CN117706887A - 光扫描装置 - Google Patents

光扫描装置 Download PDF

Info

Publication number
CN117706887A
CN117706887A CN202311155580.7A CN202311155580A CN117706887A CN 117706887 A CN117706887 A CN 117706887A CN 202311155580 A CN202311155580 A CN 202311155580A CN 117706887 A CN117706887 A CN 117706887A
Authority
CN
China
Prior art keywords
imaging optical
optical system
scanning
optical element
scanning device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202311155580.7A
Other languages
English (en)
Inventor
寺村昌泰
西条苍野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Publication of CN117706887A publication Critical patent/CN117706887A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/12Scanning systems using multifaceted mirrors
    • G02B26/125Details of the optical system between the polygonal mirror and the image plane
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/04Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for exposing, i.e. imagewise exposure by optically projecting the original image on a photoconductive recording material
    • G03G15/0409Details of projection optics

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

本发明涉及光扫描装置。根据本发明的光扫描装置包括:偏转单元,被配置为偏转第一光束和第二光束以在主扫描方向上扫描第一被扫描表面和第二被扫描表面;以及第一成像光学系统和第二成像光学系统,被配置为将偏转单元偏转的第一光束和第二光束引导到第一被扫描表面和第二被扫描表面。第一成像光学系统包括第一成像光学元件、以及在第一成像光学系统的光路上布置在第一成像光学元件与第一被扫描表面之间的第二成像光学元件。第二成像光学系统包括第三成像光学元件。光扫描装置满足以下条件:φ1≠φ3,φ2/φ1≤1,其中,φ1、φ2以及φ3分别表示第一成像光学元件、第二成像光学元件以及第三成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度。

Description

光扫描装置
技术领域
本发明涉及光扫描装置,并且特别地涉及适合于诸如激光束打印机(LBP)、数字复印机或多功能打印机(MFP)的图像形成装置的光扫描装置。
背景技术
近年来,已存在对减小安装在彩色图像形成装置上的包括多个成像光学系统的光扫描装置的尺寸以便减小彩色图像形成装置的尺寸的需求。
当试图减小包括多个成像光学系统的光扫描装置的尺寸时,光扫描装置中的多个成像光学系统的布置空间被减小,使得有必要注意包括在多个成像光学系统中的成像光学元件之间的干涉。
日本专利申请特开No.2010-072049公开了光扫描装置,在该光扫描装置中,使多个成像光学系统中的成像光学元件的布置彼此不同以在抑制包括在多个成像光学系统中的成像光学元件之间的干涉的同时减小尺寸。
在日本专利申请特开No.2010-072049中公开的光扫描装置中,在多个成像光学系统中的每一个中提供的两个成像光学元件当中在光路中更靠近偏转单元布置的成像光学元件具有相同的形状。
因而,由于多个成像光学系统中的每一个中的成像光学元件的布置的自由度低,因此难以充分地减小光扫描装置的尺寸。
发明内容
本发明的目的是要提供可以被充分地小型化的光扫描装置。
根据本发明的光扫描装置包括:偏转单元,所述偏转单元被配置为偏转第一光束以在主扫描方向上扫描第一被扫描表面并且偏转第二光束以在所述主扫描方向上扫描第二被扫描表面;第一成像光学系统,所述第一成像光学系统被配置为将所述偏转单元偏转的所述第一光束引导到所述第一被扫描表面;以及第二成像光学系统,所述第二成像光学系统被配置为将所述偏转单元偏转的所述第二光束引导到所述第二被扫描表面。所述第一成像光学系统包括第一成像光学元件和第二成像光学元件,所述第二成像光学元件在所述第一成像光学系统的光路上被布置在所述第一成像光学元件与所述第一被扫描表面之间。所述第二成像光学系统包括第三成像光学元件。所述光扫描装置满足以下条件:
φ1≠φ3
φ2/φ1≤1,
其中,φ1、φ2以及φ3分别表示所述第一成像光学元件、所述第二成像光学元件以及所述第三成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度(power)。
本发明的另外的特征从以下参考附图对示例性实施例的描述将变得清楚。
附图说明
图1A是根据本发明的第一实施例的光扫描装置的一部分的主扫描横截面中的展开图。
图1B是根据第一实施例的光扫描装置的一部分的主扫描横截面中的展开图。
图2A是根据第一实施例的光扫描装置的一部分的副扫描横截面中的展开图。
图2B是根据第一实施例的光扫描装置的一部分的副扫描横截面图。
图3A是根据本发明的第二实施例的光扫描装置的一部分的主扫描横截面中的展开图。
图3B是根据第二实施例的光扫描装置的一部分的主扫描横截面中的展开图。
图4A是根据第二实施例的光扫描装置的一部分的副扫描横截面中的展开图。
图4B是根据第二实施例的光扫描装置的一部分的副扫描横截面图。
图5A是示出根据第二实施例的光扫描装置中的第一扫描光学系统中的折光力(refractive power)布置的示图。
图5B是示出根据第二实施例的光扫描装置中的第二扫描光学系统中的折光力布置的示图。
图6A是根据本发明的第三实施例的光扫描装置的一部分的副扫描横截面中的展开图。
图6B是根据第三实施例的光扫描装置的一部分的副扫描横截面中的展开图。
图6C是根据第三实施例的光扫描装置的一部分的副扫描横截面图。
图7是根据本发明的彩色图像形成装置的主要部分的副扫描横截面图。
具体实施方式
在下文中,参考附图详细描述根据本发明的光扫描装置。注意的是,为了便于理解本发明,下面描述的附图可能以与实际比例不同的比例绘制。
在以下描述中,主扫描方向是与偏转单元的旋转轴和光学系统的光轴垂直的方向。副扫描方向是与偏转单元的旋转轴平行的方向。主扫描横截面是与副扫描方向垂直的截面。副扫描横截面是与主扫描方向垂直的截面。
