CN117686066A - 振动流量计中的陷波滤波器 - Google Patents

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Abstract

提供了一种仪表电子器件(20)，其具有陷波滤波器(26)，所述陷波滤波器(26)被配置成对来自振动仪表(5)中的传感器组装件(10)的传感器信号进行滤波。仪表电子器件(20)包括被通信地耦合到传感器组装件(10)的陷波滤波器(26)。所述仪表电子器件(20)被配置成从传感器组装件(10)接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件(10)的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及利用陷波滤波器来使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过。

Description

振动流量计中的陷波滤波器
技术领域
下述实施例涉及振动流量计，并且更具体地涉及振动流量计中的陷波滤波器。
背景技术
振动仪表、诸如例如科里奥利流量计、液体密度仪表、气体密度仪表、液体黏度仪表、气体/液体特定的重力仪表、气体/液体相对密度仪表、以及气体分子量仪表一般是已知的并且用于测量流体的特性。通常，振动仪表包括传感器组装件和仪表电子器件。传感器组装件内的材料可以是流动的或静止的。每种类型的传感器组装件可具有独特的特性，仪表必须计及所述特性以便实现最优性能。例如，一些传感器组装件可需要管型装置以特定的位移水平振动。其它传感器组装件类型可需要特殊的补偿算法。
除了执行其它功能之外，所述仪表电子器件典型地包括针对正被使用的特定传感器组装件的所存储的传感器校准值。例如，仪表电子器件可以包括参考传感器时间周期(即参考谐振频率的倒数)。参考传感器时间周期表示特定传感器组装件的传感器几何结构的基本测量性能，如在参考条件下在工厂中所测量的。在消费者场所处安装了振动仪表之后所测量的传感器时间周期与参考传感器时间周期之间的改变可以表示除了其它原因之外由于对传感器组装件中的管道的涂覆、侵蚀、腐蚀、或损坏所致的传感器组装件中的物理改变。仪表校验或健康检查测试可以检测这些改变。
仪表校验测试典型地通过使用多分量驱动信号来被执行，所述多分量驱动信号还可以被称为多音调驱动信号，其被应用到传感器组装件。多音调驱动信号典型地包括处于传感器组装件的谐振频率的谐振分量、或驱动音调以及多个非谐振分量、或测试音调，其具有与驱动音调频率间隔开的频率。这不同于其中多个测试音调被顺序地循环的途径。如果使用顺序音调途径，则系统中的任何时变(例如温度相关的效应、流量中的改变)可使传感器组装件的频率响应的表征出错。多音调驱动信号是有利的，因为同时获得了经采样的数据。
为了确保用于流量和密度测量的信号处理环路以及用于提供驱动音调的反馈环路不包括与测试音调相关联的分量、非谐振分量，它们被过滤掉。陷波滤波器典型地用于在反馈环路之前过滤掉非谐振分量。然而，陷波滤波器在陷波滤波器的通带部分处可在谐振分量中引起延迟或相位偏移。该相位延迟或移位可使得驱动音调的频率偏移离开传感器组装件的谐振频率。因此，存在对于如下陷波滤波器的需要：所述陷波滤波器具有不在谐振分量中引起延迟或相位偏移的通带，而同时还防止与测试音调相关联的分量抵达反馈环路。
发明内容
提供了一种仪表电子器件，其具有陷波滤波器，所述陷波滤波器被配置成对来自振动仪表中的传感器组装件的传感器信号进行滤波。根据实施例，仪表电子器件包括被通信地耦合到传感器组装件的陷波滤波器。所述陷波滤波器被配置成：从传感器组装件接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及利用陷波滤波器来使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过。
提供了一种用于利用陷波滤波器来对振动仪表中的传感器信号进行滤波的方法。根据实施例，所述方法包括：利用陷波滤波器来接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及利用陷波滤波器来使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过。
提供了一种用于配置振动仪表中的陷波滤波器的方法。根据实施例，所述方法包括：提供陷波滤波器，所述陷波滤波器被配置成接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及调节所述陷波滤波器以使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中所述第一分量的相位偏移被大幅最小化。
各方面
