CN117664928A - 一种钻石切磨测量用质量分析设备及分析方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于钻石切磨设备技术领域，特别涉及一种钻石切磨测量用质量分析设备及分析方法，包括切磨组件和分析组件；所述切磨组件为开放式结构，所述分析组件转动连接在切磨组件的内壁，且所述分析组件延伸至切磨组件外壁一侧的缺口处；通过承载机构收纳若干组钻石颗粒，并在第一电机驱动的作用下，使若干组钻石颗粒依次靠近钻石切磨机进行切磨，通过测试机构滑动连接至承载机构的顶端或者底端，对切磨后的钻石颗粒的顶端或者底端进行透光强度的测量，提高了批量对钻石的冠部或底部快速切换测量的操作效率。

Description

一种钻石切磨测量用质量分析设备及分析方法

技术领域

本发明属于钻石切磨设备技术领域，特别涉及一种钻石切磨测量用质量分析设备及分析方法。

背景技术

宝石标准样品作为实物量具，是国家标准不可分割的一部分。因天然宝石原石样品具有天然性和不可再生性，经常表现为不均匀性广泛存在，无法像工业产品一样批量复制，且购买成本的高昂，使得标本的采集和研、复制工作都具有很高的难度，且成本十分高昂。

经检索，现有技术中，中国专利申请号CN202320865089.2申请日：2021-9-8，公开了一种宝石颜色分级装置，其包括液体标准样品、固定座和夹紧装置，所述固定座设有至少一个用于固定所述液体标准样品的固定槽；所述夹紧装置用于夹紧待分级的宝石，所述夹紧装置滑动连接于所述固定座上，且所述夹紧装置位于所述固定槽的上方。该申请的结构简单，操作方便，解决了现有技术中在通过液体标准样品对宝石颜色分级时，双手操作不便以及降低液体标准样品从操作人员的手中脱落的风险。

但该设备仍存在以下缺陷：虽然能够通过液体标准样品对宝石颜色分级时，双手操作不便以及降低液体标准样品从操作人员的手中脱落的风险，但对钻石的测量精准度较差，无法对钻石的顶端或者底端进行光照强度测量时的切换。

发明内容

针对上述问题，本发明提供了一种钻石切磨测量用质量分析设备，包括切磨组件和分析组件；

所述切磨组件为开放式结构，所述分析组件转动连接在切磨组件的内壁，且所述分析组件延伸至切磨组件外壁一侧的缺口处；

所述切磨组件包括第一壳体；所述第一壳体的顶部靠近开口处的一侧固定连接有第一电机，所述第一壳体的两侧外壁均固定连接有扩展壳体，所述第一壳体的外壁且远离第一电机的一侧固定连接有钻石切磨机；

所述分析组件包括测试机构和承载机构；所述承载机构的顶端与第一电机的输出端传动连接，且所述承载机构的底端转动连接在第一壳体的内壁底端，所述测试机构滑动连接在承载机构上。

进一步的，所述测试机构包括装配部和驱动部；所述装配部为圆形结构，且所述驱动部与装配部传动连接，所述装配部的两端固定连接在承载机构上,所述装配部的底部固定连接有收纳壳体，且所述收纳壳体呈环形设置。

进一步的，所述装配部包括装配圆盘；所述装配圆盘的中轴线中心处开设有导向通孔，所述装配圆盘的表面开设有两组内螺纹孔，两组所述内螺纹孔以导向通孔的中轴线为中心呈对称设置，所述装配圆盘的表面嵌入安装有若干组收纳环壳体和若干组微型吸料泵，且若干组收纳环壳体和若干组微型吸料泵均以装配圆盘的中轴线为中心呈环形阵列设置。

进一步的，若干组所述收纳环壳体的内壁均开设有收纳孔，且若干组所述收纳环壳体均与微型吸料泵相互连通，所述微型吸料泵的输出端还与收纳壳体相互连通，所述装配圆盘的表面还开设有若干组预留槽，且若干组所述的内壁分别活动卡接有第一透光测试板和第二透光测试板，所述第一透光测试板和第二透光测试板的表面均嵌入安装有光强度测量传感器。