因而,在以下描述中,应当注意的是,主扫描方向和副扫描横截面在入射光学系统与成像光学系统之间不同。
[第一实施例]
图1A和图1B分别示出了根据本发明的第一实施例的光扫描装置10的一部分的主扫描横截面中的展开图。
另外,图2A和图2B分别示出了根据本实施例的光扫描装置10中包括的第一和第二扫描光学系统75a和75b的副扫描横截面中的展开图和副扫描横截面图。
根据本实施例的光扫描装置10包括第一和第二光源101和201、第一和第二准直透镜102和202、第一和第二柱面透镜103和203、以及第一和第二孔径光阑104和204。
另外,根据本实施例的光扫描装置10包括偏转单元1、第一fθ透镜106和206、以及第二fθ透镜107和207。
第二fθ透镜107(第二成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜106(第一成像光学元件)与第一被扫描表面108之间。另外,第二fθ透镜207(第四成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜206(第三成像光学元件)与第二被扫描表面208之间。
作为第一和第二光源101和201,使用半导体激光器等。
第一和第二准直透镜102和202将从第一和第二光源101和201发出的光束LA和LB转换成平行光束。注意的是,平行光束不仅包括严格地平行的光束,而且还包括诸如弱发散光束或弱汇聚光束的基本上平行的光束。
第一和第二柱面透镜103和203在副扫描横截面中具有有限的光焦度(折光力),并且在副扫描方向上会聚已穿过(pass through)第一和第二准直透镜102和202的光束LA和LB。
第一和第二孔径光阑104和204限制已穿过第一和第二柱面透镜103和203的光束LA和LB的直径。
以这种方式,从第一和第二光源101和201发出的光束LA和LB仅在偏转单元1的偏转表面1a的附近在副扫描方向上会聚,并且被成像为在主扫描方向上伸长的线图像。
偏转单元1被诸如马达(未示出)的驱动单元在箭头A的方向上旋转以使入射的光束LA和LB偏转。偏转单元1例如由多角镜形成。
第一fθ透镜106和第二fθ透镜107是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将由偏转单元1的偏转表面1a偏转的光束LA会聚(引导)到第一被扫描表面108上。
第一fθ透镜206和第二fθ透镜207是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将由偏转单元1的偏转表面1a偏转的光束LB会聚(引导)到第二被扫描表面208上。
在根据本实施例的光扫描装置10中,第一准直透镜102、第一柱面透镜103和第一孔径光阑104形成第一入射光学系统65a。第二准直透镜202、第二柱面透镜203和第二孔径光阑204形成第二入射光学系统65b。
另外,在根据本实施例的光扫描装置10中,第一fθ透镜106和第二fθ透镜107形成第一扫描光学系统75a(第一成像光学系统)。第一fθ透镜206和第二fθ透镜207形成第二扫描光学系统75b(第二成像光学系统)。
注意的是,第二fθ透镜107和207的副扫描横截面中的折光力分别比第一fθ透镜106和206的副扫描横截面中的折光力强,即,在第一和第二扫描光学系统75a和75b中最强。
从第一光源101的光发出点发出的光束LA(第一光束)被第一准直透镜102转换成平行光束。
经转换的光束被第一柱面透镜103在副扫描方向上会聚,穿过第一孔径光阑104,并且入射在偏转单元1的偏转表面1a上。
从第一光源101发出并且入射在偏转单元1的偏转表面1a上的光束LA被偏转单元1偏转以进行扫描,然后被第一扫描光学系统75a会聚在第一被扫描表面108上以便以恒定速度扫描第一被扫描表面108。
另外,从第二光源201的光发出点发出的光束LB(第二光束)被第二准直透镜202转换成平行光束。
经转换的光束LB被第二柱面透镜203在副扫描方向上会聚,穿过第二孔径光阑204,并且入射在偏转单元1的偏转表面1a上。
从第二光源201发出并且入射在偏转单元1的偏转表面1a上的光束LB被偏转单元1偏转以进行扫描,然后被第二扫描光学系统75b会聚在第二被扫描表面208上以便以恒定速度扫描第二被扫描表面208。
由于偏转单元1在箭头A的方向上旋转,因此经偏转的光束LA和LB分别在箭头B的方向上扫描第一和第二被扫描表面108和208。
另外,C0是对于用于扫描第一和第二被扫描表面108和208的轴上图像高度的光束LA和LB(下文中称为轴上光束)的主光线的偏转单元1的偏转表面1a上的偏转点(轴上偏转点)。轴上偏转点C0是第一和第二扫描光学系统75a和75b的参考点(偏转参考点)。
在本实施例中,第一和第二感光鼓108和208被用作第一和第二被扫描表面108和208。
通过对于每次主扫描曝光在副扫描方向上旋转第一和第二感光鼓108和208来形成第一和第二感光鼓108和208上的副扫描方向上的曝光分布。
在根据本实施例的光扫描装置10中,在第一扫描光学系统75a中提供的第一fθ透镜106和在第二扫描光学系统75b中提供的第一fθ透镜206是彼此一体地形成的光学元件。
这使得可以减小根据本实施例的光扫描装置10的尺寸。
另外,根据本实施例的光扫描装置10采用已穿过第一入射光学系统65a的光束LA和已穿过第二入射光学系统65b的光束LB在副扫描横截面中斜入射在偏转单元1的偏转表面1a上的结构。
这使得可以进一步减小根据本实施例的光扫描装置10的尺寸。
表1至表3示出了根据本实施例的光扫描装置10的第一和第二入射光学系统65a和65b以及第一和第二扫描光学系统75a和75b的各种特性。
[表1]
[表2]
[表3]
这里,当每个透镜表面与光轴之间的交点被定义为原点时,光轴、主扫描横截面中与光轴正交的轴以及副扫描横截面中与光轴正交的轴分别被定义为X轴、Y轴和Z轴。另外,在表2和表3中"E-x"意指"×10-x"。
根据本实施例的光扫描装置10的第一fθ透镜106和206以及第二fθ透镜107和207的每个透镜表面的主扫描横截面中的非球面形状(子午线形状)由以下表达式(1)表达:
在表达式(1)中,R表示曲率半径,K表示偏心率,并且Bi(i=4,6,8,10,12)表示非球面系数。
另外,第一fθ透镜106和206以及第二fθ透镜107和207的每个透镜表面的副扫描横截面中的非球面形状(弧矢线形状)由以下表达式(2)表达:
在表达式(2)中,Mjk(j=0至12,并且k=1)表示非球面系数。
副扫描横截面中的曲率半径r'如以下表达式(3)中那样根据透镜表面的y坐标连续地改变:
在表达式(3)中,r表示光轴上的曲率半径,并且Ej(j=1至10)表示变化系数。
在表达式(1)中,当系数Bi对于y在正侧与负侧之间不同时,如表2和表3中所示,对正侧的系数Bi加上下标u(即,Biu),并且对负侧的系数Bi加上下标l(即,Bil)。
这同样适用于表达式(2)中的系数Mjk和表达式(3)中的系数Ej。
接下来,描述根据本实施例的光扫描装置10的效果。
如图2B中所示,反射镜109和110(第一反射元件)在被偏转单元1偏转的光束LA的光路上提供,并且反射镜209(第二反射元件)在被偏转单元1偏转的光束LB的光路上提供。