根据一方面，一种具有被配置成对来自振动仪表(5)中的传感器组装件(10)的传感器信号进行滤波的陷波滤波器(26)的仪表电子器件(20)包括被通信地耦合到传感器组装件(10)的陷波滤波器(26)。所述陷波滤波器(26)被配置成：从传感器组装件(10)接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件(10)的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及利用陷波滤波器来使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过。
优选地，被配置成在大体上零相位偏移的情况下使第一分量通过的陷波滤波器(26)是定点精度滤波器。
优选地，所述传感器信号此外包括至少一个附加非谐振分量，并且所述陷波滤波器(26)此外被配置成大幅衰减所述至少一个附加非谐振分量。
优选地，仪表电子器件(20)此外包括驱动电路(22)，所述驱动电路(22)被通信地耦合到陷波滤波器(26)，并且被配置成基于被陷波滤波器(26)通过的第一分量来生成用于传感器组装件(10)的多音调驱动信号。
根据一方面，一种用于利用陷波滤波器来对振动仪表中的传感器信号进行滤波的方法包括：利用陷波滤波器来接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及利用陷波滤波器来使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过。
优选地，所述方法此外包括利用为定点精度滤波器的陷波滤波器来在大体上零相位偏移的情况下使第一分量通过。
优选地，所述传感器信号此外包括至少一个附加非谐振分量，并且此外包括利用陷波滤波器来大幅衰减所述至少一个附加非谐振分量。
优选地，所述方法此外包括基于被陷波滤波器通过的第一分量来生成用于传感器组装件的多音调驱动信号。
根据一方面，一种用于配置振动仪表中的陷波滤波器的方法包括：提供陷波滤波器，所述陷波滤波器被配置成接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及调节所述陷波滤波器以使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中所述第一分量的相位偏移被大幅最小化。
优选地，调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移被大幅最小化包括调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移在包括谐振频率的频率范围之上被大幅最小化。
优选地，调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移被大幅最小化包括调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移在谐振频率下被大幅最小化。
优选地，所述方法此外包括通过如下来最小化陷波滤波器的定点精度实现方式的误差：比较与具有第一定点精度的陷波滤波器相关联的第一相位偏移和与具有第二定点精度的陷波滤波器相关联的第二相位偏移。
优选地，所述方法此外包括实现一种形式的陷波滤波器来大幅最小化陷波滤波器的定点精度实现方式中的误差。
附图说明
相同的参考标号在所有附图上表示相同元素。应当理解到，附图不一定是按比例的。
图1示出了具有陷波滤波器的振动仪表5。
图2示出了根据实施例的具有陷波滤波器的振动仪表5的框图。
图3和4示出了图表300、400，其图示了振动仪表中的陷波滤波器的具有大幅相位偏移的相位响应。
图5示出了用于利用陷波滤波器来对来自振动仪表中的传感器组装件的传感器信号进行滤波的方法500。
图6示出了用于配置陷波滤波器来对来自振动仪表中的传感器组装件的传感器信号进行滤波的方法600。
图7和8示出了图表700、800，其图示了根据实施例的陷波滤波器的相位响应。
图9和10示出了图表900、1000，其图示了根据实施例的振动仪表中的陷波滤波器的相位响应。
具体实施方式
图1-10以及以下的描述描绘了特定的示例来教导本领域技术人员如何做出并且使用振动仪表中的陷波滤波器的实施例的最佳模式。为了教导发明的原理的目的，已经简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员将领会到落入本描述的范围内的、自这些示例的变型。本领域技术人员将领会到下述特征可以用各种方式被组合以形成振动仪表中的陷波滤波器的多个变型。作为结果，下述实施例不限于下述特定示例，而是仅仅被权利要求及其等同物所限制。
陷波滤波器可以通过如下来向驱动信号发生器提供谐振分量：过滤掉非谐振分量而同时允许谐振分量通过。为了确保存在谐振分量的零相位偏移，所述陷波滤波器可以被配置成大幅最小化谐振分量的相位偏移。相位偏移可以在谐振频率下或在谐振频率周围以及在计及宽范围的谐振频率的一频率范围之上被大幅最小化。相位偏移还可以通过如下来被大幅最小化：选择例如还减小仪表电子器件上的计算负荷的定点精度值。因此，通过不必针对谐振分量的相位偏移来进行调节，可以简化驱动算法或电路。
图1示出了具有陷波滤波器的振动仪表5。如图1中所示，振动仪表5包括传感器组装件10和仪表电子器件20。传感器组装件10响应于过程材料的质量流率和密度。仪表电子器件20经由引线100被连接到传感器组装件10，以通过路径6来提供密度、质量流率和温度信息，以及其它信息。
