CN117708189B - 一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法 - Google Patents
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- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 316
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 102
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 96
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 232
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 230
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 84
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 84
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims abstract description 60
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 34
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 32
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 claims description 23
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 18
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 claims description 18
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 17
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 15
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims description 14
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 13
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 12
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000012216 screening Methods 0.000 claims description 12
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 11
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 abstract description 6
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 11
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 6
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
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Abstract
本发明属于液晶触摸屏数据分析处理技术领域，涉及到一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法。本发明通过获取各制备不合格玻璃基板，有助于保证各玻璃基板的质量和稳定性，确保了后续工艺的进行性能，通过获取各导电层制备不合格玻璃基板，有助于保证其触控性能和稳定性，通过获取各不合格的液晶注入区域，规避了在液晶注入过程中出现的问题，进而保障了其显示效果，通过获取各生产不合格的液晶触摸屏结构，规避了其在使用过程中出现的问题，保障了其显示效果和触控性能，通过获取各生产不合格的液晶触摸屏，有效地避免了液晶触摸屏在组装过程中存在的问题，保障了其外观和触控性能。
Description
技术领域
本发明属于液晶触摸屏数据分析技术领域，涉及到一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法。
背景技术
液晶触摸屏是一种可接收触头等输入讯号的感应式液晶显示装置，通常被称为触控面板。随着科技的不断发展，液晶触摸屏在各个行业中的应用越来越广泛，为了满足市场需求，液晶触摸屏的生产制造需要更加高效、精确和可控。所以，针对液晶触摸屏的生产数据进行分析具有重要意义。
