CN117491784A - 一种模组老化测试方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种模组老化测试方法、装置、设备和存储介质，其中，方法包括：获取待测试模组；每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有模组老化测试技术的测试内容单一，测试效果不明显的问题，可以对模组的多个老化指标项进行检测，丰富模组老化测试的内容，提高模组老化测试效果。

Description

一种模组老化测试方法、装置、设备和存储介质

技术领域

本发明实施例涉及老化测试技术领域，尤其涉及一种模组老化测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

老化测试是在一定条件下对产品进行长时间的加速使用或环境模拟测试，以评估产品在实际使用中的可靠性和稳定性的测试方法。目前较多的为针对整机的老化测试，模组的老化测试方案通常为老化之后，查看模组上电是否正常工作，这种模组老化测试方法比较简单，测试效果不明显。

发明内容

本发明实施例提供了一种模组老化测试方法、装置、设备和存储介质，可以对模组的多个老化指标项进行检测，丰富模组老化测试的内容，提高模组老化测试效果。

第一方面，本发明实施例提供了一种模组老化测试方法，该方法包括：

获取待测试模组；

每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；

根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

第二方面，本发明实施例提供了一种模组老化测试装置，该装置包括：

模组获取模块，用于获取待测试模组；

指标项检测模块，用于每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；

老化测试结果确定模块，用于根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

第三方面，本发明实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现任一实施例所述的模组老化测试方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现任一实施例所述的模组老化测试方法。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取待测试模组；每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有模组老化测试技术的测试内容单一，测试效果不明显的问题，可以对模组的多个老化指标项进行检测，丰富模组老化测试的内容，提高模组老化测试效果。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种模组老化测试方法流程图；

图2是本发明实施例提供的一种老化底板的示意图；

图3是本发明实施例提供的一种模组的老化测试工作流程图；

图4是本发明实施例提供的一种模组的处理器运行状态老化测试方法流程图；

图5是本发明实施例提供的一种模组的看门狗芯片老化测试方法流程图；

图6是本发明实施例提供的一种模组老化测试装置的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是本发明实施例提供的一种模组老化测试方法流程图，本发明实施例可适用于对模组进行老化测试的场景中，该方法可以由模组老化测试装置执行，该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现。

如图1所示，模组老化测试方法包括以下步骤：

S110、获取待测试模组。

其中，待测试模组可以是需要进行老化测试的模组。具体的，待测试模组可以放置在预设的老化底板上，进而获取到待测试模组。进一步的，预设的老化底板上预留有多个放置模组的位置，用户可以向需要进行老化检测的模仿放置在老化底板的预留位置处，本发明实时例支持同时对各个预留位置处的模组并行测试。

示例性的，图2是本发明实施例提供的一种老化底板的示意图。如图2所示，老化底板可以放置多个模组，一块底板支持4块模组同时上电测试。老化底板由供电回路、老化指示灯组成。对于每个模组，分别对应一路指示灯，指示灯不同状态对应老化测试结果。

S120、每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果。

其中，预设模组检测周期可以是预设的对模组的进行老化测试的周期。具体的，预设模组检测周期可以通过提前标定。示例性的，可以将预设模组检测周期设置为定时1小时，本发明实施例的老化测试装置会每一小时进行一次模组老化测试。老化指标项可以是预设的需要对模组进行老化测试的指标项。指标项检测结果可以是对各个老化指标项的老化测试结果。

具体的，老化指标项包括：处理器运行状态检测、时钟芯片检测、嵌入式多媒体卡检测、闪存检测、双倍速率同步动态随机存储器检测、看门狗芯片检测中的至少一个。其中，处理器运行状态检测可以是对模组内部的处理器的老化测试。看门狗芯片检测可以是对模组内部的看门狗芯片的老化测试。这两项指标的老化测试在后续进行介绍，下面先对其他指标项的老化测试进行介绍。

时钟芯片检测可以是对模组内部的时钟芯片的老化测试。在对时钟芯片进行老化测试时，可以先设置时间、再读取时间，通过查看时间是否设置和读取正常，进而确定时钟芯片的老化测试结果。示例性的，可以在设置固定时间后，等待1s后读取，若读取的时间与设置的时间的差值在3s内，正常则时钟芯片检测通过，否则失败。

嵌入式多媒体卡检测可以是对模组内部的嵌入式多媒体卡的老化测试。在对嵌入式多媒体卡进行老化测试时，可以全容量写入文件，并读取，通过查看读取的文件与写入的文件是否一致，确定嵌入式多媒体卡的老化测试结果。在测试完成后，自行删除写入的文件。此外，还可以测试嵌入式多媒体卡的读取速度，根据读取速度和确定文件读取结果，共同确定嵌入式多媒体卡的老化测试结果。