进一步的，所述驱动部包括四组导向壳体；四组所述导向壳体均为扇环形结构，所述导向壳体的内壁滑动贴合连接有第二电机，所述导向壳体的一端嵌入安装有第三电机，且所述第三电机的输出端与第二电机的一侧外壁之间设置有第一拉绳，所述导向壳体的另一端嵌入安装有第四电机，且所述第四电机的输出端与第二电机的另一侧外壁之间设置有第二拉绳，两组所述第二电机的输出端之间传动连接有螺纹杆，且所述螺纹杆螺纹连接在内螺纹孔上。

进一步的，所述承载机构包括双轴气缸、若干组第一输出部和若干组第二输出部；所述双轴气缸的一侧输出端传动连接有第一联动板，且所述第一联动板为圆形结构，所述第一联动板的外壁且靠近双轴气缸的一侧固定连接有若干组冠部卡筒，若干组所述第一输出部与若干组冠部卡筒的数量相同，且若干组所述第一输出部与若干组冠部卡筒均以第一联动板的中轴线为中心呈环形阵列设置，若干组所述第一输出部与若干组冠部卡筒呈垂直设置且相互连通，所述第一联动板的顶部中轴线中心处设置有第一伸缩杆，且所述第一伸缩杆的一端与第一电机的输出端传动连接。

进一步的，所述双轴气缸的另一侧输出端传动连接有第二联动板，且所述第二联动板与第一联动板的形状、尺寸均相同，所述第二联动板的外壁且靠近双轴气缸的一侧固定连接有若干组底部卡筒，若干组所述第二输出部与若干组底部卡筒的数量相同，且若干组所述第二输出部与若干组底部卡筒均以第二联动板的中轴线为中心呈环形阵列设置，若干组所述第二输出部与若干组底部卡筒呈垂直设置且相互连通，所述第二联动板的底部中轴线中心处设置有第二伸缩杆，且所述第二伸缩杆的一端转动连接在第一壳体的内壁底端，若干组所述底部卡筒与若干组冠部卡筒呈垂直设置，一组所述底部卡筒的顶端活动卡接有钻石本体，且所述钻石本体的顶端活动卡接在冠部卡筒的底部。

进一步的，所述第一输出部包括第一输出壳体；所述第一输出壳体的内壁固定连接有第一装配环壳体，且所述第一装配环壳体的表面嵌入安装有若干组第一吸嘴，所述第一装配环壳体的中轴线中心处嵌入安装有长波紫外线发射器，所述第一输出壳体的一侧外壁嵌入安装有第一真空泵，且所述第一真空泵与第一装配环壳体相互连通。

进一步的，所述第二输出部包括第二输出壳体；所述第二输出壳体的内壁固定连接有第二装配环壳体，且所述第二装配环壳体的表面嵌入安装有若干组第二吸嘴，所述第二装配环壳体的中轴线中心处嵌入安装有短波紫外线发射器，所述第二输出壳体的一侧外壁嵌入安装有第二真空泵，且所述第二真空泵与第二装配环壳体相互连通。

一种钻石切磨测量用质量分析方法，包括以下步骤，

通过承载机构收纳若干组钻石颗粒，并在第一电机驱动的作用下，使若干组钻石颗粒依次靠近钻石切磨机进行切磨；

通过测试机构滑动连接至承载机构的顶端或者底端，对切磨后的钻石颗粒的顶端或者底端进行透光强度的测量。

本发明的有益效果是：

1、通过承载机构收纳若干组钻石颗粒，并在第一电机驱动的作用下，使若干组钻石颗粒依次靠近钻石切磨机进行切磨，通过测试机构滑动连接至承载机构的顶端或者底端，对切磨后的钻石颗粒的顶端或者底端进行透光强度的测量，提高了批量对钻石的冠部或底部快速切换测量的操作效率。

2、通过双轴气缸的伸缩调节，同步带动第一联动板和第二联动板相互靠近或者相互远离，使若干组冠部卡筒与若干组底部卡筒能够同时卡接在钻石本体的端部，并利用第一输出部或者第二输出部的切换使用，提高了对钻石本体自切换固定的效率。

3、通过第二电机带动螺纹杆旋转，使螺纹连接在螺纹杆上的装配圆盘进行高度的调节，使装配圆盘移动至冠部卡筒或底部卡筒的任意位置，再利用微型吸料泵的持续工作，使若干组收纳环壳体的附近产生负压，对冠部卡筒或底部卡筒附近钻石本体切磨产生的钻石颗粒进行回收并储存在收纳壳体内，提高了切磨过程中钻石颗粒的收集效率。