已有的针对液晶触摸屏的生产数据分析处理主要用于SMT生产线，对刚刚生产出来的首台液晶触摸屏进行全面检查，确保产品质量符合技术规格和客户要求，进而有助于减少人为的失误，提高效率，节约人力成本。
液晶触摸屏的生产制造涉及多个工序和复杂的工艺流程，但是，已有的针对液晶触摸屏的生产数据分析处理没有对液晶触摸屏在生产制造过程中的全流程对应的各个工序进行数据在线监测分析处理，玻璃基板是液晶触摸屏的底层结构，如果制备过程中出现质量问题，则会影响到后续工艺的进行和产品的性能，降低产品的显示效果和使用寿命，液晶注入是液晶触摸屏制造中的重要环节，如果注入过程中出现气泡、色彩不均等问题，则会导致产品出现亮度不均、色彩偏差等现象，影响显示效果，玻璃基板的封装质量直接影响产品的可靠性和稳定性，如果封装不严密、存在缝隙，则会影响液晶触摸屏的显示效果和触控性能，模组组装是将各个工艺环节组装在一起形成完整产品的过程，如果组装过程中存在缺陷，则会影响液晶触摸屏的外观和触控性能。
发明内容
鉴于此，为解决上述背景技术中所提出的问题，现提出一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现：本发明提供一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，包括：原始信息数据库构建，存储玻璃基板的表面洁净度阈值、标准长度、标准宽度和标准厚度，存储报废标准对应生产偏差度阈值和返工标准对应生产偏差度阈值，存储玻璃基板所属导电层的标准电导率、薄膜均匀度阈值和附着力阈值，存储制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数阈值，存储液晶注入区域的液晶分布均匀度阈值、许可气泡数和许可杂质数，存储液晶注入区域的合规度阈值，存储液晶触摸屏结构在封装过程中的许可气泡面积和许可杂质体积，存储组件的许可错位程度，存储液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的标准坐标。
外观参数分析，获取各玻璃基板的外观信息参数，分析各玻璃基板的生产偏差度，并得到各制备不合格玻璃基板，对其进行管理，其中各制备不合格玻璃基板包括各一级制备不合格玻璃基板和各二级制备不合格玻璃基板。
导电层参数分析，获取各玻璃基板所属导电层的基本信息参数，分析得到各导电层制备不合格玻璃基板，并对其进行管理，其中各导电层制备不合格玻璃基板包括各一类导电层制备不合格玻璃基板和各二类导电层制备不合格玻璃基板。
液晶注入区域分析，获取各液晶注入区域的基本信息参数，分析各液晶注入区域的合规度，并得到各不合格的液晶注入区域。
封装参数分析，对各液晶触摸屏结构的封装过程进行分析，得到各生产不合格的液晶触摸屏结构。
组装参数分析，对各液晶触摸屏的组装过程进行分析，得到各生产不合格的液晶触摸屏。
优选地，所述各玻璃基板的外观信息参数包括表面洁净度、长度、宽度和厚度。
所述各玻璃基板所属导电层的基本信息参数包括各监测区域电导率、薄膜均匀度和附着力。
所述各液晶注入区域的基本信息参数包括液晶分布均匀度、气泡数和杂质数。
优选地，所述各玻璃基板的生产偏差度的具体分析方式为：提取各玻璃基板的表面洁净度、长度、宽度和厚度，分析各玻璃基板的生产偏差度，其中/>分别为第/>个玻璃基板的表面洁净度、长度、宽度和厚度，/>分别为从原始信息数据库中提取的玻璃基板的表面洁净度阈值、标准长度、标准宽度和标准厚度，，/>为各玻璃基板对应的编号。
优选地，所述各制备不合格玻璃基板的具体获取方式为：将各玻璃基板的生产偏差度分别与从原始信息数据库中提取的报废标准对应生产偏差度阈值进行对比，若某玻璃基板的生产偏差度小于或者等于报废标准对应生产偏差度阈值，则将该玻璃基板记为一级制备不合格玻璃基板，反之，则将该玻璃基板记为制备合格玻璃基板。
进而得到各一级制备不合格玻璃基板和各制备合格玻璃基板，进一步对各一级制备不合格玻璃基板进行报废处理。
将各制备合格玻璃基板的生产偏差度分别与从原始信息数据库中提取的返工标准对应生产偏差度阈值进行对比，筛选得到生产偏差度阈值小于返工标准对应生产偏差度阈值的各制备合格玻璃基板，将其记为各二级制备不合格玻璃基板，并对其进行返工处理。
优选地，所述各导电层制备不合格玻璃基板的具体获取过程为：F1：提取各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率、薄膜均匀度和附着力。
F2：将各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率分别与从原始信息数据库中提取的玻璃基板所属导电层的标准电导率进行对比，筛选得到存在某监测区域电导率小于或者等于标准电导率的各玻璃基板，将其记为各一类导电层制备不合格玻璃基板，对其进行返工或者报废处理，进而得到各一类导电层制备合格玻璃基板。
F3：提取各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度和附着力，分析各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数，其中/>分别为第/>个一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度和附着力，/>分别为从原始信息数据库中提取的玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度阈值和附着力阈值，/>，/>为各一类导电层制备合格玻璃基板对应的编号。