作为反射镜109、110、209,使用形成有蒸镀膜的反射元件等。
已穿过在第一扫描光学系统75a中提供的第二fθ透镜107的光束LA依次被反射镜109和反射镜110反射,从而被引导到第一被扫描表面108。
另外,已穿过在第二扫描光学系统75b中提供的第二fθ透镜207的光束LB被反射镜209反射,从而被引导到第二被扫描表面208。
这里,考虑减小与第一和第二被扫描表面108和208对应的第一和第二感光鼓108和208之间的距离,以便减小安装有根据本实施例的光扫描装置10的图像形成装置的尺寸。
此时,如果在根据本实施例的光扫描装置10中第二fθ透镜107和第二fθ透镜207被布置在远离偏转单元1光学上彼此等价的距离的位置处,那么可能出现光束对第二fθ透镜的不必要的干涉。
具体地,光束LA可能入射在第二扫描光学系统75b中提供的第二fθ透镜207上,或者光束LB可能入射在第一扫描光学系统75a中提供的第二fθ透镜107上。
因而,在根据本实施例的光扫描装置10中,第二fθ透镜107和第二fθ透镜207被布置在远离偏转单元1光学上彼此不等价的距离的位置处。具体地,第二fθ透镜107被布置在光路上比第二fθ透镜207更靠近偏转单元1的位置处。
这使得可以在抑制光束对第二fθ透镜的不必要的干涉的同时减小第一和第二感光鼓108和208之间的距离,以实现安装有根据本实施例的光扫描装置10的图像形成装置的尺寸的减小。
表4示出了根据本实施例的光扫描装置10中提供的第一fθ透镜106和206以及第二fθ透镜107和207的各种特性。
[表4]
这里,第一和第二fθ透镜106和107的副扫描横截面中的折光力分别由φ1和φ2表示。
另外,第一和第二fθ透镜206和207的副扫描横截面中的折光力分别由φ3和φ4表示。
此时,在根据本实施例的光扫描装置10中,满足以下条件表达式(4)和(5):
φ2/φ1≤1…(4)
φ1≠φ3…(5)。
具体地,在根据本实施例的光扫描装置10中,如表4中所示,φ1=-0.0407,φ2=0.0416并且φ3=0.0020,使得满足条件表达式(4)和(5)。
在根据本实施例的光扫描装置10中,第一fθ透镜106和206以及第二fθ透镜107中的每一个的副扫描横截面中的折光力被设置为满足条件表达式(4)和(5)。
由此,第一和第二扫描光学系统75a和75b可以采用如图2A和图2B中所示的光学布置,并且根据本实施例的光扫描装置10和安装有根据本实施例的光扫描装置10的图像形成装置可以被小型化。
另外,在根据本实施例的光扫描装置10中,优选地满足以下条件表达式(6):
φ3≤φ4…(6)。
具体地,在根据本实施例的光扫描装置10中,如表4中所示,并且使得满足条件表达式(6)。
由此,通过将第二fθ透镜207布置在远离偏转单元1的位置,可以抑制光束LA对第二fθ透镜207的干涉。
如上所述,在根据本实施例的光扫描装置10中,通过形成第一和第二扫描光学系统75a和75b使得满足条件表达式(4)和(5),可以实现尺寸的充分减小。
在根据本实施例的光扫描装置10中,可以使用衍射光学元件以代替第一fθ透镜106和206以及第二fθ透镜107和207中的至少一个。在这种情况下,衍射光学元件的衍射力可以满足上述条件表达式(4)和(5)。
在根据本实施例的光扫描装置10中,第一fθ透镜106和206以及第二fθ透镜107和207的折光力和衍射光学元件的衍射力被统称为光焦度。
[第二实施例]
图3A和图3B分别示出了根据本发明的第二实施例的光扫描装置20的一部分的主扫描横截面中的展开图。
另外,图4A和图4B分别示出了根据本实施例的光扫描装置20中包括的第一和第二扫描光学系统95a和95b的副扫描横截面中的展开图和副扫描横截面图。
根据本实施例的光扫描装置20包括第一和第二光源301和401、第一和第二变形准直透镜302和402、第一和第二副扫描光阑303和403、以及第一和第二主扫描光阑304和404。
另外,根据本实施例的光扫描装置20包括偏转单元2、第一fθ透镜306和406、以及第二fθ透镜307和407。
第二fθ透镜307(第二成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜306(第一成像光学元件)与第一被扫描表面308之间。另外,第二fθ透镜407(第四成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜406(第三成像光学元件)与第二被扫描表面408之间。
作为第一和第二光源301和401,使用半导体激光器等。
第一和第二变形准直透镜302和402将从第一和第二光源301和401发出的光束LA和LB在主扫描横截面中转换成平行光束,并且在副扫描方向上会聚光束。注意的是,平行光束不仅包括严格地平行的光束,而且还包括诸如弱发散光束或弱汇聚光束的基本上平行的光束。
第一和第二副扫描光阑303和403限制已穿过第一和第二变形准直透镜302和402的光束LA和LB的副扫描方向上的光束直径。
第一和第二主扫描光阑304和404限制已穿过第一和第二副扫描光阑303和403的光束LA和LB的主扫描方向上的光束直径。
以这种方式,从第一和第二光源301和401发出的光束LB和LB仅在偏转单元2的偏转表面2a的附近在副扫描方向上会聚,并且被成像为在主扫描方向上伸长的线图像。
偏转单元2被诸如马达(未示出)的驱动单元在箭头A的方向上旋转以使入射的光束LA和LB偏转。偏转单元2例如由多角镜形成。
第一fθ透镜306和第二fθ透镜307是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将被偏转单元2的偏转表面2a偏转的光束LA会聚(引导)到第一被扫描表面308上。
第一fθ透镜406和第二fθ透镜407是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将被偏转单元2的偏转表面2a偏转的光束LB会聚(引导)到第二被扫描表面408上。
在根据本实施例的光扫描装置20中,第一变形准直透镜302、第一副扫描光阑303和第一主扫描光阑304形成第一入射光学系统85a。第二变形准直透镜402、第二副扫描光阑403和第二主扫描光阑404形成第二入射光学系统85b。
另外,在根据本实施例的光扫描装置20中,第一fθ透镜306和第二fθ透镜307形成第一扫描光学系统95a(第一成像光学系统)。第一fθ透镜406和第二fθ透镜407形成第二扫描光学系统95b(第二成像光学系统)。
注意的是,第二fθ透镜307和407的副扫描横截面中的折光力分别比第一fθ透镜306和406的副扫描横截面中的折光力强,即,在第一和第二扫描光学系统95a和95b中最强。
从第一光源301的光发出点发出的光束LA被转换成平行光束,并且被第一变形准直透镜302在副扫描方向上会聚。
经转换并且会聚的光束LA穿过第一副扫描光阑303和第一主扫描光阑304,然后入射在偏转单元2的偏转表面2a上。
从第一光源301发出并且入射在偏转单元2的偏转表面2a上的光束LA被偏转单元2偏转以进行扫描,然后被第一扫描光学系统95a会聚在第一被扫描表面308上以便以恒定速度扫描第一被扫描表面308。
从第二光源401的光发出点发出的光束LB被转换成平行光束,并且被第二变形准直透镜402在副扫描方向上会聚。
