CN117743064B - 一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统 - Google Patents

一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统 Download PDF

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Abstract

本发明是关于应用于存储器芯片的抗辐照检测系统,该系统包括:辐照测试模块,用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试;无线通信模块,包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元;无线输出单元设置于辐照测试模块中并与存储器芯片相连,用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送;无线接收单元设置在辐照测试模块之外,用于接收测试数据;无线通信模块包括多种传输模式,控制单元根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式;数据分析模块,用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。本申请实时读取存储器芯片的测试数据并外发,并提出多种优化传输方式,使得对于存储器芯片的抗辐照检测更加高效。

Description

一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统
技术领域
本发明涉及芯片技术领域,尤其涉及应用于存储器芯片的抗辐照检测系统。
背景技术
随着航天事业飞速发展,存储器芯片已广泛应用于卫星、航天等辐照环境的领域。因此,对存储器芯片的抗辐照性能评估和辐照下的可靠稳定性考核就尤为关键。传统的存储器抗辐照检测是指对存储器芯片在辐射环境下的稳定性和可靠性进行测试和评估的过程。辐射可能来自宇宙射线、放射性物质或其他辐射源。在辐射环境下,存储器芯片可能会受到辐射引起的位翻转、故障或损坏,导致数据丢失或存储器功能失效。
传统的存储器抗辐照检测方案,通常是在辐射环境下对存储器芯片进行测试,测试条件包括根据实际需求选择适当的辐射源以模拟不同辐射环境,如X射线、质子束、中子源等,以及设置实验参数:确定辐射剂量、辐射能量、辐射时间等实验参数,以控制辐射的强度和持续时间。待辐照结束后将存储器芯片取出,读出存储器芯片中存储的测试数据,并根据原始存储数据评估其在辐射环境下的抗辐照性能。
现有的存储器芯片抗辐照检测技术主要存在以下问题:只能等待辐照结束后才能取出存储器芯片、读出存储器芯片中的测试数据,造成检测效率较低、短时间内测试数据回传量大等问题。
因此亟需一种新的方案来实现高效的存储器芯片抗辐照检测。
发明内容
为克服相关技术中存在的问题,本发明的实施例提供一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统。技术方案如下:
根据本发明的实施例的第一方面,提供一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统,包括:
辐照测试模块,用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试;
无线通信模块,包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元;其中,所述无线输出单元设置于辐照测试模块中并与存储器芯片相连,用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送到所述无线接收单元;所述无线接收单元设置在所述辐照测试模块之外,用于接收所述无线输出单元发送的测试数据;其中,所述无线通信模块包括以下多种传输模式,所述控制单元用于根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式:
单发单收模式:一个无线输出单元和一个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;
单发多收模式:一个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述一个无线输出单元输出的测试数据;
多发多收模式:多个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述多个无线输出单元输出的测试数据;
