CN110109786B - Smart信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及SMART信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括设置变量以及脚本运行环境；获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；将SMART信息分配至数组内；对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；将分析结果进行汇总；总结脚本运行情况。本发明通过设置一些变量，并将NVME协议中关于SMART信息的512个字节通过循环函数自动分配到一个数组中，对每个字节中的各位进行判断给出结果，最后把结果作一个总结汇总，并全部归类显示出来，实现了SMART信息检查测试全自动化，节省测试时间，提高测试效率。

Description

SMART信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质

技术领域

本发明涉及固态硬盘，更具体地说是指SMART信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

SSD(固态硬盘，Solid State Drive)SMART信息包含着SSD健康程度等众多的信息，在NVME(非易失性内存主机控制器接口规范，Non-Volatile Memory express)协议中，一共含有512个字节的信息量。在SSD项目研发的过程中，检查SSD SMART信息是众多测试用例中的其中一项，SSD SMART信息正常与否会直接影响到项目的进展；同时，客户对于SSDSMART信息也是必检的。所以SSD SMART信息显示正常显得尤其重要。

在现有的检查SSD SMART信息的方法中，一般都是用公开普遍通用的硬盘信息检测工具CrystalDiskInfo进行检查，因为SSD SMART信息众多，要逐个进行检查，就显得十分耗时费力，如果SSD的数量比较多的情况下，往往需要更多人的配合，工作量大，耗时费力，人力成本较高，测试效率低下。

因此，有必要设计一种新的方法，实现节省测试时间，提高测试效率以及降低测试成本。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供SMART信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：SMART信息测试方法，包括：

设置变量以及脚本运行环境；

获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

将SMART信息分配至数组内；

对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；

将分析结果进行汇总；

总结脚本运行情况。

其进一步技术方案为：所述获取NVME协议中的512个字节的SMART信息，包括：

设置预填数值为空的缓冲区；

判断缓冲区的名称空间ID是否为设定值；

若是，则获取需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，以得到目标位置信息；

根据目标位置信息从NVME协议内读取SMART信息的字节，以得到读取结果；

判断所述读取结果是否为成功；

若是，则将读取结果的字节存放在缓冲区内；

将测试通过标志值加一；

设置测试通过标志值的ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若否，则将测试失败标志值加一；

设置测试失败标志值ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，并进入所述将SMART信息分配至数组内；

若否，则根据读取结果内的字节读取NVME协议内相邻的字节，以得到读取结果，并返回所述判断所述读取结果是否为成功。

其进一步技术方案为：所述将SMART信息分配至数组内，包括：

将缓冲区内的字节逐一放入到第一变量内；

将第一变量内的数值赋予数组。

其进一步技术方案为：所述对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果，包括：

依据对数组内的SMART信息每个字节进行测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID的分析，以得到分析结果。

其进一步技术方案为：所述分析结果包括测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID。

其进一步技术方案为：所述将分析结果进行汇总，包括：

对测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID进行归类，以得到归类结果；

显示所述归类结果。

其进一步技术方案为：所述脚本运行情况包括测试时间以及错误次数。

本发明还提供了SMART信息测试装置，包括：

设置单元，用于设置变量以及脚本运行环境；

数据获取单元，用于获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

分配单元，用于将SMART信息分配至数组内；

分析单元，用于对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；

汇总单元，用于将分析结果进行汇总；

总结单元，用于总结脚本运行情况。

本发明还提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法。

本发明还提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现上述的方法。

本发明与现有技术相比的有益效果是：本发明通过设置一些变量，并将NVME协议中关于SMART信息的512个字节通过循环函数自动分配到一个数组中，对每个字节中的各位进行判断给出结果，最后把结果作一个总结汇总，并全部归类显示出来，实现了SMART信息检查测试全自动化，节省测试时间，提高测试效率。

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的SMART信息测试方法的应用场景示意图；

图2为本发明实施例提供的SMART信息测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的SMART信息测试方法的子流程示意图；