F4：将各各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数分别与原始信息数据库中存储的符合系数阈值进行对比，筛选得到符合系数小于符合系数阈值对应的各一类导电层制备合格玻璃基板，将其记为各二类导电层制备不合格玻璃基板，对其进行返工处理。
优选地，所述各液晶注入的合规度的具体分析方式为：提取各液晶注入区域的液晶分布均匀度、气泡数和杂质数，分析各液晶注入区域的合规度，其中/>分别为第/>个液晶注入区域的液晶分布均匀度、气泡数和杂质数，/>分别为从原始信息数据库中提取的液晶注入区域的液晶分布均匀度阈值、许可气泡数和许可杂质数，/>，/>为各液晶注入区域对应的编号，/>为自然常数。
将各液晶注入区域的合规度与从原始信息数据库中提取的液晶注入区域的合规度阈值进行对比，筛选得到合规度小于合规度阈值对应的各液晶注入区域，将其记为各不合格的液晶注入区域，对其进行返工或者报废处理。
优选地，所述各生产不合格的液晶触摸屏结构的具体获取方式为：对各液晶触摸屏结构的封装过程进行监测，得到各液晶触摸屏结构在封装过程中的各气泡面积和各杂质体积，根据分析模型得到各液晶触摸屏结构的封装评价结果/>，其中/>表示各液晶触摸屏结构的封装评价结果为不合格，/>表示各液晶触摸屏结构的封装评价结果为合格，/>分别为第/>个液晶触摸屏结构在封装过程中的第/>个气泡面积和第/>个杂质体积，/>分别为从原始信息数据库中提取的液晶触摸屏结构在封装过程中的许可气泡面积和许可杂质体积，/>，/>为各液晶触摸屏结构对应的编号，/>，/>为各气泡对应的编号，/>，/>为各杂质对应的编号，/>为逻辑符号，表示为且，/>为逻辑符号，表示为或，/>为存在量词，表示为存在，/>为全称量词，表示为所有。
得到各液晶触摸屏结构的封装评价结果，进一步统计得到封装评价结果为不合格的各液晶触摸屏，将其记为各生产不合格的液晶触摸屏结构，并对其进行管理。
优选地，所述各生产不合格的液晶触摸屏的具体获取方式为：对各液晶触摸屏的组装过程进行监测，得到各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性和各组件的错位程度，根据分析模型得到各液晶触摸屏的组装合规度/>，其中/>表示各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性为不存在缺失组件，/>表示各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性为存在缺失组件，/>为第/>个液晶触摸屏在组装过程中其所属第/>个组件的错位程度，/>为从原始信息数据库中提取的组件的许可错位程度，/>，/>为各液晶触摸屏对应的编号，/>，/>为各组件对应的编号，/>为组件的数量。
若某液晶触摸屏的组装合规度大于零，则将该液晶触摸屏记为生产合格的液晶触摸屏，反之，则将该液晶触摸屏记为生产不合格的液晶触摸屏，统计得到各生产不合格的液晶触摸屏，对其进行管理。
优选地，所述各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件的错位程度的具体获取方式为：获取各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的坐标，分别记为，从原始信息数据库中提取液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的标准坐标/>。
分析各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件的错位程度。
相较于现有技术，本发明的有益效果如下：1、本发明通过获取各玻璃基板的外观信息参数，分析各玻璃基板的生产偏差度，并得到各制备不合格玻璃基板，对液晶触摸屏的玻璃基板的制备工序进行实时的在线监测，有助于保证各玻璃基板的质量和稳定性，确保了后续工艺的进行和产品的性能，有助于保证产品的显示效果和使用寿命。
2、本发明通过获取各玻璃基板所属导电层的基本信息参数，分析得到各导电层制备不合格玻璃基板，对液晶触摸屏的玻璃基板所属导电层的制备工序进行实时的在线监测，有助于保证液晶触摸屏的触控性能和稳定性，在一定程度上保障了用户的体验感。
3、本发明通过获取各液晶注入区域的基本信息参数，分析各液晶注入区域的合规度，并得到各不合格的液晶注入区域，对液晶触摸屏的液晶注入的制备工序进行实时的在线监测，规避了在液晶注入过程中出现气泡、色彩不均等问题，进而保障了液晶触摸屏的显示效果，也有助于保证液晶触摸屏的触控性能和稳定性。
4、本发明通过对各液晶触摸屏结构的封装过程进行监测，得到各生产不合格的液晶触摸屏结构，对液晶触摸屏的封装的制备工序进行实时的在线监测，有助于保证液晶触摸屏的可靠性和稳定性，规避了其在使用过程中出现漏光、进灰等问题，保障了液晶触摸屏的显示效果和触控性能。
5、本发明通过对各液晶触摸屏的组装过程进行监测，得到各生产不合格的液晶触摸屏，对液晶触摸屏的组装的制备工序进行实时的在线监测，有效地避免了液晶触摸屏在组装过程中存在贴合不紧密等缺陷的问题，保障了液晶触摸屏的外观和触控性能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的方法步骤示意图。