闪存检测可以是对模组内部的闪存的老化测试。在对闪存进行老化测试时，可以全容量对闪存写入数据、再对数据进行读取后进行校验操，当写入和读取的数据一致时，测试通过；否则测试不通过。

双倍速率同步动态随机存储器检测可以是对模组内部的双倍速率同步动态随机存储器的老化测试。在对双倍速率同步动态随机存储器进行老化测试时，可以基于相应的内存压力测试工具进行测试，通过工具测试结果，进而确定双倍速率同步动态随机存储器的老化测试结果。

S130、根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

其中，模组老化测试结果可以是对待测试模组进行老化测试的结果。模组老化测试结果可以通过各个指标项检测结果进行确定。示例性的，在待测试模组的各个指标项检测结果均为测试通过的情况下，可以确定模组老化测试结果为测试通过；在待测试模组的任一指标项检测结果均为测试不通过的情况下，可以是可以确定模组老化测试结果为测试不通过。

在一种可选的实施方式中，在图7模组老化测试结果为异常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态确定为熄灭状态；在图7模组老化测试结果为正常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态确定为点亮状态。

其中，异常检测结果可以是模组的某一个老化指标项测试不通过的结果。预设检测指示灯可以是预设的用于指示模组老化测试结果的指示灯。在出现异常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态可以由点亮状态变为熄灭状态，用于指示模组的某一个老化指标项测试出现异常。相应的，在图7模组老化测试结果为正常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态可以继续保持为点亮状态。通过使用预设检测指示灯指示模组的老化测试结果，可以提高模组老化测试的可视性，提高模组老化测试的效率。

在一种可选的实施方式中，可以同时对多个图7待测试模组的老化指标项进行并行检测，得到模组并行检测结果。示例性的，当各个待测试模组的老化指标项的均为测试通过的情况下，可以确定模组并行检测结果为各模组老化测试通过；否则不通过。

图3是本发明实施例提供的一种模组的老化测试工作流程图。如图3所示，老化测试方案覆盖CPU核运行状态测试、RTC(Real Time Clock，实时时钟)、EMMC(Embedded MultiMedia Card，内嵌式存储器)、NorFlash(非型闪存)、DDR(Double Data Rate SynchronousDynamic Random Access Memory，双倍数率同步动态随机存取存储器)、WGD(Watchdog，看门狗)测试。设置1h测试定时，定时时间到，测试一次，当各个检测项均通过的情况下，测试通过，则继续等待定时时间到，否则告警输出，结束测试。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取待测试模组；每间隔预设模组检测周期，对图7待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；根据与图7老化指标项对应的图7指标项检测结果确定图7待测试模组的模组老化测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有模组老化测试技术的测试内容单一，测试效果不明显的问题，可以对模组的多个老化指标项进行检测，丰富模组老化测试的内容，提高模组老化测试效果。

图4是本发明实施例提供的一种模组的处理器运行状态老化测试方法流程图，本发明实施例可适用于对模组进行老化测试的场景中，本实施例在上述实施例的基础上，进一步的说明在图7老化指标项为处理器运行状态检测的情况下，如何进行处理器运行状态的老化检测，该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现，集成于具有应用开发功能的计算机设备中。

如图4所示，模组老化测试方法包括以下步骤：

S210、获取待测试模组，在所述老化指标项为处理器运行状态检测的情况下，在所述待测试模组的处理器之间传输规律变化数字信号。

其中，处理器运行状态检测可以是对模组内部的处理器的老化测试。规律变化数字信号可以是预设的进行规律变化的数字信号。规律变化数字信号可以在经过处理器时进行规律变化，随后通过检测变化后的信号是否符合对应的变化规律，进而确定出模组内部处理器运行状态的检测结果。

S220、获取所述规律变化数字信号分别在每个所述待测试模组的处理器变化后的数值，得到数值序列。

其中，数值序列可以是规律变化数字信号进行变化后的各个数值的序列。具体的，可以根据规律变化数字信号分别在每个待测试模组的处理器变化后的数值，依次将变化后的数值进行排列，进而得到数值序列。

S230、根据所述数值序列确定与所述处理器运行状态对应的指标项检测结果。

其中，可以通过对数值序列中数值的分析，可以确定规律变化数字信号是否按照预设的变化规律进行变化。具体的，可以根据图7数值序列中的各个数值确定目标数值变化趋势；将图7目标数值变化趋势和图7规律变化数字信号的参考数值变化趋势进行对比，并根据对比结果确定与图7处理器运行状态对应的指标项检测结果。