经转换并且会聚的光束LB穿过第二副扫描光阑403和第二主扫描光阑404,然后入射在偏转单元2的偏转表面2a上。
从第二光源401发出并且入射在偏转单元2的偏转表面2a上的光束LB被偏转单元2偏转以进行扫描,然后被第二扫描光学系统95b会聚在第二被扫描表面408上以便以恒定速度扫描第二被扫描表面408。
由于偏转单元2在箭头A的方向上旋转,因此经偏转的光束LA和LB分别在箭头B的方向上扫描第一和第二被扫描表面308和408。
C0是对于光束LA和LB的轴上光束的主光线的偏转单元2的偏转表面2a上的偏转点(轴上偏转点),并且是第一和第二扫描光学系统95a和95b的参考点(偏转参考点)。
在本实施例中,第一和第二感光鼓308和408被用作第一和第二被扫描表面308和408。
通过对于每次主扫描曝光在副扫描方向上旋转第一和第二感光鼓308和408来形成第一和第二感光鼓308和408上的副扫描方向上的曝光分布。
在根据本实施例的光扫描装置20中,在第一扫描光学系统95a中提供的第一fθ透镜306和在第二扫描光学系统95b中提供的第一fθ透镜406是彼此一体地形成的光学元件。
这使得可以减小根据本实施例的光扫描装置20的尺寸。
另外,根据本实施例的光扫描装置20采用已穿过第一入射光学系统85a的光束LA和已穿过第二入射光学系统85b的光束LB在副扫描横截面中斜入射在偏转单元2的偏转表面2a上的结构。
这使得可以进一步减小根据本实施例的光扫描装置20的尺寸。
表5至表7示出了根据本实施例的光扫描装置20的第一和第二入射光学系统85a和85b以及第一和第二扫描光学系统95a和95b的各种特性。
[表5]
[表6]
[表7]
这里,当每个透镜表面与光轴的交点被设置为原点时的光轴方向、主扫描横截面中与光轴正交的轴以及副扫描横截面中与光轴正交的轴分别被定义为X轴、Y轴和Z轴。另外,在表6和表7中"E-x"意指"×10-x"。
根据本实施例的光扫描装置20中提供的第一fθ透镜306和406以及第二fθ透镜307和407的每个透镜表面的主扫描横截面中的非球面形状(子午线形状)由上述表达式(1)表达。
第一fθ透镜306和406以及第二fθ透镜307和407的每个透镜表面的副扫描横截面中的非球面形状(弧矢线形状)由上述表达式(2)表达。
另外,副扫描横截面中的第一fθ透镜306和406以及第二fθ透镜307和407的每个透镜表面的曲率半径r'如以下表达式(7)中那样根据透镜表面的y坐标连续地改变:
在表达式(7)中,r表示光轴上的曲率半径,并且Ei(i=1至10)是变化系数。
此外,第一和第二变形准直透镜302和402中的每一个具有由衍射表面形成的入射表面,该衍射表面由如以下表达式(8)中所示的两个变量Y和Z的光路差函数表达:
在表达式(8)中,λ表示衍射光栅的节距,并且Di,j表示相位系数。
接下来,描述根据本实施例的光扫描装置20的效果。
如图4B中所示,反射镜309和310(第一反射元件)在被偏转单元2偏转的光束LA的光路上提供,并且反射镜409(第二反射元件)在被偏转单元2偏转的光束LB的光路上提供。
作为反射镜309、310和409,使用形成有蒸镀膜的反射元件等。
已穿过在第一扫描光学系统95a中提供的第一fθ透镜306的光束LA被反射镜309反射,然后入射在第二fθ透镜307上。已穿过第二fθ透镜307的光束LA被反射镜310反射,并且被引导到第一被扫描表面308。
已穿过在第二扫描光学系统95b中提供的第二fθ透镜407的光束LB被反射镜409反射,并且被引导到第二被扫描表面408。
这里,考虑减小与第一和第二被扫描表面308和408对应的第一和第二感光鼓308和408之间的距离,以便使安装有根据本实施例的光扫描装置20的图像形成装置小型化。
此时,在根据本实施例的光扫描装置20中,如果第二fθ透镜307和第二fθ透镜407被布置在远离偏转单元2光学上彼此等价的距离的位置处,那么可能出现光束对第二fθ透镜的不必要的干涉。
具体地,光束LA可能入射在第二扫描光学系统95b中提供的第二fθ透镜407上,或者光束LB可能入射在第一扫描光学系统95a中提供的第二fθ透镜307上。
因而,在根据本实施例的光扫描装置20中,第二fθ透镜307和第二fθ透镜407被布置在远离偏转单元2光学上彼此不等价的距离的位置处。具体地,第二fθ透镜407被布置在光路上比第二fθ透镜307更靠近偏转单元2的位置处。
这可以在抑制光束对第二fθ透镜的不必要的干涉的同时减小第一和第二感光鼓308和408之间的距离,以实现安装有根据本实施例的光扫描装置20的图像形成装置的尺寸的减小。
表8示出了根据本实施例的光扫描装置20中提供的第一fθ透镜306和406以及第二fθ透镜307和407的各种特性。
[表8]
这里,第一和第二fθ透镜306和307的副扫描横截面中的折光力分别由φ1和φ2表示。
另外,第一和第二fθ透镜406和407的副扫描横截面中的折光力分别由φ3和φ4表示。
此时,在根据本实施例的光扫描装置20中,如表8中所示,φ1=0.0182,φ2=0.0161并且φ3=0.0083,使得满足上述条件表达式(4)和(5)。
由此,第一和第二扫描光学系统95a和95b可以采用如图4B中所示的光学布置,并且根据本实施例的光扫描装置20和安装有根据本实施例的光扫描装置20的图像形成装置可以被小型化。
接下来,考虑使第一扫描光学系统95a和第二扫描光学系统95b的副扫描倍率基本上彼此相等。
此时,当第二fθ透镜307和第二fθ透镜407被布置在远离偏转单元2光学上彼此不等价的距离的位置处时,要求使第一fθ透镜306和406的副扫描横截面中的折光力彼此不同。
图5A示出了根据本实施例的光扫描装置20中的第一扫描光学系统95a的副扫描横截面中的折光力布置。
另外,图5B示出了根据本实施例的光扫描装置20中的第二扫描光学系统95b的副扫描横截面中的折光力布置。
这里,在根据本实施例的光扫描装置20中,优选地满足以下条件表达式(9):
φ1>φ3…(9)。
在根据本实施例的光扫描装置20中,如表8中所示,φ1=0.0182并且φ3=0.0083,使得满足条件表达式(9)。
另外,在根据本实施例的光扫描装置20中,如表8中所示,φ3=0.0083并且φ4=0.0175,使得满足上述条件表达式(6)。
如上所述,在根据本实施例的光扫描装置20中,每个fθ透镜的副扫描横截面中的折光力被设置为使得满足条件表达式(4)、(6)和(9)。
由此,如图5A和图5B中所示,可以使在整个第一扫描光学系统95a中组合的折光力和在整个第二扫描光学系统95b中组合的折光力基本上彼此相等。
那么,第一扫描光学系统95a和第二扫描光学系统95b的副扫描倍率分别为1.45和1.46,即,在第一扫描光学系统95a和第二扫描光学系统95b中可以使副扫描倍率基本上彼此相等。
这里,轴上偏转点C0与在第一扫描光学系统95a中提供的第一fθ透镜306和第二fθ透镜307之间的距离分别由L1和L2表示。
另外,轴上偏转点C0与在第二扫描光学系统95b中提供的第一fθ透镜406和第二fθ透镜407之间的距离分别由L3和L4表示。
此时,在根据本实施例的光扫描装置20中,优选地满足以下条件表达式(10):
L2/L4>L3/L1…(10)。
在根据本实施例的光扫描装置20中,如表6和表7中所示,L1=26.00mm、L2=122.00mm、L3=26.00mm并且L4=103.50mm,使得满足条件表达式(10)。
