CN117489932B - 探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法 - Google Patents

探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法 Download PDF

Info

Publication number
CN117489932B
CN117489932B CN202410001408.4A CN202410001408A CN117489932B CN 117489932 B CN117489932 B CN 117489932B CN 202410001408 A CN202410001408 A CN 202410001408A CN 117489932 B CN117489932 B CN 117489932B
Authority
CN
China
Prior art keywords
adjusting
detector
bracket
plate
piece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202410001408.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN117489932A (zh
Inventor
陈康元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Yimu Wanxiang Technology Co ltd
Original Assignee
Suzhou Yimu Wanxiang Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Yimu Wanxiang Technology Co ltd filed Critical Suzhou Yimu Wanxiang Technology Co ltd
Priority to CN202410001408.4A priority Critical patent/CN117489932B/zh
Publication of CN117489932A publication Critical patent/CN117489932A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN117489932B publication Critical patent/CN117489932B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16MFRAMES, CASINGS OR BEDS OF ENGINES, MACHINES OR APPARATUS, NOT SPECIFIC TO ENGINES, MACHINES OR APPARATUS PROVIDED FOR ELSEWHERE; STANDS; SUPPORTS
    • F16M11/00Stands or trestles as supports for apparatus or articles placed thereon ; Stands for scientific apparatus such as gravitational force meters
    • F16M11/02Heads
    • F16M11/04Means for attachment of apparatus; Means allowing adjustment of the apparatus relatively to the stand
    • F16M11/043Allowing translations
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16MFRAMES, CASINGS OR BEDS OF ENGINES, MACHINES OR APPARATUS, NOT SPECIFIC TO ENGINES, MACHINES OR APPARATUS PROVIDED FOR ELSEWHERE; STANDS; SUPPORTS
    • F16M11/00Stands or trestles as supports for apparatus or articles placed thereon ; Stands for scientific apparatus such as gravitational force meters
    • F16M11/02Heads
    • F16M11/18Heads with mechanism for moving the apparatus relatively to the stand
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

本申请涉及扫描装置技术领域,本申请提供了一种探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法,上述探测器装置包括:支架、安装组件和调整件。安装组件与支架连接,安装组件设有探测器。调整件与支架连接,调整件设于支架背离安装组件的一侧,调整件的一部分穿设于支架,调整件用于驱动安装组件运动,以改变探测器的位置。

Description

探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法
技术领域
本申请涉及扫描装置技术领域,具体而言,涉及一种探测器装置、一种成像装置和一种成像装置的控制方法。
背景技术
在相关技术中,探测器与支架固定连接,无法调节探测器的位置,导致无法调整探测器相对于发射部和待测部件的位置,影响探测器成像的精准度。
发明内容
本申请旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
为此,本申请的第一方面提出一种探测器装置。
本申请的第二方面提出一种成像装置。
本申请的第三方面提出一种成像装置的控制方法。
有鉴于此,本申请的第一方面提供了一种探测器装置,该探测器装置包括:支架、安装组件和调整件。安装组件与支架连接,安装组件设有探测器。调整件与支架连接,调整件设于支架背离安装组件的一侧,调整件的一部分穿设于支架,调整件用于驱动安装组件运动,以改变探测器的位置。
在该技术方案中,探测器装置可以用于成像装置,示例性地,成像装置可以是工业CT装置,成像装置应用X射线的成像原理,成像装置的发射部发出X射线的锥形光束透照精密运动平台上的待检测部件,平板探测器再将X射线透照待检测部件形成的图像信号转换成易于存储和处理的数字图像,以二维断层图像或三维立体图像的形式展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况等情况,并且测量物体尺寸。
