CN116008779A - 集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；确定各电磁信号的信号类型；根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。采用本方法能够全面地检测集成电路的信息泄露情况。

Description

集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。

背景技术

集成电路是信息设备的核心，其中处理并存储了大量重要信息，因此，集成电路的安全性至关重要。

然而，集成电路在运行过程中不可避免地会产生电磁辐射等旁路信号，而旁路信号中可能存在集成电路的某些信息，导致集成电路发生信息泄露。

因此，如何检测集成电路的信息泄露情况成为目前亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请提供一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品，能够全面地检测集成电路的信息泄露情况。

第一方面，本申请提供了一种集成电路检测方法。该方法包括：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各电磁信号的信号类型；

根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

在其中一个实施例中，根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应的检测结果，包括：在信号类型为调制信号的情况下，将电磁信号与多个预设电路信号进行比较；若不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路泄露有用信息。

在其中一个实施例中，集成电路检测方法还包括：若存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在其中一个实施例中，集成电路检测方法还包括：在信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在其中一个实施例中，确定各电磁信号的信号类型，包括：将各电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较；若电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征相匹配，则确定电磁信号的信号类型为调制信号。

在其中一个实施例中，集成电路检测方法还包括：采用近场扫描方式获取集成电路的强发射部位。

第二方面，本申请还提供了一种集成电路检测装置。该装置包括：

获取模块，用于获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定模块，用于确定各电磁信号的信号类型；

检测模块，用于根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。该计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各电磁信号的信号类型；

根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各电磁信号的信号类型；

根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。该计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各电磁信号的信号类型；

根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

本申请实施例提供一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品，可以通过信号采集设备获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号，然后确定各电磁信号的信号类型，并根据信号类型对各电磁信号进行进一步检测，得到各电磁信号对应检测结果。本申请实施例提供的方法可以对集成电路的泄露情况进行分析，在集成电路存在电磁泄露的情况下，不仅可以确定泄露的位置和频点，还可以剔除噪声、已知信号等的干扰，确定电磁信号是否泄露有用信息，提高了检测结果的全面性和准确度。

附图说明

图1为一个实施例中集成电路检测方法的应用环境图；

图2为一个实施例中集成电路检测方法的流程示意图；

图3为一个实施例中电磁信号的波形示意图；

图4为一个实施例中集成电路检测方法的另一流程示意图；

图5为一个实施例中集成电路检测方法的另一流程示意图；

图6为一个实施例中集成电路检测装置的结构框图；

图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请实施例提供的集成电路检测方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，终端102通过网络与信号采集设备104进行通信。数据存储系统可以存储终端102需要处理的数据。数据存储系统可以集成在终端102上，也可以放在云上或其他网络服务器上。终端102可以对信号采集设备104采集的电磁信号进行分析。其中，终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑

在一个实施例中，如图2所示，提供了一种集成电路检测方法，以该方法应用于图1中的终端为例进行说明，包括以下步骤：

步骤101、获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号。

其中，信号采集设备可以包括电磁探头和频谱仪。强发射部位为集成电路中，电磁发射强度高于预设强度阈值的位置。

在本申请实施例中，可以将信号采集设备中的电磁探头固定在三轴位移台上，位置固定在待测试的集成电路的表面，然后通过操作三轴位移台移动电磁探头在集成电路表面的位置，使得电磁探头可以获取集成电路表面不同位置处的电磁信号，并将获取的电磁信号发送至频谱仪，频谱仪再将集成电路表面各位置处的电磁信号以频谱形式发送至终端。

终端对集成电路表面各位置处的电磁信号进行分析，将信号强度高于预设强度阈值的电磁信号确定为强发射部位的电磁信号，从而获取到集成电路至少一个强发射部位的电磁信号。

在一个实施例中，终端还可以记录各位置处的电磁信号的最大强度，然后对多个最大强度进行排序，将排序在前的多个电磁信号确定为强发射部位的电磁信号，例如，可以将排序在前的10个电磁信号确定为强发射部位的电磁信号。