图2为本发明的各导电层制备不合格玻璃基板的获取示意图。
图3为本发明的液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应的三维坐标系示意图。
附图说明：1、液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的左下角顶点，即为原点。2、垂直于液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的下底线的直线，即为轴。3、液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的下底线，即为/>轴。4、液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的左侧线，即为/>轴。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1所示，本发明提供了一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，具体包括：原始信息数据库构建，存储玻璃基板的表面洁净度阈值、标准长度、标准宽度和标准厚度，存储报废标准对应生产偏差度阈值和返工标准对应生产偏差度阈值，存储玻璃基板所属导电层的标准电导率、薄膜均匀度阈值和附着力阈值，存储制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数阈值，存储液晶注入区域的液晶分布均匀度阈值、许可气泡数和许可杂质数，存储液晶注入区域的合规度阈值，存储液晶触摸屏结构在封装过程中的许可气泡面积和许可杂质体积，存储组件的许可错位程度，存储液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的标准坐标。
外观参数分析，获取各玻璃基板的外观信息参数，分析各玻璃基板的生产偏差度，并得到各制备不合格玻璃基板，对其进行管理，其中各制备不合格玻璃基板包括各一级制备不合格玻璃基板和各二级制备不合格玻璃基板。
需要进一步进行解释的是，由上述可得到各制备合格玻璃基板，进一步对其进行导电层制备工序。
作为一种优选的示例，所述各玻璃基板的外观信息参数包括表面洁净度、长度、宽度和厚度。
需要进一步进行说明的是，所述各玻璃基板的表面洁净度、长度、宽度和厚度的具体获取方式为：利用灰尘浓度计对各玻璃基板的表面进行检测，得到各玻璃基板表面的灰尘浓度，进一步将其与设定的各洁净度对应的灰尘浓度范围进行对比，得到各玻璃基板的表面洁净度。
利用尺寸测量仪器对各玻璃基板的长、宽和高进行检测，得到各玻璃基板的长度、宽度和厚度。
作为一种优选的示例，所述各玻璃基板的生产偏差度的具体分析方式为：提取各玻璃基板的表面洁净度、长度、宽度和厚度，分析各玻璃基板的生产偏差度，其中/>分别为第/>个玻璃基板的表面洁净度、长度、宽度和厚度，/>分别为从原始信息数据库中提取的玻璃基板的表面洁净度阈值、标准长度、标准宽度和标准厚度，，/>为各玻璃基板对应的编号。
作为一种优选的示例，所述各制备不合格玻璃基板的具体获取方式为：将各玻璃基板的生产偏差度分别与从原始信息数据库中提取的报废标准对应生产偏差度阈值进行对比，若某玻璃基板的生产偏差度小于或者等于报废标准对应生产偏差度阈值，则将该玻璃基板记为一级制备不合格玻璃基板，反之，则将该玻璃基板记为制备合格玻璃基板。
进而得到各一级制备不合格玻璃基板和各制备合格玻璃基板，进一步对各一级制备不合格玻璃基板进行报废处理。
将各制备合格玻璃基板的生产偏差度分别与从原始信息数据库中提取的返工标准对应生产偏差度阈值进行对比，筛选得到生产偏差度阈值小于返工标准对应生产偏差度阈值的各制备合格玻璃基板，将其记为各二级制备不合格玻璃基板，并对其进行返工处理。
本发明通过获取各玻璃基板的外观信息参数，分析各玻璃基板的生产偏差度，并得到各制备不合格玻璃基板，对液晶触摸屏的玻璃基板的制备工序进行实时的在线监测，有助于保证各玻璃基板的质量和稳定性，确保了后续工艺的进行和产品的性能，有助于保证产品的显示效果和使用寿命。
导电层参数分析，获取各玻璃基板所属导电层的基本信息参数，分析得到各导电层制备不合格玻璃基板，并对其进行管理，其中各导电层制备不合格玻璃基板包括各一类导电层制备不合格玻璃基板和各二类导电层制备不合格玻璃基板。
需要进一步进行解释的是，由上述可得到各导电层制备合格玻璃基板，进一步对其进行液晶注入的制备工序。
作为一种优选的示例，所述各玻璃基板所属导电层的基本信息参数包括各监测区域电导率、薄膜均匀度和附着力。
需要进一步进行说明的是，所述各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率的具体获取方式为：利用直线对各玻璃基板所属导电层的横向和纵向分别进行等间距划分，得到有直线划分的各玻璃基板所属导电层的各区域，将其记为各玻璃基板所属导电层的各监测区域，进一步利用电导率仪器对各玻璃基板所属导电层的各监测区域的中心点进行检测，得到各玻璃基板所属导电层的各监测区域的中心点的电导率，记为各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率。