中断模式:在存储器芯片存在损坏风险的情况下,无线发送单元中止发送测试数据而发送特定数据帧;
数据分析模块,用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。
在本申请一实施例中,所述控制单元用于:
获取实时数据传输速率,以及根据信道建模参考信号实时分析接收数据的质量;
基于实时的数据传输速率以及接收数据的质量,切换传输模式。
在本申请一实施例中,所述接收数据的质量包括数据翻转率;所述控制单元用于:
当数据翻转率低于第一阈值,控制无线通信模块采用单发单收传输模式;
当数据翻转率高于第一阈值:当数据传输速率低于第一速率值时,控制无线通信模块采用单发单收传输模式,当数据传输速率高于第一速率值时,控制无线通信模块采用多发多收传输模式。
当数据翻转率高于第二阈值,所述第二阈值大于所述第一阈值,控制无线通信模块进入中断模式,经过预设时长,控制无线通信模块恢复中断前的传输模式。
在本申请一实施例中,所述单发多收模式和多发多收模式中,多个无线接收单元重复接收测试数据时,选取无线接收单元中性能指标最优的无线接收单元接收的测试数据。
在本申请一实施例中,所述无线输出单元用于:
实时获取存储器芯片的测试数据,测试数据包括存储器芯片的性能指标数据、辐射效应数据;
将获取到的测试数据进行编码;
采用多载波聚合方式将编码后的数据调制到不同的载波上;
将调制后的无线信号进行发送。
在本申请一实施例中,所述无线接收单元用于:
将接收到的无线信号解码重组为原始的测试数据;
对接收到的测试数据进行预处理,所述预处理包括以下一种或多种:滤波、插值、统计翻转率、备份。
在本申请一实施例中,所述数据分析模块用于对所有无线接收单元接收的测试数据以及处理结果进行整合并分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。
本发明的实施例提供的技术方案,可以实时读取存储器芯片的测试数据并外发,并且在外发测试数据时,根据实时传输情况切换传输模式,提高了测试数据的发送效率和可靠性,无需等待辐照测试完毕后才读取存储器芯片的测试数据,使得对于存储器芯片的抗辐照检测更加高效。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本发明。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本发明的实施例,并与说明书一起用于解释本发明的原理。
图1是根据一示例性实施例示出的应用于存储器芯片的抗辐照检测系统。
图2是根据一示例性实施例示出的应用于存储器芯片的抗辐照检测系统中的无线通信模块的示意图。
图3是根据一示例性实施例示出的应用于存储器芯片的抗辐照检测系统中的无线通信模块的示意图。
图4是根据一示例性实施例示出的应用于存储器芯片的抗辐照检测系统中的无线通信模块的示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。
本申请实施例提供一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统,以实现对存储器芯片的高效的抗辐照检测。示例的,如图1所示,该应用于存储器芯片的抗辐照检测系统,包括:
辐照测试模块101,用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试;
无线通信模块102,包括无线输出单元1021、无线接收单元1022和控制单元1023;其中,所述无线输出单元1021设置于辐照测试模块101中并与存储器芯片相连,用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送到所述无线接收单元1022;所述无线接收单元1022设置在所述辐照测试模块101之外,用于接收所述无线输出单元1021发送的测试数据;所述无线通信模块包括以下多种传输模式,所述控制单元用于根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式:
单发单收模式:一个无线输出单元和一个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;
单发多收模式:一个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述一个无线输出单元输出的测试数据;
多发多收模式:多个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述多个无线输出单元输出的测试数据;