图4为本发明实施例提供的SMART信息测试方法的子流程示意图；

图5为本发明实施例提供的SMART信息测试方法的子流程示意图；

图6为本发明实施例提供的SMART信息测试装置的示意性框图；

图7为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

请参阅图1和图2，图1为本发明实施例提供的SMART信息测试方法的应用场景示意图。图2为本发明实施例提供的SMART信息测试方法的示意性流程图。该SMART信息测试方法应用于服务器中，该服务器与固态硬盘进行数据交互，通过服务器对固态硬盘的NVME协议内的固态硬盘SMART信息进行测试，并将结果汇总后输出。

图2是本发明实施例提供的SMART信息测试方法的流程示意图。如图2所示，该方法包括以下步骤S110至S160。

S110、设置变量以及脚本运行环境。

在本实施例中，变量是指用于测试过程中计算或者赋值的变量，脚本运行环境是指在运行测试脚本的环境。测试程序在被执行过程中，先声明一些将要用到的变量及执行一些脚本运行所需要的环境。

测试环境的搭建包括台式主机与键盘、鼠标、显示器的连接。台式主机主板与PSPA、M.2转接板及待测SSD的电连接。打开Driver Master软件，执行测试脚本，其中，PSPA(PCIe SSD Power Adaptor)是电连接于M.2转接板及台式主机主板之间，其主要作用是为SSD作电源驱动的作用，台式主机即为服务器，操作系统优选为Windows10系统，其主要作用是为测试提供一个软件测试环境的作用；M.2转接板是电连接于PSPA与待测试的SSD之间，其主要作用是为SSD的信息传输提供一个接口转接的作用；Driver Master是为脚本提供一个运行及编译的环境作用。

具体地，上述的变量包括第一变量temp、第二变量BIT_HEX、第三变量First_value、测试通过值test_pass、测试通过值ID、测试警告标志值test_warning、测试警告标志值ID、测试失败标志值test_fail、测试失败标志值ID等。其中，测试通过值test_pass的初始值为0，测试警告标志值test_warning的初始值为0，测试失败标志值test_fail的初始值为0。

S120、获取NVME协议中的512个字节的SMART信息。

在本实施例中，SMART信息是指固态硬盘的SMART信息。

在一实施例中，请参阅图3，上述的步骤S120可包括步骤S120a～S120m。

S120a、设置预填数值为空的缓冲区。

在本实施例中，缓冲区是指用于缓存从固态硬盘的NVME协议内读取SMART信息的字节。

S120b、判断缓冲区的名称空间ID是否为设定值。

在本实施例中，当缓冲区的名称空间ID为0FFFFFFFFh，才进行一步骤。

若否，则进入结束步骤。

S120c、若是，则获取需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，以得到目标位置信息。

在本实施例中，目标位置信息是指需要读取的512个字节的SMART信息的起始字节或结束字节的位置。

需要先选定需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，也就是确定需要读取的这512个字节的SMART信息的起始字节的位置，进而根据该起始字节的位置往后取512个字节(包括起始字节)的数据作为SMART信息。

当然，也可以根据结束字节的位置，往前取512个字节(包括结束字节)的数据作为SMART信息。

比如，02h为SMART信息的特征ID，也就是SMART信息的起始位置或者结束位置，128表示128个双字(512字节)。

S120d、根据目标位置信息从NVME协议内读取SMART信息的字节，以得到读取结果。

在一实施例中，先根据目标位置信息确定从NVME协议内哪个位置开始读取SMART信息的字节，该读取结果包括读取成功和字节，或，读取失败的通知。

S120e、判断所述读取结果是否为成功。

当有读取出字节，则认为该读取结果是成功的，反之亦然。

S120f、若是，则将读取结果的字节存放在缓冲区内。

将每次读取出来的字节放置在缓冲区，以便于后续分配至数组。

在本实施例中，这些字节按照读取的顺序进行存放，避免后续分配过程出现字节顺序的错乱，以提高测试的准确率。

S120g、将测试通过值加一；

S120h、设置测试通过值的ID为一，并进入所述步骤S120k；

S120i、若否，则将测试失败标志值加一；

S120j、设置测试失败标志值ID为一，并进入所述步骤S120k；

当前的字节读取成功时，则需要对测试通过值加一，以便于后续对测试通过的字节进行汇总，当前的字节读取失败时，则需要对测试失败标志值加一，对测试不通过的字节进行汇总。

S120k、判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

S120l、若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，并进入所述步骤S130；

S120m、若否，则根据读取结果内的字节读取NVME协议内相邻的字节，以得到读取结果，并返回所述步骤S120e。

从缓冲区内存储的字节判断当前的字节是否是SMART信息的第512个字节，也就是是否已读取了512个字节的数据，若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，若没有，则依据当前的字节读取NVME协议内与之相邻的字节，若目标位置信息是起始字节的位置，则依据当前的字节读取NVME协议内与之相邻的下一个字节，若目标位置信息是结束字节的位置，则依据当前的字节读取NVME协议内与之相邻的上一个字节。