探测器装置包括支架、安装组件和调整件。安装组件与支架连接,安装组件的一侧设有探测器,支架与安装组件的另一侧连接。探测器用于接收发射部发出的X射线。调整件与支架连接,调整件设于支架背离安装组件的一侧,即调整件设于支架背离安装组件的外侧,调整件的一部分穿设于支架,调整件的一部分位于安装组件和支架之间,并能够与安装组件抵接。
如此,调整件用于驱动安装组件运动,调整件能够改变安装组件的位置,进而改变探测器的位置,使探测器的位置灵活多变,能够调整探测器相对于发射部和待测部件的位置,提高了探测器成像的精准度。
在本申请提供的一些技术方案中,可选地,安装组件包括:安装板、第一连接板和连接件。安装板与探测器连接。第一连接板与支架连接,第一连接板与安装板之间设有间隙。连接件设于安装板,连接件与第一连接板,转动连接。
在该技术方案中,安装组件包括安装板、第一连接板和连接件。安装板与探测器连接,探测器可以通过连接螺栓把合在安装板上。第一连接板位于支架和安装板之间,第一连接板与支架连接,第一连接板与安装板之间设有间隙。
连接件设于安装板,连接件与第一连接板转动连接,具体地,连接件位于安装板和第一连接板的中心位置,使安装板通过连接件与第一连接板转动连接,进而使安装板能够通过连接件调整相对于第一连接板的位置,以调节探测器的位置。
示例性地,连接件可以包括轴承芯轴、向心关节轴承,锁紧螺母和轴承压板,第一连接板设有连接孔,向心关节轴承设于连接孔中,向心关节轴承套设于轴承芯轴,使轴承芯轴通过向心关节轴承与第一连接板转动连接。锁紧螺母位于安装板和向心关节轴承之间,锁紧螺母设于向心关节轴承靠近安装板的第一面,轴承压板设于向心关节轴承靠近安装板的第二面,轴承芯轴与安装板通过连接螺栓连接。
在本申请提供的一些技术方案中,可选地,调整件包括第一调整件,支架沿第一方向的两端和/或沿第二方向的两端设有第一调整件,第一调整件设于支架沿第三方向背离安装板的一侧,第一调整件用于沿第三方向推动安装板,以调整间隙。其中,第一方向、第二方向和第三方向中任两个方向相互垂直。
在该技术方案中,调整件包括第一调整件,第一调整件设于支架沿第三方向背离安装板的一侧,即第一调整件位于支架的背面,第一调整件用于沿第三方向推动安装板,使推力作用位置处的安装板向远离第一连接板的方向运动,增大第一连接板与安装板在此处的间距,以调整第一连接板与安装板之间的间隙,安装板相对于第一连接板转动。
A处箭头指向方向为第一方向,B处箭头指向方向为第二方向,Z处箭头指向方向为第三方向,第一方向、第二方向和第三方向中任两个方向相互垂直,即第一方向为支架的左右方向,第二方向为支架的上下方向,第三方向为支架的前后方向。
沿第一方向的两端设有第一调整件,即在支架的左右两端设置第一调整件,第一调整件用于调整第一连接板与安装板左右两端沿第三方向的间距,使安装板围绕沿第二方向延伸的轴线N转动,使探测器能够围绕轴线N转动,使用户能够调整探测器沿轴线N转动的自由度。
示例性地,在左端的第一调整件推动安装板的情况下,右端的第一调整件避让安装板,第一连接板与安装板的左端间距增大,右端间距减小,使安装板绕轴线N正向转动。在右端的第一调整件推动安装板的情况下,左端的第一调整件避让安装板,第一连接板与安装板的左端间距减小,右端间距增大,使安装板绕轴线N反向转动。
沿第二方向的两端设有第一调整件,即在支架的上下两端设置第一调整件,第一调整件用于调整第一连接板与安装板上下两端沿第三方向的间距,使安装板围绕沿第一方向延伸的轴线M转动,使探测器能够围绕轴线M转动,使用户能够调整探测器沿轴线M转动的自由度。
示例性地,在上端的第一调整件推动安装板的情况下,下端的第一调整件避让安装板,第一连接板与安装板的上端间距增大,下端间距减小,使安装板绕轴线M正向转动。在下端的第一调整件推动安装板的情况下,上端的第一调整件避让安装板,第一连接板与安装板的上端间距减小,下端间距增大,使安装板绕轴线M反向转动。
在一种可能的技术方案中,第一调整件位于支架的四个侧边的夹角位置。
在本申请提供的一些技术方案中,可选地,安装组件包括支板,支板设于安装板沿第一方向或第二方向的一端。调整件还包括第二调整件。第二调整件位于支架靠近支板的一端,第二调整件用于沿第一方向或第二方向推动支板,第二调整件对支板的推力作用线与连接件的转动轴线之间设有间距,使安装板绕沿第三方向延伸的轴线转动。
在该技术方案中,安装组件包括支板,支板向靠近第一连接板的方向延伸,支板可以与第一连接板垂直设置,支板设于安装板沿第一方向或所述第二方向的一端,即支板可以与安装板的左/右/上/下端连接。调整件还包括第二调整件,第二调整件位于支架与支板相对应的一端,第二调整件位于支架靠近支板的一端,示例性地,在支板位于安装板左端的情况下,第二调节件设置于支架的左端。
第二调整件用于沿第一方向或第二方向推动支板,第二调整件对支板的推力方向避让连接件的转动轴线,即第二调整件对支板的推力作用线与连接件的转动轴线之间设有间距,推力在连接件上产生力矩,使安装板在受到推力的情况下,连接件能够转动,使安装板绕沿第三方向延伸的轴线P转动,进而使探测器能够围绕轴线P转动,使用户能够调整探测器沿轴线P转动的自由度。
在一种可能的技术方案中,支板设于安装板沿第一方向的一端,第二调整件设于支架沿第一方向的一端,即第二调整件设于支架的左端或右端,第二调整件用于沿第一方向推动支板,安装板受到沿第一方向的推力,进而使安装板绕沿第三方向延伸的轴线P转动。
示例性地,支板可以沿第二方向延伸,第二调整件可以沿第二方向间隔分布,即第二调整件沿上下方向间隔分布。在上端的第二调整件推动支板的情况下,下端的第二调整件避让支板,使安装板绕轴线P正向转动。在下端的第二调整件推动支板的情况下,上端的第二调整件避让支板,使安装板绕轴线P反向转动。
在另一种可能的技术方案中,支板设于安装板沿第二方向的一端,第二调整件设于支架沿第二方向的一端,即第二调整件设于支架的上端或下端,第二调整件用于沿第二方向推动支板,安装板受到沿第二方向的推力,使安装板绕沿第三方向延伸的轴线P转动。
示例性地,支板可以沿第一方向延伸,第二调整件可以沿第一方向间隔分布,即第二调整件沿左右方向间隔分布。在右端的第二调整件推动支板的情况下,左端的第二调整件避让支板,使安装板绕轴线P正向转动。在左端的第二调整件推动支板的情况下,右端的第二调整件避让支板,使安装板绕轴线P反向转动。
在一种可能的技术方案中,支板的数量可以为多个,多个支板可以设于安装板沿第一方向或第二方向的两端,多个第二调整件可以设于支架沿第一方向或第二方向的两端。
在本申请提供的一些技术方案中,可选地,调整件还包括第三调整件,第三调整件设于支架沿第二方向的两端,第三调整件用于沿第二方向推动第一连接板。
