CN117664246B - 一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法 - Google Patents
一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及薄膜类产品性能评估分析领域，具体公开一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，本发明能够为薄膜类产品的生产质量分析评估提供可靠性和科学性的数据依据，且在一定程度上降低了薄膜类产品的缺陷发生率，进而避免对后续投入实际使用的薄膜类产品的价值性造成折损影响，有力保障了薄膜类产品购买者的使用体验感，且有利于维护薄膜类产品生产商家的经营稳定性，并实现对质量存在缺陷的薄膜类产品进行及时的管理追踪，极大地便捷了相关人员的管理工作。
Description
技术领域
本发明涉及薄膜类产品性能评估技术领域，具体而言，涉及一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法。
背景技术
薄膜类产品是一类广泛应用于各种领域的薄片状材料；这些产品通常由薄而柔软的材料制成，具有一定的透明性或半透明性；常见的薄膜类产品以及应用领域有：聚合物薄膜包括聚乙烯、聚丙烯、聚酯等材料制成的薄膜，这些薄膜常用于食品包装、医疗器械包装、农业覆盖膜等；光学薄膜用于光学器件的薄膜，如透镜、滤光片等；太阳能薄膜被用于太阳能电池板制造的薄膜；导电薄膜包括导电聚合物薄膜和金属氧化物薄膜，用于制造柔性电子器件；包装薄膜主要用于商品包装；保护膜应用于电子设备屏幕、玻璃表面等；医用薄膜主要用于医疗器械、医用包装等；薄膜类产品在现代生活中扮演着重要的角色，因此薄膜类产品的性能质量至关重要。
目前，现有技术针对薄膜类产品的性能评估分析还存在一些不足，具体体现为：（1）现有技术大多依赖于人工主观地对薄膜类产品的性能进行监测分析，因而受人为主观性因素的影响较大，同时人工的监测分析还存在时效性差和成本高等问题，不仅无法为薄膜类产品的生产质量管理评估提供可靠性和科学性的数据依据，且在一定程度上增加了薄膜类产品的缺陷发生率，导致对后续投入实际使用的薄膜类产品的价值性造成折损影响，进而影响薄膜类产品购买者的使用体验感，不利于维护薄膜类产品生产商家的经营稳定性。
（2）现有技术在对薄膜类产品的柔软性能进行检测时，较为匮乏在检测前期对检测设备进行细致的具体分析，而检测设备作为薄膜类产品重要的评估分析媒介，其运行状况是衡量薄膜类产品性能的重要因素，因而对这一方面分析考量的欠缺则会致使薄膜类产品损失率的增加，且无法有效保障薄膜类产品的使用质量，不能够为薄膜类产品性能的管理评估提供科学性和合理性支撑基础，进而增加了后续因薄膜类产品性能差异性较大而引发的纠纷发生率。
发明内容
为了克服背景技术中的缺点，本发明实施例提供了一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，能够有效解决上述背景技术中涉及的问题。
本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，包括：将手感式柔软度测定仪作为评估设备主体，并将手感式柔软度测定仪记为主体设备。
构建管理信息库，用于存储薄膜类产品的性能符合系数阈值，存储主体设备的支撑点的标准水平高度，存储主体设备所属使用时长的标准振动频率和测头标准行进速度，存储各种类型薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度、适配测试速度、适配测试行程，并存储各种类型薄膜类产品对应的适配横向柔软度、适配纵向柔软度、适配紧度和适配灰度值。
对主体设备的运行状况进行检测，分析计算主体设备的运行状况对应的合理系数。
依据主体设备的运行状况对应的合理系数，进而对主体设备进行管理提示。
获取各指定薄膜类产品的基本生产参数。
依据各指定薄膜类产品的基本生产参数，分析计算各指定薄膜类产品的性能符合系数，其中薄膜类产品性能检测分析模块包括柔软度检测单元、厚度检测单元、紧度检测单元和颜色检测单元。
将各指定薄膜类产品的性能符合系数与管理信息库中存储的薄膜类产品的性能符合系数阈值进行比对，若某指定薄膜类产品的性能符合系数低于薄膜类产品的性能符合系数阈值，则将该指定薄膜类产品记为缺陷薄膜类产品，并据此进行预警提示。
作为本发明进一步的方案，所述对主体设备的运行状况进行检测的具体过程为：在预设的时间点对主体设备的各支撑点的水平高度进行检测，进而获取主体设备的各支撑点的水平高度，进而依据管理信息库中存储的主体设备的支撑点的标准水平高度，据此对比计算主体设备的支撑点对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的支撑点对应的运行合理系数，表示为主体设备的支撑点的标准水平高度，/>表示为主体设备的第i个支撑点的水平高度，/>表示为预设的支撑点的水平高度对应的运行合理修正值，i表示为各支撑点的编号，。