4、通过第三电机带动第一拉绳向一侧旋转拉动第二电机，使装配圆盘以导向通孔为中心旋转，用于将预留槽旋转至冠部卡筒或底部卡筒的一侧，使长波紫外线发射器或短波紫外线发射器发出的紫外线贯穿钻石本体后，能够使贯穿钻石本体后的紫外线能够延伸至第一透光测试板或第二透光测试板上的光强度测量传感器上，用于分析钻石本体透光强度的测量，提高了钻石透光测试的精准度。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本发明实施例钻石切磨测量用质量分析设备的结构示意图；

图2示出了本发明实施例切磨组件的结构示意图；

图3示出了本发明实施例分析组件的结构示意图；

图4示出了本发明实施例测试机构的结构示意图；

图5示出了本发明实施例装配部的结构示意图；

图6示出了本发明实施例驱动部的结构示意图；

图7示出了本发明实施例导向壳体的结构示意图；

图8示出了本发明实施例承载机构的结构示意图；

图9示出了本发明实施例第一输出部的结构剖视图；

图10示出了本发明实施例第二输出部的结构剖视图。

图中：1、切磨组件；11、第一壳体；12、第一电机；13、扩展壳体；14、钻石切磨机；2、分析组件；21、测试机构；211、装配部；2111、装配圆盘；2112、导向通孔；2113、内螺纹孔；2114、收纳环壳体；2115、收纳孔；2116、微型吸料泵；2117、预留槽；2118、第一透光测试板；2119、第二透光测试板；212、驱动部；2121、导向壳体；2122、第二电机；2123、第三电机；2124、第一拉绳；2125、第四电机；2126、第二拉绳；2127、螺纹杆；213、收纳壳体；22、承载机构；221、双轴气缸；222、第一联动板；223、冠部卡筒；224、第一输出部；2241、第一输出壳体；2242、第一装配环壳体；2243、第一吸嘴；2244、长波紫外线发射器；2245、第一真空泵；225、第一伸缩杆；226、第二联动板；227、底部卡筒；228、第二输出部；2281、第二输出壳体；2282、第二装配环壳体；2283、第二吸嘴；2284、短波紫外线发射器；2285、第二真空泵；229、第二伸缩杆；2210、钻石本体。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地说明，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提出了一种钻石切磨测量用质量分析设备，包括切磨组件1和分析组件2；示例性的，如图1所示。

所述切磨组件1为开放式结构，所述分析组件2转动连接在切磨组件1的内壁，且所述分析组件2延伸至切磨组件1外壁一侧的缺口处。

所述切磨组件1包括第一壳体11；示例性的，如图2所示。

所述第一壳体11为矩形状的开放式结构，且所述第一壳体11的顶部靠近开口处的一侧固定连接有第一电机12，所述第一壳体11的两侧外壁均固定连接有扩展壳体13，且两组所述扩展壳体13以第一壳体11的中轴线为中心呈对称设置，所述第一壳体11的外壁且远离第一电机12的一侧固定连接有钻石切磨机14。

所述分析组件2包括测试机构21和承载机构22；示例性的，如图3所示。

所述承载机构22的顶端与第一电机12的输出端传动连接，且所述承载机构22的底端转动连接在第一壳体11的内壁底端，所述测试机构21滑动连接在承载机构22上。

所述测试机构21包括装配部211和驱动部212；示例性的，如图4所示。

所述装配部211为圆形结构，且所述驱动部212与装配部211传动连接，所述装配部211的两端固定连接在承载机构22上,所述装配部211的底部固定连接有收纳壳体213，且所述收纳壳体213呈环形设置。

