CN117728886A - 一种tdec的测试方法及相关设备 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种TDEC的测试方法及相关设备，提升了均衡处理的能力，并降低了估计SER的复杂度，便于较好地应用于信号损伤严重的场景。具体地，获取发射机发射的原始信号经过信道传输后的待测信号。根据至少一个第一抽头系数对待测信号进行第一均衡处理得到第一信号。获取原始信号对应的电平与第二抽头系数的乘积，并根据乘积对第一信号进行第二均衡处理得到第二信号。其中，所有所述第一抽头系数之和减去所述第二抽头系数的差值为1。获取第二信号的眼图，并在眼图的目标位置处采样得到第三信号。获取第三信号叠加目标噪声后的目标SER。根据SER门限对目标噪声进行调节以调节目标SER，以使得当目标SER等于SER门限时，根据调节后的目标噪声计算TDEC。
Description
技术领域
本申请涉及通信领域，尤其涉及一种TDEC的测试方法及相关设备。
背景技术
在一些光通信网络场景中，如数据内互连等，为了实现一个接收机和不同发射机进行通信，需要对不同的发射机进行一致性测试。目前对发射机一致性的测试方法包括测量：眼图模板(Eye Mask),发射机色散代价(transmitter dispersion penalty,TDP),发射机色散眼图闭合代价(transmitter dispersion eye closure penalty,TDEC)。对于四阶脉冲幅度调制信号(4-order pulse amplitude modulation,PAM-4)来说，需要进行PAM-4信号发射机色散眼图闭合代价(Transmitter and dispersion eye closure for PAM-4，TDECQ)。其物理含义是在给定误码门限和参考接收机条件下，计算理想信号和待测信号的最大可叠加噪声的量的比值。
一般来说，为提高TDEC结果的参考价值，TDEC测试接收机的参数应该尽可能接近大部分实际系统中的接收机。目前对发射机进行行一致性测试的方案中，TDEC测试接收机采用前向均衡器(Feed forward equalization，FFE)进行均衡处理并计算TDEC。然而，下一代光通信场景下，为处理更严重的信号损伤，实际系统中真实的接收机会采用均衡能力更强的技术。导致TDEC测试接收机的均衡能力弱于实际系统中的接收机，当前的TDEC测试接收机和TDEC测试方法在信号损伤严重的场景中应用效果较差。
发明内容
本申请实施例提供了一种TDEC的测试方法及相关设备，提升了均衡处理的能力，并降低了估计SER的复杂度，便于较好地应用于信号损伤严重的场景。
第一方面，本申请实施例提供了一种TDEC的测试方法，该方法包括如下步骤。获取发射机发射的原始信号经过信道传输后的待测信号。根据至少一个第一抽头系数对待测信号进行第一均衡处理得到第一信号。获取原始信号对应的电平与第二抽头系数的乘积，并根据该乘积对第一信号进行第二均衡处理得到第二信号。其中，所有第一抽头系数之和减去第二抽头系数的差值为1。获取第二信号的眼图，并在眼图的目标位置处采样得到第三信号。获取第三信号叠加目标噪声后的目标SER。通过调节目标噪声以调节目标SER，以使得若目标SER等于SER门限，根据调节后的目标噪声计算TDEC。
在该实施方式中，本申请通过结合第一均衡处理和第二均衡处理，提高了均衡能力，以便更好地支撑高波特率系统。并且，本申请提供了均衡处理后目标SER的估计方法，先不考虑DFE的差错传播，DFE利用原始信号进行均衡处理，得到不考虑DFE的差错传播的初始SER后，再计算修正因子并根据修正因子对初始SER进行修正得到目标SER。应理解，修正因子可以视为DFE差错传播造成的SER增长倍数，从而能得到对DFE均衡处理后SER的真实估计。通过这种方式，在原始信号的测试序列长度受限的条件下，实现了低运算复杂度的SER估计，便于较好地应用于信号损伤严重的场景。
在一些可能的实施方式中，获取第三信号叠加目标噪声后的目标SER包括：获取第三信号叠加目标噪声后的初始SER。进而，根据修正因子对初始SER进行修正得到目标SER。
在一些可能的实施方式中，根据修正因子对初始SER进行修正得到目标SER包括：将初始SER与修正因子相乘得到目标SER。
在一些可能的实施方式中，修正因子满足如下公式1：
其中，fmodify表示修正因子，SER0表示初始SER，PE表示第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，第一符号的接收时刻在第二符号的接收时刻之前。
在一些可能的实施方式中，修正因子满足如下公式2：
其中，fmodify表示修正因子，PE表示第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，第一符号的接收时刻在第二符号的接收时刻之前。
在一些可能的实施方式中，PE由第二抽头系数、目标噪声的均方根(root meansquare，RMS)值和采样电平相关参数决定，采样电平相关参数包括第三信号的采样电平频度分布、眼图的平均光功率和第二信号的最外电平间光调制幅度中的至少一种。
在一些可能的实施方式中，PE满足如下公式3：
其中，K为眼图中眼的个数，表示第二符号的判决在第k个眼处且发生错误判决的SER，1≤k≤K。
在一些可能的实施方式中，满足如下公式4：
其中，CFk(y)表示第k个眼对应的电平分布的累积概率函数，表示第k个眼的判决门限发生第一方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，/>分别为表示第k个眼的判决门限发生第二方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，第一方向与第二方向相反，y表示第三信号的采样电平值。
在一些可能的实施方式中，CFk(y)满足如下公式5：
其中，Pthk表示第k个眼的判决门限，F(y)为表示第三信号的采样电平的频度分布函数，yi为y离散化后的表征；
和/>满足如下公式6：
其中，wDFE表示第二抽头系数，OMAouter为表示第二信号的最外电平间光调制幅度，Ceq表示第一均衡处理和第二均衡处理对噪声增强的系数，σG表示目标噪声的RMS值，Δy表示相邻两个yi之间的间隔。
在一些可能的实施方式中，PE满足如下公式7：
其中，erfc表示互补误差函数，SNR表示第三信号叠加目标噪声后的信噪比，wDFE表示第二抽头系数，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。
