CN117590255A - 一种隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，涉及电池领域。一种隔膜黑点的检测方法，具体步骤包括：获取异常自放电的电池，拆解得到带有黑点的隔膜；对每个黑点进行裁切，得到若干隔膜切片；将获得的隔膜切片制成测试电池，对测试电池进行充放电；监控测试电池充放电过程中的电压，判断测试电池是否存在自放电。通过本方法，可以判断隔膜黑点是否为电池发生自放电的原因。

Description

一种隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法

技术领域

本申请属于电池的技术领域，具体涉及一种隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法。

背景技术

二次电池主要由正极片、负极片、电解液、隔膜、外壳等组成。隔膜能分隔正负极片，能正常导通正负极间锂离子或钠离子、镁离子等且阻隔正负极间电子传导，能保证正负极间处于接近绝缘状态，能保证电池良好的电性能和安全性能。

目前一些异常电池，如自放电异常的电池，在拆解观察过程中发现隔膜表面有黑点，可能是黑点导致隔膜局部的绝缘性变差，使隔膜两侧的正负极片发生了电子传导，即微短路，而导致电池自放电异常；但黑点只能判定为疑似短路点，目前没有准确的方法能证明黑点使隔膜已经发生了异常，是隔膜上的黑点导致电池自放电异常。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，能够解决现有技术中不能判断隔膜黑点是否为引起电池自放电的原因的问题，能够定性、定量的确定该隔膜黑点对于电池自放电的影响。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方法：

一种隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取自放电异常电池A1的隔膜，裁切隔膜黑点位置，获得隔膜切片记为C1，隔膜切片C1包含至少一个黑点；制作测试电池D1，所述测试电池D1包含所述隔膜切片C1；对测试电池D1进行充放电，监测所述测试电池D1的电压，判断所述测试电池D1是否发生自放电，进而判定该隔膜黑点是否引起电池A1的自放电。将隔膜黑点制作为测试电池对其进行电压监控，能够准确直观地反应电池自放电是否发生，进而判断隔膜是否能够影响电池发生自放电。

具体地，测试电池D1的具体组装步骤包括：将正负极片置于真空干燥箱中干燥；在手套箱中，按照负极壳-负极片-电解液-隔膜-电解液-正极片-正极壳的叠放顺序组装电池并注入电解液，并进行封口；将组装好的电池在手套箱中静置。采用上述组装方式制作测试电池，防止因操作不规范引起对测试数据造成不利影响，保证结果准确。

在其中一个实施例中，获取测试电池D1在一定时间T内的电压差值，与标准压降进行对比，判断是否存在异常。采用监控测试电池D1压降的方式判断电池是否发生自放电，方式较为简单，能够较为快速地判断电池是否发生了自放电。其中，标准压降为无自放电的电池经过一定时间的电压差值。

具体地，将上述测试电池D1调整至预设SOC，测试其在预设SOC状态下的电压U1；测试电池D1测得U1后静置预设时间T后，测试得到其电压为U2；获取测试电池D1经过预设时间T的电压差值ΔU＝U1-U2。可采用充放电相结合的方式将测试电池D1调整至预设SOC，能够较为准确的控制电池状态，避免随机SOC状态下电池不稳定。将电池静置预设时间T，使电池内部自放电的进行，并使得且自放电能够影响到电池的电压，能够通过电压变化判断电池是否发生自放电。

具体地，标准压降ΔU0的获取方式包括：取得自放电异常电池A1的隔膜，裁切隔膜无黑点位置，获得隔膜切片C0，制作对比电池D0，测试正常电池D0在预设时间T内的压降ΔU0；其中，所述隔膜切片C0的尺寸、形状与C1相同，且对比电池D0的制作方法、压降测试方法与测试电池D1相同。

具体地，将所述电压差值ΔU与该体系电池在预设SOC下经过预设时间的标准压降ΔU0，若ΔU大于ΔU0，则隔膜黑点为引起异常电池A1自放电的原因。

具体地，上述预设SOC范围在20％～40％或70％～90％之间。此范围内的SOC与电压的变化趋势较为稳定，能够避免误差而造成结果不准确。

具体地，预设时间T的范围在24～72h。预设时间T不能过小，小于24小时会导致电池内部的自放电程度较小，未能影响到电池的电压；预设时间T如果过长，大于72小时，则可能会引起其他原因例如电池衰减等影响电池的电压变化，且时间过长会影响测试效率。