所述装配部211包括装配圆盘2111；示例性的，如图5所示。

所述装配圆盘2111的中轴线中心处开设有导向通孔2112，所述装配圆盘2111的表面开设有两组内螺纹孔2113，两组所述内螺纹孔2113以导向通孔2112的中轴线为中心呈对称设置，所述装配圆盘2111的表面嵌入安装有若干组收纳环壳体2114和若干组微型吸料泵2116，且若干组收纳环壳体2114和若干组微型吸料泵2116均以装配圆盘2111的中轴线为中心呈环形阵列设置，若干组所述收纳环壳体2114的内壁均开设有收纳孔2115，且若干组所述收纳环壳体2114均与微型吸料泵2116相互连通，所述微型吸料泵2116的输出端还与收纳壳体213相互连通，所述装配圆盘2111的表面还开设有若干组预留槽2117，且若干组所述的内壁分别活动卡接有第一透光测试板2118和第二透光测试板2119，所述第一透光测试板2118和第二透光测试板2119的表面均嵌入安装有光强度测量传感器。

所述驱动部212包括四组导向壳体2121；示例性的，如图6和图7所示。

四组所述导向壳体2121均为扇环形结构，所述导向壳体2121的内壁滑动贴合连接有第二电机2122，所述导向壳体2121的一端嵌入安装有第三电机2123，且所述第三电机2123的输出端与第二电机2122的一侧外壁之间设置有第一拉绳2124，所述导向壳体2121的另一端嵌入安装有第四电机2125，且所述第四电机2125的输出端与第二电机2122的另一侧外壁之间设置有第二拉绳2126，两组所述第二电机2122的输出端之间传动连接有螺纹杆2127，且所述螺纹杆2127螺纹连接在内螺纹孔2113上。

具体的，所述第二电机2122带动螺纹杆2127旋转，使螺纹连接在螺纹杆2127上的装配圆盘2111进行高度的调节，使装配圆盘2111移动至冠部卡筒223或底部卡筒227的任意位置，再利用微型吸料泵2116的持续工作，使若干组收纳环壳体2114的附近产生负压，对冠部卡筒223或底部卡筒227附近钻石本体2210切磨产生的钻石颗粒进行回收并储存在收纳壳体213内；

所述第三电机2123带动第一拉绳2124向一侧旋转拉动第二电机2122，使装配圆盘2111以导向通孔2112为中心旋转，用于将预留槽2117旋转至冠部卡筒223或底部卡筒227的一侧，使长波紫外线发射器2244或短波紫外线发射器2284发出的紫外线贯穿钻石本体2210后，能够使贯穿钻石本体2210后的紫外线能够延伸至第一透光测试板2118或第二透光测试板2119上的光强度测量传感器上，用于分析钻石本体2210透光强度的测量。

所述承载机构22包括双轴气缸221、若干组第一输出部224和若干组第二输出部228；示例性的，如图8所示。

所述双轴气缸221的一侧输出端传动连接有第一联动板222，且所述第一联动板222为圆形结构，所述第一联动板222的外壁且靠近双轴气缸221的一侧固定连接有若干组冠部卡筒223，若干组所述第一输出部224与若干组冠部卡筒223的数量相同，且若干组所述第一输出部224与若干组冠部卡筒223均以第一联动板222的中轴线为中心呈环形阵列设置，若干组所述第一输出部224与若干组冠部卡筒223呈垂直设置且相互连通，所述第一联动板222的顶部中轴线中心处设置有第一伸缩杆225，且所述第一伸缩杆225的一端与第一电机12的输出端传动连接；

所述双轴气缸221的另一侧输出端传动连接有第二联动板226，且所述第二联动板226与第一联动板222的形状、尺寸均相同，所述第二联动板226的外壁且靠近双轴气缸221的一侧固定连接有若干组底部卡筒227，若干组所述第二输出部228与若干组底部卡筒227的数量相同，且若干组所述第二输出部228与若干组底部卡筒227均以第二联动板226的中轴线为中心呈环形阵列设置，若干组所述第二输出部228与若干组底部卡筒227呈垂直设置且相互连通，所述第二联动板226的底部中轴线中心处设置有第二伸缩杆229，且所述第二伸缩杆229的一端转动连接在第一壳体11的内壁底端；

若干组所述底部卡筒227与若干组冠部卡筒223呈垂直设置，一组所述底部卡筒227的顶端活动卡接有钻石本体2210，且所述钻石本体2210的顶端活动卡接在冠部卡筒223的底部。

具体的，所述第一电机12的输出端持续旋转的同时带动第一伸缩杆225，使第一联动板222和第二联动板226同步旋转，用于将冠部卡筒223或者底部卡筒227上活动卡接的钻石本体2210，进行旋转调节，使调节后的若干组钻石本体2210能够依次与钻石切磨机14接触，并利用钻石切磨机14对依次靠近的若干组钻石本体2210进行批量的切磨；