传感器组装件10包括一对歧管150和150’、具有法兰颈110和110’的法兰103和103’、一对平行管道130和130’、驱动机构180、电阻性温度检测器(RTD)190、以及一对拾取(pick-off)传感器170l和170r。管道130和130’具有两个基本上笔直的入口分支131、131’以及出口分支134、134’，其在管道装配块120和120’处朝向彼此汇聚。管道130、130’在沿着其长度的两个对称的位置处弯曲，并且贯穿其长度基本上平行。撑杆140和140’用于限定轴W和W’，每个管道130、130’绕所述轴W和W’而振荡。管道130、130’的分支131、131’以及134、134’被固定地附连到管道装配块120和120’，并且这些块进而被固定地附连到歧管150和150’。这提供通过传感器组装件10的连续闭合的材料路径。
当具有孔洞102和102’的法兰103和103’经由入口端104和出口端104’被连接到承载正被测量的过程材料的过程线(未被示出)中的时候，材料通过法兰103中的孔口101而进入仪表的入口端104，并且通过歧管150被引导到具有表面121的管道装配块120。在歧管150内，材料被划分并且通过管道130、130’被路由。在离开管道130、130’时，过程材料被重组在具有表面121’的块120’以及歧管150’内的单个流中，并且此后被路由到出口端104’，所述出口端104’通过具有孔洞102’的法兰103’被连接到过程线(未被示出)。
管道130、130’被选择并且被适当地装配到管道装配块120、120’，以便相应地具有绕弯曲轴W--W和W'--W'的大体上相同的质量分布、惯性矩和杨氏模量。这些弯曲轴通过撑杆140、140’。由于管道的杨氏模量随温度改变，并且该改变影响流和密度的计算，所以RTD190被装配到管道130’以连续地测量管道130’的温度。管道130’的温度以及因此针对通过RTD 190的给定电流而跨RTD 190出现的电压由管道130’的材料的温度支配。跨RTD 190出现的温度相关的电压在众所周知的方法中由仪表电子器件20用于补偿由于管道温度中的任何改变所致的管道130、130’的弹性模量中的改变。RTD 190通过引线195被连接到仪表电子器件20。
管道130、130’中的二者由驱动机构180在相反方向上绕其相应弯曲轴W和W'并且以被称为流量计的第一异相弯曲模式的模式被驱动。该驱动机构180可以包括许多众所周知的布置中的任一个，诸如被装配到管道130’的磁体，以及相反线圈，所述相反线圈被装配到管道130，并且交变电流通过所述相反线圈以用于振动管道130、130’二者。由仪表电子器件20经由引线185向驱动机构180应用合适的驱动信号。
仪表电子器件20接收引线195上的RTD温度信号，以及在引线100上出现的左和右传感器信号，所述引线100相应地承载左和右传感器信号165l、165r。仪表电子器件20产生在引线185上出现的驱动信号，其给驱动机构180并且振动管道130、130’。仪表电子器件20处理左和右传感器信号和RTD信号，以计算通过传感器组装件10的材料的质量流率和密度。该信息、连同其它信息一起作为一信号由仪表电子器件20应用在路径6之上。
图2示出了根据实施例的具有陷波滤波器的振动仪表5的框图。如图2中所示，振动仪表5包括传感器组装件10以及被通信地耦合到传感器组装件10的仪表电子器件20。仪表电子器件20被配置成将多音调驱动信号提供到传感器组装件10。传感器组装件10将传感器信号提供到仪表电子器件20。仪表电子器件20包括驱动电路22以及解调滤波器24，其被通信地耦合到传感器组装件10。解调滤波器24被通信地耦合到FRF估计单元25。陷波滤波器26被通信地耦合到驱动电路22以及流量和密度测量模块27。经陷波滤波的信号被提供到流量和密度测量模块27，以确定振动仪表5中的流体的流率和/或密度。
驱动电路22从陷波滤波器26接收传感器信号的谐振分量。驱动电路22被配置成为传感器组装件10生成多音调驱动信号。多音调驱动信号包括驱动音调和测试音调。驱动音调基于由陷波滤波器26所提供的谐振分量。例如，驱动电路22可以包括反馈电路，所述反馈电路接收谐振分量并且通过放大谐振分量来生成驱动音调。可以采用其它方法。驱动电路22还能够生成处于自谐振频率间隔开的预定频率的测试音调。
解调滤波器24从传感器组装件10接收传感器信号，并且过滤掉可存在于传感器信号中的互调失真信号。例如，多音调驱动信号中的驱动音调和测试音调可在传感器组装件10所提供的传感器信号中引起互调失真信号。为了过滤掉互调失真信号，解调滤波器24可以包括解调窗口或通带，所述解调窗口或通带包括驱动音调和测试音调的频率。因此，解调滤波器24提供包括谐振分量以及与测试音调相对应的分量的传感器信号，而同时防止互调失真信号使传感器组装件10的仪表校验出错。仪表校验通过使用FRF估计单元25来被执行，所述FRF估计单元25比较与测试音调相对应的分量与测试音调以表征传感器组装件的频率响应。