在一些可能的实施方式中，SNR满足如下公式8：
其中，Psig表示第三信号中没有噪声和失真的信号分量的功率，yi为第三信号的采样电平值离散化后的表征，Pave表示眼图的平均光功率，σG表示目标噪声的RMS值。
在一些可能的实施方式中，Psig满足如下公式9：
其中，OMAouter表示第二信号的最外电平间光调制幅度，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。
在一些可能的实施方式中，原始信号包括发射机周期性发送的测试序列。
在一些可能的实施方式中，第一抽头系数为前向均衡器(Feed forwardequalization，FFE)的抽头系数，第二抽头系数为判决反馈均衡器(Decision feedbackequalization，DFE)的抽头系数。
在一些可能的实施方式中，眼图的目标位置包括单位时间间隔(Unitinterval，UI)和/>0＜Δ＜1。
在一些可能的实施方式中，第三信号包括第一子信号和第二子信号，第一子信号在眼图的处采样得到，第一子信号在眼图的/>处采样得到。获取第三信号叠加目标噪声后的目标误符号率SER包括：获取第一子信号叠加目标噪声后的第一SER，并获取第二子信号叠加目标噪声后的第二SER。选择第一SER和第二SER中的较大者为目标SER，例如，第一SER大于第二SER。
在一些可能的实施方式中，原始信号包括采用四阶脉幅调制(4-order Pulseamplitude modularion，PAM-4)的信号或采用二阶脉幅调制(2-order Pulse amplitudemodulation，PAM-2)的信号。
在一些可能的实施方式中，原始信号对应的电平表示为：其中，Pave表示眼图的平均光功率，OMAouter为表示第二信号的最外电平间光调制幅度，1≤i≤M，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。
第二方面，本申请实施例提供了一种处理芯片。该处理芯片包括：处理器和存储器，存储器和处理器通过线路互相连接，存储器中存储有指令，处理器用于执行如第一方面任一实施方式介绍的方法。
第三方面，本申请实施例提供了一种TDEC测试接收机，包括：接收机前端和处理芯片，接收机前端和处理芯片通过线路互相连接，接收机前端用于将接收到的光信号转换为电信号，并传输电信号至处理芯片。处理芯片用于执行如下步骤：获取发射机发射的原始信号经过信道传输后的待测信号。根据至少一个第一抽头系数对待测信号进行第一均衡处理得到第一信号。获取原始信号对应的电平与第二抽头系数的乘积，并根据该乘积对第一信号进行第二均衡处理得到第二信号。其中，所有第一抽头系数之和减去第二抽头系数的差值为1。获取第二信号的眼图，并在眼图的目标位置处采样得到第三信号。获取第三信号叠加目标噪声后的目标SER。通过调节目标噪声以调节目标SER，以使得若目标SER等于SER门限，根据调节后的目标噪声计算TDEC。
在一些可能的实施方式中，处理芯片具体用于：获取第三信号叠加目标噪声后的初始SER。根据修正因子对初始SER进行修正得到目标SER。
在一些可能的实施方式中，处理芯片具体用于：将初始SER与修正因子相乘得到目标SER。
在一些可能的实施方式中，修正因子满足如下公式1：
其中，fmodify表示修正因子，SER0表示初始SER，PE表示第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，第一符号的接收时刻在第二符号的接收时刻之前。
在一些可能的实施方式中，修正因子满足如下公式2：
其中，fmodify表示修正因子，PE表示第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，第一符号的接收时刻在第二符号的接收时刻之前。
在一些可能的实施方式中，PE由第二抽头系数、目标噪声的RMS值和采样电平相关参数决定，采样电平相关参数包括第三信号的采样电平频度分布、眼图的平均光功率和第二信号的最外电平间光调制幅度中的至少一种。
在一些可能的实施方式中，PE满足如下公式3：
其中，K为眼图中眼的个数，表示第二符号的判决在第k个眼处且发生错误判决的SER，1≤k≤K。
在一些可能的实施方式中，满足如下公式4：
其中，CFk(y)表示第k个眼对应的电平分布的累积概率函数，表示第k个眼的判决门限发生第一方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，/>分别为表示第k个眼的判决门限发生第二方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，第一方向与第二方向相反，y表示第三信号的采样电平值。
在一些可能的实施方式中，CFk(y)满足如下公式5：
其中，Pthk表示第k个眼的判决门限，F(y)为表示第三信号的采样电平的频度分布函数，yi为y离散化后的表征；
和/>满足如下公式6：
其中，wDFE表示第二抽头系数，OMAouter为表示第二信号的最外电平间光调制幅度，Ceq表示第一均衡处理和第二均衡处理对噪声增强的系数，σG表示目标噪声的RMS值，Δy表示相邻两个yi之间的间隔。
在一些可能的实施方式中，PE满足如下公式7：
其中，erfc表示互补误差函数，SNR表示第三信号叠加目标噪声后的信噪比，wDFE表示第二抽头系数，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。
在一些可能的实施方式中，SNR满足如下公式8：
其中，Psig表示第三信号中没有噪声和失真的信号分量的功率，yi为第三信号的采样电平值离散化后的表征，Pave表示眼图的平均光功率，σG表示目标噪声的RMS值。
在一些可能的实施方式中，Psig满足如下公式9：
其中，OMAouter表示第二信号的最外电平间光调制幅度，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。
在一些可能的实施方式中，原始信号包括发射机周期性发送的测试序列。
在一些可能的实施方式中，第一抽头系数为FFE的抽头系数，第二抽头系数为DFE的抽头系数。
在一些可能的实施方式中，眼图的目标位置包括和/>0＜Δ＜1。