S130、将SMART信息分配至数组内。

在本实施例中，数组是预设的用于放置512个字节的数组。

在一实施例中，请参阅图4，上述的步骤S130可包括步骤S131～S132。

S131、将缓冲区内的字节逐一放入到第一变量内；

S132、将第一变量内的数值赋予数组。

把缓冲区中的512个字节数值逐一放到第一变量temp中，再将第一变量temp中数据赋值给数组SMART_Information_Byte[512]。

把NVME协议中关于SMART信息的512个字节通过循环函数自动分配到一个数组中，可以提高测试效率。

S140、对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果。

在本实施例中，分析结果包括测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID等，用于表示当前SMART信息测试结果。

具体地，依据对数组内的SMART信息每个字节进行测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID的分析，以得到分析结果。

在一实施例中，上述的步骤S130可包括以下步骤：

判断数组内的第一字节的第一位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为一；输出可用空间低于阈值的警告通知，并进入所述设置第二变量的第一个值为数字内第一字节的第一位取16进制的高位；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为二；输出可用空间处于正常值的通知，并进入所述设置第二变量的第一个值为数字内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第一个值为数字内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第二个值为数字内第一字节的第一位取16进制的低位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第一数值；输出第一数值；

判断数组内的第一字节的第二位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为二；输出当前温度超出最高温度的阈值或者低于最低温度阈值的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为三；输出当前温度处于正常值的通知；

判断数组内的第一字节的第三位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为三；输出由于媒体相关的重大错误或任何降低NVM子系统可靠性的内部错误，NVM子系统的可靠性已经降低的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为四；输出NVME子系统可靠性处于正常状态的通知；

判断数组内的第一字节的第四位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为四；输出SSD仅处于可读模式的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为五；输出SSD处于可读可写模式的通知；

判断数组内的第一字节的五位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为五；输出易失性内存备份设备已失效的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为六；输出易失性内存备份设备正常，或控制器没有易失性内存备份解决方案的通知；

对于数组内的第二字节与第一字节的判断方式一致，此处不再赘述；

当名称空间为0FFFFFFFFh，且数据的特征ID为10h时，打印Get feature的返回值，若该返回值为空，则输出此SSD不支持DITT的警告通知；若该返回值不为空，则输出此SSD支持DITT的警告通知；当数据的特征ID为0d4h，打印初始DITT值，并且打印高温值以及低温值。

对于数组内的第三个字节的分析如下：

判断数组内的第三个字节的值是否为0；若是，则对测试失败标志值加一；测试失败标志值ID设置为二；输出剩余可用空闲容量＝0％的通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为八；输出剩余可用空闲容量>0％的通知；

对于数组内的第五个字节的分析如下：

设置第二变量的第一个值为数字内第五个字节取16进制的高位；设置第二变量的第二个值为数字内第五个字节取16进制的低位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第二数值；判断第二数值是否大于100％；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为七；输出已经消耗了NVM子系统中NVM的估计耐力，但是NVM子系统可能不会失败的通知，输出第二数值；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为九；输出使用的百分比处于正常范围的通知，输出第二数值；

对于数组内的第三十二到第四十七个字节的分析如下：

设置第二变量的第一个值为数字内第三十二字节取16进制的低位；设置第二变量的第二个值为数字内第三十二字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第三数值；

设置第二变量的第三个值为数字内第三十三字节取16进制的低位；设置第二变量的第四个值为数字内第三十三字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第四数值；

依照上述规则，对第三十四到第四十七个字节都按照上述方式处理之后，将十进制数值转换后所得的数值与1000以及512相乘后输出。

对于数组内的第六十四到第七十九个字节的分析如下：

设置第二变量的第一个值为数字内第六十四个字节取16进制的低位；设置第二变量的第二个值为数字内第六十四个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第五数值；