这使得容易使第一扫描光学系统95a和第二扫描光学系统95b的副扫描倍率基本上彼此相等。
另外,在根据本实施例的光扫描装置20中,优选地如表8中所示,φ1、φ2、φ3和φ4的值全部为正。
这使得可以减小第一fθ透镜306和406以及第二fθ透镜307和407中的每一个的副扫描横截面中的折光力。
如上所述,在根据本实施例的光扫描装置20中,通过形成第一和第二扫描光学系统95a和95b使得满足条件表达式(4)和(5),可以实现尺寸的充分减小。
另外,在根据本实施例的光扫描装置20中,通过设置每个fθ透镜的副扫描横截面中的折光力使得满足条件表达式(4)、(6)和(9),可以使第一和第二扫描光学系统95a和95b中的副扫描倍率基本上彼此相等。
[第三实施例]
图6A示出了根据本发明的第三实施例的光扫描装置30中包括的第一和第二扫描光学系统95a和95b的副扫描横截面中的展开图。
另外,图6B示出了根据本实施例的光扫描装置30中包括的第三和第四扫描光学系统95c和95d的副扫描横截面中的展开图。
此外,图6C示出了根据本实施例的光扫描装置30中包括的第一至第四扫描光学系统95a至95d的副扫描横截面图。
除了新提供第三和第四扫描光学系统95c和95d之外,根据本实施例的光扫描装置30具有与根据第二实施例的光扫描装置20的结构相同的结构,因此相同的构件由相同的数字表示并且省略其描述。
根据本实施例的光扫描装置30包括偏转单元3以及第一fθ透镜306、406、506和606。
另外,根据本实施例的光扫描装置30包括第二fθ透镜307、407、507和607。
第二fθ透镜307(第二成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜306(第一成像光学元件)与第一被扫描表面308之间。第二fθ透镜407(第四成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜406(第三成像光学元件)与第二被扫描表面408之间。
第二fθ透镜507(第六成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜506(第五成像光学元件)与第三被扫描表面508之间。第二fθ透镜607(第八成像光学元件)在光路上被布置在第一fθ透镜606(第七成像光学元件)与第四被扫描表面608之间。
偏转单元3被诸如马达(未示出)的驱动单元旋转以使入射的光束LA、LB、LC和LD偏转。偏转单元3例如由多角镜形成。
第一fθ透镜306和第二fθ透镜307是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将被偏转单元3的第一偏转表面3a偏转的光束LA会聚(引导)到第一被扫描表面308上。
第一fθ透镜406和第二fθ透镜407是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将被偏转单元3的第一偏转表面3a偏转的光束LB会聚(引导)到第二被扫描表面408上。
第一fθ透镜506和第二fθ透镜507是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将被偏转单元3的第二偏转表面3b偏转的光束LC会聚(引导)到第三被扫描表面508上。
第一fθ透镜606和第二fθ透镜607是在主扫描横截面与副扫描横截面之间具有不同的折光力的变形成像透镜,并且将被偏转单元3的第二偏转表面3b偏转的光束LD会聚(引导)到第四被扫描表面608上。
在根据本实施例的光扫描装置30中,第一fθ透镜306和第二fθ透镜307形成第一扫描光学系统95a(第一成像光学系统)。第一fθ透镜406和第二fθ透镜407形成第二扫描光学系统95b(第二成像光学系统)。
另外,在根据本实施例的光扫描装置30中,第一fθ透镜506和第二fθ透镜507形成第三扫描光学系统95c(第三成像光学系统)。第一fθ透镜606和第二fθ透镜607形成第四扫描光学系统95d(第四成像光学系统)。
注意的是,第二fθ透镜307和407的副扫描横截面中的折光力分别比第一fθ透镜306和406的副扫描横截面中的折光力强,即,在第一和第二扫描光学系统95a和95b中最强。
另外,第二fθ透镜507和607的副扫描横截面中的折光力分别比第一fθ透镜506和606的副扫描横截面中的折光力强,即,在第三和第四扫描光学系统95c和95d中最强。
从入射光学系统(第一入射光学系统)(未示出)入射在偏转单元3的第一偏转表面3a上的光束LA(第一光束)被偏转单元3偏转以进行扫描。此后,光束LA被第一扫描光学系统95a会聚到第一被扫描表面308上,以便以恒定速度扫描第一被扫描表面308。
从入射光学系统(第二入射光学系统)(未示出)入射在偏转单元3的第一偏转表面3a上的光束LB(第二光束)被偏转单元3偏转以进行扫描。此后,光束LB被第二扫描光学系统95b会聚到第二被扫描表面408上,以便以恒定速度扫描第二被扫描表面408。
从入射光学系统(第三入射光学系统)(未示出)入射在偏转单元3的第二偏转表面3b上的光束LC(第三光束)被偏转单元3偏转以进行扫描。此后,光束LC被第三扫描光学系统95c会聚到第三被扫描表面508上,以便以恒定速度扫描第三被扫描表面508。
从入射光学系统(第四入射光学系统)(未示出)入射在偏转单元3的第二偏转表面3b上的光束LD(第四光束)被偏转单元3偏转以进行扫描。此后,光束LD被第四扫描光学系统95d会聚到第四被扫描表面608上以便以恒定速度扫描第四被扫描表面608。
这里,C0是对于光束LB和LB的轴上光束的主光线的偏转单元3的第一偏转表面3a上的偏转点(轴上偏转点),并且是第一和第二扫描光学系统95a和95b的参考点(偏转参考点)。
另外,D0是对于光束LC和LD的轴上光束的主光线的偏转单元3的第二偏转表面3b上的偏转点(轴上偏转点),并且是第三和第四扫描光学系统95c和95d的参考点(偏转参考点)。
在本实施例中,第一、第二、第三和第四感光鼓308、408、508和608被用作第一、第二、第三和第四被扫描表面308、408、508和608。
通过对于每次主扫描曝光在副扫描方向上旋转第一至第四感光鼓308至608来形成第一至第四感光鼓308至608上的副扫描方向上的曝光分布。
在根据本实施例的光扫描装置30中,在第一扫描光学系统95a中提供的第一fθ透镜306和在第二扫描光学系统95b中提供的第一fθ透镜406是彼此一体地形成的光学元件。
类似地,在第三扫描光学系统95c中提供的第三fθ透镜506和在第四扫描光学系统95d中提供的第四fθ透镜606是彼此一体地形成的光学元件。
这使得可以减小根据本实施例的光扫描装置30的尺寸。
另外,根据本实施例的光扫描装置30采用已穿过入射光学系统(未示出)的光束LA和LB在副扫描横截面中斜入射在偏转单元3的第一偏转表面3a上的结构。
类似地,根据本实施例的光扫描装置30采用已穿过入射光学系统(未示出)的光束LC和LD在副扫描横截面中斜入射在偏转单元3的第二偏转表面3b上的结构。
这使得可以进一步减小根据本实施例的光扫描装置30的尺寸。
如图6C中所示,反射镜309和310(第一反射元件)在被偏转单元3偏转的光束LA的光路上提供,并且反射镜409(第二反射元件)在被偏转单元3偏转的光束LB的光路上提供。