在仪表校验期间使用陷波滤波器26。因此，在正常的流量和密度测量期间，陷波滤波器26可不被接通。由于正常操作中的相当大的频率改变，陷波滤波器26系数的系数将需要被频繁地计算并且更新，其导致附加的计算负荷和可能的不想要的瞬态。代替地，当利用仪表校验的时候，驱动音调被采样以确定载波频率，并且陷波滤波器26的系数基于所确定的载波频率来被计算。陷波滤波器26然后被接通，并且测试音调被斜变到所期望的幅度。在仪表校验期间，可以监控载波频率，并且如果在所确定的载波频率(在如上所述的驱动音调的采样期间被确定)与仪表校验期间的载波频率之间的差大于阈值，那么可以通过例如断开陷波滤波器26并且关断测试音调来终止仪表校验。
为了过滤掉传感器信号分量，陷波滤波器26包括以测试音调的频率为中心或在测试音调的频率周围的多个停止带。传感器信号分量由于以停止带的频率为中心或在停止带的频率周围而被衰减或过滤掉。谐振信号由于在陷波滤波器26的通带中而被通过。然而，由于陷波滤波器，谐振信号可具有相位偏移。该相位偏移可增大驱动反馈的总体相位延迟，其可增大生成驱动音调的驱动算法或电路的总体复杂性，而同时还必须补偿当接通陷波滤波器26以用于仪表校验的时候的相位偏移。
图3和4示出了图表300、400，其图示了振动仪表中的陷波滤波器的具有大幅相位偏移的相位响应。如图3和4中所示，图表300、400包括频率轴310、410和相位偏移轴320、420。在图3中，频率轴310范围从102到108赫兹(Hz)，并且相位偏移轴320范围从-180到180度。在图4中，频率轴410范围从104.85到105.15Hz，并且相位偏移轴范围从大约-39.7到大约-37.6度。图表300、400还包括相位绘图330。更具体地，图4示出了在图3中所示的相位绘图330的放大视图。图表300、400还包括载波频率线340以及频率偏移线350。
如在图4中可看到的，相位绘图330表现为在大约104.85到105.15Hz的频率范围之上的从大约-37.6度到大约-39.7度的直线。在通过载波频率线340所图示的、大约105.1Hz的载波频率下，相位绘图330在大约-38.6度处。作为结果，被陷波滤波器通过的谐振信号将具有大约38.6度的相位偏移。驱动算法或电路将会需要计及相位偏移或延迟，以确保驱动算法或电路的总体相位偏移处于所期望的值，诸如例如大体上为零。
图5示出了用于利用陷波滤波器来对来自振动仪表中的传感器组装件的传感器信号进行滤波的方法500。如图5中所示，方法500在步骤510中利用陷波滤波器来接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量。在步骤520中，所述方法利用陷波滤波器来使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过。
所述第一分量可以是谐振信号，其对应于被提供到传感器组装件的多分量驱动信号中的驱动音调。第一分量可以是处于传感器组装件的谐振频率。陷波滤波器可具有如下通带：所述通带具有以谐振频率为中心的相位偏移，如将在以下参考图7和8更详细地讨论的。
第二分量可以是非谐振分量，其对应于例如被提供给传感器组装件10的多音调驱动信号中的测试音调之一。所期望的是，在陷波滤波器26之后没有第二分量用于驱动电路22和用于流量和密度测量模块27。对于FRF估计单元25，可能需要第一和第二分量二者。例如，未经滤波的传感器信号可以用于对描述传感器组装件10的频率响应的曲线、诸如零极点(pole zero)等等进行拟合。
被配置成使第一分量通过的陷波滤波器可以包括通带，所述通带具有在第一分量周围的频率范围。例如，传感器组装件的谐振频率可以在一频率范围内变化，从而使得第一分量出于各种原因、诸如温度改变等等而变化。作为结果，第一分量的频率可以在陷波滤波器的通带内变化。尽管如此，陷波滤波器可以被配置成确保当第一分量的频率在通带内变化的时候第一分量的相位偏移仍大体上为零。在以下描述对陷波滤波器进行配置的方法。
图6示出了用于配置陷波滤波器来对来自振动仪表中的传感器组装件的传感器信号进行滤波的方法600。如图6中所示，方法600在步骤610中提供陷波滤波器，所述陷波滤波器被配置成接收传感器信号，所述传感器信号包括第一分量和第二分量，所述第一分量具有处于传感器组装件的谐振频率的频率。在步骤620中，方法600调节所述陷波滤波器以使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中所述第一分量的相位偏移被大幅最小化。
如同方法500，在方法600中所接收的第一分量可以处于传感器组装件10的谐振频率，并且第二分量可以是处于非谐振频率。在步骤620中，方法600可以调节陷波滤波器使得通过使陷波滤波器的通带以传感器组装件的谐振频率为中心来使第一分量通过。可以例如在传感器组装件的设计、校准期间、在其操作等等期间确定被依赖用于为通带定中心的谐振频率。
调节陷波滤波器可以包括调节数字滤波器、诸如有限脉冲响应滤波器(FIR)或无限脉冲响应滤波器(IIR)中的系数。以下参考图10更详细地讨论示例性滤波器。调节陷波滤波器还可以包括调节陷波滤波器内的其它元件，诸如能够补偿由陷波滤波器设计所引起的相位偏移的相位偏移元件。例如，可以合期望的是在滤波器中引入延迟以增大滤波器的计算速度，而然后利用相位偏移元件来补偿所述延迟。