其中，目标数值变化趋势可以是数值序列中数值的变化趋势。具体的，可以通过对数值序列中各个数值大小的分析，可以确定目标数值变化趋势。示例的，目标数值变化趋势包括等差递增、等差递减、同比递增、同比递减等变化趋势。参考数值变化趋势可以是预设的规律变化数字信号的数值变化规律。

通过将图7目标数值变化趋势和图7规律变化数字信号的参考数值变化趋势进行对比，可以确定规律变化数字信号是否按照预设的变化规律进行变化，进而确定处理器运行状态检测的测试结果。具体的，当目标数值变化趋势和图7规律变化数字信号的参考数值变化趋势相同时，可以确定处理器运行状态检测的测试结果为测试通过；否则为不通过。

示例性的，可以先检验各处理器间通信交互是否正常，再传输一个递增的数据(核上电时为0)，查看数据变化是否正常，若数据不变化(卡死)或为0(故障重启)，处理器运行状态检测异常。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取待测试模组，在图7老化指标项为处理器运行状态检测的情况下，在图7待测试模组的处理器之间传输规律变化数字信号；获取图7规律变化数字信号分别在每个图7待测试模组的处理器变化后的数值，得到数值序列；根据图7数值序列确定与图7处理器运行状态对应的指标项检测结果。本发明实施例的技术方案解决了现有模组老化测试技术的测试内容单一，测试效果不明显的问题，可以对模组的处理器运行状态进行老化检测，丰富模组老化测试的内容，提高模组老化测试效果。

图5是本发明实施例提供的一种模组的看门狗芯片老化测试方法流程图，本发明实施例可适用于对模组进行老化测试的场景中，本实施例在上述实施例的基础上，进一步的说明在图7老化指标项为看门狗芯片检测的情况下，如何进行看门狗芯片的老化检测，该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现，集成于具有应用开发功能的计算机设备中。

如图5所示，模组老化测试方法包括以下步骤：

S310、获取待测试模组，在所述老化指标项为看门狗芯片检测的情况下，获取所述待测试模组中的读写存储器向看门狗芯片发送的喂狗数字信号。

其中，看门狗芯片是一个定时器电路，一般有一个输入，叫喂狗(kicking the dogor service the dog)，如果超过规定的时间不喂狗，(一般在程序跑飞时)，定时超过，就会给出一个复位信号到MCU，使MCU复位，防止MCU死机。看门狗的作用就是防止程序发生死循环，或者说程序跑飞。看门狗芯片的工作原理为：在系统运行以后也就启动了看门狗的计数器，看门狗就开始自动计数，如果到了一定的时间还不去清看门狗，那么看门狗计数器就会溢出从而引起看门狗中断，造成系统复位。

喂狗数字信号可以是读写存储器发送的用于喂狗的数字信号。具体的，喂狗数字信号可以是数字1或者数字0。进一步的，可以每间隔预设的喂狗周期，就获取待测试模组中的读写存储器向看门狗芯片发送的喂狗数字信号，通过获取到的喂狗数字信号，进而确定看门狗芯片是否运行正常。

S320、根据所述喂狗数字信号对应的数值，确定与所述看门狗芯片检测对应的指标项检测结果。

其中，可以将喂狗数字信号对应的数值与预设的喂狗数值进行对比，当两者相同时，可以确定看门狗芯片检测对应的指标项检测结果为测试通过；否则为不通过。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取待测试模组，在图7老化指标项为看门狗芯片检测的情况下，获取图7待测试模组中的读写存储器向看门狗芯片发送的喂狗数字信号；根据图7喂狗数字信号对应的数值，确定与图7看门狗芯片检测对应的指标项检测结果。本发明实施例的技术方案解决了现有模组老化测试技术的测试内容单一，测试效果不明显的问题，可以对模组的看门狗芯片进行老化检测，丰富模组老化测试的内容，提高模组老化测试效果。

图6是本发明实施例提供的一种模组老化测试装置的结构示意图，本发明实施例可适用于对模组进行老化测试的场景中，该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现，集成于具有应用开发功能的计算机设备中。

如图6所示，模组老化测试装置包括：模组获取模块410、指标项检测模块420和老化测试结果确定模块430。

其中，模组获取模块410，用于获取待测试模组；指标项检测模块420，用于每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；老化测试结果确定模块430，用于根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取待测试模组；每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有模组老化测试技术的测试内容单一，测试效果不明显的问题，可以对模组的多个老化指标项进行检测，丰富模组老化测试的内容，提高模组老化测试效果。

在一种可选的实施方式中，所述老化指标项包括：处理器运行状态检测、时钟芯片检测、嵌入式多媒体卡检测、闪存检测、双倍速率同步动态随机存储器检测、看门狗芯片检测中的至少一个。