在一些可能的实施方式中，第三信号包括第一子信号和第二子信号，第一子信号在眼图的处采样得到，第一子信号在眼图的/>处采样得到。处理芯片具体用于：获取第一子信号叠加目标噪声后的第一SER，并获取第二子信号叠加目标噪声后的第二SER。选择第一SER和第二SER中的较大者为目标SER，例如，第一SER大于第二SER。
在一些可能的实施方式中，原始信号包括采用PAM-4的信号或采用PAM-2的信号。
在一些可能的实施方式中，原始信号对应的电平表示为：其中，Pave表示眼图的平均光功率，OMAouter为表示第二信号的最外电平间光调制幅度，1≤i≤M，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。
本申请实施例中，通过在TDEC测试接收机中增加DFE，提高了均衡能力，以便更好地支撑高波特率系统。并且，本申请提供了均衡处理后目标SER的估计方法，先不考虑DFE的差错传播，DFE利用原始信号进行均衡处理，得到不考虑DFE的差错传播的初始SER后，再计算修正因子并根据修正因子对初始SER进行修正得到目标SER。应理解，修正因子可以视为DFE差错传播造成的SER增长倍数，从而能得到对DFE均衡处理后SER的真实估计。通过这种方式，在原始信号的测试序列长度受限的条件下，实现了低运算复杂度的SER估计，便于较好地应用于信号损伤严重的场景。
附图说明
图1为一种TDEC测试系统的示意图；
图2为一种TDEC测试接收机的结构示意图；
图3为本申请实施例中TDEC的测试方法的一个实施例示意图；
图4为本申请实施例中均衡处理的一种示意图；
图5(a)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第一种估计效果示意图；
图5(b)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第二种估计效果示意图；
图6(a)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第三种估计效果示意图；
图6(b)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第四种估计效果示意图；
图7为本申请实施例中TDEC测试接收机的一种结构示意图。
具体实施方式
本申请实施例提供了一种TDEC的测试方法及相关设备，提升了均衡处理的能力，并降低了估计SER的复杂度，便于较好地应用于信号损伤严重的场景。需要说明的是，本申请说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等用于区别类似的对象，而非限定特定的顺序或先后次序。应该理解，上述术语在适当情况下可以互换，以便在本申请描述的实施例能够以除了在本申请描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本申请主要应用于TDEC的测试场景，TDEC的物理含义是在给定误码门限和参考接收机条件下，计算理想信号和待测信号的最大可叠加噪声的量的比值。在一些可能场景中，对于PAM-4信号来说，也可以记为TDECQ的测试。
图1为一种TDEC测试系统的示意图。如图1所示，TDEC测试系统包括发射机和TDEC测试接收机。发射机用于生成测试序列并将其调制为光信号，发射机发射的光信号经过信道传输至TDEC测试接收机。TDEC测试接收机对接收到的光信号进行处理以完成TDEC的测试，下面对TDEC测试接收机进行进一步介绍。
图2为一种TDEC测试接收机的结构示意图。如图2所示，TDEC测试接收机包括偏振旋转器10、分光器20、可调反射器30、测试光纤40、光电转换单元50、时钟恢复单元60、示波器70和处理器80。具体地，来自发射机的光信号传输至偏振旋转器10，通过调节偏振旋转器10可以获得最大的相对强度噪声(relative intensity noise,RIN)。分光器20对偏振旋转器10处理后的光信号进行分光，分光后的其中一路光信号传输至可调反射器30，分光后的另一路光信号通过测试光纤40传输至光电转换单元50。通过调节可调反射器30可以使得光回波损耗(optical return loss)满足标准规定，其中，光回波损耗指的是输入光信号在传输过程中由于遇到反射和散射等原因产生的沿原路径返回到输入端口的光功率与入射光功率的比值。光电转换单元50将接收到的光信号转换为电信号，并将电信号分别传输至时钟恢复单元60和示波器70。时钟恢复单元60对电信号进行时钟恢复得到时钟信号并将时钟信号传输至示波器70。示波器70采集完整的采样电信号。处理器80首先对采样电信号进行滤波，最后对滤波后的信号分析处理以完成TDEC的测试。应理解，示波器70包括但不限于采用模式触发方式采集完整的采样电信号。处理器80对采样电信号进行滤波的方式包括但不限于用3-dB带宽为波特率二分之一的四阶贝塞尔滤波器进行滤波。
需要说明的是，上述TDEC测试接收机具体可以作为眼图仪等大型仪表设备，另外也可能作为专用于测试TDEC的小型化产品，以提升测试效率。本申请提供的TDEC的测试方法主要由TDEC测试接收机的处理器实现，本申请不限定处理器的具体结构，下面对本申请提供的TDEC的测试方法进行详细介绍。
图3为本申请实施例中TDEC的测试方法的一个实施例示意图。在该示例中，TDEC的测试方法包括如下步骤。
301、获取待测信号。
本实施例中，将发射机发射的信号称为原始信号，发射机可以周期性重复发送原始信号。该原始信号是发射机对生成的测试序列进行调制后得到的光信号，测试序列采用的调制方式包括但不限于四阶脉幅调制(4-order Pulse amplitude modulation，PAM-4)和二阶脉幅调制(2-order Pulse amplitude modulation，PAM-2)等，其中，PAM-2也可以称为OOK。例如，测试序列可以是四进制短强度随机序列(short stress pattern randomquaternary，SSPRQ)，SSPRQ码型是PAM-4码型的其中一种。应理解，SSPRQ是从传统的PRBS31码型里面选取4段对于发射机压力比较大的码型进行拼接编码而成，长度是216-1，其好处是既可以对被测发射机施加足够的压力从而更加接近测试其在真实业务下的性能，又具有短码型的特征，从而使得采样示波器可以捕获整个码型以便于进行均衡等信号处理。参考图2的介绍，发射机发射的原始信号经过信道传输被TDEC测试接收机接收，TDEC测试接收机的前端对信号进行处理后传输至处理器，将处理器接收到的信号称为待测信号。
302、对待测信号进行均衡处理。