提取管理信息库中存储的主体设备所属使用时长的标准振动频率和测头标准行进速度，记为主体设备的标准振动频率和测头标准行进速度。
在预设的时间段内对主体设备的振动频率进行检测，进而获取主体设备的振动频率，据此计算主体设备的振动频率对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的振动频率对应的运行合理系数，表示为主体设备的标准振动频率，/>表示为主体设备的振动频率，/>表示为预设的主体设备的振动频率对应的运行合理修正因子，e表示为自然常数。
在预设的时间段内对主体设备的测头行程进行检测，并提取预设的时间段对应的时长，进而获取主体设备的测头行进速度，并依据主体设备的测头标准行进速度，据此对比计算主体设备的测头对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的测头对应的运行合理系数，/>表示为主体设备的测头标准行进速度，/>表示为主体设备的测头行进速度，/>表示为预设的主体设备的测头行进速度对应的修正值。
作为本发明进一步的方案，所述主体设备的运行状况对应的合理系数，其具体计算公式为：，其中/>表示为主体设备的运行状况对应的合理系数，/>、/>和/>分别表示为设定的主体设备的支撑点、振动频率和测头行进速度对应的权重因数。
作为本发明进一步的方案，所述对主体设备进行管理提示，其具体过程为：将主体设备的运行状况对应的合理系数与设定的合理系数区间进行比对，若主体设备的运行状况对应的合理系数超出合理系数区间，则对主体设备进行管理提示。
作为本发明进一步的方案，所述各指定薄膜类产品的基本生产参数包括薄膜类产品类型、生产厚度和生产尺寸参数。
作为本发明进一步的方案，所述对各指定薄膜类产品的柔软度进行检测的具体过程为：依据各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型，进而与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度，同理，匹配得到各指定薄膜类产品对应主体设备的适配测试速度和适配测试行程，并据此通过主体设备对各指定薄膜类产品的柔软度进行检测，进而获取各指定薄膜类产品对应的横向柔软度和纵向柔软度。
将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度，据此计算各指定薄膜类产品的柔软度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的柔软度符合系数，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品对应的横向柔软度和纵向柔软度，/>和/>分别表示为设定的薄膜类产品的横向柔软度和纵向柔软度对应的权重占比因子，j表示为各指定薄膜类产品的编号，/>。
作为本发明进一步的方案，所述对各指定薄膜类产品的厚度进行检测的具体过程为：依据各指定薄膜类产品的生产厚度，并将各指定薄膜类产品进行随机采样点布设，得到各指定薄膜类产品所属各采样点，进而对各指定薄膜类产品所属各采样点进行厚度检测，得到各指定薄膜类产品所属各采样点的厚度，据此分析计算各指定薄膜类产品的厚度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的厚度符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品的生产厚度，/>表示为第j个指定薄膜类产品所属第g个采样点的厚度，/>表示为设定的薄膜类产品厚度对应的符合修正因子，g表示为各采样点的编号，/>，r表示为采样点的数量。
作为本发明进一步的方案，所述对各指定薄膜类产品的紧度进行检测的具体过程为：依据各指定薄膜类产品的生产尺寸参数，其中生产尺寸参数包括长度和宽度，并对各指定薄膜类产品的重量进行检测，进而获取各指定薄膜类产品的重量，据此计算各指定薄膜类产品的紧度，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的紧度，/>表示为第j个指定薄膜类产品的重量，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品的长度和宽度。
依据各指定薄膜类产品的紧度，并将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配紧度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配紧度，据此对比计算各指定薄膜类产品的紧度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的紧度符合系数，表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配紧度，/>表示为设定的薄膜类产品的紧度对应的符合修正系数。