设置第二变量的第三个值为数字内第六十五个字节取16进制的低位；设置第二变量的第四个值为数字内第六十五个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第六数值；

依照上述规则，对第六十七到第七十九个字节都按照上述方式处理之后，将十进制数值转换后所得的数值输出。

对于数组内的第八十到第一百五十九个字节的分析如下：

设置第二变量的第一个值为数字内第八十一个字节取16进制的低位；设置第二变量的第二个值为数字内第八十一个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第七数值；

设置第二变量的第三个值为数字内第八十二个字节取16进制的低位；设置第二变量的第四个值为数字内第八十二个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第八数值；

依照上述规则，对第八十三到第九十五个字节都按照上述方式处理之后，将十进制数值转换后所得的数值输出。

对于数组内的第一百六十到第一百七十五个字节的分析如下：

设置第二变量的第一个值为数字内第一百六十个字节取16进制的低位；设置第二变量的第二个值为数字内第一百六十个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第九数值；

设置第二变量的第三个值为数字内第一百六十一个字节取16进制的低位；设置第二变量的第四个值为数字内第一百六十一个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第十数值；

依照上述规则，对第一百六十二到第一百七十五个字节都按照上述方式处理之后，判断十进制数值是否大于零；若是，则测试失败标志值加一，测试失败标志值ID设置为三，输出控制器检测到一些未恢复的数据完整性错误的通知，并将十进制数值转换后所得的数值输出；若否，则测试通过标志值加一，测试通过标志值ID设置为十，输出控制器没有检测到一些未恢复的数据完整性错误的通知，并将十进制数值转换后所得的数值输出。

对于数组内的第一百七十六到第一百九十一个字节的分析如下：

设置第二变量的第一个值为数字内第一百七十六个字节取16进制的低位；设置第二变量的第二个值为数字内第一百七十六个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第十一数值；

设置第二变量的第三个值为数字内第一百七十七个字节取16进制的低位；设置第二变量的第四个值为数字内第一百七十七个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第十二数值；

依照上述规则，对第一百七十八到第一百九十一个字节都按照上述方式处理之后，判断十进制数值是否大于零；若是，则测试失败标志值加一，测试失败标志值ID设置为四，输出在控制器的生命周期中记录存在错误信息日志条目的通知，并将十进制数值转换后所得的数值输出；若否，则测试通过标志值加一，测试通过标志值ID设置为十，输出在控制器的生命周期内不存在错误信息日志项的通知。

对于数组内的第一百九十二到第二百三十一个字节的分析如下：

设置第二变量的第一个值为数字内第一百九十二个字节取16进制的低位；设置第二变量的第二个值为数字内第一百九十二个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第十三数值；

设置第二变量的第三个值为数字内第一百九十三个字节取16进制的低位；设置第二变量的第四个值为数字内第一百九十三个字节取16进制的高位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第十四数值；

依照上述规则，对第一百九十四到第二百三十一个字节都按照上述方式处理之后，将十进制数值转换后所得的数值输出。

S150、将分析结果进行汇总。

在一实施例中，请参阅图5，上述的步骤S150可包括步骤S151～S152。

S151、对测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID进行归类，以得到归类结果；

S152、显示所述归类结果。

具体地，当测试通过标志值等于0时，则输出没有测试通过的项目的通知；若测试通过标志值ID为1，则输出成功读取SMART信息的通知；若测试通过标志值ID为2，则输出当前可用空间处于正常的范围的通知；若测试通过标志值ID为3，则输出当前温度处于正常值的通知；若测试通过标志值ID为4，则输出NVME子系统处于正常的状态的通知；若测试通过标志值ID为5，则输出SSD设备处于可读可写状态的通知；若测试通过标志值ID为6，则输出易失性内存备份设备已通过，或控制器没有易失性内存备份解决方案的通知；若测试通过标志值ID为7，则输出SSD支持DITT的通知；若测试通过标志值ID为8，则输出剩余可用空间>0％的通知；若测试通过标志值ID为9，则输出当前空间使用率处于正常的范围的通知；若测试通过标志值ID为10，则输出控制器没有检测到一些未恢复的数据完整性错误的通知；若测试通过标志值ID为11，则输出在控制器的生命周期内不存在错误信息日志项的通知。