本申请提供了一种目标均衡器用于对待测信号进行均衡处理。具体地，该目标均衡器包括前向均衡器(Feed forward equalization，FFE)和判决反馈均衡器(Decisionfeedback equa1ization，DFE)。为了便于介绍，本申请将FFE进行的均衡处理称为第一均衡处理，并将FFE的抽头系数称为第一抽头系数；将DFE进行的均衡处理称为第二均衡处理，并将DFE的抽头系数称为第二抽头系数。
图4为本申请实施例中均衡处理的一种示意图。如图4所示，FFE的主抽头记为rL，Z0表示不延时。FFE的前置抽头个数为N1分别记为Z-N、…、Z-2、Z1分别表示延时-1、-2、…、-N1个符号周期。FFE的后置抽头个数为N2分别记为/>Z+1、Z+2、…、Z+N2分别表示延时1、2、…、N2个符号周期。其中，N1和N2都为大于或等于0的整数，N1和N2具体取值以实现需要为准，本申请不做限定。作为一个示例，N1+N2＝4或20。FFE的第一抽头系数记为/>其中，i表示-N1到N2之间的整数。应理解，FFE为整数间隔，即FFE中相邻抽头对应的信号时间间隔为一个符号周期。DFE的抽头数量为1，DFE的第二抽头系数记为wDFE。需要说明的是，FFE的所有第一抽头系数相加之和将去DFE的第二抽头系数的差值为1，即
具体地，FFE根据第一抽头系数对待测信号进行第一均衡处理得到第一信号。例如图4所示，待测信号记为r，FFE对待测信号进行延时加权叠加处理得到信号其中，延时量分别为-N1，...-1，0，1，...N2个符号周期，权重为FFE的第一抽头系数，即/>DFE计算原始信号对应的电平d[L-1]与第二抽头系数wDFE的乘积，即获得时间上滞后的码间干扰的估计，并根据该乘积对第一信号进行第二均衡处理得到第二信号，第二信号为目标均衡器进行均衡处理后输出的信号。作为一个示例，DFE通过计算d[L-1]与wDFE的乘积得到时间上滞后的码间串扰(Inter-symbol interference，ISI)，进而对第一信号进行ISI消除得到第二信号。应理解，原始信号对应的电平表示为：其中，Pave表示眼图的平均光功率，OMAouter为表示第二信号的最外电平间光调制幅度，1≤i≤M，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。例如，若M＝2，则原始信号采用PAM-2；若M＝4，则原始信号采用PAM-4。
需要说明的是，发射机和TDEC测试接收机可以约定好原始信号所采用的测试序列，便于DFE计算原始信号对应的电平d[L-1]与第二抽头系数wDFE的乘积。应理解，本申请提供的DFE的均衡处理区别于传统的DFE均衡处理方法。本申请提供的DFE先不考虑DFE差错传播的影响，利用原始信号估计ISI，而不用判决反馈的符号。其中，DFE差错传播指的是：DFE根据判决后输出的符号计算ISI并基于计算结果进行均衡，一旦判决输出的符号错误，DFE基于错误的判决符号导致计算ISI出现错误，无法正确地消除ISI，从而增加下一时刻符号发生错误判决的概率，这种由于符号错误导致后续符号发生错误的现象称为差错传播。
303、获取均衡处理后信号的眼图，并在眼图的目标位置处进行采样。
作为一个示例，对于第L符号周期内xUI采样点的计算方法如下公式(1)：
其中，rL，x表示接收到的第L个符号周期内xUI采样点的值，0＜x＜1，d[L-1]为原始信号的第L-1个符号对应的电平。以原始信号采用PAM-4为例，原始信号对应的四个电平从低到高依次为
本实施例中，对均衡处理后第二信号的眼图进行采样得到第三信号。例如，首先根据平均光功率找到符号间交叉点位置，进而确定进行采样的目标位置。作为一个示例，眼图的目标位置包括单位时间间隔(Unit interval，UI)和/>其中，Δ为两组采样的间隔，单位为UI，取值范围为0到1之间，一般在0.1左右。需要说明的是，这里也可以对采样时刻进行微调以最小化TDEC但要保证ΔUI间隔。例如，调整为在/>和采样。应理解，每个采样窗口横向宽度为δUI，0＜δ＜0.5，δ一般在0.04左右。纵向宽度要保证窗口包含波形的边界。采样目的是获得两组电平直方图，并在此基础上叠加目标噪声，分别进行TDEC性能分析，取较差者为最终的TDEC指标。
304、估计叠加目标噪声后的初始误符号率(Symbol error ratio，SER)。
本实施例中，首先要确定第三信号迭代目标噪声后的初始SER，进而对初始SER进行修正得到目标SER。应理解，初始SER指的是不考虑DFE差错传播影响的SER，目标SER指的是考虑DFE差错传播影响的SER。需要说明的是，本申请也可以用误码率(Biterror ratio，BER)代替SER进行表示，SER与BER之间可以相互转换，具体方式本领域技术人员可知，此处不再赘述。
下面以原始信号采用PAM-4为例，对确定初始SER的一种具体实现方式进行介绍。
眼图中下眼的判决门限记为Pth1，眼图中眼的判决门限记为Pth2，眼图中上眼的判决门限记为Pth3。Pth1、Pth2和Pth3满足如下公式(2)：
Pth2＝Pave
将和/>两处采样电平归一化。将电平的取值分为多个区间，间隔为Δy，每个区间中心为yi，统计每个区间的频率F(yi)，显然不同区间的频率和为1。对采样和/>采样两组电平计算针对每个眼的累积概率函数，分别记作CFL1(yi)，CFL2(yi)，CFL3(yi)，CFR1(yi)，CFR2(yi)，CFR3(yi)，其中，L表示左边即/>处采样，R表示右边即/>处采样，下标号1、2、3分别表示下眼、中眼、上眼。以CFL1(yi)为例介绍一种具体计算方式，其他眼的计算方式与之类似，CFL1(yi)满足如下公式(3)：
其中，y表示第三信号的采样电平值，F(y)表示第三信号的采样电平的频度分别函数，yi是y离散化后的表征。
随后计算在处采样的信号叠加目标噪声后下眼的SERL1，具体方法为：对累积概率函数CFL1(yi)的每一个元素乘Gth1(yi)再求和，从而得到SERL1。同理得到SERL2和SERL3，SERL1、SERL2和SERL3三者之和即为SERL。用同样方法，可计算/>处采样电平叠加噪声后的SERR。其中，Gth1(yi)等效于均方根(root mean square，RMS)值为目标噪声的高斯概率密度函数，中心位于下眼门限Pth1。Gth1(yi)满足如下公式(4)：
或，
其中，σG表示目标噪声的RMS值，Ceq表示上述第一均衡处理和第二均衡处理对噪声增强的系数，Δy表示相邻两个yi之间的间隔。同理，按照类似公式(4)的方式可以计算得到Gth2(yi)和Gth3(yi)。Ceq的计算方法为在参加均衡器输入处的归一化噪声功率谱密度N(f)与归一化参考均衡器频响Heq(f)的乘积，Ceq满足如下公式(5)：