在一种可选的实施方式中，所述指标项检测模块420包括：运行状态监测单元，用于：在所述老化指标项为处理器运行状态检测的情况下，在所述待测试模组的处理器之间传输规律变化数字信号；获取所述规律变化数字信号分别在每个所述待测试模组的处理器变化后的数值，得到数值序列；根据所述数值序列确定与所述处理器运行状态对应的指标项检测结果。

在一种可选的实施方式中，所述运行状态监测单元包括：数值序列分析子单元，用于：根据所述数值序列中的各个数值确定目标数值变化趋势；将所述目标数值变化趋势和所述规律变化数字信号的参考数值变化趋势进行对比，并根据对比结果确定与所述处理器运行状态对应的指标项检测结果。

在一种可选的实施方式中，所述指标项检测模块420还包括：看门狗芯片检测单元，用于：在所述老化指标项为看门狗芯片检测的情况下，获取所述待测试模组中的读写存储器向看门狗芯片发送的喂狗数字信号；根据所述喂狗数字信号对应的数值，确定与所述看门狗芯片检测对应的指标项检测结果。

在一种可选的实施方式中，所述模组老化测试装置还包括：并行老化测试模块，用于：对多个所述待测试模组的老化指标项进行并行检测，得到模组并行检测结果。

在一种可选的实施方式中，所述模组老化测试装置还包括：老化检测异常预警模块，用于：在所述模组老化测试结果为异常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态确定为熄灭状态；在所述模组老化测试结果为正常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态确定为点亮状态。

本发明实施例所提供的模组老化测试装置可执行本发明任意实施例所提供的模组老化测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

图7为本发明实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。图7示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性计算机设备12的框图。图7显示的计算机设备12仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。计算机设备12可以是任意具有计算能力的终端设备，可以配置于模组老化测试设备中。

如图7所示，计算机设备12以通用计算设备的形式表现。计算机设备12的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器或者处理单元16，系统存储器28，连接不同系统组件(包括系统存储器28和处理单元16)的总线18。

总线18可以是几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线，微通道体系结构(MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。

计算机设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被计算机设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。

系统存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(RAM)30和/或高速缓存32。计算机设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图7未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图7中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM，DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。系统存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。

具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如系统存储器28中，这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。

计算机设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该计算机设备12交互的设备通信，和/或与使得该计算机设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且，计算机设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图7所示，网络适配器20通过总线18与计算机设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图7中未示出，可以结合计算机设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

处理单元16通过运行存储在系统存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现本发实施例所提供的模组老化测试方法，该方法包括：

获取待测试模组；

每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；

根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

本实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明任意实施例所提供的模组老化测试方法，包括：

获取待测试模组；

每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；

根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

本发明实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是但不限于：电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

本领域普通技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，他们可以用计算机装置可执行的程序代码来实现，从而可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件的结合。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种模组老化测试方法，其特征在于，包括：

获取待测试模组；

每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；

根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述老化指标项包括：处理器运行状态检测、时钟芯片检测、嵌入式多媒体卡检测、闪存检测、双倍速率同步动态随机存储器检测、看门狗芯片检测中的至少一个。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待测试模组的各个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果，包括：

在所述老化指标项为处理器运行状态检测的情况下，在所述待测试模组的处理器之间传输规律变化数字信号；

获取所述规律变化数字信号分别在每个所述待测试模组的处理器变化后的数值，得到数值序列；

根据所述数值序列确定与所述处理器运行状态对应的指标项检测结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述数值序列确定与所述处理器运行状态对应的指标项检测结果，包括：

根据所述数值序列中的各个数值确定目标数值变化趋势；

将所述目标数值变化趋势和所述规律变化数字信号的参考数值变化趋势进行对比，并根据对比结果确定与所述处理器运行状态对应的指标项检测结果。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待测试模组的各个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果，包括：

在所述老化指标项为看门狗芯片检测的情况下，获取所述待测试模组中的读写存储器向看门狗芯片发送的喂狗数字信号；

根据所述喂狗数字信号对应的数值，确定与所述看门狗芯片检测对应的指标项检测结果。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对多个所述待测试模组的老化指标项进行并行检测，得到模组并行检测结果。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述模组老化测试结果为异常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态确定为熄灭状态；

在所述模组老化测试结果为正常检测结果的情况下，将预设检测指示灯的指示状态确定为点亮状态。

8.一种模组老化测试装置，其特征在于，所述装置包括：

模组获取模块，用于获取待测试模组；

指标项检测模块，用于每间隔预设模组检测周期，对所述待测试模组的至少一个老化指标项进行检测，得到指标项检测结果；

老化测试结果确定模块，用于根据与所述老化指标项对应的所述指标项检测结果确定所述待测试模组的模组老化测试结果。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的模组老化测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的模组老化测试方法。