在其中一个实施例中，获取测试电池D1的电阻R1，与标准电阻R0对比，判断是否存在异常。采用测量电池内阻的方式判断电池是否存在内短路，从电池发生自放电的原因入手，其测量结构较为准确。其中，标准电阻为无自放电的电池的电阻值。

具体地，获取静置预设时刻t1时的电池容量Q1以及电压U1；获取初始时刻电池容量Q2及电压U2；得到所述电池D1经过预设时刻T的自放电电流I1＝(Q1-Q2)/T；得到所述测试电池D1的电阻R1＝(U1-U2)/I1。

具体地，获取自放电异常电池A1的隔膜，裁切隔膜无黑点位置，获得隔膜切片C0，制作对比电池D0，获取对比电池D0的电阻，即为标准电阻R0；其中，所述隔膜切片C0的尺寸与C1相同，且对比电池D0的制作方法、电阻测试方法与测试电池D1相同。不同尺寸规格的隔膜对于电池内阻具有重要影响，需要采用相同的隔膜规格、电池制作方法才能保证其内阻的准确。

具体地，将测试电池D1的阻R1与标准电阻R0对比，若R1小于R0，说明隔膜上的黑点引起电池内阻降低，电池正负极产生接触短路，则隔膜黑点为引起所述异常电池A1自放电的原因。

具体地，获取静置预设时刻t1时的电池容量Q1的步骤包括：采用恒流充电得到所述测试电池D1的初始容量Q；静置并测量得到静置电压U1，根据该电池体系的SOC-OCV曲线得到测试电池D1在电压为U1时的电荷状态SOC1，得到其在预设时刻t1的电池容量Q1＝Q*SOC1。

具体地，采用测试装置对测试电池D1进行电阻测试，得到隔膜C1的电阻，与正常电池或者正常隔膜阻值进行对比，判断隔膜是否存在异常。采用电化学工作站能够直接获得隔膜阻值，避免人为进行充放电导致结果不准确。

本方案的有益效果包括：

1、将具有黑点的隔膜制作成测试用的电池，对电池进行测试判断其是否发生自放电，对隔膜发生短路的疑似点做出定性的判断，对于隔膜黑点是否为引起电池内短路的原因做出具体研究分析。

2、对于制作好的测试电池采用测量压降、阻值等方式，定量的判断其自放电程度，与正常值进行对比，确定不同隔膜黑点对于电池自放电的影响程度。

附图说明

图1为本发明中表面具有黑点的隔膜；

图2为本发明中裁切获得的隔膜切片；

图3为本发明中制作的测试电池。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于了解，下面结合实施例对本发明作进一步阐述。

随着锂电池技术的快速发展，其已经广泛应用在了手机、笔记本电脑、数码相机等便携式电子产品，和电动车、电动汽车等代步出行产品上，而关于此类产品，消费者始终较为关心其续航问题，为了提升电池续航能力，厂家需要电池组内的多个电池具有较好的一致性，而影响电池组中单体电池一致性的重要因素便是电池的自放电，不同单体电池自放电的不同会大大影响整个电池组的一致性。顾名思义，电池自放电就是电池在无使用情况下，其电量自动减少或消失的现象。

在使用过程中，电池组中会出现某个单体电池无法正常供电，即此单体电池发生了自放电或内短路等现象，通常将此电池定义为异常电池。在拆解异常电池之后通常观测到隔膜上有异常黑点，可能是黑点导致隔膜局部的绝缘性变差，使隔膜两侧的正负极片发生了微短路，而导致电池自放电异常；但黑点只能判定为疑似短路点，目前没有准确的方法能证明黑点使隔膜已经发生了异常，是隔膜异常导致电池自放电异常。

本申请提供了一种隔膜黑点的检测方法，能够定性、定量地确定隔膜黑点对于电池自放电的影响程度。

实施例1

本实施例提供一种隔膜黑点1对电池自放电影响的检测方法，具体步骤包括：

S1：拆解经过一定充放电循环次数的电芯A1，获得隔膜，隔膜表面具有若干个黑点1，如图1所示。裁切隔膜获得隔膜切片C1，该隔膜切片C1表面包括至少一个黑点1，如图2所示；