在该技术方案中,调整件还包括第三调整件,第三调整件设于支架沿第二方向的两端,即第三调整件设于支架上下两端,第三调整件用于沿第二方向推动第一连接板,第一连接板与支架滑动连接。具体地,第一连接板设有第一滑块,支架设有第一导轨,第一导轨沿第二方向延伸,第一滑块能够沿第一导轨滑动,使第一连接板沿第二方向移动。安装板跟随第一连接板沿第二方向移动,进而使探测器沿第二方向移动,使用户能够调整探测器沿第二方向移动的自由度。
示例性地,在上端的第三调整件推动第一连接板的情况下,下端的第三调整件避让第一连接板,使第一连接板沿背离第二方向移动。在下端的第三调整件推动第一连接板的情况下,上端的第三调整件避让第一连接板,使第一连接板朝向第二方向移动。
在本申请提供的一些技术方案中,可选地,安装组件还包括第二连接板,第二连接板连接第一连接板和支架。调整件还包括第四调整件,第四调整件设于支架沿第一方向的两端,第四调整件用于沿第一方向推动第二连接板。
在该技术方案中,安装组件还包括第二连接板,第二连接板位于第一连接板和支架之间,第二连接板连接第一连接板和支架。调整件还包括第四调整件,第四调整件设于支架沿第一方向的两端,即第四调整件设于支架左右两端,第四调整件用于沿第一方向推动第二连接板,第二连接板与支架滑动连接。具体地,第二连接板设有第二滑块,支架设有第二导轨,第二导轨沿第一方向延伸,第二滑块能够沿第二导轨滑动,使第二连接板沿第一方向移动。第一连接板跟随第二连接板沿第一方向移动,安装板跟随第一连接板沿第一方向移动,进而使探测器沿第一方向移动,使用户能够调整探测器沿第一方向移动的自由度。
示例性地,在右端的第四调整件推动第二连接板的情况下,左端的第四调整件避让第二连接板,使第二连接板沿背离第一方向移动。在左端的第四调整件推动第二连接板的情况下,右端的第四调整件避让第二连接板,使第二连接板朝向第一方向移动。
在一种可能的技术方案中,第一导轨可以设置在第二连接板上。
在本申请提供的一些技术方案中,可选地,调整件还包括:架体、调节杆和驱动件。架体与支架连接。调节杆穿设于支架并与支架连接,调节杆的第一端用于推动安装组件。驱动件设于架体,驱动件与调节杆的第二端连接,驱动件用于驱动调节杆转动,使调节杆的第一端推动或避让安装组件。
在该技术方案中,调整件还包括架体、调节杆和驱动件。架体与支架连接,具体地,架体设有安装孔,连接螺栓穿设于安装孔与支架连接。调节杆穿设于支架并与支架连接,具体地,调节杆可以为螺纹杆,支架设有螺纹孔,调节杆穿设于螺纹孔。示例性地,调节杆可以为细牙调节螺杆。
调节杆的第一端在架体的内侧,即第一端位于架体靠近安装组件的一侧,第一端用于推动安装组件。驱动件设于架体,示例性地,驱动件可以是伺服电机。驱动件与调节杆的第二端连接,具体地,调节杆设有中心孔,驱动件设有驱动轴,中心孔的形状为多边形,并且中心孔与驱动件的形状相适配,驱动轴插接于中心孔中以驱动调节杆转动,使调节杆的第一端向靠近或远离安装组件的方向运动,使调节杆的第一端推动或避让安装组件,调节杆能够改变安装组件的位置,进而改变探测器的位置,提高了探测器成像的精准度。
示例性地,在调节杆的第一端抵接到安装组件的情况下,驱动件正转,使调节杆跟随驱动件正转,调节杆向伸入支架的方向运动,使调节杆的第二端向远离驱动件的方向运动,并且调节杆保持与驱动件的连接状态,调节杆的第一端向靠近安装组件的方向运动,进而使调节杆推动安装组件。在驱动件反转的情况下,调节杆跟随驱动件反转,调节杆向退出支架的方向运动,使调节杆的第二端向靠近驱动件的方向运动,调节杆的第一端向远离安装组件的方向运动,进而使调节杆避让安装组件。
需要说明的是,第一调整件、第二调整件、第三调整件、第四调整件的结构相同,都包括架体、调节杆和驱动件。
在本申请提供的一些技术方案中,可选地,调整件还包括限位件,限位件与调节杆连接,限位件位于支架和驱动件之间。
在该技术方案中,调整件还包括限位件,限位件与调节杆连接,限位件位于支架和驱动件之间,即限位件位于支架的外侧,限制调节杆的第一端与支架之间的距离,避免调节杆伸入支架的深度超出许可范围。
需要说明的是,在探测器装置调试完成后,操作人员需要将调整件拆卸下来,并安装到另一台待调试的探测器装置。在拆装调节件的情况下,调节杆保留在原探测器装置上,操作人员只需对驱动件和架体进行拆装,避免了调节杆的拆装,简化调节件的拆装步骤。操作人员通过调整限位件的位置使限位件与架体抵接,进而使调节杆紧固在原探测器装置的架体上,避免调节杆脱落。示例性地,限位件可以是锁紧螺母。
在本申请的第二方面技术方案提供了一种成像装置,该成像装置包括发射部、基座和本申请上述任一个第一方面技术方案提供的探测器装置,发射部用于向目标检测物发射探测光线。探测器装置用于接收探测光线并生成目标检测物的图像信息。发射部和探测器装置分别与基座连接,目标检测物设于发射部和探测器装置之间。
在该技术方案中,成像装置包括发射部、基座和探测器装置,发射部用于向目标检测物发射探测光线,具体地,探测光线可以为X光线。探测器装置用于接收探测光线,并根据探测光线生成目标检测物的图像信息。
发射部和探测器装置分别与基座连接,目标检测物设于发射部和探测器装置之间。示例性地,基座包括转台,目标检测物放置在转台上。
在一种可能的技术方案中,成像装置还包括处理器,示例性地,处理器可以是计算机。处理器能够与探测器装置通信连接,具体地,处理器可以与驱动件通信连接,使处理器能够控制调整件驱动安装组件运动,以改变探测器的位置,提高探测器的精准度。
需要说明的是,成像装置因包括本申请上述任一个技术方案提供的探测器装置因而具有上述探测器装置的全部有益技术效果,为避免重复,此处不予赘述。
在本申请的第三方面技术方案提供了一种成像装置的控制方法,用于控制本申请上述任一个第二方面技术方案提供的成像装置,该成像装置的控制方法包括:控制发射部向测试体发射探测光线。在探测器装置接收到探测光线的情况下,控制探测器装置根据探测光线生成测试体的测试图像,测试图像包括测试参数。获取标准图像的预设参数。获取测试参数和预设参数的差值。在差值大于许可阈值的情况下,控制探测器装置根据差值调整探测器的位置。
在该技术方案中,获取预设的测试体,控制发射部向测试体发射探测光线,在探测器装置接收到探测光线的情况下,控制探测器装置根据探测光线生成测试体的测试图像,测试图像包括测试参数,测试参数为当前探测器装置根据测试体生成的测试图像的图像信息,示例性地,测试参数可以为图像的长度、宽度和图形的角度等。
获取标准图像的预设参数,预设参数为基于测试体获取的标准图像的图像信息,示例性地,预设参数可以为标准图像的标准长度、标准宽度和图形的标准角度等。
获取测试参数和预设参数的差值,在差值小于等于许可阈值的情况下,判断成像装置合格。在差值大于许可阈值的情况下,判断成像装置不合格,控制探测器装置根据差值调整探测器的位置,并在调整成像装置后,重新获取测试体的测试图像进行检验。
如此,实现探测器位置的自动调整,提高了探测器的精准度,进而提高了成像装置的精准度。
本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1示出了本申请实施例提供的探测器装置的结构示意图之一;
图2示出了本申请实施例提供的探测器装置的结构示意图之二;