所述双轴气缸221的伸缩调节，同步带动第一联动板222和第二联动板226相互靠近或者相互远离，使若干组冠部卡筒223与若干组底部卡筒227能够同时卡接在钻石本体2210的端部，并利用第一输出部224或者第二输出部228的切换使用，用于双轴气缸221反向伸缩调节后，使第一联动板222和第二联动板226相互远离的同时，将若干组钻石本体2210吸附至冠部卡筒223或者底部卡筒227上，当冠部卡筒223吸附钻石本体2210时，该钻石本体2210的底部能够与钻石切磨机14进行切磨，当底部卡筒227吸附在钻石本体2210时，该钻石本体2210的顶部能够与钻石切磨机14进行切磨。

所述第一输出部224包括第一输出壳体2241；示例性的，如图9所示。

所述第一输出壳体2241的内壁固定连接有第一装配环壳体2242，且所述第一装配环壳体2242的表面嵌入安装有若干组第一吸嘴2243，所述第一装配环壳体2242的中轴线中心处嵌入安装有长波紫外线发射器2244，所述第一输出壳体2241的一侧外壁嵌入安装有第一真空泵2245，且所述第一真空泵2245与第一装配环壳体2242相互连通。

具体的，所述第一真空泵2245的持续工作使若干组第一吸嘴2243的附近产生负压，该负压能够使冠部卡筒223的内壁对钻石本体2210的顶部进行吸附的作用，并利用长波紫外线发射器2244的持续工作，使长波紫外线发射器2244发出的长波紫外线照射在钻石本体2210上，用于钻石本体2210透光度测量的作用。

所述第二输出部228包括第二输出壳体2281；示例性的，如图10所示。

所述第二输出壳体2281的内壁固定连接有第二装配环壳体2282，且所述第二装配环壳体2282的表面嵌入安装有若干组第二吸嘴2283，所述第二装配环壳体2282的中轴线中心处嵌入安装有短波紫外线发射器2284，所述第二输出壳体2281的一侧外壁嵌入安装有第二真空泵2285，且所述第二真空泵2285与第二装配环壳体2282相互连通。

具体的，所述第二真空泵2285的持续工作使若干组第二吸嘴2283的附近产生负压，该负压能够使底部卡筒227的内壁对钻石本体2210的底部进行吸附的作用，并利用短波紫外线发射器2284的持续工作，使短波紫外线发射器2284发出的短波紫外线照射在钻石本体2210上，用于钻石本体2210透光度测量的作用。

利用本发明实施例提出的一种钻石切磨测量用质量分析设备，其工作原理如下：

通过第一电机12的输出端持续旋转的同时带动第一伸缩杆225，使第一联动板222和第二联动板226同步旋转，用于将冠部卡筒223或者底部卡筒227上活动卡接的钻石本体2210，进行旋转调节，使调节后的若干组钻石本体2210能够依次与钻石切磨机14接触，并利用钻石切磨机14对依次靠近的若干组钻石本体2210进行批量的切磨；

通过双轴气缸221的伸缩调节，同步带动第一联动板222和第二联动板226相互靠近或者相互远离，使若干组冠部卡筒223与若干组底部卡筒227能够同时卡接在钻石本体2210的端部，并利用第一输出部224或者第二输出部228的切换使用，用于双轴气缸221反向伸缩调节后，使第一联动板222和第二联动板226相互远离的同时，将若干组钻石本体2210吸附至冠部卡筒223或者底部卡筒227上，当冠部卡筒223吸附钻石本体2210时，该钻石本体2210的底部能够与钻石切磨机14进行切磨，当底部卡筒227吸附在钻石本体2210时，该钻石本体2210的顶部能够与钻石切磨机14进行切磨；

通过第一真空泵2245的持续工作使若干组第一吸嘴2243的附近产生负压，该负压能够使冠部卡筒223的内壁对钻石本体2210的顶部进行吸附的作用，并利用长波紫外线发射器2244的持续工作，使长波紫外线发射器2244发出的长波紫外线照射在钻石本体2210上，用于钻石本体2210透光度测量的作用；