S2：将所得到的隔膜切片组装为测试电池D1，如图3所示；

S3：对测试电池D1进行充放电，获得测试电池D1在经过预设时间内的压降，与标准压降进行对比，若测试电池D1在预设时间内的压降大于标准压降，则认为电池存在自放电问题，电池内部存在短路，隔膜存在异常点。

具体地，在步骤S1中，该隔膜切片中可以包含一个或多个黑点1。当检测单个黑点1对电池自放电影响时，该隔膜切片具有一个黑点1；当检测多个黑点1对于电池自放电的共同影响时，该隔膜切片包含多个黑点1；在其他情况下，也可以首先检测多个黑点1对于电池自放电的共同影响，即隔膜切片包含多个黑点1，后检测单个黑点1对电池自放电的影响，将具有多个黑点1的隔膜切片再次进行裁切，使得再次裁切的隔膜切片具有一个黑点1。

具体地，在步骤S2中，该测试电池可以为卡片电池、纽扣电池或者其他能够具有隔膜能够检测电池电压的电池。本申请中采用纽扣电池作为测试电池，具体组装方式包括：1、将正负极片置于60℃真空干燥箱中12h；2、在手套箱中，按照从下到上或者从上到下的叠放顺序组装电池并注入电解液：负极壳-负极片-电解液-隔膜-电解液-正极片-正极壳，封口压强为50kg/cm³；3、组装好的电池在手套箱中静置12h。对制作好的测试电池进行充放电，确定测试电池制作成功。其中，为避免非隔膜黑点1造成的电池自放电，隔膜的尺寸不小于正极片、负极片的尺寸，具体隔膜的直径可以为50mm,极片的直径尺寸可以为40mm；可由负极壳开始也可由正极壳开始；所述电解液可以采用水系电解液或者有机电解液。

具体地，在步骤S3中，对步骤S2获得的测试电池D1进行充放电，调整到预设SOC状态，静置至电池稳定测得其电压值为U1，静置预设时间后测得电压值为U2，获得压差值为ΔU＝U1-U2。其中，第一次静置是因为通过充放电调整电池SOC会导致电池电压出现波动，避免电压值出现误差；第二次静置是给予电池发生自放电的时间，进而确定电池是否会发自放电。

需要说明的是，将测试电池D1调整到预设SOC的范围为20％～40％或70％～90％之间。尽量避开50％SOC附近的平台范围和0％SOC、100％SOC附近的电压变化较大的范围；50％SOC附近的电压处于平台范围，电池C1与电池C2的压降变化不明显，0％SOC及100％SOC附近的电压变化太大，电压稳定性较差，此时的压降误差较大；因此选取20％～40％SOC或70％～90％SOC时的电压监测较合适。

具体地，在步骤S3中，所述标准压降是指和该测试电池D1相同体系电池在相同SOC状态下经过相同时间内的正常压降值。该标准压降可以通过查阅相关技术资料获得，也可以通过测试获得。具体测试步骤包括：拆解经过充放电循环的电池，裁切无黑点1位置的隔膜，获得隔膜切片C2；利用该隔膜切片组装成测试电池D2；将该测试电池D2进行充放电，获得其在预设时间内的压降，记为标准压降。需要说明的是，该电池所采用的正负极材料、电解液以及测试电池制作方式与测试电池D1一致。

需要说明的是，在步骤S3中，若测试电池D1在预设时间内的压降与标准压降持平，则认为该电池不存在自放电问题，隔膜黑点1不是引起电池自放电的原因。其中。持平是指测试电池D1的压降与标准压降近似相等，在一定误差范围内可以被认为是相等的，具体的误差范围依据电池的规格、体系设置。

实施例2

本实施例提供一种隔膜黑点1对电池自放电影响的检测方法，具体步骤包括：

S1：拆解经过一定充放电循环次数的电芯A1，获得隔膜，隔膜表面具有若干个黑点1，如图1所示。裁切隔膜，得到隔膜切片C1，隔膜切片C1中至少包含一个黑点1，如图2所示；

S2：将所得到的隔膜切片组装为测试电池D1，如图3所示；

S3：对测试电池D1进行充放电，获得测试电池D1的电池内阻，与标准内阻R0对比，判断是否存在异常。若该测试电池D1的内阻小于标准内阻R0，则说明该测试电池D1内部存在微短路，即隔膜存在异常点。