图3示出了本申请实施例提供的探测器装置的结构示意图之三;
图4示出了本申请实施例提供的探测器装置的结构示意图之四;
图5示出了本申请实施例提供的探测器装置的结构示意图之五;
图6示出了本申请实施例提供的探测器装置的结构示意图之六;
图7示出了本申请实施例提供的调整件的结构示意图之一;
图8示出了本申请实施例提供的调整件的结构示意图之二;
图9示出了本申请实施例提供的探测器装置的结构示意图之七;
图10示出了本申请实施例提供的成像装置的结构示意图;
图11示出了本申请实施例提供的成像装置的控制方法的流程示意图之一;
图12示出了本申请实施例提供的成像装置的控制方法的流程示意图之二。
其中,图1至图12中的附图标记与部件名称之间的对应关系为:
10探测器装置,100支架,200安装组件,210探测器,220安装板,230支板,240第一连接板,241第一导轨,250连接件,251轴承芯轴,252向心关节轴承,253锁紧螺母,254轴承压板,260第二连接板,261第二导轨,300调整件,310第一调整件,320第二调整件,330第三调整件,340第四调整件,350架体,360调节杆,370驱动件,380限位件,20成像装置,30发射部,40基座,41转台,50目标检测物。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本申请的上述目的、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本申请进行进一步的详细描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请,但是,本申请还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施,因此,本申请的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
下面参照图1至图12描述根据本申请一些实施例的探测器装置10、成像装置20和成像装置的控制方法。
本申请的第一方面实施例提供了一种探测器装置10,如图1、图2、图3、图4和图9所示,该探测器装置10包括:支架100、安装组件200和调整件300。安装组件200与支架100连接,安装组件200设有探测器210。调整件300与支架100连接,调整件300设于支架100背离安装组件200的一侧,调整件300的一部分穿设于支架100,调整件300用于驱动安装组件200运动,以改变探测器210的位置。
在该实施例中,探测器装置10可以用于成像装置20,示例性地,成像装置20可以是工业CT装置,成像装置20应用X射线的成像原理,成像装置20的发射部30发出X射线的锥形光束透照精密运动平台上的待检测部件,平板探测器210再将X射线透照待检测部件形成的图像信号转换成易于存储和处理的数字图像,以二维断层图像或三维立体图像的形式展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况等情况,并且测量物体尺寸。
探测器装置10包括支架100、安装组件200和调整件300。安装组件200与支架100连接,安装组件200的一侧设有探测器210,支架100与安装组件200的另一侧连接。探测器210用于接收发射部30发出的X射线。调整件300与支架100连接,调整件300设于支架100背离安装组件200的一侧,即调整件300设于支架100背离安装组件200的外侧,调整件300的一部分穿设于支架100,调整件300的一部分位于安装组件200和支架100之间,并能够与安装组件200抵接。
如此,调整件300用于驱动安装组件200运动,调整件300能够改变安装组件200的位置,进而改变探测器210的位置,使探测器210的位置灵活多变,能够调整探测器210相对于发射部30和待测部件的位置,提高了探测器210成像的精准度。
在本申请提供的一些实施例中,如图2、图4和图9所示,可选地,安装组件200包括:安装板220、第一连接板240和连接件250。安装板220与探测器210连接。第一连接板240与支架100连接,第一连接板240与安装板220之间设有间隙。连接件250设于安装板220,连接件250与第一连接板240,转动连接。
在该实施例中,安装组件200包括安装板220、第一连接板240和连接件250。安装板220与探测器210连接,探测器210可以通过连接螺栓把合在安装板220上。第一连接板240位于支架100和安装板220之间,第一连接板240与支架100连接,第一连接板240与安装板220之间设有间隙。
连接件250设于安装板220,连接件250与第一连接板240转动连接,具体地,连接件250位于安装板220和第一连接板240的中心位置,使安装板220通过连接件250与第一连接板240转动连接,进而使安装板220能够通过连接件250调整相对于第一连接板240的位置,以调节探测器210的位置。
示例性地,连接件250可以包括轴承芯轴251、向心关节轴承252,锁紧螺母253和轴承压板254,第一连接板240设有连接孔,向心关节轴承252设于连接孔中,向心关节轴承252套设于轴承芯轴251,使轴承芯轴251通过向心关节轴承252与第一连接板240转动连接。锁紧螺母253位于安装板220和向心关节轴承252之间,锁紧螺母253设于向心关节轴承252靠近安装板220的第一面,轴承压板254设于向心关节轴承252靠近安装板220的第二面,轴承芯轴251与安装板220通过连接螺栓连接。
在本申请提供的一些实施例中,如图1、图3、图5、图6和图9所示,可选地,调整件300包括第一调整件310,支架100沿第一方向的两端和/或沿第二方向的两端设有第一调整件310,第一调整件310设于支架100沿第三方向背离安装板220的一侧,第一调整件310用于沿第三方向推动安装板220,以调整间隙。其中,第一方向、第二方向和第三方向中任两个方向相互垂直。
在该实施例中,调整件300包括第一调整件310,第一调整件310设于支架100沿第三方向背离安装板220的一侧,即第一调整件310位于支架100的背面,第一调整件310用于沿第三方向推动安装板220,使推力作用位置处的安装板220向远离第一连接板240的方向运动,增大第一连接板240与安装板220在此处的间距,以调整第一连接板240与安装板220之间的间隙,安装板220相对于第一连接板240转动。
如图1和图2所示,A处箭头指向方向为第一方向,B处箭头指向方向为第二方向, Z处箭头指向方向为第三方向,第一方向、第二方向和第三方向中任两个方向相互垂直,即第一方向为支架100的左右方向,第二方向为支架100的上下方向,第三方向为支架100的前后方向。
沿第一方向的两端设有第一调整件310,即在支架100的左右两端设置第一调整件310,第一调整件310用于调整第一连接板240与安装板220左右两端沿第三方向的间距,使安装板220围绕沿第二方向延伸的轴线N转动,使探测器210能够围绕轴线N转动,使用户能够调整探测器210沿轴线N转动的自由度。