中断/恢复模式:在存储器芯片存在损坏风险的情况下,无线发送单元中止发送测试数据而发送表示测试中断的第一特定数据帧,经过预设时长,无线发送单元发送表示测试恢复的第二特定数据帧,无线通信模块恢复中断前的传输模式;
数据分析模块103,用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。
其中,辐照测试模块101可以是辐照测试箱的形式,其中可以根据需要设置辐照源、以及辐照参数以模拟不同的辐射环境。辐照源例如可以包括但不限于:X射线、质子束、中子源。辐照参数的设置可以包括:确定辐射剂量、辐射能量、辐射时间等实验参数,以控制辐射的强度和持续时间。可以将一个或多个存储器芯片容纳于辐照测试箱中进行辐照测试。
本申请提出的抗辐照检测系统,可以实现实时读取存储器芯片的测试数据并外发进行处理,并且在外发测试数据时,根据实时传输情况切换传输模式,提高了测试数据的发送效率和可靠性,而无需等待辐照测试完毕后才读取存储器芯片的测试数据,大大提高了抗辐照检测效率。
在本申请一实施例中,对于每一个进行检测的存储器芯片,所述无线通信模块102可以包括多种传输模式:
单发单收模式:如图2所示,在一实施例中,无线输出单元201A和无线接收单元201B组成一组收发单元,无线输出单元202A和无线接收单元202B组成一组收发单元。每组收发单元传输一个存储器芯片的测试数据。当存在多个存储器芯片时,每组收发单元可以对应各自的存储器芯片,实现多个存储器芯片的测试数据可以同时被读出并被处理。
单发多收模式:如图3所示,多个无线接收单元301A、301B、301C接收一个无线输出单元302输出的测试数据。在一个实施例中,该多个无线接收单元可以分时段接收无线输出单元302输出的测试数据。例如,如图3所示,无线接收单元301A专注于长期存储来自无线输出单元302发送的所有数据,用于保证数据完整性和安全性,并为后续的访问和分析提供支持;无线接收单元301B接收来自无线输出单元302的特定时间段1内的数据,并且可以执行数据清洗、预处理或初步分析,以用于更深入的后续处理;无线接收单元301C接收来自无线输出单元302的特定时间段2内的数据,可以聚焦于与无线接收单元301B不同的数据集或不同的分析任务。为了保持数据处理的一致性和完整性,所有无线接收单元之间必须有同步机制,以协调数据的存储和处理。在一个实施例中,多个无线接收单元中的两个以上接收单元可以重复接收无线输出单元302输出的测试数据。
多发多收模式:如图4所示,多个无线输出单元401A、401B和多个无线接收单元402A、402B组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;多个无线接收单元402A、402B可以分时段接收或重复接收多个无线输出单元输出的测试数据。多个无线输出单元进行数据发送主要是为了提高数据传输率,即确保芯片测试数据快速发出。同时多发多收可以对抗空间中的干扰和信道衰落。
上述单发多收模式和多发多收模式中,设置多个无线接收单元的分时段接收主要是考虑:无线接收单元的数据处理能力导致接收端可能无法同时处理所有数据;不同接收单元可以被配置进行不同的并行处理,比如滤波、插值、计翻转率、备份等,这样可以显著提高整体处理速度;并且每个无线接收单元可以针对其分配的时间段内的数据类型和处理流程进行专门化处理,从而提高处理效率和准确性;根据系统的需求,可以动态地增加无线接收单元来处理额外的时间段或数据流,提高系统的扩展性和灵活性。
以下具体说明接收无线通信模块中的控制单元如何根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式。
在一个实施例中,所述控制单元用于:获取实时数据传输速率,以及根据信道建模参考信号实时分析接收数据的数据翻转率;基于实时的数据传输速率以及接收数据的数据翻转率,切换传输模式。
在本申请一实施例中,可以将写入存储器芯片的已知数据作为信道建模参考信号。本无线通信模块中写入存储器芯片的数据作为测试数据本身为已知数据,由于辐射会导致数据变化,针对这一特性,本无线通信模块无需设置专用参考信号,只需在获取测试数据以后,将辐照前的数据信号(即写入存储器芯片的已知数据)作为参考信号建模即可。所述信道建模参考信号不设置重复传输,信道内传输信号仅为经辐射后带偏差的有用信号。控制单元综合所有无线接收单元接收的测试数据来进行该数据翻转率的计算。
在本申请一实施例中,所述控制单元根据数据翻转率以及数据传输速率来切换无线通信模块的传输模式:
当数据翻转率低于第一阈值,控制无线通信模块采用单发单收传输模式;
当数据翻转率高于第一阈值:当数据传输速率低于第一速率值时,控制无线通信模块采用单发单收传输模式,当数据传输速率高于第一速率值时,控制无线通信模块采用多发多收传输模式;