步骤102、确定各电磁信号的信号类型。

其中，信号类型包括调制信号和噪声。

由于集成电路体积小，若要将其所处理的有用信号通过电磁信号的形式有效地泄露出去，需对该有用信号进行调制。因此，可以先确定各电磁信号是否为调制信号。

在本申请实施例中，调制信号具备一定的信号特征。因此，终端可将各电磁信号分别与调制信号进行特征比对，若电磁信号的特征与调制信号的特征匹配，则确定该电磁信号的信号类型为调制信号；若电磁信号的特征与调制信号的特征不匹配，则确定该电磁信号的信号类型为噪声。

步骤103、根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

在本申请实施例中，若电磁信号的信号类型为噪声，则确定该电磁信号对应的检测结果为集成电路未泄露有用信息。

若电磁信号的信号类型为调制信号，则对该电磁信号进行进一步检测，例如，可以对该电磁信号与集成电路中的某些已知信号进行特征对比，若电磁信号的特征与集成电路任一已知信号的特征相匹配，则说明该电磁信号为可以公开的信号，因此，该电磁信号对应的检测结果为集成电路未泄露有用信息；若电磁信号的特征与集成电路中的已知信号皆不匹配，则说明该电磁信号为未知信号，可能携带有用信息，因此，确定该电磁信号对应的检测结果为集成电路泄露有用信息。

在一个实施例中，在信号采集设备获取电磁信号之前，还可以将集成电路放置于电波暗室中进行暗室辐射测试，确定强发射频点。将集成电路放置在电波暗室中以隔绝其他电磁信号的干扰，然后在电波暗室中的不同位置处放置天线，天线与频谱仪连接，通过多个天线采集集成电路在运行过程中发出的电磁信号。频谱仪将各天线采集的电磁信号的频谱发送至终端进行分析。若存在信号强度大于预设强度阈值的电磁信号，则终端可以记录该强度对应的频率，记为强发射频点。

其中，预设强度阈值可以为曲线。

例如，如图3所示，位置在上的曲线表示预设强度阈值，位置在下的曲线为信号采集设备采集到的电磁信号。电磁信号曲线上标星号的点即为强度大于强度阈值的点，该点对应的频率值即为强发射频点。图中，纵坐标为辐射的电磁信号的信号强度，横坐标为频率。

当后续终端通过信号采集设备获取到集成电路至少一个强发射部位的电磁信号后，可以先对电磁信号进行截取，截取强发射频点附近频率范围的信号片段，基于该信号片段进行后续信号类型的确认、特征对比等进一步的分析。

本申请实施例提供的集成电路检测方法可以通过信号采集设备获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号，然后确定各电磁信号的信号类型，并根据信号类型对各电磁信号进行进一步检测，得到各电磁信号对应检测结果。本申请实施例提供的方法可以对集成电路的泄露情况进行分析，在集成电路存在电磁泄露的情况下，不仅可以确定泄露的位置和频点，还可以剔除噪声、已知信号等的干扰，确定电磁信号是否泄露有用信息，提高了检测结果的全面性和准确度。

前文所述的实施例中介绍了根据信号类型对电磁信号进行进一步检测，得到检测结果的方案，在本申请的另一实施例中，可以在信号类型为调制信号的情况下，对电磁信号进行预设电路信号的对比，得到检测结果，包括如图4所示的步骤：

步骤201、在信号类型为调制信号的情况下，将电磁信号与多个预设电路信号进行比较。

步骤202、若不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路泄露有用信息。

由于集成电路体积小，若要将其所处理的有用信号通过电磁信号的形式有效地泄露出去，需对该有用信号进行调制，即泄露有用信息的电磁信号常为调制信号。

在本申请实施例中，终端中可以存储多个预设电路信号，预设电路信号为已知的、可以公开的一些集成电路的信号，例如集成电路的时钟信号等。

在信号类型为调制信号的情况下，终端可以对电磁信号进行进一步分析，将电磁信号与存储的多个预设电路信号进行比较，例如，可以比较电磁信号与多个预设电路信号的周期、电平变化等特征。