可以通过例如使被设计成引起零相位偏移的陷波滤波器的通带以谐振频率为中心来最小化第一分量的相位偏移。还可以通过使通带的相位偏移在一频率范围之上最小化来最小化相位偏移。例如，如以上参考方法500所讨论的，通带的相位偏移可以在第一分量的频率范围内变化。
作为结果，第一分量可以在具有大体上零相位偏移的情况下被陷波滤波器通过，而同时还允许传感器组装件的谐振频率中的一些改变。以下参考图7和8来更详细地讨论示例性陷波滤波器及它们的相位响应。
图7和8示出了图表700、800，其图示了根据实施例的陷波滤波器的相位响应。如图7和8中所示，图表700、800包括频率轴710、810和相位偏移轴720、820。图7中的图表700与相对高频振动仪表相关，并且图8中所示的图表800与相对低频振动仪表相关。在图7中，频率轴710范围从大约483.8Hz到大约484.8Hz，并且相位偏移轴720范围从大约-0.125到大约0.15度。在图8中，频率轴810范围从大约75.44到大约75.64Hz，并且相位偏移轴820范围从大约-0.5到大约0.65度。还在图7和8中示出的是相位响应绘图730、830以及载波频率线740、840。在载波频率线740、840的任一侧上是频率偏移线750、850。
如可见的，相位响应绘图730、830大体上以传感器组装件的谐振频率为中心。被示出的相位响应绘图730、830的部分在陷波滤波器的通带内。因此，陷波滤波器的通带以传感器组装件10的谐振频率为中心。作为结果，谐振分量(例如以上参考方法500、600所讨论的第一分量)可以在大体上零相位偏移的情况下被陷波滤波器通过。
另外，谐振分量的频率可以在一范围内、诸如在由频率偏移线750、850所限定的范围内变化，而同时仍在大体上零相位偏移的情况下被陷波滤波器通过。例如，参考图7，在大约484Hz下，陷波滤波器的相位偏移是大约0.1度。在大约484.65Hz的频率下，陷波滤波器的相位偏移是大约-0.1度。作为结果，谐振分量可以在该范围内改变或偏移，而不引起多于0.1度的相位偏移。类似地，参考图8，相位偏移范围从在大约75.47Hz下的大约0.4度到在大约75.61Hz下的大约-0.3Hz。这些相位偏移显著小于以上参考图4所述的38到39度相位偏移。因此，通过相位响应绘图730、830来被表征的陷波滤波器可以在谐振分量的频率偏移范围之上、在大体上零相位偏移的情况下使谐振分量通过。
如可以领会的，通过相位响应绘图730、830来表征的陷波滤波器可以此外根据方法500、600来被配置或调节，以进一步减小对第一分量的相位偏移。例如，陷波滤波器可以具有与图3中所示的那些类似的多个停止带，其可以被调节以减小在陷波滤波器的通带之上的相位偏移。更具体地，在陷波滤波器的通带下的相位偏移可以被减小以减小陷波滤波器的通带中的相位偏移的变化。因此，参考图7，在由频率偏移线750所限定的频率之内的相位偏移范围可以被进一步减小，从0.1到-0.1度。
如还可以领会的，用于实现陷波滤波器的信号处理可以具有与每个离散值相关联的精度。例如，传感器信号的给定样本可以是浮点或定点数。然而，可以合期望的是利用定点数来确保通过例如仪表电子器件20中的处理器的合适高效的信号处理。因此，预定的定点精度可以被最小化，而同时还确保例如在谐振频率下的相位偏移大体上是零或被大幅最小化，如在以下参考图9和10被更详细地描述的。
图9和10示出了图表900、1000，其图示了根据实施例的振动仪表中的陷波滤波器的相位响应。如图9和10中所示，图表900、1000包括频率轴910、1010和相位偏移轴920、1020。在图9和10中，频率轴910范围从104.85到106.15Hz，并且相位偏移轴范围从-1.8到0.2度。还在图表900、1000中示出的是相位绘图930、1030。图表900、1000还包括载波频率线940以及频率偏移线1050。载波频率线940处于大约105Hz。
如可以领会的，与图4中所示的相位绘图330形成对比，相位绘图930、1030不是直线。如还可以领会的，图9中所示的相位绘图930与图10中所示的相位绘图1040相比大体上更不连贯或不连续。相位绘图930、1030的不连贯的外观是由于被采用来对传感器信号进行滤波的陷波滤波器的精度，其可引起例如系数量化误差。更具体地，例如IIR滤波器的实数系数可以被量化成最近的数字表示的数。
图9中所表征的陷波滤波器具有16位精度，而图10中所表征的陷波滤波器具有32位精度。如可以领会的，图9中所示的相位绘图930在105Hz的载波频率下不大体上为零或被大幅最小化。相比之下，图10中所示的相位绘图1030在105Hz的载波频率下是大约-0.1度，其大体上为零或被大幅最小化。因此，与16位精度陷波滤波器相比，32位精度陷波滤波器更合适。
除了陷波滤波器的精度之外，陷波滤波器设计可影响陷波滤波器的相位偏移。例如，图9和10中所示的结果利用二阶IIR滤波器来被实现，所述二阶IIR滤波器可以被表述为如下的z传递函数H(z)：
其中：
ω0是停止带的中心频率；并且
α是带宽参数。