当数据翻转率高于第二阈值,所述第二阈值大于所述第一阈值,认为存储器芯片存在损坏风险,控制无线通信模块进入中断模式,即无线发送单元不发送测试数据,而发送特定数据帧(例如帧格式为全1,指示传输中断),经过预设时长后,无线发送单元发送表示测试恢复的第二特定数据帧(例如帧格式为10交替,指示传输恢复),并且无线通信模块恢复中断前的传输模式。
在本申请一实施例中,在上述单发多收模式和多发多收模式中,多个无线接收单元重复接收测试数据时,选取无线接收单元中性能指标最优的无线接收单元接收的测试数据。性能指标例如可以包括信道质量评估或传输成功率、处理速度、资源利用率等。在优选实施例中,将无线接收单元的数据翻转率作为无线接收单元的性能指标。无线接收单元的数据翻转率可以由上述控制单元根据信道建模参考信号进行计算。
在本申请一实施例中,所述无线输出单元用于:
实时获取存储器芯片的测试数据,测试数据包括存储器芯片的性能指标数据、辐射效应数据;
将获取到的测试数据进行编码;
采用多载波聚合方式将编码后的数据调制到不同的载波上;
将调制后的无线信号进行发送。
在本实施例中,利用多载波聚合技术发送获取到的测试数据,使得无线数据传输更加高效和稳定,提高了数据传输的速率和可靠性。
在本申请一实施例中,所述无线接收单元用于:
将接收到的无线信号解码重组为原始的测试数据;
对接收到的测试数据进行预处理,所述预处理包括以下一种或多种:滤波、插值、统计翻转率、备份。
在本申请一实施例中,所述数据分析模块用于对所有无线接收单元接收的测试数据以及处理结果进行整合并分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。
本实施例中,最终所有无线接收单元接收的测试数据以及处理结果进行整合并分析,确保了数据的完整性和分析的连贯性。
下面通过具体实施例详细介绍实现过程。
以下是根据一示例性实施例示出的实现本申请提出的抗辐照检测系统的具体操作过程,主要包括以下步骤:
在步骤S501中,设置辐照测试环境。
设置辐照测试环境涉及到多方面的技术和细节。在一个实施例中,可以选择专门设计用于高辐照环境的射频外发器件作为无线输出单元。该器件应具备高抗辐照能力,以保证在强辐射环境下不会发生功能退化。然后根据辐照测试箱的具体结构,物理安装抗辐照射频外发器件,确保该器件与存储器芯片的接口相匹配,以便可以正确地从存储器芯片获取测试数据。完成电气连接,包括供电、信号传输线路等,确保所有的连接都符合电磁兼容性和电磁干扰的要求。还可以将抗辐照射频外发器件与存储器测试箱的控制系统集成,以便抗辐照射频外发器件可以实时获取测试数据并将其进行发送。在辐射测试箱的外部布置无线接收单元,无线接收单元应放置在能够最大化接收信号质量的位置,并且应考虑到可能的信号反射、折射和干扰源。设置好无线输出单元和无线接收单元之后,可以进行信号覆盖测试,确保无线输出单元和无线接收单元之间的传输,这可能需要调整无线输出单元和/或无线接收单元的位置、天线方向或信号功率来改善无线信号覆盖情况。还可以设置无线通信模块的同步和时序控制,确保数据可以准确地从无线输出单元传输到无线接收单元,这要求精确的时钟同步,以及在传输过程中的时序控制。还需要确保无线输出单元和无线接收单元具有足够的数据处理能力,能够处理来自不同存储器芯片和/或时段的传输数据量。特别是无线接收单元应有足够的缓存和处理速度以应对高吞吐量的数据流。此外,考虑到测试的重要性和辐照环境的不确定性,系统设计还可以包括冗余元素,比如多个无线接收单元和备用的数据传输路径,以确保数据的完整性。在正式进行辐照测试之前,对整个无线通信模块进行测试和调试,验证数据能否正确无误地从存储器芯片通过射频外发器件发送,并被无线接收单元准确接收。通过以上步骤,可以确保测试环境为存储器芯片的辐照测试提供了可靠的数据收集和传输能力,使测试结果既准确又可信。
在步骤S502中,启动辐照测试。
该步骤对设置在辐照测试箱中的存储器芯片进行辐照,并开始实时收集测试数据。辐照过程中,存储器芯片的响应和状态被监控和记录。启动辐照测试是整个测试过程的核心环节,涉及到以下详细步骤:启动辐照源,开始对存储器芯片进行辐照。辐照应均匀地覆盖到存储器芯片。可以为辐照测试箱设置监控系统,利用监控系统实时观察存储器芯片的辐照情况。监控参数可能包括辐射剂量、辐射强度、存储器温度和其他环境变量。如果存储器芯片表现出异常响应,可能需要调整辐照源的参数,例如辐照剂量或时间。
在步骤S503中,无线输出单元开始实时获取存储器芯片的测试数据,并将测试数据发送到无线接收单元。