当测试失败标志值等于0时，则输出没有错误的项目信息的通知；若测试失败标志值ID为1，则输出不能读取SMART信息的通知；若测试失败标志值ID为2，则输出可预留的空间大小＝0％的通知；若测试失败标志值ID为3，则输出控制器检测到一些未恢复的数据完整性错误的通知；若测试失败标志值ID为4，则输出在控制器的生命周期中记录存在错误信息日志条目的通知。

当测试警告标志值等于0时，则输出没有警告的信息的通知；若测试警告标志值ID为1，则输出可用的空闲空间已低于阈值的通知；若测试警告标志值ID为2，则输出当前温度高于或低于超温阈值的通知；若测试警告标志值ID为3，则输出由于媒体相关的重大错误或任何降低NVM子系统可靠性的内部错误，NVME子系统的可靠性已经降低的通知；若测试警告标志值ID为4，则输出SSD仅处于只读模式的通知；若测试警告标志值ID为5，则输出易失性内存备份设备已失效的通知；若测试警告标志值ID为6，则输出SSD不支持DITT的通知；若测试警告标志值ID为7，则输出NVME子系统中NVME的估计耐力已经消耗，但是NVME子系统可能不会失败的通知。

并输出一些参考信息。

S160、总结脚本运行情况。

在本实施例中，所述脚本运行情况包括测试时间以及错误次数。

上述的SMART信息测试方法，通过设置一些变量，并将NVME协议中关于SMART信息的512个字节通过循环函数自动分配到一个数组中，对每个字节中的各位进行判断给出结果，最后把结果作一个总结汇总，并全部归类显示出来，实现了SMART信息检查测试全自动化，节省测试时间，提高测试效率。

图6是本发明实施例提供的一种SMART信息测试装置300的示意性框图。如图6所示，对应于以上SMART信息测试方法，本发明还提供一种SMART信息测试装置300。该SMART信息测试装置300包括用于执行上述SMART信息测试方法的单元，该装置可以被配置于服务器中。

具体地，请参阅图6，该SMART信息测试装置300包括：

设置单元301，用于设置变量以及脚本运行环境；

数据获取单元302，用于获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

分配单元303，用于将SMART信息分配至数组内；

分析单元304，用于对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；

汇总单元305，用于将分析结果进行汇总；

总结单元306，用于总结脚本运行情况。

在一实施例中，所述数据获取单元302包括：

缓冲区设置子单元，用于设置预填数值为空的缓冲区；

ID判断子单元，用于判断缓冲区的名称空间ID是否为设定值；

位置信息获取子单元，用于若是，则获取需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，以得到目标位置信息；

读取结果获取子单元，用于根据目标位置信息从NVME协议内读取SMART信息的字节，以得到读取结果；

读取结果判断子单元，用于判断所述读取结果是否为成功；

字节存放子单元，用于若是，则将读取结果的字节存放在缓冲区内；

第一处理子单元，用于将测试通过标志值加一；

第一ID设置子单元，用于设置测试通过标志值ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

第二处理子单元，用于若否，则将测试失败标志值加一；

第二ID设置子单元，用于设置测试失败标志值ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

数量判断子单元，用于判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

信息形成子单元，用于若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，并进入所述将SMART信息分配至数组内；

相邻字节获取子单元，用于若否，则根据读取结果内的字节读取NVME协议内相邻的字节，以得到读取结果，并返回所述判断所述读取结果是否为成功。

在一实施例中，所述分配单元303包括：

放置子单元，用于将缓冲区内的字节逐一放入到第一变量内；

赋值子单元，用于将第一变量内的数值赋予数组。

在一实施例中，所述汇总单元305包括：

归类子单元，用于对测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID进行归类，以得到归类结果；

显示子单元，用于显示所述归类结果。

需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述SMART信息测试装置和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。

上述SMART信息测试装置可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图7所示的计算机设备上运行。

请参阅图7，图7是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图。该计算机设备500可以是终端，也可以是服务器，其中，终端可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等具有通信功能的电子设备。服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。