这可以是在例如具有可引起图3和4中所示的相位偏移的延迟输出的二阶IIR滤波器的经修改的形式之上的改进。对于四个测试音调、包括图3和4中所示的两个，带宽系数α可以是[0.9999 0.99987 0.9999 0.9999]的向量。也就是说，向量中的每个值对应于停止带频率ω0以其为中心的测试音调频率。因此，陷波滤波器可以被构造为四个二阶IIR滤波器级的级联，所述四个二阶IIR滤波器级中的每一个具有停止带中心频率，所述停止带中心频率处于测试音调频率并且具有来自以上向量的对应的带宽参数α。
更具体地，陷波滤波器中每一个的带宽参数α可以被调节以确保通过经级联的陷波滤波器级的相位偏移在中心频率ω0下是零。尽管以上列举了针对经级联的陷波滤波器级的四个带宽参数α，但是在其它实施例中可以采用其它值。以上列举的带宽参数α可导致针对第一、被通过的信号的大体上零相位偏移。在这些和其它实施例中，带宽参数α典型地以离线方式(例如在设计、校准等等期间)被调节一次，尽管带宽参数α可以实时地被动态调节，诸如在仪表校验期间。
另外，一旦计算了带宽参数α，相位偏移就需要针对宽范围的中心频率大体上为零。例如，带宽参数α可以被选择成在载波频率的一范围之上起作用，即在中心频率ω0下的相位偏移不是中心频率ω0的函数。这可以通过实施这些IIR滤波器来被使能实现，其中它们在带宽参数α和中心频率ω0方面被参数化地实现。带宽参数α可以不随中心频率ω0而改变。基于带宽参数α和中心频率ω0(以及采样时间)的滤波器系数可以在应用滤波器的时候被实时地计算。该实现方式意味着带宽参数α的单个集合可以用于宽范围的中心频率ω0并且仍具有最小相位偏移。
可以采用可替换的形式，其具有经最小化的相位偏移与较低定点精度。例如，通过以下等式来被描述的陷波滤波器的格栅形式可以被实现：
θ2＝sin-1(α2) (3)
其中：
fnotch是陷波滤波器中的停止带的中心频率；
fsample是采样频率；
α是与停止带的带宽成比例的带宽参数；
θ1是与陷波频率fnotch相关的参数；并且
θ2是与α相关的参数。
在其中利用格栅形式来实现陷波滤波器的情况中，陷波滤波器可具有16位精度，但是在载波或驱动音调频率下仍提供可接受的相位偏移。例如，陷波滤波器的16位格栅形式的相位偏移可类似于图10中所示的相位偏移，而不是图9中针对以非格栅形式所实现的16位陷波滤波器所示的大相位偏移。因此，通过使用特定的数字滤波器形式，较低的定点精度可以实现所期望的大体上被最小化或为零的相位偏移。
方法600提供新的和经改进的陷波滤波器，使得传感器信号的分量、诸如谐振分量的相位偏移被大幅最小化。通过大幅最小化相位偏移，驱动算法或驱动电路可以认为相位延迟被大幅最小化，或陷波滤波器具有大体上为零的相位延迟。这可以简化驱动算法或电路，从而降低仪表电子器件20的设计成本。新的和经改进的方法500和振动仪表5采用陷波滤波器来衰减或过滤掉由传感器组装件10所提供的传感器信号中的传感器信号分量，从而防止传感器信号被用于生成驱动信号。这可以减小仪表电子器件20中的处理器的计算负荷。
以上实施例的详细描述不是由发明人设想成在本描述的范围内的所有实施例的穷举描述。事实上，本领域技术人员将认识到上述实施例的某些元素可以被不同地组合，或被消除以创建另外的实施例，并且这样的另外的实施例落在本描述的范围和教导内。对于本领域普通技术人员而言还将明显的是：上述实施例可以整体或部分地被组合以创建在本描述的范围和教导内的附加实施例。
因而，尽管在本文中为了说明性目的而描述了特定的实施例，但是在本描述的范围内，各种等同的修改是可能的，如相关领域的技术人员将认识到的那样。本文中所提供的教导可以被应用到振动仪表中的其它陷波滤波器而不仅仅被应用到在上文被描述以及在附图中示出的实施例。因此，应当根据所附权利要求来确定上述实施例的范围。

Claims (13)

1.一种具有陷波滤波器(26)的仪表电子器件(20)，所述陷波滤波器(26)被配置成对来自振动仪表(5)中的传感器组装件(10)的传感器信号进行滤波，所述仪表电子器件(20)包括：
被通信耦合到传感器组装件(10)并且被配置成进行如下各项的陷波滤波器(26)：
从传感器组装件(10)接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件(10)的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及
利用陷波滤波器来使所述第一分量通过并且大幅衰减所述第二分量，其中经由陷波滤波器的通带在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过，其中所述通带以传感器组装件的谐振频率为中心并且包括所述第一分量的传感器组装件的谐振频率。
2.根据权利要求1所述的仪表电子器件(20)，其中被配置成在大体上零相位偏移的情况下使第一分量通过的陷波滤波器(26)是定点精度滤波器。
3.根据权利要求1或权利要求2中之一所述的仪表电子器件(20)，其中所述传感器信号此外包括至少一个附加非谐振分量，并且所述陷波滤波器(26)此外被配置成大幅衰减所述至少一个附加非谐振分量。
4.根据前述权利要求1直到3中任一项所述的仪表电子器件(20)，此外包括驱动电路(22)，所述驱动电路(22)被通信地耦合到陷波滤波器(26)，并且被配置成基于被陷波滤波器(26)通过的第一分量来生成用于传感器组装件(10)的多音调驱动信号。