另外,反射镜509和510在被偏转单元3偏转的光束LC的光路上提供,并且反射镜609在被偏转单元3偏转的光束LD的光路上提供。
作为反射镜309、310、409、509、510和609,使用形成有蒸镀膜的反射元件等。
已穿过在第一扫描光学系统95a中提供的第一fθ透镜306的光束LA被反射镜309反射,然后入射在第二fθ透镜307上。然后,已穿过第二fθ透镜307的光束LA被反射镜310反射,并且被引导到第一被扫描表面308。
已穿过在第二扫描光学系统95b中提供的第二fθ透镜407的光束LB被反射镜409反射,并且被引导到第二被扫描表面408。
已穿过在第三扫描光学系统95c中提供的第一fθ透镜506的光束LC被反射镜509反射,然后入射在第二fθ透镜507上。已穿过第二fθ透镜507的光束LC被反射镜510反射,并且被引导到第三被扫描表面508。
已穿过在第二扫描光学系统95d中提供的第二fθ透镜607的光束LD被反射镜609反射,并且被引导到第四被扫描表面608。
与根据第二实施例的光扫描装置20类似,在第一和第二扫描光学系统95a和95b中,第一fθ透镜306和406以及第二fθ透镜307的副扫描横截面中的折光力被设置为使得满足条件表达式(4)和(5)。
另外,如图6A至6C中所示,第一扫描光学系统95a和第三扫描光学系统95c的光学结构彼此等价,并且第二扫描光学系统95b和第四扫描光学系统95d的光学结构彼此等价。
这里,在第三扫描光学系统95c中提供的第一和第二fθ透镜506和507的副扫描横截面中的折光力分别由φ5和φ6表示。
在第四扫描光学系统95d中提供的第一和第二fθ透镜606和607的副扫描横截面中的折光力分别由φ7和φ8表示。
另外,轴上偏转点D0与在第三扫描光学系统95c中提供的第一fθ透镜506和第二fθ透镜507之间的距离分别由L5和L6表示。
轴上偏转点D0与在第四扫描光学系统95d中提供的第一fθ透镜606和第二fθ透镜607之间的距离分别由L7和L8表示。
此时,满足φ1=φ5、φ2=φ6、φ3=φ7和φ4=φ8。
另外,满足L1=L5、L2=L6、L3=L7和L4=L8。
而且,在第三扫描光学系统95c和第四扫描光学系统95d中,第一fθ透镜506和606以及第二fθ透镜507的副扫描横截面中的折光力被设置为使得满足以下条件表达式(11)和(12):
φ6/φ5≤1…(11)
φ5≠φ7…(12)。
由此,第一至第四扫描光学系统95a至95d可以采用如图6A至图6C中所示的光学布置,并且根据本实施例的光扫描装置30和安装有根据本实施例的光扫描装置30的图像形成装置可以被小型化。
与根据第二实施例的光扫描装置20类似,在第一扫描光学系统95a和第二扫描光学系统95b中,每个fθ透镜的副扫描横截面中的折光力被设置为使得满足条件表达式(4)、(6)和(9)。
而且,在第三扫描光学系统95c和第四扫描光学系统95d中,每个fθ透镜的副扫描横截面中的折光力被设置为使得满足条件表达式(11)以及以下条件表达式(13)和(14):
φ7≤φ8…(13)
φ5>φ7…(14)。
由此,可以使整个第三扫描光学系统95c中组合的折光力和整个第四扫描光学系统95d中组合的折光力基本上彼此相等。因而,可以使第三扫描光学系统95c和第四扫描光学系统95d的副扫描倍率基本上彼此相等。
在根据本实施例的光扫描装置30中,优选地满足以下条件表达式(15):
L6/L8>L7/L5…(15)。
这使得容易使第三扫描光学系统95c和第四扫描光学系统95d的副扫描倍率基本上彼此相等。
另外,在根据本实施例的光扫描装置30中,优选地φ5、φ6、φ7和φ8的值全部为正。
这使得可以减小第一fθ透镜506和606以及第二fθ透镜507和607中的每一个的副扫描横截面中的折光力。
如上所述,在根据本实施例的光扫描装置30中,通过形成第一、第二、第三和第四扫描光学系统95a、95b、95c和95d使得满足条件表达式(4)和(5)以及条件表达式(11)和(12),可以实现尺寸的充分减小。
另外,在根据本实施例的光扫描装置30中,每个fθ透镜的副扫描横截面中的折光力被设置为使得满足条件表达式(4)、(6)、(9)、(11)、(13)和(14)。由此,可以使第一至第四扫描光学系统95a至95d的副扫描倍率基本上彼此相等。
根据本发明,可以提供可以被充分小型化的光扫描装置。
[图像形成装置]
图7示出了安装有根据第三实施例的光扫描装置30的图像形成装置90的主要部分的副扫描横截面图。
图像形成装置90是串联型彩色图像形成装置,其通过使用根据第三实施例的光扫描装置30来在用作图像承载构件的每个感光鼓的表面上记录图像信息。
图像形成装置90包括根据第三实施例的光扫描装置30、作为图像承载构件的感光鼓(感光体)308、408、508和608,以及显影单元15、16、17和18。
另外,图像形成装置90包括传送带91、打印机控制器93和定影单元94。
从诸如个人计算机的外部装置92输出的R(红色)、G(绿色)和B(蓝色)的颜色信号(代码数据)被输入到图像形成装置90。
输入的颜色信号被图像形成装置90中的打印机控制器93转换成C(青色)、M(品红色)、Y(黄色)和K(黑色)的图像数据(点数据)。
经转换的图像数据被输入到光扫描装置30。根据图像数据调制的光射束23、24、25和26从光扫描装置30发出,并且感光鼓608、508、308和408的感光表面被暴露于光射束23、24、25和26。
用于对感光鼓608、508、308和408的表面均一地充电的充电辊(未示出)被提供为邻靠这些表面。
由充电辊充电的感光鼓608、508、308和408的表面由光扫描装置30利用光射束23、24、25和26照射。
如上所述,基于各个颜色的图像数据调制光射束23、24、25和26,并且通过利用光射束23、24、25和26照射感光鼓608、508、308和408的表面来在这些表面上形成静电潜像。
形成的静电潜像由被布置为分别邻接在感光鼓608、508、308和408上的显影单元15、16、17和18显影为调色剂图像。
由显影单元15至18显影的调色剂图像由被布置为面对感光鼓308至608的转印辊(转印单元)(未示出)多重转印到在传送带91上传送的片材(转印材料)(未示出)上以形成一个全色图像。
如上所述转印有未定影的调色剂图像的片材被进一步传送到感光鼓308、408、508和608后方(图7中的左侧)的定影单元94。
定影单元94包括其中具有定影加热器(未示出)的定影辊以及被布置为与定影辊压力接触的加压辊。
然后,传送的片材在定影辊与加压辊之间的压力接触部分处被加压的同时被加热以将未定影的调色剂图像定影在片材上。
另外,在定影单元94后方配置片材排出辊(未示出),并且片材排出辊将经定影的片材排出到图像形成装置90的外部。
图像形成装置90通过使用光扫描装置30来在与C、M、Y和K的各个颜色对应的感光鼓308、408、508和608的感光表面上记录图像信号(图像信息)以便以高的速度打印彩色图像。
作为外部装置92,例如可以使用包括CCD传感器的彩色图像读取装置。在这种情况下,彩色图像读取装置和图像形成装置90形成彩色数字复印机。
另外,在图像形成装置90中,可以提供根据第一实施例的两个光扫描装置10或根据第二实施例的两个光扫描装置20以代替光扫描装置30。