示例性地,在左端的第一调整件310推动安装板220的情况下,右端的第一调整件310避让安装板220,第一连接板240与安装板220的左端间距增大,右端间距减小,使安装板220绕轴线N正向转动。在右端的第一调整件310推动安装板220的情况下,左端的第一调整件310避让安装板220,第一连接板240与安装板220的左端间距减小,右端间距增大,使安装板220绕轴线N反向转动。
沿第二方向的两端设有第一调整件310,即在支架100的上下两端设置第一调整件310,第一调整件310用于调整第一连接板240与安装板220上下两端沿第三方向的间距,使安装板220围绕沿第一方向延伸的轴线M转动,使探测器210能够围绕轴线M转动,使用户能够调整探测器210沿轴线M转动的自由度。
示例性地,在上端的第一调整件310推动安装板220的情况下,下端的第一调整件310避让安装板220,第一连接板240与安装板220的上端间距增大,下端间距减小,使安装板220绕轴线M正向转动。在下端的第一调整件310推动安装板220的情况下,上端的第一调整件310避让安装板220,第一连接板240与安装板220的上端间距减小,下端间距增大,使安装板220绕轴线M反向转动。
在一种可能的实施例中,第一调整件310位于支架100的四个侧边的夹角位置。
在本申请提供的一些实施例中,如图2和图9所示,可选地,安装组件200包括支板230,支板230设于安装板220沿第一方向或第二方向的一端。调整件300还包括第二调整件320。第二调整件320位于支架100靠近支板230的一端,第二调整件320用于沿第一方向或第二方向推动支板230,第二调整件320对支板230的推力作用线与连接件250的转动轴线之间设有间距,使安装板220绕沿第三方向延伸的轴线转动。
在该实施例中,安装组件200包括支板230,支板230向靠近第一连接板240的方向延伸,支板230可以与第一连接板240垂直设置,支板230设于安装板220沿第一方向或所述第二方向的一端,即支板230可以与安装板220的左/右/上/下端连接。调整件300还包括第二调整件320,第二调整件320位于支架100与支板230相对应的一端,第二调整件320位于支架100靠近支板230的一端,示例性地,在支板230位于安装板220左端的情况下,第二调节件设置于支架100的左端。
第二调整件320用于沿第一方向或第二方向推动支板230,第二调整件320对支板230的推力方向避让连接件250的转动轴线,即第二调整件320对支板230的推力作用线与连接件250的转动轴线之间设有间距,推力在连接件250上产生力矩,使安装板220在受到推力的情况下,连接件250能够转动,使安装板220绕沿第三方向延伸的轴线P转动,进而使探测器210能够围绕轴线P转动,使用户能够调整探测器210沿轴线P转动的自由度。
在一种可能的实施例中,支板230设于安装板220沿第一方向的一端,第二调整件320设于支架100沿第一方向的一端,即第二调整件320设于支架100的左端或右端,第二调整件320用于沿第一方向推动支板230,安装板220受到沿第一方向的推力,进而使安装板220绕沿第三方向延伸的轴线P转动。
示例性地,支板230可以沿第二方向延伸,第二调整件320可以沿第二方向间隔分布,即第二调整件320沿上下方向间隔分布。在上端的第二调整件320推动支板230的情况下,下端的第二调整件320避让支板230,使安装板220绕轴线P正向转动。在下端的第二调整件320推动支板230的情况下,上端的第二调整件320避让支板230,使安装板220绕轴线P反向转动。
在另一种可能的实施例中,支板230设于安装板220沿第二方向的一端,第二调整件320设于支架100沿第二方向的一端,即第二调整件320设于支架100的上端或下端,第二调整件320用于沿第二方向推动支板230,安装板220受到沿第二方向的推力,使安装板220绕沿第三方向延伸的轴线P转动。
示例性地,支板230可以沿第一方向延伸,第二调整件320可以沿第一方向间隔分布,即第二调整件320沿左右方向间隔分布。在右端的第二调整件320推动支板230的情况下,左端的第二调整件320避让支板230,使安装板220绕轴线P正向转动。在左端的第二调整件320推动支板230的情况下,右端的第二调整件320避让支板230,使安装板220绕轴线P反向转动。
在一种可能的实施例中,支板230的数量可以为多个,多个支板230可以设于安装板220沿第一方向或第二方向的两端,多个第二调整件320可以设于支架100沿第一方向或第二方向的两端。
在本申请提供的一些实施例中,如图1、图3、图4、图5、图6和图9所示,可选地,调整件300还包括第三调整件330,第三调整件330设于支架100沿第二方向的两端,第三调整件330用于沿第二方向推动第一连接板240。
在该实施例中,调整件300还包括第三调整件330,第三调整件330设于支架100沿第二方向的两端,即第三调整件330设于支架100上下两端,第三调整件330用于沿第二方向推动第一连接板240,第一连接板240与支架100滑动连接。具体地,第一连接板240设有第一滑块,支架100设有第一导轨241,第一导轨241沿第二方向延伸,第一滑块能够沿第一导轨241滑动,使第一连接板240沿第二方向移动。安装板220跟随第一连接板240沿第二方向移动,进而使探测器210沿第二方向移动,使用户能够调整探测器210沿第二方向移动的自由度。
示例性地,在上端的第三调整件330推动第一连接板240的情况下,下端的第三调整件330避让第一连接板240,使第一连接板240沿背离第二方向移动。在下端的第三调整件330推动第一连接板240的情况下,上端的第三调整件330避让第一连接板240,使第一连接板240朝向第二方向移动。
在本申请提供的一些实施例中,如图2、图4和图9所示,可选地,安装组件200还包括第二连接板260,第二连接板260连接第一连接板240和支架100。调整件300还包括第四调整件340,第四调整件340设于支架100沿第一方向的两端,第四调整件340用于沿第一方向推动第二连接板260。
在该实施例中,安装组件200还包括第二连接板260,第二连接板260位于第一连接板240和支架100之间,第二连接板260连接第一连接板240和支架100。调整件300还包括第四调整件340,第四调整件340设于支架100沿第一方向的两端,即第四调整件340设于支架100左右两端,第四调整件340用于沿第一方向推动第二连接板260,第二连接板260与支架100滑动连接。具体地,第二连接板260设有第二滑块,支架100设有第二导轨261,第二导轨261沿第一方向延伸,第二滑块能够沿第二导轨261滑动,使第二连接板260沿第一方向移动。第一连接板240跟随第二连接板260沿第一方向移动,安装板220跟随第一连接板240沿第一方向移动,进而使探测器210沿第一方向移动,使用户能够调整探测器210沿第一方向移动的自由度。