5.一种用于利用陷波滤波器来对振动仪表中的传感器信号进行滤波的方法，所述方法包括：
利用陷波滤波器来接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及
利用陷波滤波器来经由陷波滤波器的通带使所述第一分量通过，所述通带以传感器组装件的谐振频率为中心并且包括所述第一分量的传感器组装件的谐振频率，并且大幅衰减所述第二分量，其中在大体上零相位偏移的情况下使所述第一分量通过。
6.根据权利要求5所述的方法，此外包括利用为定点精度滤波器的陷波滤波器来在大体上零相位偏移的情况下使第一分量通过。
7.根据权利要求5或权利要求6之一所述的方法，其中所述传感器信号此外包括至少一个附加非谐振分量，并且此外包括利用陷波滤波器来大幅衰减所述至少一个附加非谐振分量。
8.根据前述权利要求5直到7中任一项所述的方法，此外包括基于被陷波滤波器通过的第一分量来生成用于传感器组装件的多音调驱动信号。
9.一种用于配置振动仪表中的陷波滤波器的方法，所述方法包括：
提供陷波滤波器，所述陷波滤波器被配置成接收传感器信号，所述传感器信号包括处于传感器组装件的谐振频率的第一分量以及处于非谐振频率的第二分量；以及
调节所述陷波滤波器以经由陷波滤波器的通带使所述第一分量通过，所述通带以传感器组装件的谐振频率为中心并且包括所述第一分量的传感器组装件的谐振频率，并且大幅衰减所述第二分量，其中所述第一分量的相位偏移被大幅最小化。
10.根据权利要求9所述的方法，其中调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移被大幅最小化包括调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移在包括谐振频率的频率范围之上被大幅最小化。
11.根据权利要求9或权利要求10之一所述的方法，其中调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移被大幅最小化包括调节陷波滤波器、其中第一分量的相位偏移在谐振频率下被大幅最小化。
12.根据前述权利要求9直到11中任一项所述的方法，此外包括通过如下来最小化陷波滤波器的定点精度实现方式的误差：比较与具有第一定点精度的陷波滤波器相关联的第一相位偏移和与具有第二定点精度的陷波滤波器相关联的第二相位偏移。
13.根据前述权利要求9直到12中任一项所述的方法，此外包括实现一种形式的陷波滤波器来大幅最小化陷波滤波器的定点精度实现方式中的误差。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2742973C1 (ru) * 2017-06-14 2021-02-12 Майкро Моушн, Инк. Частотные разнесения для предотвращения помех, вызванных сигналами интермодуляционного искажения
CN112748299A (zh) * 2020-12-24 2021-05-04 国网江西省电力有限公司电力科学研究院 一种大负荷开关柜温升振动模拟试验评价方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA864703A (en) * 1971-02-23 F. Aemmer Peter Active narrow notch filter
US3370247A (en) 1964-07-24 1968-02-20 Navy Usa Harmonic notch filter
US3728476A (en) * 1971-03-17 1973-04-17 Gen Electric Luminance notch filter
US3867712A (en) * 1972-06-28 1975-02-18 Honeywell Inc Adaptive filter
US4426630A (en) * 1981-12-28 1984-01-17 Rockwell International Corporation Electronically tunable band reject filter
US5469748A (en) * 1994-07-20 1995-11-28 Micro Motion, Inc. Noise reduction filter system for a coriolis flowmeter
US5555190A (en) * 1995-07-12 1996-09-10 Micro Motion, Inc. Method and apparatus for adaptive line enhancement in Coriolis mass flow meter measurement