虽然已参考示例性实施例描述了本发明,但是要理解的是,本发明不限于所公开的示例性实施例。随附权利要求的范围要被赋予最广泛的解释以便涵盖所有这样的修改以及等同的结构和功能。

Claims (20)

1.一种光扫描装置,包括:
偏转单元,所述偏转单元被配置为偏转第一光束以在主扫描方向上扫描第一被扫描表面并且偏转第二光束以在所述主扫描方向上扫描第二被扫描表面;
第一成像光学系统,所述第一成像光学系统被配置为将所述偏转单元偏转的所述第一光束引导到所述第一被扫描表面;以及
第二成像光学系统,所述第二成像光学系统被配置为将所述偏转单元偏转的所述第二光束引导到所述第二被扫描表面,
其中,所述第一成像光学系统包括第一成像光学元件和第二成像光学元件,所述第二成像光学元件在所述第一成像光学系统的光路上被布置在所述第一成像光学元件与所述第一被扫描表面之间,
其中,所述第二成像光学系统包括第三成像光学元件,并且
其中,以下条件被满足:
φ1≠φ3
φ2/φ1≤1,
其中,φ1、φ2以及φ3分别表示所述第一成像光学元件、所述第二成像光学元件以及所述第三成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度。
2.根据权利要求1所述的光扫描装置,其中,以下条件被满足:
φ1>φ3。
3.根据权利要求1所述的光扫描装置,
其中,所述第二成像光学系统包括第四成像光学元件,所述第四成像光学元件在所述第二成像光学系统的光路上被布置在所述第三成像光学元件与所述第二被扫描表面之间,并且
其中,以下条件被满足:
φ3≤φ4,
其中,φ4表示所述第四成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度。
4.根据权利要求1所述的光扫描装置,
其中,所述第二成像光学系统包括第四成像光学元件,所述第四成像光学元件在所述第二成像光学系统的光路上被布置在所述第三成像光学元件与所述第二被扫描表面之间,并且
其中,以下条件被满足:
L2/L4>L3/L1,
其中,L1和L2分别表示所述第一成像光学系统的光路上所述偏转单元的轴上偏转点与所述第一成像光学元件和所述第二成像光学元件之间的距离,并且L3和L4分别表示所述第二成像光学系统的光路上所述偏转单元的轴上偏转点与所述第三成像光学元件和所述第四成像光学元件之间的距离。
5.根据权利要求1所述的光扫描装置,
其中,所述第二成像光学系统包括第四成像光学元件,所述第四成像光学元件在所述第二成像光学系统的光路上被布置在所述第三成像光学元件与所述第二被扫描表面之间,并且
其中,当所述第四成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度由φ4表示时,φ1、φ2、φ3以及φ4全部具有正值。
6.根据权利要求1所述的光扫描装置,其中,所述第一成像光学元件和所述第三成像光学元件是彼此一体地形成的光学元件。
7.根据权利要求1所述的光扫描装置,还包括
第一入射光学系统,所述第一入射光学系统被配置为使所述第一光束在副扫描横截面中斜入射在所述偏转单元的第一偏转表面上;以及
第二入射光学系统,所述第二入射光学系统被配置为使所述第二光束在副扫描横截面中斜入射在所述偏转单元的所述第一偏转表面上。
8.根据权利要求1所述的光扫描装置,
其中,所述第一成像光学系统被配置为将所述偏转单元的第一偏转表面偏转的所述第一光束引导到所述第一被扫描表面,并且
其中,所述第二成像光学系统被配置为将所述偏转单元的所述第一偏转表面偏转的所述第二光束引导到所述第二被扫描表面。
9.根据权利要求8所述的光扫描装置,还包括
第三成像光学系统,所述第三成像光学系统被配置为将所述偏转单元的第二偏转表面偏转的第三光束引导到第三被扫描表面;以及
第四成像光学系统,所述第四成像光学系统被配置为将所述偏转单元的所述第二偏转表面偏转的第四光束引导到第四被扫描表面,
其中,所述偏转单元被配置为偏转所述第三光束以在所述主扫描方向上扫描所述第三被扫描表面并且偏转所述第四光束以在所述主扫描方向上扫描所述第四被扫描表面,
其中,所述第三成像光学系统包括第五成像光学元件和第六成像光学元件,所述第六成像光学元件在所述第三成像光学系统的光路上被布置在所述第五成像光学元件与所述第三被扫描表面之间,
其中,所述第四成像光学系统包括第七成像光学元件,并且
其中,以下条件被满足:
φ5≠φ7
φ6/φ5≤1,
其中,φ5、φ6以及φ7分别表示所述第五成像光学元件、所述第六成像光学元件以及所述第七成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度。
10.根据权利要求9所述的光扫描装置,其中,以下条件被满足:
φ5>φ7。
11.根据权利要求9所述的光扫描装置,
其中,所述第四成像光学系统包括第八成像光学元件,所述第八成像光学元件在所述第四成像光学系统的光路上被布置在所述第七成像光学元件与所述第四被扫描表面之间,并且
其中,以下条件被满足:
φ7≤φ8,
其中,φ8表示所述第八成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度。
12.根据权利要求9所述的光扫描装置,
其中,所述第四成像光学系统包括第八成像光学元件,所述第八成像光学元件在所述第四成像光学系统的光路上被布置在所述第七成像光学元件与所述第四被扫描表面之间,并且
其中,以下条件被满足:
L6/L8>L7/L5,
其中,L5和L6分别表示所述第三成像光学系统的光路上所述第二偏转表面的轴上偏转点与所述第五成像光学元件和所述第六成像光学元件之间的距离,并且L7和L8分别表示所述第四成像光学系统的光路上所述第二偏转表面的轴上偏转点与所述第七成像光学元件和所述第八成像光学元件之间的距离。
13.根据权利要求9所述的光扫描装置,
其中,所述第四成像光学系统包括第八成像光学元件,所述第八成像光学元件在所述第四成像光学系统的光路上被布置在所述第七成像光学元件与所述第四被扫描表面之间,并且
其中,当所述第八成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度由φ8表示时,φ5、φ6、φ7以及φ8全部具有正值。
14.根据权利要求9所述的光扫描装置,
其中,所述第二成像光学系统包括第四成像光学元件,所述第四成像光学元件在所述第二成像光学系统的光路上被布置在所述第三成像光学元件与所述第二被扫描表面之间,
其中,所述第四成像光学系统包括第八成像光学元件,所述第八成像光学元件在所述第四成像光学系统的光路上被布置在所述第七成像光学元件与所述第四被扫描表面之间,并且
其中,以下条件被满足:
φ1=φ5
φ2=φ6
φ3=φ7
φ4=φ8,
其中,φ4和φ8分别表示所述第四成像光学元件和所述第八成像光学元件的副扫描横截面中的光焦度。
15.根据权利要求9所述的光扫描装置,
其中,所述第二成像光学系统包括第四成像光学元件,所述第四成像光学元件在所述第二成像光学系统的光路上被布置在所述第三成像光学元件与所述第二被扫描表面之间,
其中,所述第四成像光学系统包括第八成像光学元件,所述第八成像光学元件在所述第四成像光学系统的光路上被布置在所述第七成像光学元件与所述第四被扫描表面之间,并且
其中,以下条件被满足:
L1=L5
L2=L6
L3=L7
L4=L8,