通过第二真空泵2285的持续工作使若干组第二吸嘴2283的附近产生负压，该负压能够使底部卡筒227的内壁对钻石本体2210的底部进行吸附的作用，并利用短波紫外线发射器2284的持续工作，使短波紫外线发射器2284发出的短波紫外线照射在钻石本体2210上，用于钻石本体2210透光度测量的作用；

通过第二电机2122带动螺纹杆2127旋转，使螺纹连接在螺纹杆2127上的装配圆盘2111进行高度的调节，使装配圆盘2111移动至冠部卡筒223或底部卡筒227的任意位置，再利用微型吸料泵2116的持续工作，使若干组收纳环壳体2114的附近产生负压，对冠部卡筒223或底部卡筒227附近钻石本体2210切磨产生的钻石颗粒进行回收并储存在收纳壳体213内；

通过第三电机2123带动第一拉绳2124向一侧旋转拉动第二电机2122，使装配圆盘2111以导向通孔2112为中心旋转，用于将预留槽2117旋转至冠部卡筒223或底部卡筒227的一侧，使长波紫外线发射器2244或短波紫外线发射器2284发出的紫外线贯穿钻石本体2210后，能够使贯穿钻石本体2210后的紫外线能够延伸至第一透光测试板2118或第二透光测试板2119上的光强度测量传感器上，用于分析钻石本体2210透光强度的测量。

在上述一种钻石切磨测量用质量分析设备的基础上，本发明实施例还提供一种钻石切磨测量用质量分析方法，包括以下步骤，

通过承载机构收纳若干组钻石颗粒，并在第一电机驱动的作用下，使若干组钻石颗粒依次靠近钻石切磨机进行切磨；

通过测试机构滑动连接至承载机构的顶端或者底端，对切磨后的钻石颗粒的顶端或者底端进行透光强度的测量。

尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：包括切磨组件（1）和分析组件（2）；

所述切磨组件（1）为开放式结构，所述分析组件（2）转动连接在切磨组件（1）的内壁，且所述分析组件（2）延伸至切磨组件（1）外壁一侧的缺口处；

所述切磨组件（1）包括第一壳体（11）；所述第一壳体（11）的顶部靠近开口处的一侧固定连接有第一电机（12），所述第一壳体（11）的两侧外壁均固定连接有扩展壳体（13），所述第一壳体（11）的外壁且远离第一电机（12）的一侧固定连接有钻石切磨机（14）；

所述分析组件（2）包括测试机构（21）和承载机构（22）；所述承载机构（22）的顶端与第一电机（12）的输出端传动连接，且所述承载机构（22）的底端转动连接在第一壳体（11）的内壁底端，所述测试机构（21）滑动连接在承载机构（22）上。

2.根据权利要求1所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：所述测试机构（21）包括装配部（211）和驱动部（212）；所述装配部（211）为圆形结构，且所述驱动部（212）与装配部（211）传动连接，所述装配部（211）的两端固定连接在承载机构（22）上,所述装配部（211）的底部固定连接有收纳壳体（213），且所述收纳壳体（213）呈环形设置。

3.根据权利要求2所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：所述装配部（211）包括装配圆盘（2111）；所述装配圆盘（2111）的中轴线中心处开设有导向通孔（2112），所述装配圆盘（2111）的表面开设有两组内螺纹孔（2113），两组所述内螺纹孔（2113）以导向通孔（2112）的中轴线为中心呈对称设置，所述装配圆盘（2111）的表面嵌入安装有若干组收纳环壳体（2114）和若干组微型吸料泵（2116），且若干组收纳环壳体（2114）和若干组微型吸料泵（2116）均以装配圆盘（2111）的中轴线为中心呈环形阵列设置。

4.根据权利要求3所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：若干组所述收纳环壳体（2114）的内壁均开设有收纳孔（2115），且若干组所述收纳环壳体（2114）均与微型吸料泵（2116）相互连通，所述微型吸料泵（2116）的输出端还与收纳壳体（213）相互连通，所述装配圆盘（2111）的表面还开设有若干组预留槽（2117），且若干组所述的内壁分别活动卡接有第一透光测试板（2118）和第二透光测试板（2119），所述第一透光测试板（2118）和第二透光测试板（2119）的表面均嵌入安装有光强度测量传感器。