所述各玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度的具体获取方式为：利用高清摄像头拍摄各玻璃基板所属导电层在偏振光显微镜下的图片，将其记为各玻璃基板所属导电层的显示图片，进一步对其进行灰度化处理，得到各玻璃基板所属导电层的显示灰度图片以及其对应各像素点的灰度值，从中提取得到各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的显示灰度图片对应各像素点的灰度值，记为，其中/>，/>为各一类导电层制备合格玻璃基板对应的编号，/>，/>为各像素点对应的编号，/>为像素点的数量。
进一步分析各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度，同理可得到各玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度。
所述各玻璃基板所属导电层的附着力的具体获取方式为：利用粘附力测定仪对各玻璃基板所属导电层的各监测区域的中心点进行检测，得到各玻璃基板所属导电层的各监测区域的中心点的粘附力，进一步对其进行作均值处理得到各玻璃基板所属导电层的监测区域的中心点的平均粘附力，记为各玻璃基板所属导电层的附着力。
作为一种优选的示例，所述各导电层制备不合格玻璃基板的具体获取过程为：F1：提取各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率、薄膜均匀度和附着力。
F2：将各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率分别与从原始信息数据库中提取的玻璃基板所属导电层的标准电导率进行对比，筛选得到存在某监测区域电导率小于或者等于标准电导率的各玻璃基板，将其记为各一类导电层制备不合格玻璃基板，对其进行返工或者报废处理，进而得到各一类导电层制备合格玻璃基板。
F3：提取各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度和附着力，分析各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数，其中/>分别为第/>个一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度和附着力，/>分别为从原始信息数据库中提取的玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度阈值和附着力阈值，/>，/>为各一类导电层制备合格玻璃基板对应的编号。
F4：将各各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数分别与原始信息数据库中存储的符合系数阈值进行对比，筛选得到符合系数小于符合系数阈值对应的各一类导电层制备合格玻璃基板，将其记为各二类导电层制备不合格玻璃基板，对其进行返工处理。
需要进一步进行说明的是，所述各制备不合格玻璃基板所属导电层的获取示意图如图2所示。
本发明通过获取各玻璃基板所属导电层的基本信息参数，分析得到各导电层制备不合格玻璃基板，对液晶触摸屏的玻璃基板所属导电层的制备工序进行实时的在线监测，有助于保证液晶触摸屏的触控性能和稳定性，在一定程度上保障了用户的体验感。
液晶注入区域分析，获取各液晶注入区域的基本信息参数，分析各液晶注入区域的合规度，并得到各不合格的液晶注入区域。
需要进一步进行解释的是，所述液晶注入区域的具体获取方式为：将两块导电层制备合格玻璃基板进行重合叠放，得到由两块导电层制备合格玻璃基板的组合，将其记为组合玻璃基板，并对组合玻璃基板的中间的叠合区域进行液晶注入操作，进而得到组合玻璃基板的中间的叠合液晶注入区域，将其记为液晶注入区域。
并且，由上述可得到各合格的液晶注入区域所对应的组合玻璃基板，进一步对其进行封装的制备工序。
作为一种优选的示例，所述各液晶注入区域的基本信息参数包括液晶分布均匀度、气泡数和杂质数。
需要进一步进行说明的是，所述各液晶注入区域的液晶分布均匀度的具体获取方式为：同各玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度的获取方式得到各液晶注入区域的液晶分布均匀度。
所述各液晶注入区域的气泡数和杂质数的具体获取方式为：利用透射光学显微镜对各液晶注入区域进行检测得到各液晶注入区域的气泡数和杂质数。
作为一种优选的示例，所述各液晶注入的合规度的具体分析方式为：提取各液晶注入区域的液晶分布均匀度、气泡数和杂质数，分析各液晶注入区域的合规度，其中/>分别为第/>个液晶注入区域的液晶分布均匀度、气泡数和杂质数，/>分别为从原始信息数据库中提取的液晶注入区域的液晶分布均匀度阈值、许可气泡数和许可杂质数，/>，/>为各液晶注入区域对应的编号，/>为自然常数。
将各液晶注入区域的合规度与从原始信息数据库中提取的液晶注入区域的合规度阈值进行对比，筛选得到合规度小于合规度阈值对应的各液晶注入区域，将其记为各不合格的液晶注入区域，对其进行返工或者报废处理。