US5734112A (en) * 1996-08-14 1998-03-31 Micro Motion, Inc. Method and apparatus for measuring pressure in a coriolis mass flowmeter
US6505519B2 (en) * 2000-03-23 2003-01-14 Invensys Systems, Inc. Correcting for two-phase flow in a digital flowmeter
US6360175B1 (en) * 1998-02-25 2002-03-19 Micro Motion, Inc. Generalized modal space drive control system for a vibrating tube process parameter sensor
MY124536A (en) * 2000-03-14 2006-06-30 Micro Motion Inc Initialization algorithm for drive control in a coriolis flowmeter
US6505135B2 (en) * 2001-03-13 2003-01-07 Micro Motion, Inc. Initialization algorithm for drive control in a coriolis flowmeter
US6930544B2 (en) * 2003-03-07 2005-08-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Filter
JP4676254B2 (ja) * 2005-05-31 2011-04-27 日立ビアメカニクス株式会社 ディジタルサーボ制御装置及びレーザ加工装置
CA2619689C (en) * 2005-08-18 2013-08-13 Micro Motion, Inc. Meter electronics and methods for processing sensor signals for a multi-phase flow material in a flowmeter
JP4836210B2 (ja) * 2005-09-19 2011-12-14 マイクロ・モーション・インコーポレーテッド 流量計の検証診断のための流量計電子装置と方法
US8302489B2 (en) * 2007-07-30 2012-11-06 Micro Motion, Inc. Flow meter system and method for measuring flow characteristics of a three phase flow
KR20080049833A (ko) * 2008-04-18 2008-06-04 마이크로 모우션, 인코포레이티드 유량계에 대한 확인 진단을 위한 방법 및 전자 계측장치
CN102216739B (zh) * 2008-11-13 2016-08-24 微动公司 用于测量振动计中流体参数的方法和设备
JP4694645B1 (ja) * 2010-02-19 2011-06-08 株式会社オーバル 信号処理方法、信号処理装置、及び振動型密度計
JP5679781B2 (ja) * 2010-11-26 2015-03-04 キヤノン株式会社 振動型アクチュエータの制御装置
US20150351655A1 (en) * 2013-01-08 2015-12-10 Interaxon Inc. Adaptive brain training computer system and method
CN103162755B (zh) * 2013-01-31 2016-04-13 西安东风机电有限公司 一种基于改进自适应算法的科里奥利流量计信号跟踪方法
JP2016043417A (ja) * 2014-08-19 2016-04-04 株式会社豊田中央研究所 ロボットの制御装置
CN107850478B (zh) * 2015-07-27 2020-11-10 高准公司 确定流动科里奥利流量计中的左特征向量的方法
RU2742973C1 (ru) * 2017-06-14 2021-02-12 Майкро Моушн, Инк. Частотные разнесения для предотвращения помех, вызванных сигналами интермодуляционного искажения
WO2021232008A1 (en) * 2020-05-15 2021-11-18 Expro Meters, Inc. Method for determining a fluid flow parameter within a vibrating tube

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AU2021203535B2 (en) 2022-10-13
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