作为本发明进一步的方案，所述对各指定薄膜类产品的颜色进行检测的具体过程为：对各指定薄膜类产品进行实景平面图像扫描，得到各指定薄膜类产品所属实景平面图像，并将其进行灰度图像处理，得到各指定薄膜类产品所属灰度图像，进而依据设定的距离间隔对各指定薄膜类产品进行检测点布设，得到各指定薄膜类产品所属各检测点，并提取各指定薄膜类产品所属各检测点的灰度值。
将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配灰度值进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配灰度值，据此对比计算各指定薄膜类产品的颜色符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的颜色符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配灰度值，/>表示为第j个指定薄膜类产品所属第t个检测点的灰度值，/>表示为设定的薄膜类产品的灰度值对应的颜色符合修正因子，t表示为各检测点的编号，/>，v表示为检测点的数量。
作为本发明进一步的方案，所述各指定薄膜类产品的性能符合系数，其具体计算过程为：依据各指定薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色符合系数，进而综合计算各指定薄膜类产品的性能符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的性能符合系数，/>、/>、/>和/>分别表示为设定的薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色对应的权重因数。
相对于现有技术，本发明的实施例至少具有如下优点或有益效果：（1）本发明通过提供一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，实现了对薄膜类产品进行多方面的智能评估分析，有效弥补了现有技术大多依赖于人工主观地对薄膜类产品的性能进行监测分析而存在的不足，因而避免受人为主观性因素的影响，同时克服了人工监测分析还存在的时效性差和成本高等问题，不仅能够为薄膜类产品的生产质量管理评估提供可靠性和科学性的数据依据，且在一定程度上降低了薄膜类产品的缺陷发生率，进而避免对后续投入实际使用的薄膜类产品的价值性造成折损影响，有力保障了薄膜类产品购买者的使用体验感，并有利于维护薄膜类产品生产商家的经营稳定性。
（2）本发明通过将柔软度测定仪记为主体设备，并设置主体设备运行状况检测分析模块，计算主体设备的运行状况对应的合理系数，并对主体设备进行管理提示，进而实现在薄膜类产品的柔软性能检测前期对检测设备进行了细致的具体分析，考虑到主体设备的运行状况是衡量薄膜类产品性能的重要因素，对这一方面进行分析考量，则能够有效降低薄膜类产品的损失率，且能够有效保障薄膜类产品的使用质量，并可以为薄膜类产品性能的管理评估提供科学性和合理性支撑基础，进而减少了后续因薄膜类产品性能差异性较大而引发的纠纷发生率。
（3）本发明通过设置薄膜类产品性能检测分析模块，实现了对薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色进行细致到位的具体分析，分析考虑的维度较为丰富全面，能够为薄膜类产品的性能管理评估提供科学合理的数据支撑基础，进而实现对质量存在缺陷的薄膜类产品进行及时的管理追踪，极大地便捷了相关人员的管理工作。
附图说明
利用附图对本发明作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1为本发明的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
参照图1所示，本发明提供一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，包括：将手感式柔软度测定仪作为评估设备主体，并将手感式柔软度测定仪记为主体设备。
构建管理信息库，用于存储薄膜类产品的性能符合系数阈值，存储主体设备的支撑点的标准水平高度，存储主体设备所属使用时长的标准振动频率和测头标准行进速度，存储各种类型薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度、适配测试速度、适配测试行程，并存储各种类型薄膜类产品对应的适配横向柔软度、适配纵向柔软度、适配紧度和适配灰度值。
对主体设备的运行状况进行检测，分析计算主体设备的运行状况对应的合理系数。
具体地，所述对主体设备的运行状况进行检测，其具体过程为：在预设的时间点对主体设备的各支撑点的水平高度进行检测，进而获取主体设备的各支撑点的水平高度，进而依据管理信息库中存储的主体设备的支撑点的标准水平高度，据此对比计算主体设备的支撑点对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的支撑点对应的运行合理系数，/>表示为主体设备的支撑点的标准水平高度，表示为主体设备的第i个支撑点的水平高度，/>表示为预设的支撑点的水平高度对应的运行合理修正值，i表示为各支撑点的编号，/>。
需要说明的是，上述在预设的时间点对主体设备的各支撑点的水平高度进行检测，其具体过程为：通过高清扫描仪对主体设备进行实景三维图像扫描，进而获取主体设备的实景三维图像，并提取主体设备的外形轮廓，从中定位至主体设备的各支撑结构位置，并提取主体设备的各支撑结构中心点，进而将主体设备的各支撑结构中心点与水平地面进行垂线连接，得到并提取主体设备的各支撑结构中心点与水平地面的连接垂线长度，据此得到主体设备的各支撑点的水平高度。
提取管理信息库中存储的主体设备所属使用时长的标准振动频率和测头标准行进速度，记为主体设备的标准振动频率和测头标准行进速度。
在预设的时间段内对主体设备的振动频率进行检测，进而获取主体设备的振动频率，据此计算主体设备的振动频率对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的振动频率对应的运行合理系数，表示为主体设备的标准振动频率，/>表示为主体设备的振动频率，/>表示为预设的主体设备的振动频率对应的运行合理修正因子，e表示为自然常数。
在预设的时间段内对主体设备的测头行程进行检测，并提取预设的时间段对应的时长，进而获取主体设备的测头行进速度，并依据主体设备的测头标准行进速度，据此对比计算主体设备的测头对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的测头对应的运行合理系数，/>表示为主体设备的测头标准行进速度，/>表示为主体设备的测头行进速度，/>表示为预设的主体设备的测头行进速度对应的修正值。
具体地，所述主体设备的运行状况对应的合理系数，其具体计算公式为：，其中/>表示为主体设备的运行状况对应的合理系数，/>、和/>分别表示为设定的主体设备的支撑点、振动频率和测头行进速度对应的权重因数。
依据主体设备的运行状况对应的合理系数，进而对主体设备进行管理提示。
在本发明具体的实施例中，通过将柔软度测定仪记为主体设备，并设置主体设备运行状况检测分析模块，计算主体设备的运行状况对应的合理系数，并对主体设备进行管理提示，进而实现在薄膜类产品的柔软性能检测前期对检测设备进行了细致的具体分析，考虑到主体设备的运行状况是衡量薄膜类产品性能的重要因素，对这一方面进行分析考量，则能够有效降低薄膜类产品的损失率，且能够有效保障薄膜类产品的使用质量，并可以为薄膜类产品性能的管理评估提供科学性和合理性支撑基础，进而减少了后续因薄膜类产品性能差异性较大而引发的纠纷发生率。
具体地，所述对主体设备进行管理提示，其具体过程为：将主体设备的运行状况对应的合理系数与设定的合理系数区间进行比对，若主体设备的运行状况对应的合理系数超出合理系数区间，则对主体设备进行管理提示。
获取各指定薄膜类产品的基本生产参数。
具体地，所述各指定薄膜类产品的基本生产参数包括薄膜类产品类型、生产厚度和生产尺寸参数。
需要说明的是，上述薄膜类产品类型包括白卡薄膜类产品、胶版薄膜类产品、瓦楞薄膜类产品、书写薄膜类产品、牛皮薄膜类产品和新闻薄膜类产品等。
依据各指定薄膜类产品的基本生产参数，分析计算各指定薄膜类产品的性能符合系数，其中薄膜类产品性能检测分析模块包括柔软度检测单元、厚度检测单元、紧度检测单元和颜色检测单元。
具体地，所述对各指定薄膜类产品的柔软度进行检测的具体过程为：依据各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型，进而与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度，同理，匹配得到各指定薄膜类产品对应主体设备的适配测试速度和适配测试行程，并据此通过主体设备对各指定薄膜类产品的柔软度进行检测，进而获取各指定薄膜类产品对应的横向柔软度和纵向柔软度。
将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度，据此计算各指定薄膜类产品的柔软度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的柔软度符合系数，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品对应的横向柔软度和纵向柔软度，/>和/>分别表示为设定的薄膜类产品的横向柔软度和纵向柔软度对应的权重占比因子，j表示为各指定薄膜类产品的编号，/>。
具体地，所述对各指定薄膜类产品的厚度进行检测的具体过程为：依据各指定薄膜类产品的生产厚度，并将各指定薄膜类产品进行随机采样点布设，得到各指定薄膜类产品所属各采样点，进而对各指定薄膜类产品所属各采样点进行厚度检测，得到各指定薄膜类产品所属各采样点的厚度，据此分析计算各指定薄膜类产品的厚度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的厚度符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品的生产厚度，/>表示为第j个指定薄膜类产品所属第g个采样点的厚度，/>表示为设定的薄膜类产品厚度对应的符合修正因子，g表示为各采样点的编号，/>，r表示为采样点的数量。
需要说明的是，上述对各指定薄膜类产品所属各采样点进行厚度检测，其使用的设备为高精度电动厚度测定仪。
具体地，所述对各指定薄膜类产品的紧度进行检测的具体过程为：依据各指定薄膜类产品的生产尺寸参数，其中生产尺寸参数包括长度和宽度，并对各指定薄膜类产品的重量进行检测，进而获取各指定薄膜类产品的重量，据此计算各指定薄膜类产品的紧度，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的紧度，/>表示为第j个指定薄膜类产品的重量，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品的长度和宽度。
需要说明的是，上述对各指定薄膜类产品的重量进行检测，具体使用的设备为重量传感器。
依据各指定薄膜类产品的紧度，并将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配紧度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配紧度，据此对比计算各指定薄膜类产品的紧度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的紧度符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配紧度，/>表示为设定的薄膜类产品的紧度对应的符合修正系数。
需要说明的是，本发明通过对各指定薄膜类产品的紧度进行分析，其目的在于，考虑到薄膜类产品的紧度是一项基础性能指标，它影响到薄膜类产品的机械性能和光学性能，薄膜类产品的紧度越高，其耐破度、抗张强度等机械性能就越好，因此，需要对各指定薄膜类产品的紧度进行分析。
具体地，所述对各指定薄膜类产品的颜色进行检测的具体过程为：对各指定薄膜类产品进行实景平面图像扫描，得到各指定薄膜类产品所属实景平面图像，并将其进行灰度图像处理，得到各指定薄膜类产品所属灰度图像，进而依据设定的距离间隔对各指定薄膜类产品进行检测点布设，得到各指定薄膜类产品所属各检测点，并提取各指定薄膜类产品所属各检测点的灰度值。
将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配灰度值进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配灰度值，据此对比计算各指定薄膜类产品的颜色符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的颜色符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配灰度值，/>表示为第j个指定薄膜类产品所属第t个检测点的灰度值，/>表示为设定的薄膜类产品的灰度值对应的颜色符合修正因子，t表示为各检测点的编号，，v表示为检测点的数量。
进一步地，所述各指定薄膜类产品的性能符合系数，其具体计算过程为：依据各指定薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色符合系数，进而综合计算各指定薄膜类产品的性能符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的性能符合系数，/>、/>、/>和/>分别表示为设定的薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色对应的权重因数。
在本发明具体的实施例中，通过设置薄膜类产品性能检测分析模块，实现了对薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色进行细致到位的具体分析，分析考虑的维度较为丰富全面，能够为薄膜类产品的性能管理评估提供科学合理的数据支撑基础，进而实现对质量存在缺陷的薄膜类产品进行及时的管理追踪，极大地便捷了相关人员的管理工作。
将各指定薄膜类产品的性能符合系数与管理信息库中存储的薄膜类产品的性能符合系数阈值进行比对，若某指定薄膜类产品的性能符合系数低于薄膜类产品的性能符合系数阈值，则将该指定薄膜类产品记为缺陷薄膜类产品，并据此进行预警提示。
在本发明具体的实施例中，通过提供一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，实现了对薄膜类产品进行多方面的智能评估分析，有效弥补了现有技术大多依赖于人工主观地对薄膜类产品的性能进行监测分析而存在的不足，因而避免受人为主观性因素的影响，同时克服了人工监测分析还存在的时效性差和成本高等问题，不仅能够为薄膜类产品的生产质量管理评估提供可靠性和科学性的数据依据，且在一定程度上降低了薄膜类产品的缺陷发生率，进而避免对后续投入实际使用的薄膜类产品的价值性造成折损影响，有力保障了薄膜类产品购买者的使用体验感，并有利于维护薄膜类产品生产商家的经营稳定性。
以上内容仅仅是对本发明结构所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于，包括：
将手感式柔软度测定仪作为评估设备主体，并将手感式柔软度测定仪记为主体设备；
构建管理信息库，用于存储薄膜类产品的性能符合系数阈值，存储主体设备的支撑点的标准水平高度，存储主体设备所属使用时长的标准振动频率和测头标准行进速度，存储各种类型薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度、适配测试速度、适配测试行程，并存储各种类型薄膜类产品对应的适配横向柔软度、适配纵向柔软度、适配紧度和适配灰度值；
对主体设备的运行状况进行检测，分析计算主体设备的运行状况对应的合理系数；
依据主体设备的运行状况对应的合理系数，进而对主体设备进行管理提示；
获取各指定薄膜类产品的基本生产参数；
依据各指定薄膜类产品的基本生产参数，分析计算各指定薄膜类产品的性能符合系数，其中薄膜类产品性能检测分析模块包括柔软度检测单元、厚度检测单元、紧度检测单元和颜色检测单元；
将各指定薄膜类产品的性能符合系数与管理信息库中存储的薄膜类产品的性能符合系数阈值进行比对，若某指定薄膜类产品的性能符合系数低于薄膜类产品的性能符合系数阈值，则将该指定薄膜类产品记为缺陷薄膜类产品，并据此进行预警提示；
所述对主体设备的运行状况进行检测，其具体过程为：
在预设的时间点对主体设备的各支撑点的水平高度进行检测，进而获取主体设备的各支撑点的水平高度，进而依据管理信息库中存储的主体设备的支撑点的标准水平高度，据此对比计算主体设备的支撑点对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的支撑点对应的运行合理系数，表示为主体设备的支撑点的标准水平高度，/>表示为主体设备的第i个支撑点的水平高度，/>表示为预设的支撑点的水平高度对应的运行合理修正值，i表示为各支撑点的编号，/>；
提取管理信息库中存储的主体设备所属使用时长的标准振动频率和测头标准行进速度，记为主体设备的标准振动频率和测头标准行进速度；
在预设的时间段内对主体设备的振动频率进行检测，进而获取主体设备的振动频率，据此计算主体设备的振动频率对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的振动频率对应的运行合理系数，表示为主体设备的标准振动频率，/>表示为主体设备的振动频率，/>表示为预设的主体设备的振动频率对应的运行合理修正因子，e表示为自然常数；
在预设的时间段内对主体设备的测头行程进行检测，并提取预设的时间段对应的时长，进而获取主体设备的测头行进速度，并依据主体设备的测头标准行进速度，据此对比计算主体设备的测头对应的运行合理系数，其计算公式为：，其中/>表示为主体设备的测头对应的运行合理系数，/>表示为主体设备的测头标准行进速度，/>表示为主体设备的测头行进速度，/>表示为预设的主体设备的测头行进速度对应的修正值。
2.根据权利要求1所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述主体设备的运行状况对应的合理系数，其具体计算公式为：，其中/>表示为主体设备的运行状况对应的合理系数，/>、/>和/>分别表示为设定的主体设备的支撑点、振动频率和测头行进速度对应的权重因数。
3.根据权利要求1所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述对主体设备进行管理提示，其具体过程为：将主体设备的运行状况对应的合理系数与设定的合理系数区间进行比对，若主体设备的运行状况对应的合理系数超出合理系数区间，则对主体设备进行管理提示。
4.根据权利要求1所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述各指定薄膜类产品的基本生产参数包括薄膜类产品类型、生产厚度和生产尺寸参数。
5.根据权利要求1所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述柔软度检测单元对各指定薄膜类产品的柔软度进行检测的具体过程为：
依据各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型，进而与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应主体设备的适配测试狭缝宽度，同理，匹配得到各指定薄膜类产品对应主体设备的适配测试速度和适配测试行程，并据此通过主体设备对各指定薄膜类产品的柔软度进行检测，进而获取各指定薄膜类产品对应的横向柔软度和纵向柔软度；
将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度，据此计算各指定薄膜类产品的柔软度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的柔软度符合系数，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配横向柔软度和适配纵向柔软度，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品对应的横向柔软度和纵向柔软度，/>和/>分别表示为设定的薄膜类产品的横向柔软度和纵向柔软度对应的权重占比因子，j表示为各指定薄膜类产品的编号，/>。
6.根据权利要求5所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述厚度检测单元对各指定薄膜类产品的厚度进行检测的具体过程为：
依据各指定薄膜类产品的生产厚度，并将各指定薄膜类产品进行随机采样点布设，得到各指定薄膜类产品所属各采样点，进而对各指定薄膜类产品所属各采样点进行厚度检测，得到各指定薄膜类产品所属各采样点的厚度，据此分析计算各指定薄膜类产品的厚度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的厚度符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品的生产厚度，/>表示为第j个指定薄膜类产品所属第g个采样点的厚度，/>表示为设定的薄膜类产品厚度对应的符合修正因子，g表示为各采样点的编号，/>，r表示为采样点的数量。
7.根据权利要求6所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述紧度检测单元对各指定薄膜类产品的紧度进行检测的具体过程为：
依据各指定薄膜类产品的生产尺寸参数，其中生产尺寸参数包括长度和宽度，并对各指定薄膜类产品的重量进行检测，进而获取各指定薄膜类产品的重量，据此计算各指定薄膜类产品的紧度，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的紧度，/>表示为第j个指定薄膜类产品的重量，/>和/>分别表示为第j个指定薄膜类产品的长度和宽度；
依据各指定薄膜类产品的紧度，并将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配紧度进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配紧度，据此对比计算各指定薄膜类产品的紧度符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的紧度符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配紧度，/>表示为设定的薄膜类产品的紧度对应的符合修正系数。
8.根据权利要求7所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述颜色检测单元对各指定薄膜类产品的颜色进行检测的具体过程为：
对各指定薄膜类产品进行实景平面图像扫描，得到各指定薄膜类产品所属实景平面图像，并将其进行灰度图像处理，得到各指定薄膜类产品所属灰度图像，进而依据设定的距离间隔对各指定薄膜类产品进行检测点布设，得到各指定薄膜类产品所属各检测点，并提取各指定薄膜类产品所属各检测点的灰度值；
将各指定薄膜类产品的薄膜类产品类型与管理信息库中存储的各种类型薄膜类产品对应的适配灰度值进行匹配，得到各指定薄膜类产品对应的适配灰度值，据此对比计算各指定薄膜类产品的颜色符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的颜色符合系数，/>表示为第j个指定薄膜类产品对应的适配灰度值，/>表示为第j个指定薄膜类产品所属第t个检测点的灰度值，/>表示为设定的薄膜类产品的灰度值对应的颜色符合修正因子，t表示为各检测点的编号，，v表示为检测点的数量。
9.根据权利要求8所述的一种高分子薄膜类产品性能分析评估方法，其特征在于：所述各指定薄膜类产品的性能符合系数，其具体计算过程为：依据各指定薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色符合系数，进而综合计算各指定薄膜类产品的性能符合系数，其计算公式为：，其中/>表示为第j个指定薄膜类产品的性能符合系数，/>、/>、/>和/>分别表示为设定的薄膜类产品的柔软度、厚度、紧度和颜色对应的权重因数。
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Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0618297A (ja) * | 1992-07-03 | 1994-01-25 | Hitachi Ltd | 装置異常判定方式 |
| KR20040103208A (ko) * | 2003-05-31 | 2004-12-08 | 한국기계연구원 | 압입시험기를 이용한 박막의 물성측정 방법 |
| CN211121363U (zh) * | 2020-01-14 | 2020-07-28 | 江苏润基新材料有限公司 | 一种pet薄膜检测设备 |
| CN112858084A (zh) * | 2021-01-18 | 2021-05-28 | 安徽皖维高新材料股份有限公司 | 一种评估pva光学薄膜质量的方法 |
| CN113076636A (zh) * | 2021-03-29 | 2021-07-06 | 南京贝迪新材料科技股份有限公司 | 一种光学膜裁切质量的评估方法及系统 |
| CN115062462A (zh) * | 2022-06-08 | 2022-09-16 | 南京贝迪新材料科技股份有限公司 | 一种超薄散热膜的传热性能智能评估方法及系统 |
| CN115876823A (zh) * | 2023-01-19 | 2023-03-31 | 合肥晶合集成电路股份有限公司 | 薄膜缺陷的检测方法、薄膜缺陷的检测装置及检测系统 |
| CN116977116A (zh) * | 2023-08-09 | 2023-10-31 | 湖北宇晴防水科技有限公司 | 一种基于智能制造工厂的防水材料生产智能监测管理系统 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6741941B2 (en) * | 2002-09-04 | 2004-05-25 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for analyzing defect information |
-
2024
- 2024-02-02 CN CN202410149395.5A patent/CN117664246B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0618297A (ja) * | 1992-07-03 | 1994-01-25 | Hitachi Ltd | 装置異常判定方式 |
| KR20040103208A (ko) * | 2003-05-31 | 2004-12-08 | 한국기계연구원 | 압입시험기를 이용한 박막의 물성측정 방법 |
| CN211121363U (zh) * | 2020-01-14 | 2020-07-28 | 江苏润基新材料有限公司 | 一种pet薄膜检测设备 |
| CN112858084A (zh) * | 2021-01-18 | 2021-05-28 | 安徽皖维高新材料股份有限公司 | 一种评估pva光学薄膜质量的方法 |
| CN113076636A (zh) * | 2021-03-29 | 2021-07-06 | 南京贝迪新材料科技股份有限公司 | 一种光学膜裁切质量的评估方法及系统 |
| CN115062462A (zh) * | 2022-06-08 | 2022-09-16 | 南京贝迪新材料科技股份有限公司 | 一种超薄散热膜的传热性能智能评估方法及系统 |
| CN115876823A (zh) * | 2023-01-19 | 2023-03-31 | 合肥晶合集成电路股份有限公司 | 薄膜缺陷的检测方法、薄膜缺陷的检测装置及检测系统 |
| CN116977116A (zh) * | 2023-08-09 | 2023-10-31 | 湖北宇晴防水科技有限公司 | 一种基于智能制造工厂的防水材料生产智能监测管理系统 |
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