参阅图7，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。

该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种SMART信息测试方法。

该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。

该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种SMART信息测试方法。

该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

其中，所述处理器502用于运行存储在存储器中的计算机程序5032，以实现如下步骤：

设置变量以及脚本运行环境；

获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

将SMART信息分配至数组内；

对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；

将分析结果进行汇总；

总结脚本运行情况。

其中，所述脚本运行情况包括测试时间以及错误次数。

在一实施例中，处理器502在实现所述获取NVME协议中的512个字节的SMART信息步骤时，具体实现如下步骤：

设置预填数值为空的缓冲区；

判断缓冲区的名称空间ID是否为设定值；

若是，则获取需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，以得到目标位置信息；

根据目标位置信息从NVME协议内读取SMART信息的字节，以得到读取结果；

判断所述读取结果是否为成功；

若是，则将读取结果的字节存放在缓冲区内；

将测试通过标志值加一；

设置测试通过标志值的ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若否，则将测试失败标志值加一；

设置测试失败标志值ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，并进入所述将SMART信息分配至数组内；

若否，则根据读取结果内的字节读取NVME协议内相邻的字节，以得到读取结果，并返回所述判断所述读取结果是否为成功。

在一实施例中，处理器502在实现所述将SMART信息分配至数组内步骤时，具体实现如下步骤：

将缓冲区内的字节逐一放入到第一变量内；

将第一变量内的数值赋予数组。

在一实施例中，处理器502在实现所述对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果步骤时，具体实现如下步骤：

依据对数组内的SMART信息每个字节进行测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID的分析，以得到分析结果。

其中，所述分析结果包括测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID。

在一实施例中，处理器502在实现所述将分析结果进行汇总步骤时，具体实现如下步骤：

对测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID进行归类，以得到归类结果；

显示所述归类结果。

应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(CentralProcessing Unit，CPU)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。

因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中该计算机程序被处理器执行时使处理器执行如下步骤：

设置变量以及脚本运行环境；

获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

将SMART信息分配至数组内；

对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；

将分析结果进行汇总；

总结脚本运行情况。

其中，所述脚本运行情况包括测试时间以及错误次数。

在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述获取NVME协议中的512个字节的SMART信息步骤时，具体实现如下步骤：

设置预填数值为空的缓冲区；

判断缓冲区的名称空间ID是否为设定值；

若是，则获取需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，以得到目标位置信息；

根据目标位置信息从NVME协议内读取SMART信息的字节，以得到读取结果；

判断所述读取结果是否为成功；

若是，则将读取结果的字节存放在缓冲区内；

将测试通过标志值加一；

设置测试通过标志值的ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若否，则将测试失败标志值加一；

设置测试失败标志值ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，并进入所述将SMART信息分配至数组内；

若否，则根据读取结果内的字节读取NVME协议内相邻的字节，以得到读取结果，并返回所述判断所述读取结果是否为成功。

在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述将SMART信息分配至数组内步骤时，具体实现如下步骤：

将缓冲区内的字节逐一放入到第一变量内；

将第一变量内的数值赋予数组。

在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果步骤时，具体实现如下步骤：

依据对数组内的SMART信息每个字节进行测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID的分析，以得到分析结果。

其中，所述分析结果包括测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID。

在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述将分析结果进行汇总步骤时，具体实现如下步骤：

对测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID进行归类，以得到归类结果；

显示所述归类结果。

所述存储介质可以是U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。

本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。

该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.SMART信息测试方法，其特征在于，包括：

设置变量以及脚本运行环境；

获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

将SMART信息分配至数组内；

对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；

将分析结果进行汇总；

总结脚本运行情况；

所述对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果，包括：

依据对数组内的SMART信息每个字节进行测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID的分析，以得到分析结果；

判断数组内的第一字节的第一位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为一；输出可用空间低于阈值的警告通知，并进入设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为二；输出可用空间处于正常值的通知，并进入所述设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第二个值为数组内第一字节的第一位取16进制的低位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第一数值；输出第一数值；

判断数组内的第一字节的第二位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为二；输出当前温度超出最高温度的阈值或者低于最低温度阈值的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为三；输出当前温度处于正常值的通知；