抗辐照射频外发器件开始实时获取存储器芯片的测试数据,获取到的测试数据被编码并准备通过无线信号发送。在存储器辐照测试过程中,数据采集与编码是关键环节,确保测试结果能准确、高效地记录并传输。以下是数据采集与编码环节的详细步骤:存储器芯片与射频外发器件之间的接口必须同步,确保测试数据能无误地从存储器芯片传输到射频外发器件。射频外发器件还可以实时获取存储器芯片的性能指标,如读写速度、错误率、数据完整性及其他关键参数,并将其转化为数据信号。监测辐射效应:辐照过程中能会影响存储器芯片的电子结构和功能,射频外发器件需要监测这些变化,并将其转化为数据信号。按照一定的格式处理数据信号,比如添加时间戳以确保数据的时序正确性。将获取到的数据信号编码,保证它们在无线信道中的传输效率和抗干扰能力。编码方案可以包括差错检测和校正码(如CRC(Cyclic Redundancy Check,循环冗余校验)、Hamming码(汉明码)等)。如果数据量很大,还可以需要进行数据压缩,以减轻无线信号传输的负担。编码后的数据通过调制过程转换为适合无线信号传输的形式。常见的调制技术有QAM(Quadrature AmplitudeModulation,正交振幅调制)、PSK(Phase Shift Keying,相移键控)等。在发送之前,编码后的数据还可以在射频外发器件的缓冲区中暂存,以便按预定的传输计划发送。根据测试设计,设置数据传输的时间点,可以是实时传输,也可以是按时间间隔批量发送。确保数据传输遵循相应的通信协议规范,这可能包括Wi-Fi、Bluetooth、Zigbee或定制无线协议。在数据发送前,再次检查无线输出单元的状态,包括电源、信号强度和频道清晰度等。通过执行以上步骤,测试系统能够确保收集到的辐照测试数据不仅准确无误,而且能够通过无线信号高效、可靠地传送到接收单元进行进一步分析。
无线输出单元采用多载波聚合技术,将编码后的数据调制到不同的载波上。通过射频外发器件,将调制后的无线信号发射到测试环境外的接收单元。在存储器芯片辐照测试中,首先要选择适合进行数据传输的多个载波频率。这些频率需根据信道的条件、带宽需求和干扰情况来选择。根据传输数据的量和速率要求,将可用的频谱资源分为不同的带宽,分别分配到选定的多个载波上。把编码后的数据流分割成多个子流,每个子流将被调制到一个单独的载波上。这样可以有效利用频谱资源,提高数据传输的并行性和总吞吐量。利用数字调制技术(如QAM或PSK)将每个数据子流调制到对应的子载波上。调制过程包括将数字信号转换为模拟信号,以适应无线信号传输的需求。将所有调制后的子载波信号合成一个总的信号。这样的信号利用了频谱的不同部分,可以在一个频宽内传输更多的信息。调整发射功率,确保信号的覆盖范围满足测试环境要求,同时避免对其他无线设备产生干扰。在发射前,对调制后的信号进行放大,以确保信号强度足以覆盖到达无线接收单元的距离。选择合适的天线,并确保天线的工作频率和增益与多载波信号的要求相匹配。将调制并放大后的信号通过射频外发器件的天线发射出去。天线会将电信号转换为电磁波,进行空间传播。发射的电磁波穿过测试环境,可能受到路径损耗、多径效应和其他环境因素的影响。
在步骤S504中,无线接收单元接收无线输出单元发送的测试数据。
无线接收单元利用天线接收传播的电磁波。为了增强接收到的弱信号,还可以通过LNA(Low Noise Amplifier, 低噪声功率放大器)进行放大,同时尽可能少地引入噪声。通过滤波器去除不在预期频带内的信号,这有助于减少可能的干扰和提高信号的信噪比。通过ADC(Analog-to-Digital Converter,模数转换器)将模拟信号转换为数字信号。检测数字信号的时间戳和同步头,以同步数据流,并为数据解调做准备。识别信号所在的频率,因为每个子载波可能会携带不同的数据流。根据信号的调制方式(如QAM、PSK等),通过解调器将频率信息转换回原始的信号比特。根据信号的特征,如频率、时间戳、信源识别码等,对数据进行分组和分类,这确保了来自不同发射单元或不同子载波的数据被正确地区分开来,即聚合信号被分离回原始的多个子载波信号。每个子载波信号经过解调,恢复为原始的数字数据流。还可以使用差错控制和纠错算法(例如CRC、Hamming码、或LDPC(Low-DensityParity-Check,低密度奇偶校验)码等)来检测并纠正可能在传输过程中产生的错误。将各个子载波或信道的数据重新组合成完整的数据流。还可以通过比对数据的校验和或其他完整性检查标准,确认数据的准确性。
在本实施例中,无线通信模块中的控制单元可以根据实时传输情况切换无线通信模块的传输模式:单发单收模式、单发多收模式、多发多收模式、中断/恢复模式。初始可以设置采用单发单收模式,通过这种反馈循环,系统可以不断调整来提高整体效能。通过上述实施例,无线通信模块能够确保即使在噪声存在或信号衰减的情况下,也能够有效地接收并恢复无线输出单元发送的数据,确保数据传输的可靠性和准确性。