若存在与电磁信号的特征匹配的预设电路信号，例如，若电磁信号的周期与某一预设电路信号的周期相同，或者电磁信号的电平变化与某一预设电路信号的电平变化的相似度大于预设相似度阈值，则确定存在与电磁信号匹配的预设电路信号，说明该电磁信号为可以公开的信号，因此，确定该电磁信号对应的检测结果为集成电路未泄露有用信息。

若不存在与电磁信号的特征匹配的预设电路信号，例如，不存在与电磁信号周期相同，或电平变化相似的预设电路信号，则确定不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，该电磁信号为未知的信号，可能携带有用信息，因此，确定该电磁信号对应的检测结果为集成电路泄露有用信息。

本申请实施例提供的方法可以在电磁信号的信号类型为调制信号的情况下，对电磁信号进行进一步分析，将该电磁信号与预设电路信号进行对比，确定该电磁信号是否携带有用信息。在电磁信号和预设电路信号匹配的情况下，确定电磁信号不携带有用信息；在电磁信号和预设电路信号不匹配的情况下，确定电磁信号携带了有用信息，集成电路存在有用信息的泄露。本申请实施例提供的方法可以通过信号类型、预设电路信号匹配等方式对集成电路的泄露情况进行进一步分析，确定电磁信号是否泄露有用信息，提高了检测结果的全面性和准确度。

前文所述的实施例中介绍了电磁信号的信号类型为调制信号的情况下，确定检测结果的方案，在本申请的另一实施例中，在电磁信号的信号类型为非调制信号的情况下，检测结果的确定可以如以下步骤所示：

在信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在本申请实施例中，信号类型可以分为噪声和调制信号，电磁信号的信号类型为非调制信号，则说明电磁信号的信号类型为噪声，噪声中一般不携带有用信息。

因此，终端在确定电磁信号的信号类型为非调制信号的情况下，确定该电磁信号对应的检测结果为集成电路未泄露有用信息。

本申请实施例提供的方法中终端在确定电磁信号的信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。本申请实施例提供的方法可以通过确定信号类型剔除噪声对检测结果的干扰，提高了检测结果的准确度。

前文所述的实施例中介绍了确定电磁信号的信号类型的方案，在本申请的另一实施例中，可以通过信号特征对比确定电磁信号的信号类型，包括如图5所示的步骤：

步骤301、将各电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较。

步骤302、若电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征相匹配，则确定电磁信号的信号类型为调制信号。

其中，预设调制信号可以包括幅度调制(Amplitude Modulation，AM)信号和频率调制(Frequency Modulation，FM)信号。

在本申请实施例中，AM调制信号和FM调制信号的信号波形皆不相同，因此，可以将波形作为信号特征进行比较。即将各电磁信号的波形与预设调制信号的波形进行比较，若电磁信号的波形与任一预设调制信号的波形的相似度大于预设相似度阈值，则确定该电磁信号为调制信号；若不存在任一预设调制信号与电磁信号的波形之间的相似度大于预设相似度阈值，则确定该电磁信号为噪声。

本申请实施例提供的方法可以通过对电磁信号和预设调制信号的波形进行比较，在电磁信号的波形与预设调制信号的波形相匹配的情况下，确定电磁信号的信号类型为调制信号。本申请实施例提供的方法可以通过波形比较确定电磁信号的信号类型，以剔除噪声对检测结果的影响，提高了检测结果的准确度。

前文所述的实施例介绍了获取强发射部位的电磁信号的方案，在本申请的另一实施例中，可以通过近场扫描方式确定法集成电路的强发射部位，包括以下步骤：

采用近场扫描方式获取集成电路的强发射部位。

其中，近场扫描即为采用信号采集设备在集成电路表面进行扫描，获取集成电路表面各位置处的电磁信号。

在本申请实施例中，可以将信号采集设备中的电磁探头固定在三轴位移台上，位置固定在待测试的集成电路的表面，然后通过操作三轴位移台移动电磁探头在集成电路表面的位置，使得电磁探头获取集成电路表面不同位置处的电磁信号，并将获取的电磁信号发送至频谱仪，频谱仪再将集成电路表面各位置处的电磁信号以频谱形式发送至终端，从而完成集成电路的近场扫描。