其中，N(f)为一白噪声经过滤波器滤波后的归一化噪声功率谱。N(f)满足如下公式(6)：
∫N(f)df＝Heq(f＝0)＝1
305、对初始SER进行修正得到目标SER。
本实施例中，将初始SER与修正因子fmodify相乘即可得到目标SER。其中，修正因子fmodify可以视为DFE差错传播造成的SER增长倍数。应理解，对于处采样的信号和处采样的信号，可以采用相同的计算方式对两个的初始SER进行修正得到两个目标SER，选择两个目标SER中较大的一个作为最终的目标SER。例如，对于/>处采样的信号，与之对应的修正因子可以记为/>又例如，对于/>处采样的信号，与之对应的修正因子可以记为/>为了便于介绍，下文统一用fmodify表示修正因子，不再区分L和R。
下面介绍几种修正因子的具体计算方式。
在修正因子fmodify的第一种计算方式中，修正因子fmodify满足如下公式(7)：
其中，SER0表示初始SER，PE表示第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，第一符号在第二符号之前被TDEC测试接收机接收。也就是说，由于当前发生符号判决错误，DFE均衡器进行了错误的ISI消除，从而引起下一时刻符号发生错误判决的概率记为PE。
图5(a)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第一种估计效果示意图。图5(b)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第二种估计效果示意图。如图5(a)和图5(b)所示，横坐标表示信噪比(Signal-to-noise ratio，SNR)，纵坐标表示DFE差错传播引起SER增长倍数。图5(a)和图5(b)给出了wDFE在不同取值条件下计算得到的修正因子fmodify与DFE差错传播引起SER增长倍数的仿真结果的对比，可以看出，采用第一种计算方式得到的修正因子fmodjfy与仿真结果基本一致。其中，DFE差错传播引起SER增长倍数的仿真结果具体可以采用蒙特卡洛方法进行统计。
在修正因子fmodify的第二种计算方式中，若发射机线性度好，噪声电平分布均匀，且BER门限要求偏低，修正因子fmodify满足如下公式(8)：
应理解，修正因子fmodify的第二种计算方式的计算复杂度更低，但是其适用范围是有要求的，通常只适用于BER门限在-3数量级以下的情况。
图6(a)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第三种估计效果示意图。图6(b)为DFE差错传播引起SER增长倍数的第四种估计效果示意图。如图6(a)和图6(b)所示，横坐标表示SNR，纵坐标表示DFE差错传播引起SER增长倍数。图6(a)和图6(b)给出了wDFE在不同取值条件下计算得到的修正因子fmodify与DFE差错传播引起SER增长倍数的仿真结果的对比，可以看出，采用第二种计算方式得到的修正因子fmodify与仿真结果基本一致。其中，DFE差错传播引起SER增长倍数的仿真结果具体可以采用蒙特卡洛方法进行统计。
需要说明的是，PE由DFE的第二抽头系数wDFE、目标噪声的RMS值σG和采样电平相关参数决定。应理解，目标噪声呈高斯分布，该目标噪声的RMS值记为σG。其中，采样电平相关参数包括第三信号的采样电平频度分布、眼图的平均光功率和第二信号的最外电平间光调制幅度中的至少一种。本申请提供了多种计算PE的具体方式，下面分别进行介绍。
在PE的第一种计算方式中，PE满足如下公式(9)：
其中，K为眼图中眼的个数，表示第二符号的判决在第k个眼处且发生错误判决的SER，1≤k≤K。以原始信号采用PAM-4为例，K＝3，眼图包括下眼、中眼和上眼。k＝1、2或3，k的取值分别对应下眼、中眼和上眼。
进一步，满足如下公式(10)：
其中，CFk(y)表示第k个眼对应的电平分布的累积概率函数，表示第k个眼的判决门限发生第一方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，/>分别为表示第k个眼的判决门限发生第二方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，第一方向与第二方向相反，y表示第三信号的采样电平值。
进一步，CFk(y)满足如下公式(11)：
其中，Pthk为表示第k个眼的判决门限，F(y)为表示第三信号的采样电平的频度分布函数，yi为y离散化后的表征。
和/>满足如下公式(12)：
其中，wDFE表示第二抽头系数，OMAouter为表示第二信号的最外电平间光调制幅度，Ceq表示第一均衡处理和第二均衡处理对噪声增强的系数，σG表示目标噪声的RMS值，Δy表示相邻两个yi之间的间隔。应理解，表示DFE差错传播引起第二符号电平偏移的偏移量，这与电平位置不变而判决门限偏移是等效的。
需要说明的是，上述PE的第一种计算方式适用于原始信号采用PAM-4或PAM-2等不同场景。
作为一个示例：对于原始信号采用PAM-4的场景，PE包括下眼错误、中眼错误和上眼错误分别对应的3个SER分量，即K＝3，k＝1、2或3。其中，/>和/>分别表示3个SER分量。以其中的下眼为例，/>表示下眼的判决门限发生第一方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，/>分别为表示下眼的判决门限发生第二方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数。/>和/>满足如下公式(13)：
或者，和/>满足如下公式(14)：
作为另一个示例：对于原始信号采用PAM-2的场景，PAM-2信号的眼图只包括一个眼，因此PE不具有多个SER分量。以眼图中这个眼为例，表示眼的判决门限发生第一方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，/>分别为表示眼的判决门限发生第二方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数。/>和/>满足如下公式(15)：
或者，和/>满足如下公式(16)：
在PE的第二种计算方式中，PE满足如下公式(17)：