本发明通过获取各液晶注入区域的基本信息参数，分析各液晶注入区域的合规度，并得到各不合格的液晶注入区域，对液晶触摸屏的液晶注入的制备工序进行实时的在线监测，规避了在液晶注入过程中出现气泡、色彩不均等问题，进而保障了液晶触摸屏的显示效果，也有助于保证液晶触摸屏的触控性能和稳定性。
封装参数分析，对各液晶触摸屏结构的封装过程进行分析，得到各生产不合格的液晶触摸屏结构。
需要进一步进行解释的是，所述液晶触摸屏结构的具体获取方式为：对合格的液晶注入区域所对应的组合玻璃基板进行外壳的封装，得到外壳封装完成的合格的液晶注入区域所对应的组合玻璃件，将其记为液晶触摸屏结构。
并且，由上述可得到各生产合格的液晶触摸屏结构，进一步对其进行组装的制备工序。
作为一种优选的示例，所述各生产不合格的液晶触摸屏结构的具体获取方式为：对各液晶触摸屏结构的封装过程进行监测，得到各液晶触摸屏结构在封装过程中的各气泡面积和各杂质体积，根据分析模型得到各液晶触摸屏结构的封装评价结果/>，其中/>表示各液晶触摸屏结构的封装评价结果为不合格，/>表示各液晶触摸屏结构的封装评价结果为合格，/>分别为第/>个液晶触摸屏结构在封装过程中的第/>个气泡面积和第/>个杂质体积，/>分别为从原始信息数据库中提取的液晶触摸屏结构在封装过程中的许可气泡面积和许可杂质体积，，/>为各液晶触摸屏结构对应的编号，/>，/>为各气泡对应的编号，，/>为各杂质对应的编号，/>为逻辑符号，表示为且，/>为逻辑符号，表示为或，为存在量词，表示为存在，/>为全称量词，表示为所有。
需要进一步进行说明的是，所述各液晶触摸屏结构在封装过程中的各气泡面积和各杂质体积的具体获取过程为：利用透射光学显微镜对各液晶触摸屏结构的封装过程进行监测得到各液晶触摸屏结构在封装过程中的各气泡面积和各杂质体积。
得到各液晶触摸屏结构的封装评价结果，进一步统计得到封装评价结果为不合格的各液晶触摸屏，将其记为各生产不合格的液晶触摸屏结构，并对其进行管理。
本发明通过对各液晶触摸屏结构的封装过程进行监测，得到各生产不合格的液晶触摸屏结构，对液晶触摸屏的封装的制备工序进行实时的在线监测，有助于保证液晶触摸屏的可靠性和稳定性，规避了其在使用过程中出现漏光、进灰等问题，保障了液晶触摸屏的显示效果和触控性能。
组装参数分析，对各液晶触摸屏的组装过程进行分析，得到各生产不合格的液晶触摸屏。
需要进一步进行解释的是，所述液晶触摸屏的具体获取方式为：将液晶触摸屏结构与各液晶触摸屏所属各组件进行组装，得到组装完成的液晶触摸屏结构，将其记为液晶触摸屏。
作为一种优选的示例，所述各生产不合格的液晶触摸屏的具体获取方式为：对各液晶触摸屏的组装过程进行监测，得到各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性和各组件的错位程度，根据分析模型得到各液晶触摸屏的组装合规度/>，其中/>表示各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性为不存在缺失组件，/>表示各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性为存在缺失组件，/>为第个液晶触摸屏在组装过程中其所属第/>个组件的错位程度，/>为从原始信息数据库中提取的组件的许可错位程度，/>，/>为各液晶触摸屏对应的编号，/>，/>为各组件对应的编号，/>为组件的数量。
作为一种具体的示例，所述液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件包括背光源、液晶驱动电路、按键、连接器和接口等。
若某液晶触摸屏的组装合规度大于零，则将该液晶触摸屏记为生产合格的液晶触摸屏，反之，则将该液晶触摸屏记为生产不合格的液晶触摸屏，统计得到各生产不合格的液晶触摸屏，对其进行管理。
作为一种优选的示例，所述各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件的错位程度的具体获取方式为：获取各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的坐标，分别记为，从原始信息数据库中提取液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的标准坐标/>。
需要进一步进行说明的是，所述各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的坐标的具体获取方式为：利用三维扫描仪对组装过程中的各液晶触摸屏进行扫描，获取各液晶触摸屏在组装过程中的三维数据，通过逆向工程软件对其进行分析和构建，得到各液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型。
以各液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的左下角顶点作为原点，作垂直于各液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的下底线的直线作为轴，以各液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的下底线作为/>轴，以各液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应屏幕的左侧线作为/>轴，建立各液晶触摸屏在组装过程中的三维可视化模型对应的三维坐标系，如图3所示。