终端在获取到集成电路表面各位置处的电磁信号后，对各位置处的电磁信号进行分析，将信号强度高于预设强度阈值的电磁信号所在的位置确定为强发射部位，从而可以确定集成电路的至少一个强发射部位。

本申请实施例提供的方法可以采用近场扫描的方式确定集成电路的强发射部位，采用较近距离获取集成电路各位置处的电磁信号，使得采集的电磁信号更为准确，从而基于准确的电磁信号确定的强发射部位也更为准确。

应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的集成电路检测方法的集成电路检测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个集成电路检测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于集成电路检测方法的限定，在此不再赘述。

在一个实施例中，如图6所示，提供了一种集成电路检测装置，包括：获取模块401、确定模块402和检测模块403，其中：

获取模块401，用于获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定模块402，用于确定各电磁信号的信号类型；

检测模块403，用于根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

在一个实施例中，检测模块403，具体用于在信号类型为调制信号的情况下，将电磁信号与多个预设电路信号进行比较；若不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路泄露有用信息。

在一个实施例中，集成电路检测装置还包括第一检测结果确定模块404，用于若存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，集成电路检测装置还包括第二检测结果确定模块405，用于在信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，确定模块402，具体用于将各电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较；若电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征相匹配，则确定电磁信号的信号类型为调制信号。

在一个实施例中，集成电路检测装置还包括强发射部位获取模块406，用于采用近场扫描方式获取集成电路的强发射部位。

上述集成电路检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口、通信接口、显示单元和输入装置。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口、显示单元和输入装置通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种集成电路检测方法。该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画面，可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各电磁信号的信号类型；

根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：在信号类型为调制信号的情况下，将电磁信号与多个预设电路信号进行比较；若不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路泄露有用信息。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：若存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：在信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：将各电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较；若电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征相匹配，则确定电磁信号的信号类型为调制信号。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：采用近场扫描方式获取集成电路的强发射部位。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各电磁信号的信号类型；

根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在信号类型为调制信号的情况下，将电磁信号与多个预设电路信号进行比较；若不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：若存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：将各电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较；若电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征相匹配，则确定电磁信号的信号类型为调制信号。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：采用近场扫描方式获取集成电路的强发射部位。

在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各电磁信号的信号类型；

根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在信号类型为调制信号的情况下，将电磁信号与多个预设电路信号进行比较；若不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：若存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：在信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：将各电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较；若电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征相匹配，则确定电磁信号的信号类型为调制信号。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：采用近场扫描方式获取集成电路的强发射部位。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种集成电路检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定各所述电磁信号的信号类型；

根据所述信号类型对各所述电磁信号进行检测，得到各所述电磁信号对应检测结果；所述检测结果用于指示所述集成电路是否泄露有用信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述信号类型对各所述电磁信号进行检测，得到各所述电磁信号对应的检测结果，包括：

在所述信号类型为调制信号的情况下，将所述电磁信号与多个预设电路信号进行比较；

若不存在与所述电磁信号匹配的预设电路信号，则确定所述检测结果为所述集成电路泄露有用信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若存在与所述电磁信号匹配的预设电路信号，则确定所述检测结果为所述集成电路未泄露有用信息。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述信号类型为非调制信号的情况下，确定所述检测结果为所述集成电路未泄露有用信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各所述电磁信号的信号类型，包括：

将各所述电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较；

若所述电磁信号的信号特征与所述预设调制信号的信号特征相匹配，则确定所述电磁信号的信号类型为调制信号。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采用近场扫描方式获取所述集成电路的强发射部位。

7.一种集成电路检测装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

确定模块，用于确定各所述电磁信号的信号类型；

检测模块，用于根据所述信号类型对各所述电磁信号进行检测，得到各所述电磁信号对应检测结果；所述检测结果用于指示所述集成电路是否泄露有用信息。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

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