其中,L1和L2分别表示所述第一成像光学系统的光路上所述第一偏转表面的轴上偏转点与所述第一成像光学元件和所述第二成像光学元件之间的距离,L3和L4分别表示所述第二成像光学系统的光路上所述第一偏转表面的轴上偏转点与所述第三成像光学元件和所述第四成像光学元件之间的距离,L5和L6分别表示所述第三成像光学系统的光路上所述第二偏转表面的轴上偏转点与所述第五成像光学元件和所述第六成像光学元件之间的距离,并且L7和L8分别表示所述第四成像光学系统的光路上所述第二偏转表面的轴上偏转点与所述第七成像光学元件和所述第八成像光学元件之间的距离。
16.根据权利要求9所述的光扫描装置,其中,所述第五成像光学元件和所述第七成像光学元件是彼此一体地形成的光学元件。
17.根据权利要求9所述的光扫描装置,还包括
第三入射光学系统,所述第三入射光学系统被配置为使所述第三光束在副扫描横截面中斜入射在所述第二偏转表面上;以及
第四入射光学系统,所述第四入射光学系统被配置为使所述第四光束在副扫描横截面中斜入射在所述第二偏转表面上。
18.根据权利要求1所述的光扫描装置,
其中,所述第二成像光学系统包括第四成像光学元件,所述第四成像光学元件在所述第二成像光学系统的光路上被布置在所述第三成像光学元件与所述第二被扫描表面之间,并且
其中,所述光扫描装置还包括第一反射元件和第二反射元件,所述第一反射元件在所述第一成像光学系统的光路上被布置在所述第二成像光学元件与所述第一被扫描表面之间,所述第二反射元件在所述第二成像光学系统的光路上被布置在所述第四成像光学元件与所述第二被扫描表面之间。
19.一种图像形成装置,包括:
根据权利要求1至18中的任一项所述的光扫描装置;
显影单元,所述显影单元被配置为将所述光扫描装置在第一被扫描表面和第二被扫描表面上形成的静电潜像显影为调色剂图像;
转印单元,所述转印单元被配置为将显影的调色剂图像转印到被转印材料;以及
定影单元,所述定影单元被配置为将转印的调色剂图像定影到所述被转印材料。
20.一种图像形成装置,包括:
根据权利要求1至18中的任一项所述的光扫描装置;以及
打印机控制器,所述打印机控制器被配置为将从外部装置输出的代码数据转换成图像信号以将所述图像信号输入到所述光扫描装置。
CN202311155580.7A 2022-09-13 2023-09-08 光扫描装置 Pending CN117706887A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022145123A JP2024040649A (ja) 2022-09-13 2022-09-13 光走査装置
JP2022-145123 2022-09-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN117706887A true CN117706887A (zh) 2024-03-15

Family

ID=90141990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311155580.7A Pending CN117706887A (zh) 2022-09-13 2023-09-08 光扫描装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20240085692A1 (zh)
JP (1) JP2024040649A (zh)
CN (1) CN117706887A (zh)

Also Published As

Publication number Publication date
US20240085692A1 (en) 2024-03-14
JP2024040649A (ja) 2024-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7550712B2 (en) Optical scanning system with reduced spherical aberration and image forming apparatus using the same
US6803942B2 (en) Light scanning device and image forming apparatus using the same
JP7137401B2 (ja) 光走査装置及び画像形成装置
JP2004070107A (ja) 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置
CN110850589B (zh) 光学扫描装置和图像形成装置
JP4617004B2 (ja) 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置
US9874831B2 (en) Optical scanning apparatus and image forming apparatus including the same
JP4378081B2 (ja) 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置
JP7030576B2 (ja) 光走査装置及び画像形成装置
JP5300505B2 (ja) 光走査装置の調整方法
US10527963B2 (en) Optical scanning device and image forming apparatus including the same
US20050094235A1 (en) Optical scanning apparatus and image forming apparatus using the same
CN117706887A (zh) 光扫描装置
JP6833401B2 (ja) 光走査装置及びそれを備える画像形成装置
JP7009058B2 (ja) 光走査装置及びそれを備える画像形成装置
JP4240777B2 (ja) 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置
JP4378416B2 (ja) 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置
JP4227404B2 (ja) 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置
JP4343466B2 (ja) 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置
JP2019184808A (ja) 光走査装置及び画像形成装置
JP2002207185A (ja) 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置
JP2021081582A (ja) 光源装置
JP2022055826A (ja) 光走査装置
JP2016095470A (ja) 光走査装置及びそれを備える画像形成装置
JP2015125409A (ja) 光走査装置及びこれを用いた画像形成装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination