CN117637014A - 一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统和测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统和测试方法，以改善传统测试模式限制于电脑、需要通过USB转接、无法客制化的缺点，其特征在于：所述测试系统包括PC端、Android测试平台和被测嵌入式存储芯片；所述PC端用于编译测试脚本和寿命老化测试程序；所述被测嵌入式存储芯片安装在Android测试平台上，所述Android测试平台用于调整测试脚本的参数和控制嵌入式存储芯片的读写。
Description
技术领域
本发明涉及嵌入式芯片测试相关技术领域，具体涉及一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统和测试方法。
背景技术
嵌入式存储芯片(eMMC)是一种采用闪存作为存储介质的复合式芯片，应用于各种手持式装置、智能家电、智能汽车等平台上，因此嵌入式存储芯片(eMMC)的使用寿命与其应用产品的使用周期息息相关。
当前市面上基本的嵌入式存储芯片(eMMC)的测试方式都以PC为主，但目前PC端的测试工具并不是通过直连嵌入式存储芯片(eMMC)的方式进行测试，而是需要通过读卡器、转接器等硬件设备通过USB接口转接进行嵌入式存储芯片(eMMC)与PC的互联。这种测试方式虽然可以排除绝大部分问题，但通过USB接口设备转接存在一定弊端：1. 嵌入式存储芯片(eMMC)并非和主机直连，存在一定的性能损失和传输错误的可能性；2.部分USB接口的转接设备会将主机端设定好的参数打包一起发送，无法达成预期想要的乱度和零碎度；3.PC主机端大部分工具都已经成型，只能参照已有的设定和参数去测试，无法针对特定产品做专门的匹配和设定。
因此，当前亟需设计一种老化测试系统和测试方法，解决上述的弊端。
发明内容
为了解决上述内容中提到的问题，本发明提供了一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统和测试方法，以改善传统测试模式限制于电脑、需要通过USB转接、无法客制化的缺点。
其技术方案是这样的：
一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统，其特征在于：所述测试系统包括PC端、Android测试平台和被测嵌入式存储芯片；
所述PC端用于编译测试脚本和寿命老化测试程序；
所述被测嵌入式存储芯片安装在Android测试平台上，所述Android测试平台用于调整测试脚本的参数和控制嵌入式存储芯片的读写。
进一步的，所述Android测试平台安装Linux操作系统。
进一步的，所述测试脚本用于在Linux操作系统下启动寿命老化测试程序，实现自动化测试。
进一步的，所述Android测试平台包括控制模块，所述控制模块用于识别盘符、控制电源和执行测试脚本。
进一步的，所述测试脚本用于设置盘符格式、设置测试数据分布、设置测时间和设置队列深度。
进一步的，基于上述测试系统，本发明还提供了一种测试方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
步骤1：架设测试环境，所述测试环境包括Android测试平台、嵌入式存储芯片；
步骤2：确认Android测试平台的测试系统正常启动，以及测试脚本确认无编译错误；
步骤3：将嵌入式存储芯片安装至Android测试平台；
步骤4：在测试脚本中根据实际需求修改测试参数；
步骤5：执行寿命老化测试程序；
步骤6：测试结果输出,进行正常与错误判定；
步骤7：结束测试,寿命老化测试程序生成Android测试平台信息和测试过程的日志,存放在设定的路径文件夹下,方便测试人员做分析与排查。
进一步的，所述步骤1中架设测试环境具体为：先将嵌入式存储芯片预处理,再将Android测试平台通电，启动测试系统, 打开终端工具，以执行完成测试环境准备。
进一步的，所述步骤4中修改测试参数包括：1. 设置嵌入式存储芯片的盘符格式，所述盘符格式包括EXT4、NTFS、FAT32；2.设置测试时数据分布，所述数据分布包括：数据为4K时占比30%。数据为8K时占比20%，数据为16K时占比50%；3.设置测试时间。所述测试时间包括：8H、24H、168H；4.设置队列深度。
进一步的，所述步骤6中判定规则为:如果按照设定的测试次数,每一笔测试都没有嵌入式存储芯片的容量与信息错误、写入的资料不正确和读写速度的异常，则判定为正常；如果按照设定的测试次数中有一笔测试嵌入式存储芯片的容量与信息错误,则判定为错误；如果有一笔测试都嵌入式存储芯片写入的资料不正确,则判定为错误；如果读写速度异常，且与环境无关，则判定为错误。
本发明的有益效果为：
本发明只采用PC端进行测试脚本和测试程序的编译，不参与老化测试，可以避免多种接口转接，以达到更小的性能损耗和外部干扰；在此前提下，采用Android测试平台修改测试脚本参数和执行测试程序，实现了寿命测试模型多样化，可根据自身需求修改测试参数，不再局限市面工具的测试项；并且可以根据测试结果进行优化和改进，提高嵌入式存储芯片面对不同使用环境和适配不同CPU的可靠性。
附图说明
图1为本测试系统的整体架构示意图。
图2为嵌入式存储芯片与Android测试平台的连接示意图。
图3为本测试系统的功能执行示意图。
图4为本测试方法的整体流程示意图。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明做进一步的描述。
以下实施例用于说明本发明，但不能用来限制本发明的保护范围。实施例中的条件可以根据具体条件做进一步的调整，在本发明的构思前提下对本发明的方法简单改进都属于本发明要求保护的范围。
实施例1：
如图1和图2所示，一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统，其特征在于：所述测试系统包括PC端、Android测试平台和被测嵌入式存储芯片；所述PC端作为主机模块，用于编译测试脚本和寿命老化测试程序；所述被测嵌入式存储芯片安装在Android测试平台上，所述Android测试平台用于调整测试脚本的参数和控制嵌入式存储芯片的读写。所述Android测试平台安装Linux操作系统。
如图2和图3所示，所述测试脚本用于在Linux操作系统下启动寿命老化测试程序，实现自动化测试。所述Android测试平台包括控制模块，所述控制模块用于识别盘符、控制电源和执行测试脚本。所述测试脚本用于设置盘符格式、设置测试数据分布、设置测时间和设置队列深度。
实施例2：
如图4所示，基于上述测试系统，本发明还提供了一种测试方法，所述方法包括以下步骤：
步骤1：架设测试环境，所述测试环境包括Android测试平台、嵌入式存储芯片；先将嵌入式存储芯片预处理,再将Android测试平台通电，启动测试系统, 打开终端工具，以执行完成测试环境准备。
步骤2：确认Android测试平台的测试系统正常启动，以及测试脚本确认无编译错误。
步骤3：将嵌入式存储芯片安装至Android测试平台。
步骤4：在测试脚本中根据实际需求修改测试参数；修改测试参数包括：1. 设置嵌入式存储芯片的盘符格式，所述盘符格式包括EXT4、NTFS、FAT32；2.设置测试时数据分布，所述数据分布包括：数据为4K时占比30%。数据为8K时占比20%，数据为16K时占比50%；3.设置测试时间。所述测试时间包括：8H、24H、168H；4.设置队列深度。
步骤5：执行寿命老化测试程序。
步骤6：测试结果输出,进行正常与错误判定； 判定规则为:如果按照设定的测试次数,每一笔测试都没有嵌入式存储芯片的容量与信息错误、写入的资料不正确和读写速度的异常，则判定为正常；如果按照设定的测试次数中有一笔测试嵌入式存储芯片的容量与信息错误,则判定为错误；如果有一笔测试都嵌入式存储芯片写入的资料不正确,则判定为错误；如果读写速度异常，且与环境无关，则判定为错误。
步骤7：结束测试,寿命老化测试程序生成Android测试平台信息和测试过程的日志,存放在设定的路径文件夹下,方便测试人员做分析与排查。
尽管已经出示和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (9)
1.一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统，其特征在于：所述测试系统包括PC端、Android测试平台和被测嵌入式存储芯片；
所述PC端用于编译测试脚本和寿命老化测试程序；
所述被测嵌入式存储芯片安装在Android测试平台上，所述Android测试平台用于调整测试脚本的参数和控制嵌入式存储芯片的读写。
2.根据权利要求1所述的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统，其特征在于：所述Android测试平台安装Linux操作系统。
3.根据权利要求1所述的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统，其特征在于：所述测试脚本用于在Linux操作系统下启动寿命老化测试程序，实现自动化测试。
4.根据权利要求1所述的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统，其特征在于：所述Android测试平台包括控制模块，所述控制模块用于识别盘符、控制电源和执行测试脚本。
5.根据权利要求1所述的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试系统，其特征在于：所述测试脚本用于设置盘符格式、设置测试数据分布、设置测时间和设置队列深度。
6.基于权利要求1-5任意一项所述测试系统的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
步骤1：架设测试环境，所述测试环境包括Android测试平台、嵌入式存储芯片；
步骤2：确认Android测试平台的测试系统正常启动，以及测试脚本确认无编译错误；
步骤3：将嵌入式存储芯片安装至Android测试平台；
步骤4：在测试脚本中根据实际需求修改测试参数；
步骤5：执行寿命老化测试程序；
步骤6：测试结果输出,进行正常与错误判定；
步骤7：结束测试,寿命老化测试程序生成Android测试平台信息和测试过程的日志,存放在设定的路径文件夹下,方便测试人员做分析与排查。
7.根据权利要求6所述的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试方法，其特征在于：所述步骤1中架设测试环境具体为：先将嵌入式存储芯片预处理,再将Android测试平台通电，启动测试系统, 打开终端工具，以执行完成测试环境准备。
8.根据权利要求6所述的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试方法，其特征在于：所述步骤4中修改测试参数包括：1. 设置嵌入式存储芯片的盘符格式，所述盘符格式包括EXT4、NTFS、FAT32；2.设置测试时数据分布，所述数据分布包括：数据为4K时占比30%。数据为8K时占比20%，数据为16K时占比50%；3.设置测试时间。所述测试时间包括：8H、24H、168H；4.设置队列深度。
9.根据权利要求6所述的一种基于Android系统的嵌入式存储芯片老化测试方法，其特征在于：所述步骤6中判定规则为:如果按照设定的测试次数,每一笔测试都没有嵌入式存储芯片的容量与信息错误、写入的资料不正确和读写速度的异常，则判定为正常；如果按照设定的测试次数中有一笔测试嵌入式存储芯片的容量与信息错误,则判定为错误；如果有一笔测试都嵌入式存储芯片写入的资料不正确,则判定为错误；如果读写速度异常，且与环境无关，则判定为错误。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114067901A (zh) * | 2022-01-17 | 2022-02-18 | 深圳市安信达存储技术有限公司 | 嵌入式存储芯片的集群测试方法、测试终端及存储介质 |
| CN116168752A (zh) * | 2023-02-24 | 2023-05-26 | 珠海妙存科技有限公司 | 读、写、擦除操作超时时间获取方法 |
| CN116560985A (zh) * | 2023-04-27 | 2023-08-08 | 深圳市晶存科技有限公司 | 芯片设备测试控制方法、上位机、设备及介质 |
| CN116719724A (zh) * | 2023-06-05 | 2023-09-08 | 珠海妙存科技有限公司 | eMMC多平台测试方法和装置、电子设备 |
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Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114067901A (zh) * | 2022-01-17 | 2022-02-18 | 深圳市安信达存储技术有限公司 | 嵌入式存储芯片的集群测试方法、测试终端及存储介质 |
| CN116168752A (zh) * | 2023-02-24 | 2023-05-26 | 珠海妙存科技有限公司 | 读、写、擦除操作超时时间获取方法 |
| CN116560985A (zh) * | 2023-04-27 | 2023-08-08 | 深圳市晶存科技有限公司 | 芯片设备测试控制方法、上位机、设备及介质 |
| CN116719724A (zh) * | 2023-06-05 | 2023-09-08 | 珠海妙存科技有限公司 | eMMC多平台测试方法和装置、电子设备 |
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