其中，erfc表示互补误差函数(complementary error function)，SNR表示第三信号叠加目标噪声后的信噪比，wDFE表示第二抽头系数，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。应理解，
进一步，SNR满足如下公式(18)：
其中，Psig表示第三信号中没有噪声和失真的信号分量的功率，yi为第三信号的采样电平值离散化后的表征，Pave表示眼图的平均光功率，σG表示目标噪声的RMS值。
进一步，Psig满足如下公式(19)：
其中，OMAouter表示第二信号的最外电平间光调制幅度，M表示原始信号的电平值个数，M≥2。
需要说明的是，上面介绍的两种PE的计算方式可适用于上面介绍的任一种修正因子fmodify的计算方式，计算得到的修正因子fmodify准确可靠，具体可以如图5或图6所示。另外，PE的第二种计算方式相较于PE的第一种计算方式，降低了计算复杂度。但是，在发射机线性度差，各个电平噪声分布不均匀的情况下，PE的第二种计算方式对SER升高倍数的估计误差大于PE的第一种计算方式。
306、判断目标SER是否等于SER门限；若否，则执行步骤307；若是，则执行步骤308。
需要说明的是，SER门限的具体取值以实际应用为准，本申请不做限定。
307、调节目标噪声。
如果目标SER不等于SER门限，要调节第三信号叠加的目标噪声，进而根据上述步骤305重新确定目标SER，以使得新确定的目标SER等于SER门限。例如，若当前的目标SER大于SER门限，则降低第三信号叠加的目标噪声。又例如，若当前的目标SER小于SER门限，则升高第三信号叠加的目标噪声。
需要说明的是，如果调节目标噪声，上述的第一抽头系数和第二抽头系数也会发生变化。在一种可能的实施方式中，可以根据调节后的目标噪声对第一抽头系数和第二抽头系数进行迭代，从而确定最优的第一抽头系数和第二抽头系数。例如，若均衡处理后输出的第二信号的SER最小，则该状态下的第一抽头系数和第二抽头系数最优。
308、根据调节后的目标噪声计算TDEC。
如果目标SER等于SER门限，则根据当前确定的目标噪声计算TDEC。具体地，首先计算总的RMS噪声，RMS噪声满足如下公式(20)：
其中，R表示总的RMS噪声，σG是目标噪声的RMS值，σS表示TDEC测试接收机底噪的噪声标准差。
进一步，以PAM-4为例，TDEC满足如下公式(21)：
进一步，基于一定的误码门限，Qt满足如下公式(22)：
其中，erfc表示互补误差函数，BER表示第三信号叠加目标噪声后的BER。
下面列举几种典型的BER门限对应的Qt值，如下表1所示。应理解，可以根据实际需要从下表1中选择BER门限并进行变换得到上述步骤306所提到的SER门限。
表1
| BER门限 | 2.4e-4 | 2e-3 | 4.5e-3 | 6e-3 | 8.5e-3 | 1.1e-2 |
| Qt | 3.414 | 2.786 | 2.512 | 2.409 | 2.279 | 2.179 |
综合上面的介绍可知，本申请通过在TDEC测试接收机中增加DFE，提高了均衡能力，以便更好地支撑高波特率系统。并且，本申请提供了均衡处理后目标SER的估计方法，先不考虑DFE的差错传播，DFE利用原始信号进行均衡处理，得到不考虑DFE的差错传播的初始SER后，再计算修正因子并根据修正因子对初始SER进行修正得到目标SER。应理解，修正因子可以视为DFE差错传播造成的SER增长倍数，从而能得到对DFE均衡处理后SER的真实估计。通过这种方式，在原始信号的测试序列长度受限的条件下，实现了低运算复杂度的SER估计，便于较好地应用于信号损伤严重的场景。
上面对本申请实施例提供的TDEC的测试方法进行了介绍。下面对本申请实施例提供的TDEC测试接收机进行介绍。
图7为本申请实施例中TDEC测试接收机的一种结构示意图。如图7所示，该TDEC测试接收机包括接收机前端901和处理芯片902，接收机前端901和处理芯片902通过线路互相连接。其中，接收机前端901用于将接收到的光信号转换为电信号，并将电信号传输至处理芯片902。处理芯片902用于执行图3所示实施例的方法步骤。在一种可能的实施方式中，接收机前端901包括如图2所示的偏振旋转器10、分光器20、可调反射器30、测试光纤40、光电转换单元50、时钟恢复单元60和示波器70，具体可以参考图2的相关介绍，此处不再赘述。
本申请实施例还提供了一种处理芯片。该处理芯片中集成了用于实现上述图3所示实施例的方法步骤的处理器和一个或者多个接口。当该处理芯片中集成了存储器时，该处理芯片可以完成前述实施例中的任一个或者多个实施例的方法步骤。当该处理芯片中未集成存储器时，可以通过接口与外置的存储器连接。该处理芯片根据外置的存储器中存储的程序代码来实现上述实施例中接收机执行的动作。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，随机接入存储器等。具体地，例如：上述处理单元或处理器可以是中央处理器，通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。上述的这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
当使用软件实现时，上述实施例描述的方法步骤可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘Solid State Disk(SSD))等。
最后应说明的是：以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (37)
1.一种发射机眼图色散闭合代价TDEC的测试方法，其特征在于，包括：
获取待测信号，所述待测信号为发射机发射的原始信号经过信道传输后的信号；
根据至少一个第一抽头系数对待测信号进行第一均衡处理得到第一信号；
获取所述原始信号对应的电平与第二抽头系数的乘积，并根据所述乘积对所述第一信号进行第二均衡处理得到第二信号，其中，所有所述第一抽头系数之和减去所述第二抽头系数的差值为1；
获取所述第二信号的眼图，并在所述眼图的目标位置处采样得到第三信号；
获取所述第三信号叠加目标噪声后的目标误符号率SER；
通过调节所述目标噪声以调节所述目标SER，以使得若所述目标SER等于所述SER门限，根据调节后的目标噪声计算TDEC。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述第三信号叠加目标噪声后的目标SER包括：