5.根据权利要求2所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：所述驱动部（212）包括四组导向壳体（2121）；四组所述导向壳体（2121）均为扇环形结构，所述导向壳体（2121）的内壁滑动贴合连接有第二电机（2122），所述导向壳体（2121）的一端嵌入安装有第三电机（2123），且所述第三电机（2123）的输出端与第二电机（2122）的一侧外壁之间设置有第一拉绳（2124），所述导向壳体（2121）的另一端嵌入安装有第四电机（2125），且所述第四电机（2125）的输出端与第二电机（2122）的另一侧外壁之间设置有第二拉绳（2126），两组所述第二电机（2122）的输出端之间传动连接有螺纹杆（2127），且所述螺纹杆（2127）螺纹连接在内螺纹孔（2113）上。

6.根据权利要求1所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：所述承载机构（22）包括双轴气缸（221）、若干组第一输出部（224）和若干组第二输出部（228）；所述双轴气缸（221）的一侧输出端传动连接有第一联动板（222），且所述第一联动板（222）为圆形结构，所述第一联动板（222）的外壁且靠近双轴气缸（221）的一侧固定连接有若干组冠部卡筒（223），若干组所述第一输出部（224）与若干组冠部卡筒（223）的数量相同，且若干组所述第一输出部（224）与若干组冠部卡筒（223）均以第一联动板（222）的中轴线为中心呈环形阵列设置，若干组所述第一输出部（224）与若干组冠部卡筒（223）呈垂直设置且相互连通，所述第一联动板（222）的顶部中轴线中心处设置有第一伸缩杆（225），且所述第一伸缩杆（225）的一端与第一电机（12）的输出端传动连接。

7.根据权利要求6所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：所述双轴气缸（221）的另一侧输出端传动连接有第二联动板（226），且所述第二联动板（226）与第一联动板（222）的形状、尺寸均相同，所述第二联动板（226）的外壁且靠近双轴气缸（221）的一侧固定连接有若干组底部卡筒（227），若干组所述第二输出部（228）与若干组底部卡筒（227）的数量相同，且若干组所述第二输出部（228）与若干组底部卡筒（227）均以第二联动板（226）的中轴线为中心呈环形阵列设置，若干组所述第二输出部（228）与若干组底部卡筒（227）呈垂直设置且相互连通，所述第二联动板（226）的底部中轴线中心处设置有第二伸缩杆（229），且所述第二伸缩杆（229）的一端转动连接在第一壳体（11）的内壁底端，若干组所述底部卡筒（227）与若干组冠部卡筒（223）呈垂直设置，一组所述底部卡筒（227）的顶端活动卡接有钻石本体（2210），且所述钻石本体（2210）的顶端活动卡接在冠部卡筒（223）的底部。

8.根据权利要求7所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：所述第一输出部（224）包括第一输出壳体（2241）；所述第一输出壳体（2241）的内壁固定连接有第一装配环壳体（2242），且所述第一装配环壳体（2242）的表面嵌入安装有若干组第一吸嘴（2243），所述第一装配环壳体（2242）的中轴线中心处嵌入安装有长波紫外线发射器（2244），所述第一输出壳体（2241）的一侧外壁嵌入安装有第一真空泵（2245），且所述第一真空泵（2245）与第一装配环壳体（2242）相互连通。

9.根据权利要求6所述的钻石切磨测量用质量分析设备，其特征在于：所述第二输出部（228）包括第二输出壳体（2281）；所述第二输出壳体（2281）的内壁固定连接有第二装配环壳体（2282），且所述第二装配环壳体（2282）的表面嵌入安装有若干组第二吸嘴（2283），所述第二装配环壳体（2282）的中轴线中心处嵌入安装有短波紫外线发射器（2284），所述第二输出壳体（2281）的一侧外壁嵌入安装有第二真空泵（2285），且所述第二真空泵（2285）与第二装配环壳体（2282）相互连通。

10.一种由权利要求1-9任一所述的钻石切磨测量用质量分析方法，其特征在于：所述分析方法包括：

通过承载机构收纳若干组钻石颗粒，并在第一电机驱动的作用下，使若干组钻石颗粒依次靠近钻石切磨机进行切磨；

通过测试机构滑动连接至承载机构的顶端或者底端，对切磨后的钻石颗粒的顶端或者底端进行透光强度的测量。