在步骤S505中,数据分析模块对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。
数据分析模块可以实时对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析,在辐照过程中就可以确定存储器芯片在当前时刻当前辐照条件下的抗辐照性能。如果动态地改变辐照条件,就可以动态分析出存储器芯片的抗辐照性能。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里发明的发明后,将容易想到本发明的其它实施方案。本申请旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未发明的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是,本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (7)

1.一种应用于存储器芯片的抗辐照检测系统,其特征在于,包括:
辐照测试模块,用于容纳存储器芯片并对存储器芯片进行辐照测试;
无线通信模块,包括无线输出单元、无线接收单元和控制单元;其中,所述无线输出单元设置于辐照测试模块中并与存储器芯片相连,用于实时获取存储器芯片的测试数据并发送到所述无线接收单元;所述无线接收单元设置在所述辐照测试模块之外,用于接收所述无线输出单元发送的测试数据;所述无线通信模块包括以下多种传输模式,所述控制单元用于基于数据传输速率和数据翻转率切换无线通信模块的传输模式:
单发单收模式:一个无线输出单元和一个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;
单发多收模式:一个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述一个无线输出单元输出的测试数据;
多发多收模式:多个无线输出单元和多个无线接收单元组成一组收发单元,传输一个存储器芯片的测试数据;多个无线接收单元分时段接收或重复接收所述多个无线输出单元输出的测试数据;
中断/恢复模式:在存储器芯片存在损坏风险的情况下,无线发送单元中止发送测试数据而发送表示传输中断的第一特定数据帧,经过预设时长,无线发送单元发送表示传输恢复的第二特定数据帧,无线通信模块恢复中断前的传输模式;
数据分析模块,用于对所有无线接收单元接收的测试数据进行分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述控制单元用于:
获取实时数据传输速率,以及根据信道建模参考信号实时分析接收数据的数据翻转率;
基于实时的数据传输速率以及接收数据的数据翻转率,切换传输模式。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述控制单元用于:
当数据翻转率低于第一阈值,控制无线通信模块采用单发单收传输模式;
当数据翻转率高于第一阈值:当数据传输速率低于第一速率值时,控制无线通信模块采用单发单收传输模式,当数据传输速率高于第一速率值时,控制无线通信模块采用多发多收传输模式;
当数据翻转率高于第二阈值,所述第二阈值大于所述第一阈值,控制无线通信模块进入中断模式,经过预设时长,控制无线通信模块恢复中断前的传输模式。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述单发多收模式和多发多收模式中,多个无线接收单元重复接收测试数据时,选取无线接收单元中性能指标最优的无线接收单元接收的测试数据;所述性能指标最优包括数据翻转率最低。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述无线输出单元用于:
实时获取存储器芯片的测试数据,测试数据包括存储器芯片的性能指标数据、辐射效应数据;
将获取到的测试数据进行编码;
采用多载波聚合方式将编码后的数据调制到不同的载波上;
将调制后的无线信号进行发送。
6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述无线接收单元用于:
将接收到的无线信号解码重组为原始的测试数据;
对接收到的测试数据进行预处理,所述预处理包括以下一种或多种:滤波、插值、统计翻转率、备份。
7.根据权利要求6所述的系统,其特征在于,
所述数据分析模块用于对所有无线接收单元接收的测试数据以及处理结果进行整合并分析,以确定存储器芯片的抗辐照性能。
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