获取所述第三信号叠加目标噪声后的初始SER；
根据修正因子对所述初始SER进行修正得到所述目标SER。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据修正因子对所述初始SER进行修正得到所述目标SER包括：
将所述初始SER与所述修正因子相乘得到所述目标SER。
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述修正因子满足如下公式1：
其中，fmodify表示所述修正因子，SER0表示所述初始SER，PE表示所述第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，所述第一符号的接收时刻在所述第二符号的接收时刻之前。
5.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述修正因子满足如下公式2：
其中，fmodify表示所述修正因子，PE表示所述第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，所述第一符号的接收时刻在所述第二符号的接收时刻之前。
6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述PE由所述第二抽头系数、所述目标噪声的均方根RMS值和采样电平相关参数决定，所述采样电平相关参数包括所述第三信号的采样电平频度分布、所述眼图的平均光功率和所述第二信号的最外电平间光调制幅度中的至少一种。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述PE满足如下公式3：
其中，K为所述眼图中眼的个数，表示所述第二符号的判决在第k个眼处且发生错误判决的SER，1≤k≤K。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述满足如下公式4：
其中，CFk(y)表示所述第k个眼对应的电平分布的累积概率函数，表示所述第k个眼的判决门限发生第一方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，/>分别为表示第k个眼的判决门限发生第二方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，第一方向与第二方向相反，y表示所述第三信号的采样电平值。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述CFk(y)满足如下公式5：
其中，Pthk表示所述第k个眼的判决门限，F(y)为表示所述第三信号的采样电平的频度分布函数，yi为所述y离散化后的表征；
所述和所述/>满足如下公式6：
其中，wDFE表示所述第二抽头系数，OMAouter为表示所述第二信号的最外电平间光调制幅度，Ceq表示所述第一均衡处理和所述第二均衡处理对噪声增强的系数，σG表示所述目标噪声的RMS值，Δy表示相邻两个yi之间的间隔。
10.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述PE满足如下公式7：
其中，erfc表示互补误差函数，SNR表示所述第三信号叠加目标噪声后的信噪比，wDFE表示所述第二抽头系数，M表示所述原始信号的电平值个数，M≥2。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述SNR满足如下公式8：
其中，Psig表示所述第三信号中没有噪声和失真的信号分量的功率，yi为所述第三信号的采样电平值离散化后的表征，Pave表示所述眼图的平均光功率，σG表示所述目标噪声的RMS值。
12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述Psig满足如下公式9：
其中，OMAouter表示所述第二信号的最外电平间光调制幅度，M表示所述原始信号的电平值个数，M≥2。
13.根据权利要求1至12中任一项所述的方法，其特征在于，所述原始信号包括所述发射机周期性发送的测试序列。
14.根据权利要求1至13中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一抽头系数为前向均衡器FFE的抽头系数，所述第二抽头系数为判决反馈均衡器DFE的抽头系数。
15.根据权利要求1至14中任一项所述的方法，其特征在于，所述眼图的目标位置包括单位时间间隔UI和/>
16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，所述第三信号包括第一子信号和第二子信号，所述第一子信号在所述眼图的处采样得到，所述第一子信号在所述眼图的/>处采样得到；
获取所述第三信号叠加目标噪声后的目标误符号率SER包括：
获取所述第一子信号叠加所述目标噪声后的第一SER，并获取所述第二子信号叠加所述目标噪声后的第二SER；
确定所述第一SER为所述目标SER，其中，所述第一SER大于所述第二SER。
17.根据权利要求1至16中任一项所述的方法，其特征在于，所述原始信号包括采用四阶脉幅调制PAM-4的信号或采用二阶脉幅调制PAM-2的信号。
18.根据权利要求1至17中任一项所述的方法，其特征在于，所述原始信号对应的电平表示为：其中，Pave表示所述眼图的平均光功率，OMAouter为表示所述第二信号的最外电平间光调制幅度，1≤i≤M，M表示所述原始信号的电平值个数，M≥2。
19.一种处理芯片，其特征在于，所述芯片包括：处理器和存储器，所述存储器和所述处理器通过线路互相连接，所述存储器中存储有指令，所述处理器用于执行如权利要求1至18中任一项的方法。
20.一种TDEC测试接收机，其特征在于，包括：接收机前端和处理芯片，所述接收机前端和所述处理芯片通过线路互相连接，所述接收机前端用于将接收到的光信号转换为电信号，并传输所述电信号至所述处理芯片；所述处理芯片用于执行如下步骤：
获取待测信号，所述待测信号为发射机发射的原始信号经过信道传输后的信号；
根据至少一个第一抽头系数对待测信号进行第一均衡处理得到第一信号；
获取所述原始信号对应的电平与第二抽头系数的乘积，并根据所述乘积对所述第一信号进行第二均衡处理得到第二信号，其中，所有所述第一抽头系数之和减去所述第二抽头系数的差值为1；
获取所述第二信号的眼图，并在所述眼图的目标位置处采样得到第三信号；