示例性地,在右端的第四调整件340推动第二连接板260的情况下,左端的第四调整件340避让第二连接板260,使第二连接板260沿背离第一方向移动。在左端的第四调整件340推动第二连接板260的情况下,右端的第四调整件340避让第二连接板260,使第二连接板260朝向第一方向移动。
在一种可能的实施例中,第一导轨241可以设置在第二连接板260上。
在本申请提供的一些实施例中,如图7和图8所示,可选地,调整件300还包括:架体350、调节杆360和驱动件370。架体350与支架100连接。调节杆360穿设于支架100并与支架100连接,调节杆360的第一端用于推动安装组件200。驱动件370设于架体350,驱动件370与调节杆360的第二端连接,驱动件370用于驱动调节杆360转动,使调节杆360的第一端推动或避让安装组件200。
在该实施例中,调整件300还包括架体350、调节杆360和驱动件370。架体350与支架100连接,具体地,架体350设有安装孔,连接螺栓穿设于安装孔与支架100连接。调节杆360穿设于支架100并与支架100连接,具体地,调节杆360可以为螺纹杆,支架100设有螺纹孔,调节杆360穿设于螺纹孔。示例性地,调节杆360可以为细牙调节螺杆。
调节杆360的第一端在架体350的内侧,即第一端位于架体350靠近安装组件200的一侧,第一端用于推动安装组件200。驱动件370设于架体350,示例性地,驱动件370可以是伺服电机。驱动件370与调节杆360的第二端连接,具体地,调节杆360设有中心孔,驱动件370设有驱动轴,中心孔的形状为多边形,并且中心孔与驱动件370的形状相适配,驱动轴插接于中心孔中以驱动调节杆360转动,使调节杆360的第一端向靠近或远离安装组件200的方向运动,使调节杆360的第一端推动或避让安装组件200,调节杆360能够改变安装组件200的位置,进而改变探测器210的位置,提高了探测器210成像的精准度。
示例性地,在调节杆360的第一端抵接到安装组件200的情况下,驱动件370正转,使调节杆360跟随驱动件370正转,调节杆360向伸入支架100的方向运动,使调节杆360的第二端向远离驱动件370的方向运动,并且调节杆360保持与驱动件370的连接状态,调节杆360的第一端向靠近安装组件200的方向运动,进而使调节杆360推动安装组件200。在驱动件370反转的情况下,调节杆360跟随驱动件370反转,调节杆360向退出支架100的方向运动,使调节杆360的第二端向靠近驱动件370的方向运动,调节杆360的第一端向远离安装组件200的方向运动,进而使调节杆360避让安装组件200。
需要说明的是,第一调整件310、第二调整件320、第三调整件330、第四调整件340的结构相同,都包括架体350、调节杆360和驱动件370。
在本申请提供的一些实施例中,如图7和图8所示,可选地,调整件300还包括限位件380,限位件380与调节杆360连接,限位件380位于支架100和驱动件370之间。
在该实施例中,调整件300还包括限位件380,限位件380与调节杆360连接,限位件380位于支架100和驱动件370之间,即限位件380位于支架100的外侧,限制调节杆360的第一端与支架100之间的距离,避免调节杆360伸入支架100的深度超出许可范围。
需要说明的是,在探测器装置10调试完成后,操作人员需要将调整件300拆卸下来,并安装到另一台待调试的探测器装置10。在拆装调节件的情况下,调节杆360保留在原探测器装置10上,操作人员只需对驱动件370和架体350进行拆装,避免了调节杆360的拆装,简化调节件的拆装步骤。操作人员通过调整限位件380的位置使限位件380与架体350抵接,进而使调节杆360紧固在原探测器装置10的架体350上,避免调节杆360脱落。示例性地,限位件380可以是锁紧螺母253。
在本申请的第二方面实施例提供了一种成像装置20,如图10所示,该成像装置20包括发射部30、基座40和本申请上述任一个第一方面实施例提供的探测器装置10,发射部30用于向目标检测物50发射探测光线。探测器装置10用于接收探测光线并生成目标检测物50的图像信息。发射部30和探测器装置10分别与基座40连接,目标检测物50设于发射部30和探测器装置10之间。
在该实施例中,成像装置20包括发射部30、基座40和探测器装置10,发射部30用于向目标检测物50发射探测光线,具体地,探测光线可以为X光线。探测器装置10用于接收探测光线,并根据探测光线生成目标检测物50的图像信息。
发射部30和探测器装置10分别与基座40连接,目标检测物50设于发射部30和探测器装置10之间。示例性地,基座40包括转台41,目标检测物50放置在转台41上。
在一种可能的实施例中,成像装置20还包括处理器,示例性地,处理器可以是计算机。处理器能够与探测器装置10通信连接,具体地,处理器可以与驱动件370通信连接,使处理器能够控制调整件300驱动安装组件200运动,以改变探测器210的位置,提高探测器210的精准度。
需要说明的是,成像装置20因包括本申请上述任一个实施例提供的探测器装置10因而具有上述探测器装置10的全部有益技术效果,为避免重复,此处不予赘述。
在本申请的第三方面实施例提供了一种成像装置的控制方法,如图11所示,用于控制本申请上述任一个第二方面实施例提供的成像装置,该成像装置的控制方法包括:
步骤102,控制发射部向测试体发射探测光线。
步骤104,在探测器装置接收到探测光线的情况下,控制探测器装置根据探测光线生成测试体的测试图像,测试图像包括测试参数。
步骤106,获取标准图像的预设参数。
步骤108,获取测试参数和预设参数的差值。
步骤110,在差值大于许可阈值的情况下,控制探测器装置根据差值调整探测器的位置。
在该实施例中,获取预设的测试体,控制发射部向测试体发射探测光线,在探测器装置接收到探测光线的情况下,控制探测器装置根据探测光线生成测试体的测试图像,测试图像包括测试参数,测试参数为当前探测器装置根据测试体生成的测试图像的图像信息,示例性地,测试参数可以为图像的长度、宽度和图形的角度等。
获取标准图像的预设参数,预设参数为基于测试体获取的标准图像的图像信息,示例性地,预设参数可以为标准图像的标准长度、标准宽度和图形的标准角度等。
获取测试参数和预设参数的差值,在差值小于等于许可阈值的情况下,判断成像装置合格。在差值大于许可阈值的情况下,判断成像装置不合格,控制探测器装置根据差值调整探测器的位置,并在调整成像装置后,重新获取测试体的测试图像进行检验。
如此,实现探测器位置的自动调整,提高了探测器的精准度,进而提高了成像装置的精准度。
在一种可能的实施例中,如图12所示,发射部发射探测光线,探测器装置接收探测光线并生成测试体图像,处理器根据测试体图像分析探测器装置五个自由度成像误差,在成像误差超标的情况下,处理器确认探测器装置五个自由度调整量,处理器控制驱动件运动,并再次发射探测光线,校核成像误差,直至成像误差达标,探测器装置调试完成。