其中，步骤1与步骤2与实施例1基本一致，此处不再赘述。

优选地，在步骤S3中，对该测试电池D1满充满放得到其测试电池D1的电池容量Q；将电池充放电到一定状态，静置得到其电压U1，根据电池的SOC-OCV曲线得到该电压U1对应的电池SOC1，计算得到其在电压U1、SOC1状态下的电池容量为Q1＝Q×SOC1；静置预设时刻T测量该电池的电压U2，对应SOC-OCV曲线得到U2电压下的荷电状态为SOC2，计算得到电压U2、SOC2状态下的电池容量Q2＝Q×SOC2；计算获得测试电池D1经过预设时刻的自放电电流I＝(Q1-Q2)/T，其电池内阻R1＝(U1-U2)/I。

其中，获得电池容量Q的步骤包括：将电池完全放电，采用恒流充电方式进行充电直至充满，得到电池容量Q＝It，I为电池恒流充电的电流大小，t为电池恒流充电的时间；或，将电池充满电，采用恒流放电的方式进行放电直至电池没电，得到电池容量Q＝It，I为电池恒流放电的电流大小，t为电池恒流放电的时间。此外，电池的容量Q也可以直接通过容量检测装置直接测试获得。

其中，电池的SOC-OCV曲线为电池的荷电状态与开路电压的曲线图。相同体系下的SOC-OCV曲线图是相同的，可以通过查阅其他该体系的SOC-OCV曲线，也可以测试获得，具体测试方法为：将电池完全放电后充满电，获得电池的容量Q，充满电之后静置测得其电压Ui(i＝1，2，3，4……)，进行恒流放电，每间隔时间Ti(i＝1，2，3，4……)后停止放电，记录其放电电流为Ii(i＝1，2，3，4……)、放电时间Ti，测试其电压Ui，计算得到电池剩余容量Qi＝Q－Ii×Ti，剩余荷电状态SOCi(i＝1，2，3，4……)＝(Qi/Q)×100％，绘制荷电状态与电压图像获得SOC－OCV曲线；或者，将电池充满电后完全放电，进行恒流充电，每见隔时间Ti(i＝1，2，3，4……)后停止充电，记录其充电电流Ii(i＝1，2，3，4……)、充电时间Ti，测试其电压Ui，计算得到电池剩余容量Qi＝Ii×Ti，剩余荷电状态SOCi i＝1，2，3，4……)＝(Qi/Q)×100％，绘制荷电状态与电压图像得到SOC－OCV曲线。需要说明的是，隔间隔时间Ti可以相同或者不相同，各间隔时间Ti的电流Ii可以相同或者不相同，但需要保证每个间隔时间内的电流为恒定值。而且，采用的电流不能过大，需要小于1C，否则充电过程的温升会对电池的电压产生影响，影响测量结果的准确性。

其中，标准内阻为测试电池D1的电阻，可以通过制作测试电池D2来获得。具体制作测试电池D2的方法为：拆解经过充放电循环的电池，裁切无黑点1位置的隔膜，获得隔膜切片C2；利用该隔膜切片组装成测试电池D2；将该测试电池D2进行充放电，获得该测试电池D2的电池电阻。需要说明的是，该测试电池D2除隔膜是否有黑点1外其他制作方法、制作材料与测试电池D1完全相同，且电池电阻获取的方式也完全相同。

优选地，可以通过测量隔膜电阻来判断隔膜黑点1是否会引起电池自放电。将组装好的测试电池D2与电阻测试装置相连接，在测试环境下，对所述待测试电池进行测试得到所述电池隔膜电阻。将电池隔膜电阻与正常隔膜电阻进行比较，若电池隔膜电阻小于正常隔膜电阻，则判断该隔膜存在异常点。

作为示例，所述电阻测试装置包括电化学工作站及内阻测试仪中的一种。本实施例采用设置频率范围为10^-6～0.1Hz的电化学工作站用交流电阻法测出所述电池隔膜阻抗值，从而分析出所述电池隔膜电阻。