从各液晶触摸屏对应的三维坐标系中提取各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的坐标。
分析各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件的错位程度。
本发明通过对各液晶触摸屏的组装过程进行监测，得到各生产不合格的液晶触摸屏，对液晶触摸屏的组装的制备工序进行实时的在线监测，有效地避免了液晶触摸屏在组装过程中存在贴合不紧密等缺陷的问题，保障了液晶触摸屏的外观和触控性能。
以上内容仅仅是对本发明的构思所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的构思或者超越本发明所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：包括：
S1、原始信息数据库构建：存储玻璃基板的表面洁净度阈值、标准长度、标准宽度和标准厚度，存储报废标准对应生产偏差度阈值和返工标准对应生产偏差度阈值，存储玻璃基板所属导电层的标准电导率、薄膜均匀度阈值和附着力阈值，存储制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数阈值，存储液晶注入区域的液晶分布均匀度阈值、许可气泡数和许可杂质数，存储液晶注入区域的合规度阈值，存储液晶触摸屏结构在封装过程中的许可气泡面积和许可杂质体积，存储组件的许可错位程度，存储液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的标准坐标；
S2、外观参数分析：获取各玻璃基板的外观信息参数，分析各玻璃基板的生产偏差度，并得到各制备不合格玻璃基板，对其进行管理，其中各制备不合格玻璃基板包括各一级制备不合格玻璃基板和各二级制备不合格玻璃基板；
S3、导电层参数分析：获取各玻璃基板所属导电层的基本信息参数，分析得到各导电层制备不合格玻璃基板，并对其进行管理，其中各导电层制备不合格玻璃基板包括各一类导电层制备不合格玻璃基板和各二类导电层制备不合格玻璃基板；
S4、液晶注入区域分析：获取各液晶注入区域的基本信息参数，分析各液晶注入区域的合规度，并得到各不合格的液晶注入区域；
S5、封装参数分析：对各液晶触摸屏结构的封装过程进行分析，得到各生产不合格的液晶触摸屏结构；
S6、组装参数分析：对各液晶触摸屏的组装过程进行分析，得到各生产不合格的液晶触摸屏。
2.根据权利要求1所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各玻璃基板的外观信息参数包括表面洁净度、长度、宽度和厚度；
所述各玻璃基板所属导电层的基本信息参数包括各监测区域电导率、薄膜均匀度和附着力；
所述各液晶注入区域的基本信息参数包括液晶分布均匀度、气泡数和杂质数。
3.根据权利要求2所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各玻璃基板的生产偏差度的具体分析方式为：
提取各玻璃基板的表面洁净度、长度、宽度和厚度，分析各玻璃基板的生产偏差度，其中/>分别为第/>个玻璃基板的表面洁净度、长度、宽度和厚度，/>分别为从原始信息数据库中提取的玻璃基板的表面洁净度阈值、标准长度、标准宽度和标准厚度，/>，为各玻璃基板对应的编号。
4.根据权利要求3所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各制备不合格玻璃基板的具体获取方式为：
将各玻璃基板的生产偏差度分别与从原始信息数据库中提取的报废标准对应生产偏差度阈值进行对比，若某玻璃基板的生产偏差度小于或者等于报废标准对应生产偏差度阈值，则将该玻璃基板记为一级制备不合格玻璃基板，反之，则将该玻璃基板记为制备合格玻璃基板；
进而得到各一级制备不合格玻璃基板和各制备合格玻璃基板，进一步对各一级制备不合格玻璃基板进行报废处理；
将各制备合格玻璃基板的生产偏差度分别与从原始信息数据库中提取的返工标准对应生产偏差度阈值进行对比，筛选得到生产偏差度阈值小于返工标准对应生产偏差度阈值的各制备合格玻璃基板，将其记为各二级制备不合格玻璃基板，并对其进行返工处理。
5.根据权利要求3所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各导电层制备不合格玻璃基板的具体获取过程为：
F1：提取各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率、薄膜均匀度和附着力；
F2：将各玻璃基板所属导电层的各监测区域电导率分别与从原始信息数据库中提取的玻璃基板所属导电层的标准电导率进行对比，筛选得到存在某监测区域电导率小于或者等于标准电导率的各玻璃基板，将其记为各一类导电层制备不合格玻璃基板，对其进行返工或者报废处理，进而得到各一类导电层制备合格玻璃基板；
F3：提取各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度和附着力，分析各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数，其中/>分别为第/>个一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度和附着力，/>分别为从原始信息数据库中提取的玻璃基板所属导电层的薄膜均匀度阈值和附着力阈值，/>，/>为各一类导电层制备合格玻璃基板对应的编号；
F4：将各一类导电层制备合格玻璃基板所属导电层的符合系数分别与原始信息数据库中存储的符合系数阈值进行对比，筛选得到符合系数小于符合系数阈值对应的各一类导电层制备合格玻璃基板，将其记为各二类导电层制备不合格玻璃基板，对其进行返工处理。
6.根据权利要求2所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各液晶注入的合规度的具体分析方式为：
提取各液晶注入区域的液晶分布均匀度、气泡数和杂质数，分析各液晶注入区域的合规度，其中/>分别为第/>个液晶注入区域的液晶分布均匀度、气泡数和杂质数，/>分别为从原始信息数据库中提取的液晶注入区域的液晶分布均匀度阈值、许可气泡数和许可杂质数，，/>为各液晶注入区域对应的编号，/>为自然常数；
将各液晶注入区域的合规度与从原始信息数据库中提取的液晶注入区域的合规度阈值进行对比，筛选得到合规度小于合规度阈值对应的各液晶注入区域，将其记为各不合格的液晶注入区域，对其进行返工或者报废处理。
7.根据权利要求1所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各生产不合格的液晶触摸屏结构的具体获取方式为：
对各液晶触摸屏结构的封装过程进行监测，得到各液晶触摸屏结构在封装过程中的各气泡面积和各杂质体积，根据分析模型得到各液晶触摸屏结构的封装评价结果/>，其中/>表示各液晶触摸屏结构的封装评价结果为不合格，/>表示各液晶触摸屏结构的封装评价结果为合格，/>分别为第/>个液晶触摸屏结构在封装过程中的第/>个气泡面积和第/>个杂质体积，/>分别为从原始信息数据库中提取的液晶触摸屏结构在封装过程中的许可气泡面积和许可杂质体积，，/>为各液晶触摸屏结构对应的编号，/>，/>为各气泡对应的编号，，/>为各杂质对应的编号，/>为逻辑符号，表示为且，/>为逻辑符号，表示为或，为存在量词，表示为存在，/>为全称量词，表示为所有；
得到各液晶触摸屏结构的封装评价结果，进一步统计得到封装评价结果为不合格的各液晶触摸屏，将其记为各生产不合格的液晶触摸屏结构，并对其进行管理。
8.根据权利要求1所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各生产不合格的液晶触摸屏的具体获取方式为：
对各液晶触摸屏的组装过程进行监测，得到各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性和各组件的错位程度，根据分析模型得到各液晶触摸屏的组装合规度/>，其中/>表示各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性为不存在缺失组件，/>表示各液晶触摸屏在组装过程中其所属组件的缺失性为存在缺失组件，/>为第/>个液晶触摸屏在组装过程中其所属第/>个组件的错位程度，/>为从原始信息数据库中提取的组件的许可错位程度，/>，/>为各液晶触摸屏对应的编号，，/>为各组件对应的编号，/>为组件的数量；
若某液晶触摸屏的组装合规度大于零，则将该液晶触摸屏记为生产合格的液晶触摸屏，反之，则将该液晶触摸屏记为生产不合格的液晶触摸屏，统计得到各生产不合格的液晶触摸屏，对其进行管理。
9.根据权利要求8所述的一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法，其特征在于：所述各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件的错位程度的具体获取方式为：
获取各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的坐标，分别记为，从原始信息数据库中提取液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件中心点的标准坐标/>；
分析各液晶触摸屏在组装过程中其所属各组件的错位程度。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117708189A CN117708189A (zh) | 2024-03-15 |
| CN117708189B true CN117708189B (zh) | 2024-04-19 |
Family
ID=90157493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202410167458.XA Active CN117708189B (zh) | 2024-02-06 | 2024-02-06 | 一种液晶触摸屏生产制造数据分析处理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117708189B (zh) |
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