判断数组内的第一字节的第三位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为三；输出由于媒体相关的重大错误或任何降低NVM子系统可靠性的内部错误，NVM子系统的可靠性已经降低的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为四；输出NVME子系统可靠性处于正常状态的通知；

判断数组内的第一字节的第四位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为四；输出SSD仅处于可读模式的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为五；输出SSD处于可读可写模式的通知；

判断数组内的第一字节的第五位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为五；输出易失性内存备份设备已失效的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为六；输出易失性内存备份设备正常，或控制器没有易失性内存备份解决方案的通知；

对于数组内的第二字节与第一字节的判断方式一致；

当名称空间为0FFFFFFFFh，且数据的特征ID为10h时，打印Get feature的返回值，若该返回值为空，则输出此SSD不支持DITT的警告通知；若该返回值不为空，则输出此SSD支持DITT的警告通知；当数据的特征ID为0d4h，打印初始DITT值，并且打印高温值以及低温值。

2.根据权利要求1所述的SMART信息测试方法，其特征在于，所述获取NVME协议中的512个字节的SMART信息，包括：

设置预填数值为空的缓冲区；

判断缓冲区的名称空间ID是否为设定值；

若是，则获取需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，以得到目标位置信息；

根据目标位置信息从NVME协议内读取SMART信息的字节，以得到读取结果；

判断所述读取结果是否为成功；

若是，则将读取结果的字节存放在缓冲区内；

将测试通过标志值加一；

设置测试通过标志值的ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若否，则将测试失败标志值加一；

设置测试失败标志值ID为一， 并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，并进入所述将SMART信息分配至数组内；

若否，则根据读取结果内的字节读取NVME协议内相邻的字节，以得到读取结果，并返回所述判断所述读取结果是否为成功。

3.根据权利要求2所述的SMART信息测试方法，其特征在于，所述将SMART信息分配至数组内，包括：

将缓冲区内的字节逐一放入到第一变量内；

将第一变量内的数值赋予数组。

4.根据权利要求1所述的SMART信息测试方法，其特征在于，所述分析结果包括测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID。

5.根据权利要求4所述的SMART信息测试方法，其特征在于，所述将分析结果进行汇总，包括：

对测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID进行归类，以得到归类结果；

显示所述归类结果。

6.根据权利要求1所述的SMART信息测试方法，其特征在于，所述脚本运行情况包括测试时间以及错误次数。

7.SMART信息测试装置，其特征在于，包括：

设置单元，用于设置变量以及脚本运行环境；

数据获取单元，用于获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

分配单元，用于将SMART信息分配至数组内；

分析单元，用于对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；依据对数组内的SMART信息每个字节进行测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID的分析，以得到分析结果；

判断数组内的第一字节的第一位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为一；输出可用空间低于阈值的警告通知，并进入设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为二；输出可用空间处于正常值的通知，并进入所述设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第二个值为数组内第一字节的第一位取16进制的低位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第一数值；输出第一数值；

判断数组内的第一字节的第二位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为二；输出当前温度超出最高温度的阈值或者低于最低温度阈值的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为三；输出当前温度处于正常值的通知；

判断数组内的第一字节的第三位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为三；输出由于媒体相关的重大错误或任何降低NVM子系统可靠性的内部错误，NVM子系统的可靠性已经降低的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为四；输出NVME子系统可靠性处于正常状态的通知；

判断数组内的第一字节的第四位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为四；输出SSD仅处于可读模式的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为五；输出SSD处于可读可写模式的通知；

判断数组内的第一字节的第五位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为五；输出易失性内存备份设备已失效的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为六；输出易失性内存备份设备正常，或控制器没有易失性内存备份解决方案的通知；

对于数组内的第二字节与第一字节的判断方式一致；

当名称空间为0FFFFFFFFh，且数据的特征ID为10h时，打印Get feature的返回值，若该返回值为空，则输出此SSD不支持DITT的警告通知；若该返回值不为空，则输出此SSD支持DITT的警告通知；当数据的特征ID为0d4h，打印初始DITT值，并且打印高温值以及低温值；

汇总单元，用于将分析结果进行汇总；

总结单元，用于总结脚本运行情况。

8.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6中任一项所述的方法。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现如权利要求1至6中任一项所述的方法。

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