体介质可以是固态硬盘。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本发明中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种划分方式，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可做很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (6)
1.一种天线射频性能的测试方法，其特征在于，其包括以下具体步骤：
S1、将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集；
所述S1包括以下具体步骤：
S11、将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的额定辐射强度的边界轮廓图像，将边界轮廓图像还原至实际场景中，以测试台的中心位置对应为边界轮廓图像的中心位置；
S12、沿着实际场景的边界轮廓图像的边沿等间距设置若干个监测点，将天线接通电源，使天线以额定发射功率进行辐射输出，在监测点对天线发射至监测点的辐射强度进行采集；
S13、获取全部监测点采集的辐射强度储存在储存模组中；
S2、获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算；
所述S2中的第一测试值计算策略包括以下具体内容：
S21、获取全部监测点的辐射强度、全部监测点距离天线的距离和监测点的标准辐射强度；
S22、将获取得到的全部监测点的辐射强度、全部监测点距离天线中轴线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算公式中计算第一测试值，其中，第一测试值计算公式为：，其中，exp()为e的幂次，n为全部监测点的个数，为第i个监测点距离天线中轴线的距离，/>为第i个监测点的辐射强度，/>为监测点的标准辐射强度；
S3、获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算；
所述S3中第二测试值计算策略包括如下具体步骤：
S31、获取各个监测点的辐射强度，对各个监测点的辐射强度进行求平均得出监测点辐射强度的平均值z；
S32、将计算得到的监测点辐射强度的平均值z、各个监测点的辐射强度和第一测试值代入第二测试值计算公式中进行第二测试值的计算，其中，第二测试值计算公式为：
；
S4、将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算；
所述S4中测试异常值计算策略包括如下具体步骤：
S41、获取计算得到的第一测试值和第二测试值后，获取设定周期后的监测点的辐射强度再次进行第一测试值和第二测试值的计算；
S42、将获取的两组第一测试值求平均后得到第一测试平均值；，将获取的两组第二测试值求平均后得到第二测试平均值/>；
S43、将计算得到的第一测试平均值和第二测试平均值代入测试异常值计算公式中进行测试异常值计算，其中，测试异常值计算公式为：，其中，/>为第一测试平均值占比系数，/>为第二测试平均值占比系数，其中，/>；
S5、将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，若得到的测试异常值大于等于设定的测试异常阈值，则进行天线射频异常报警，若得到的测试异常值小于设定的测试异常阈值，则显示天线射频正常。
2.如权利要求1所述的一种天线射频性能的测试方法，其特征在于，所述S5的具体步骤如下：
S51、提取计算得到的测试异常值，将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比；
S52、若得到的测试异常值大于等于设定的测试异常阈值，则进行天线射频异常报警，若得到的测试异常值小于设定的测试异常阈值，则显示天线射频正常。
3.一种天线射频性能的测试系统，其基于如权利要求1-2任一项的所述一种天线射频性能的测试方法实现，其特征在于，其包括数据采集模块、第一测试值计算模块、第二测试值计算模块、测试异常值计算模块、数据对比模块、显示模块和控制模块，所述数据采集模块用于将待测试的天线固定安装在测试台上，获取待测试天线的标准方向图，获取标准方向图的边界轮廓图像，天线以额定发射功率进行辐射输出，边界轮廓等间距设置若干个监测点，在监测点对天线的辐射强度进行采集，所述第一测试值计算模块用于获取监测点的辐射强度、监测点至天线的距离和监测点的标准辐射强度导入第一测试值计算策略中进行第一测试值的计算，所述第二测试值计算模块用于获取监测点的辐射强度和第一测试值导入第二测试值计算策略中进行第二测试值的计算。
4.如权利要求3所述的一种天线射频性能的测试系统，其特征在于，所述测试异常值计算模块用于将计算得到的第一测试值和第二测试值代入测试异常值计算策略中进行测试异常值的计算，所述数据对比模块用于将得到的测试异常值与设定的测试异常阈值进行对比，所述显示模块用于进行天线射频异常或正常报警显示，所述控制模块用于控制数据采集模块、第一测试值计算模块、第二测试值计算模块、测试异常值计算模块、数据对比模块和显示模块的运行。
5.一种电子设备，包括：处理器和存储器，其中，所述存储器中存储有可供处理器调用的计算机程序；
其特征在于，所述处理器通过调用所述存储器中存储的计算机程序，执行如权利要求1-2任一项所述的一种天线射频性能的测试方法。
6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，储存有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1-2任一项所述的一种天线射频性能的测试方法。
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