在本申请的权利要求书、说明书和说明书附图中,术语“多个”则指两个或两个以上,除非有额外的明确限定,术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了更方便地描述本申请和使得描述过程更加简便,而不是为了指示或暗示所指的装置或元件必须具有所描述的特定方位、以特定方位构造和操作,因此这些描述不能理解为对本申请的限制;术语“连接”、“安装”、“固定”等均应做广义理解,举例来说,“连接”可以是多个对象之间的固定连接,也可以是多个对象之间的可拆卸连接,或一体地连接;可以是多个对象之间的直接相连,也可以是多个对象之间的通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据上述数据地具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请的权利要求书、说明书和说明书附图中,术语“一个实施例”、“一些实施例”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本申请的权利要求书、说明书和说明书附图中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且,描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已,并不用于限制本申请,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种探测器装置,其特征在于,包括:
支架;
安装组件,与所述支架连接,所述安装组件设有探测器;
调整件,与所述支架连接,所述调整件设于所述支架背离所述安装组件的一侧,所述调整件的一部分穿设于所述支架,所述调整件用于驱动所述安装组件运动,以改变所述探测器的位置;
所述安装组件包括:
安装板,与所述探测器连接;
第一连接板,与所述支架连接,所述第一连接板与所述安装板之间设有间隙;
连接件,设于所述安装板,所述连接件与所述第一连接板转动连接;
所述调整件包括:
第一调整件,所述支架沿第一方向的两端和/或沿第二方向的两端设有所述第一调整件,所述第一调整件设于所述支架沿第三方向背离所述安装板的一侧,所述第一调整件用于沿所述第三方向推动所述安装板,以调整所述间隙;
其中,所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向中任两个方向相互垂直;
所述安装组件还包括支板,支板设于所述安装板沿所述第一方向或所述第二方向的一端;
所述调整件还包括:
第二调整件,位于所述支架靠近所述支板的一端,所述第二调整件用于沿所述第一方向或所述第二方向推动所述支板,所述第二调整件对所述支板的推力作用线与所述连接件的转动轴线之间设有间距,使所述安装板绕沿第三方向延伸的轴线转动。
2.根据权利要求1所述的探测器装置,其特征在于,所述调整件还包括:
第三调整件,设于所述支架沿第二方向的两端,所述第三调整件用于沿所述第二方向推动所述第一连接板。
3.根据权利要求1所述的探测器装置,其特征在于,
所述安装组件还包括:
第二连接板,连接所述第一连接板和所述支架;
所述调整件还包括:
第四调整件,设于所述支架沿第一方向的两端,所述第四调整件用于沿所述第一方向推动所述第二连接板。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的探测器装置,其特征在于,所述调整件还包括:
架体,与所述支架连接;
调节杆,穿设于所述支架并与所述支架连接,所述调节杆的第一端用于推动所述安装组件;
驱动件,设于所述架体,所述驱动件与所述调节杆的第二端连接,所述驱动件用于驱动所述调节杆转动,使所述调节杆的第一端推动或避让所述安装组件。
5.根据权利要求4所述的探测器装置,其特征在于,所述调整件还包括:
限位件,与所述调节杆连接,所述限位件位于所述支架和所述驱动件之间。
6.一种成像装置,其特征在于,该成像装置包括:
发射部,用于向目标检测物发射探测光线;
如权利要求1至5中任一项所述的探测器装置,用于接收所述探测光线并生成所述目标检测物的图像信息;
基座,所述发射部和所述探测器装置分别与所述基座连接,所述目标检测物设于所述发射部和所述探测器装置之间。
7.一种成像装置的控制方法,其特征在于,用于控制如权利要求6所述的成像装置,所述成像装置的控制方法包括:
控制发射部向测试体发射探测光线;
在所述探测器装置接收到所述探测光线的情况下,控制所述探测器装置根据所述探测光线生成所述测试体的测试图像,所述测试图像包括测试参数;
获取标准图像的预设参数;
获取所述测试参数和所述预设参数的差值;
在所述差值大于许可阈值的情况下,控制探测器装置根据所述差值调整所述探测器的位置。
CN202410001408.4A 2024-01-02 2024-01-02 探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法 Active CN117489932B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202410001408.4A CN117489932B (zh) 2024-01-02 2024-01-02 探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202410001408.4A CN117489932B (zh) 2024-01-02 2024-01-02 探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN117489932A CN117489932A (zh) 2024-02-02
CN117489932B true CN117489932B (zh) 2024-03-19

Family

ID=89683331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202410001408.4A Active CN117489932B (zh) 2024-01-02 2024-01-02 探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117489932B (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102928206A (zh) * 2012-11-22 2013-02-13 清华大学深圳研究生院 裸眼3d显示图像源和显示设备综合测试系统及测试方法
CN209495983U (zh) * 2018-12-19 2019-10-15 许昌瑞示电子科技有限公司 一种辐射成像系统及其设备舱和辐射源安装组件