获取所述第三信号叠加目标噪声后的目标误符号率SER；
通过调节所述目标噪声以调节所述目标SER，以使得若所述目标SER等于所述SER门限，根据调节后的目标噪声计算TDEC。
21.根据权利要求20所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述处理芯片具体用于：
获取所述第三信号叠加目标噪声后的初始SER；
根据修正因子对所述初始SER进行修正得到所述目标SER。
22.根据权利要求21所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述处理芯片具体用于：
将所述初始SER与所述修正因子相乘得到所述目标SER。
23.根据权利要求21或22所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述修正因子满足如下公式1：
其中，fmodify表示所述修正因子，SER0表示所述初始SER，PE表示所述第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，所述第一符号的接收时刻在所述第二符号的接收时刻之前。
24.根据权利要求21或22所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述修正因子满足如下公式2：
其中，fmodify表示所述修正因子，PE表示所述第二均衡处理基于判决错误的第一符号引起第二符号判决错误的SER，其中，所述第一符号的接收时刻在所述第二符号的接收时刻之前。
25.根据权利要求23或24所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述PE由所述第二抽头系数、所述目标噪声的均方根RMS值和采样电平相关参数决定，所述采样电平相关参数包括所述第三信号的采样电平频度分布、所述眼图的平均光功率和所述第二信号的最外电平间光调制幅度中的至少一种。
26.根据权利要求23至25中任一项所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述PE满足如下公式3：
其中，K为所述眼图中眼的个数，表示所述第二符号的判决在第k个眼处且发生错误判决的SER，1≤k≤K。
27.根据权利要求26所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述满足如下公式4：
其中，CFk(y)表示所述第k个眼对应的电平分布的累积概率函数，表示所述第k个眼的判决门限发生第一方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，/>分别为表示第k个眼的判决门限发生第二方向偏移后得到的叠加噪声的概率密度函数，第一方向与第二方向相反，y表示所述第三信号的采样电平值。
28.根据权利要求27所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述CFk(y)满足如下公式5：
其中，Pthk表示所述第k个眼的判决门限，F(y)为表示所述第三信号的采样电平的频度分布函数，yi为所述y离散化后的表征；
所述和所述/>满足如下公式6：
其中，wDFE表示所述第二抽头系数，OMAouter为表示所述第二信号的最外电平间光调制幅度，Ceq表示所述第一均衡处理和所述第二均衡处理对噪声增强的系数，σG表示所述目标噪声的RMS值，Δy表示相邻两个yi之间的间隔。
29.根据权利要求23至25中任一项所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述PE满足如下公式7：
其中，erfc表示互补误差函数，SNR表示所述第三信号叠加目标噪声后的信噪比，wDFE表示所述第二抽头系数，M表示所述原始信号的电平值个数，M≥2。
30.根据权利要求29所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述SNR满足如下公式8：
其中，Psig表示所述第三信号中没有噪声和失真的信号分量的功率，yi为所述第三信号的采样电平值离散化后的表征，Pave表示所述眼图的平均光功率，σG表示所述目标噪声的RMS值。
31.根据权利要求30所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述Psig满足如下公式9：
其中，OMAouter表示所述第二信号的最外电平间光调制幅度，M表示所述原始信号的电平值个数，M≥2。
32.根据权利要求20至31中任一项所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述原始信号包括所述发射机周期性发送的测试序列。
33.根据权利要求20至33中任一项所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述第一抽头系数为前向均衡器FFE的抽头系数，所述第二抽头系数为判决反馈均衡器DFE的抽头系数。
34.根据权利要求20至33中任一项所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述眼图的目标位置包括单位时间间隔UI和/>
35.根据权利要求34所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述第三信号包括第一子信号和第二子信号，所述第一子信号在所述眼图的处采样得到，所述第一子信号在所述眼图的/>处采样得到；所述处理芯片具体用于：
获取所述第一子信号叠加所述目标噪声后的第一SER，并获取所述第二子信号叠加所述目标噪声后的第二SER；
确定所述第一SER为所述目标SER，其中，所述第一SER大于所述第二SER。
36.根据权利要求20至35中任一项所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述原始信号包括采用四阶脉幅调制PAM-4的信号或采用二阶脉幅调制PAM-2的信号。
37.根据权利要求20至36中任一项所述的TDEC测试接收机，其特征在于，所述原始信号对应的电平表示为：其中，Pave表示所述眼图的平均光功率，OMAouter为表示所述第二信号的最外电平间光调制幅度，1≤i≤M，M表示所述原始信号的电平值个数，M≥2。
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