作为示例，所述测试环境包括测试环境温度及测试环境湿度；其中，所述测试环境温度小于30℃，所述测试环境湿度低于60％。

具体地，将所述待测试电池卡在所述电化学工作站上，测量所述电池隔膜阻抗值，重复实验三次。

具体地，在步骤S3中，若该测试电池D1的内阻与标准内阻R0持平，则说明该测试电池D1内部不存在微短路，即隔膜黑点1不是引起电池自放电的原因。持平是指测试电池D1的内阻与标准内阻近似相等，在一定误差范围内可以被认为是相等的，具体的误差范围依据电池的规格、体系设置。

通过以上实施例可以发现，本申请的隔膜黑点1对电池自放电影响的检测方法能够定性、定量地判断隔膜黑点1是否为引起电池自放电的原因以及该异常点对于电池自放电的影响程度。

实施例3

本实施例提供一种隔膜黑点1对电池自放电影响的检测方法，具体步骤包括：

S1：拆解经过一定充放电循环次数的电芯A1，获得隔膜，隔膜表面具有若干个黑点1，如图1所示。裁切隔膜获得隔膜切片C1，该隔膜切片C1表面包括至少一个黑点1，如图2所示；

S2：将所得到的隔膜切片C1制作成测试电池D1，如图3所示；

S3：对测试电池D1进行充放电，获取测试电池D1经过预设时间内的压降以及内阻，分别与正常电池的标准压降以及标准内阻对比，判断该隔膜黑点1是否为引起电池自放电的原因。

其中，步骤S1和步骤S2与实施例1、实施例2一致，此处不再赘述。

具体地，在步骤S3中，将制作好的测试电池D1，即采用带有黑点1的隔膜C1制作的测试电池，其电池容量为Q。将测试电池D1通过充电以及放电调整至20％SOC～40％SOC，或者70％SOC～90％SOC，在此范围内的SOC与电压变化较为均匀，对应关系较为准确。测试得到预设SOC状态下对应的电压值为U1，荷电状态为SOC1，静置预设时间T测得电压值为U2。需要说明的是，将测试电池D1调整到预设SOC时，需要静置1-4个小时，等待电压平稳后，测得其电压U1；将测试电池D1静置48-96个小时后，保证其电池电压能够因自放电产生了一定的变化，测得其静置电压U2。对比该电池的SOC-OCV曲线，得到电压为U2时对应的SOC2。

计算得到，该测试电池经过预设时间T的电压差值为ΔU＝U1-U2，将电压差值与正常电池经过预设时间T的电压差值进行对比，若测试电池D1的电压差值ΔU大于正常电池的电压的电压差值，则可能存在自放电。

该测试电池D1在电压U1，荷电状态为SOC1时，其电池容量Q1＝SOC1*Q；当测试电池D1在电压U2，荷电状态SOC2时，其电池容量Q2＝SOC2*Q；测试电池D1经过预设时间T的自放电电流I＝(Q1-Q2)/T，电池内阻R1＝ΔU/I；将该测试电池D1的阻值与正常电池的阻值进行对比，若该测试电池阻值小于正常电池的阻值，则测试电池可能存在自放电。

若通过电压差值和电池内阻测试得到的结果一致，则可以认为该测试电池D1存在自放电，隔膜上的黑点1为引起电池自放电的原因之一。

若通过电压差值和电池内阻测试得到的结果不一致，可能存在：

1.通过电压差值结果判断不存在自放电，而通过电池内阻结果判断存在自放电：此时以电池内阻的判断为准，具体原因可能是电压变化较小，但引起的电池容量变化程度较大，导致其计算得到的电阻较小，说明电池内部因自放电已经发生了较大的容量变化，但是表征在电压上不明显，隔膜上的黑点1已经引起了较大的自放电。

2.通过电压差值结果判断存在自放电，而通过电池内阻结果判断不存在自放电：以电池内阻结果判断为准，具体可能是因为电池内部由较小的容量变化，却引起了较大的电压变化。这说明由于隔膜黑点1而引起的自放电影响较小或者不存在，则说明隔膜黑点1并不会导致电池自放电。

对比看来，采用计算电池压差的方式较为简便，只需要测量间隔时间内的电压差值便能进行判断；采用计算电池内阻的方式则更为精确，但是测试方式较为复杂。

当然地，当采用计算电池压差以及电池内阻的方式得到的结果不同时，也可以采用通过电阻测试装置直接测得隔膜的电阻来进行进一步校正来判断隔膜黑点1是否为导致电池自放电的原因。

如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接受的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决技术问题，基本达到技术效果。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“水平”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

根据上述说明书的揭示和教导，本申请所属领域的技术人员还能够对上述实施方式进行变更和修改。因此，本申请并不局限于上述的具体实施方式，凡是本领域技术人员在本申请的基础上所作出的任何显而易见的改进、替换或变型均属于本申请的保护范围。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本申请构成任何限制。

Claims (14)

1.一种隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取自放电异常电池A1的隔膜，裁切得到隔膜切片C1，所述隔膜切片C1包含至少一个黑点；

制作测试电池D1，所述测试电池D1包含所述隔膜切片C1；

对测试电池D1进行充放电，监测所述测试电池D1的电压，判断所述测试电池D1是否发生自放电，进而判定该隔膜黑点是否引起所述异常电池A1自放电。

2.根据权利要求1所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，所述测试电池D1的具体组装步骤包括：

将正负极片以及隔膜切片C1进行干燥；

按照负极壳-负极片-电解液-隔膜切片C1-电解液-正极片-正极壳的叠放顺序组装电池并注入电解液，并进行封口；

将组装好的电池进行静置。

3.根据权利要求1所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，获取所述测试电池D1在预设时间T内的电压差值ΔU，与标准压降ΔU0进行对比，判断是否存在异常。

4.根据权利要求3所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，将所述测试电池D1调整至预设SOC，测试其在预设SOC状态下的电压U1；静置预设时间T后，再次测试所述测试电池D1的电压值U2；计算得到所述电压差值ΔU＝U1-U2。

5.根据权利要求3所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，所述标准压降ΔU0的获取方式包括：取得自放电异常电池A1的隔膜，裁切隔膜无黑点位置，获得隔膜切片C0，制作对比电池D0，测试所述对比电池D0在预设时间T内的压降ΔU0；其中，所述隔膜切片C0的尺寸、形状与C1相同，且对比电池D0的制作方法、压降测试方法与所述测试电池D1相同。

6.根据权利要求4或5所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，将所述电压差值ΔU与所述标准压降ΔU0进行对比，若ΔU大于ΔU0，则所述隔膜黑点为引起所述异常电池A1自放电的原因。

7.根据权利要求3所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，所述预设SOC范围在20％～40％或70％～90％之间。

8.根据权利要求3所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，所述预设时间T的范围在24～72h。

9.根据权利要求1所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，获取测试电池D1的电阻R1，与标准电阻R0对比，判断是否存在异常。

10.根据权利要求9所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，所述获取测试电池D1的电阻R1包括：获取所述测试电池D1初始时刻的电池容量Q1以及电压U1；获取静置预设时刻T时所述测试电池D1的容量Q2及电压U2；得到所述测试电池D1经过预设时刻T的自放电电流I1＝(Q1-Q2)/T得到所述测试电池D1的电阻R1＝(U1-U2)/I1。

11.根据权利要求9所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，所述标准电阻R0的获取方式包括：取得所述自放电异常电池A1的隔膜，裁切隔膜无黑点位置，获得隔膜切片C0，制作对比电池D0，获得对比电池D0的电阻，即为所述标准电阻R0；

其中，所述隔膜切片C0的尺寸与C1相同，且所述对比电池D0的制作方法、电阻测试方法与测试电池D1相同。

12.根据权利要求10或11所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，将所述测试电池D1的电阻R1与所述标准电阻R0对比，若所述测试电池电阻R1小于所述标准电阻R0，则所述隔膜黑点为引起所述异常电池A1自放电的原因。

13.根据权利要求10所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，获取所述测试电池D1初始时刻的电池容量Q1的步骤包括：通过充放电得到所述测试电池D1的初始容量Q；静置测量得到电压U1，根据该电池体系的SOC-OCV曲线得到所述测试电池D1在电压为U1时的电荷状态SOC1，得到其在初始时刻的电池容量Q1＝Q*SOC1。

14.根据权利要求9所述的隔膜黑点对电池自放电影响的检测方法，其特征在于，采用电阻测试装置对测试电池D1进行电阻测试，得到隔膜切片C1的电阻，与标准阻值R0进行对比，判断隔膜是否存在异常。