CN111665270A (zh) * 2020-06-22 2020-09-15 山西北方兴安化学工业有限公司 一种可精确调整的自动螺旋ct检测装置
CN217645239U (zh) * 2022-05-20 2022-10-25 上海联影医疗科技股份有限公司 位姿调整装置及医学成像系统
CN218381319U (zh) * 2022-11-15 2023-01-24 合肥师范学院 一种信号探测装置可调整倾斜角度的安装平台
CN218601187U (zh) * 2022-08-30 2023-03-10 奕瑞影像科技成都有限公司 一种锥形束ct成像装置
CN116616805A (zh) * 2023-05-12 2023-08-22 湖南大学 一种医学成像装置
CN219625399U (zh) * 2023-03-27 2023-09-01 苏州创影精密仪器有限公司 一种工业ct成像装置
CN117129494A (zh) * 2023-08-25 2023-11-28 杭州睿影科技有限公司 电池检测设备及电池检测方法
CN117169257A (zh) * 2023-11-01 2023-12-05 上海超群检测科技股份有限公司 X射线成像装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102928206A (zh) * 2012-11-22 2013-02-13 清华大学深圳研究生院 裸眼3d显示图像源和显示设备综合测试系统及测试方法
CN209495983U (zh) * 2018-12-19 2019-10-15 许昌瑞示电子科技有限公司 一种辐射成像系统及其设备舱和辐射源安装组件
CN111665270A (zh) * 2020-06-22 2020-09-15 山西北方兴安化学工业有限公司 一种可精确调整的自动螺旋ct检测装置
CN217645239U (zh) * 2022-05-20 2022-10-25 上海联影医疗科技股份有限公司 位姿调整装置及医学成像系统
CN218601187U (zh) * 2022-08-30 2023-03-10 奕瑞影像科技成都有限公司 一种锥形束ct成像装置
CN218381319U (zh) * 2022-11-15 2023-01-24 合肥师范学院 一种信号探测装置可调整倾斜角度的安装平台
CN219625399U (zh) * 2023-03-27 2023-09-01 苏州创影精密仪器有限公司 一种工业ct成像装置
CN116616805A (zh) * 2023-05-12 2023-08-22 湖南大学 一种医学成像装置
CN117129494A (zh) * 2023-08-25 2023-11-28 杭州睿影科技有限公司 电池检测设备及电池检测方法
CN117169257A (zh) * 2023-11-01 2023-12-05 上海超群检测科技股份有限公司 X射线成像装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN117489932A (zh) 2024-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107450599B (zh) 旋转台系统和识别平台的取向的方法
US9518817B2 (en) Inner diameter measuring device
KR101685422B1 (ko) 촬상 장치 지지용 조립체
DE102010005993B4 (de) Laserscanner-Einrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen berührungslosen Umgebungserfassung mit einer Laserscanner-Einrichtung
US8291607B2 (en) Goniometric positioning system
EP2795252A1 (de) Laserbasiertes koordinatenmessgerät mit einer fest-los-lager-vorrichtung
CN117489932B (zh) 探测器装置、成像装置和成像装置的控制方法
US9360650B2 (en) Laser alignment device with a movable mirror, laser-target alignment sensor with movable mirrors and laser alignment method
US5657498A (en) Methods and apparatus for acquiring table elevation information
DE69411528T2 (de) Lineartriebwerk mit Selbstantrieb
US6459770B1 (en) Backlash-resistant drive assembly for collimator in a CT scanner
CN112162450B (zh) 基于柔性导轨的空间相机偏心轴调焦机构
US7281850B2 (en) Method and apparatus for aligning a fourth generation computed tomography system
CN115389535A (zh) 扫描成像装置
CN108717204B (zh) 一种扫描成像系统及安检设备
EP2549290A1 (de) Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung und Abstandsbestimmung von Objekten
DE202011110290U1 (de) Optoelektronischer Sensor
KR102515396B1 (ko) 미세 간극 조절 기능을 가지는 라미네이팅 장치
JP2020041954A (ja) X線検査装置
US20180116616A1 (en) System and method to maintain engagement of gears for x-ray imaging system
US6195407B1 (en) Determinate positioner assembly
CN107536618B (zh) X射线成像装置及其探测器偏转机构
JP5150316B2 (ja) エックス線分析装置用支持台
CN216210169U (zh) 一种多自由度宏动微动相结合的快速反射镜系统
CN220794277U (zh) 一种可三自由度调节的激光传感器安装固定机构

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant