CN117471268B - 半导体器件测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于半导体技术领域，且公开了为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：半导体器件测试装置，包括防护外壳、NPN型三极管和显示屏，还包括：旋转组件，所述旋转组件套设于防护外壳的中部；测量组件，所述测量组件固接于防护外壳的内部。本发明通过第二铜片、第一铜片、弹性凸块和半圆槽等结构之间的配合，使得装置解决了现有方式测量NPN型三极管步骤繁琐的作用，通过旋转圆筒使弹性凸块分别卡入至不同的半圆槽中；初始时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的发射极、基极进行检测；同时测量组件将检测的数据传输到显示屏处显示，以便于读数。

Description

半导体器件测试装置及方法

技术领域

本发明属于半导体技术领域，具体是一种半导体器件测试装置及方法。

背景技术

NPN型三极管是指由两块N型半导体中间夹着一块P型半导体所组成的三极管，也称为晶体三极管，可以说它是电子电路中最重要的器件。对于功率不同的三极管来说，小、中和大功率NPN型三极管的引脚排列顺序是不同的，对于大功率三极管来说，其引脚排列顺序（如附图9所示）为B（基极）、C（集电极）和E（发射极）。通常人们在对NPN型三极管进行好坏测试时，常会通过数字万用表对其进行测试，首先（如附图11所示）将数字万用表的正极与B（基极）连接，再将数字万用表的负极分别接C（集电极）和E（发射极），当两次测试均出现压降时，此时再将将数字万用表的负极与B（基极）连接，再将数字万用表的正极分别接C（集电极）和E（发射极），此时若是数字万用表无压降时，则证明该NPN型三极管未损坏，由于上述步骤需要操作人员不断调整数字万用表的表笔与三极管引脚的接触，同时还需要观察数字万用表是否出现压降，步骤较为繁琐，因此提出一种半导体器件测试装置及方法，以解决背景技术中所提出的问题。

发明内容

为解决上述背景技术中提出的问题，本发明提供了半导体器件测试装置及方法，解决了目前对NPN型三极管的好坏测试时步骤较为繁琐的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种半导体器件测试装置，包括防护外壳、NPN型三极管和显示屏，还包括：

旋转组件，所述旋转组件套设于防护外壳的中部；

测量组件，所述测量组件固接于防护外壳的内部；

定位组件，所述定位组件设置于旋转组件顶部；

上料组件，所述上料组件活动连接于防护外壳远离测量组件一侧；

所述旋转组件包括套设于防护外壳中部的圆筒和绝缘盘，还包括：

固接于绝缘盘一侧的第一铜片和第二铜片，并且圆筒旋转时带动绝缘盘旋转；

等距离固接于防护外壳中部的连接件；

所述定位组件包括弹性连接于圆筒顶部的弹性凸块，所述防护外壳的外部开设有四个半圆槽，所述弹性凸块随圆筒旋转时，逐个与半圆槽配合；

其中，所述防护外壳的内部活动连接有支撑台用于放置NPN型三极管；

初始时，所述弹性凸块位于第一个半圆槽中，并且NPN型三极管上的基极通过连接件与第一铜片连接，所述NPN型三极管上的集电极通过另一个连接件与第二铜片连接；

所述弹性凸块随圆筒旋转卡入至第二个半圆槽中时，NPN型三极管上的基极通过连接件与第一铜片保持连接，并且NPN型三极管上的发射极通过连接件与第二铜片连接；

所述弹性凸块随圆筒旋转卡入至第三个半圆槽中时，NPN型三极管上的集电极通过连接件与第一铜片连接，并且NPN型三极管上的基极通过连接件与第二铜片连接；

所述弹性凸块随圆筒旋转卡入至第四个半圆槽中时，NPN型三极管上的发射极通过连接件与第一铜片连接，并且NPN型三极管上的基极通过连接件与第二铜片保持连接；

所述第一铜片和第二铜片分别与测量组件上的正极和负极连接。

优选地，所述测量组件包括设置于其内部的电源和测量表，所述测量组件每一次对NPN型三极管进行测量后将数据传输至显示屏处显示。

优选地，所述连接件由铜制成，其朝向上料组件一侧呈喇叭状，且具有弹性，其用于与NPN型三极管上的引脚连接。

优选地，所述绝缘盘旋转并且弹性凸块未卡入至半圆槽中时，第一铜片与第二铜片两者至多通过连接件与NPN型三极管其中一个引脚接触，所述测量组件内部电路断路，并且显示屏上无示数。

优选地，所述弹性凸块卡入至半圆槽中时，第一铜片与第二铜片均通过连接件与对应的引脚接触，所述测量组件内部电路通路。

优选地，所述防护外壳内部设置有弧形弹簧，其两端分别与圆筒和防护外壳固定连接，所述弧形弹簧用于圆筒旋转后的复位。

优选地，所述上料组件包括固接于防护外壳一端用于顶撑支撑台的弹簧杆；

铰接于防护外壳顶部的门板；

活动连接于防护外壳内部的拉绳；

弹性连接于防护外壳底部的弹性卡块；

开设于圆筒底部的卡槽；

所述门板旋转时拉动拉绳并使支撑台朝向拉绳一侧移动，并且弹性卡块受自身弹力复位卡入至卡槽中，用于对圆筒的周向限位。

优选地，所述支撑台带动其上方的NPN型三极管朝向连接件移动时，所述NPN型三极管上的引脚分别对应插入至三个连接件中。

优选地，所述支撑台朝向弹性卡块一侧移动并使其收缩至防护外壳内部，所述弹性卡块脱离卡槽内部。

半导体器件测试装置的测试方法，应用于半导体器件测试装置，其特征包括：

S1、操作人员通过上料组件将NPN型三极管上的引脚分别插入至对应的连接件中，通过操作人员旋转圆筒使弹性凸块分别卡入至不同的半圆槽中；

初始时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的基极、集电极进行检测；

弹性凸块卡入第二个半圆槽中时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的NPN型三极管上基极、发射极进行检测；

半圆槽弹性凸块卡入第三个半圆槽中时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的集电极、基极进行检测；

弧形弹簧弹性凸块卡入第四个半圆槽中时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的发射极、基极进行检测，完成操作。

与现有技术相比，本发明的有益效果如下：

本发明通过第二铜片、第一铜片、弹性凸块和半圆槽等结构之间的配合，使得装置解决了现有方式测量NPN型三极管步骤繁琐的作用，通过旋转圆筒使弹性凸块分别卡入至不同的半圆槽中；初始时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的基极、集电极进行检测；弹性凸块卡入第二个半圆槽中时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的NPN型三极管上基极、发射极进行检测；半圆槽弹性凸块卡入第三个半圆槽中时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的集电极、基极进行检测；弧形弹簧弹性凸块卡入第四个半圆槽中时，测量组件上正、负极分别对应NPN型三极管上的发射极、基极进行检测；同时测量组件将检测的数据传输到显示屏处显示，以便于人们读数；

本发明通过支撑台、门板、弧形弹簧和弹簧杆等结构之间的配合，使得装置具有便于更换待测量NPN型三极管的作用，通过旋转门板并通过拉绳拉动支撑台朝向拉绳移动，弹簧杆被压缩，此时操作人员即可过防护外壳上的开口将NPN型三极管放入至支撑台上，随后关闭门板，这时支撑台受弹簧杆弹力复位，同时NPN型三极管朝向连接件一侧移动，并使NPN型三极管引脚卡入至连接件中；

本发明通过弹性卡块、支撑台、卡槽和拉绳等结构之间的配合，使得装置具有在更换三极管时防止绝缘盘会发生转动的作用，通过支撑台朝向拉绳一侧移动时，此时弹性卡块受自身弹力也朝向拉绳移动，其底端卡入至卡槽中并对圆筒进行周向限位，以防止初始时显示屏上的数据不准确。

附图说明

图1为本发明整体结构示意图；

图2为本发明的正面剖视结构示意图；

图3为图2中A处的放大图；

图4为本发明半圆槽处的侧面剖视结构示意图；

图5为本发明上料组件处的结构示意图及绝缘盘处初始时的放大图；

图6为本发明绝缘盘第一次旋转时的结构示意图；

图7为本发明绝缘盘第二次旋转时的结构示意图；

图8为本发明绝缘盘第三次旋转时的结构示意图；

图9为NPN型三极管的平面图；

图10为本发明测量组件内的电路图；

图11为合格NPN型三极管的测试步骤示意图。

图中：100、防护外壳；200、旋转组件；201、圆筒；202、绝缘盘；203、第一铜片；204、第二铜片；205、连接件；300、测量组件；400、定位组件；401、弹性凸块；402、半圆槽；403、弧形弹簧；500、上料组件；501、支撑台；502、弹簧杆；503、拉绳；504、门板；505、弹性卡块；506、卡槽；600、NPN型三极管；700、显示屏。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1至图11所示，本发明提供半导体器件测试装置，包括防护外壳100、NPN型三极管600和显示屏700，还包括：

旋转组件200，旋转组件200套设于防护外壳100的中部；

测量组件300，测量组件300固接于防护外壳100的内部；

定位组件400，定位组件400设置于旋转组件200顶部；

上料组件500，上料组件500活动连接于防护外壳100远离测量组件300一侧；

旋转组件200包括套设于防护外壳100中部的圆筒201和绝缘盘202，还包括：

固接于绝缘盘202一侧的第一铜片203和第二铜片204，并且圆筒201旋转时带动绝缘盘202旋转；

等距离固接于防护外壳100中部的连接件205；

定位组件400包括弹性连接于圆筒201顶部的弹性凸块401，防护外壳100的外部开设有四个半圆槽402，弹性凸块401随圆筒201旋转时，逐个与半圆槽402配合；

其中，防护外壳100的内部活动连接有支撑台501用于放置NPN型三极管600；

初始时，弹性凸块401位于第一个半圆槽402中，并且NPN型三极管600上的基极通过连接件205与第一铜片203连接，NPN型三极管600上的集电极通过另一个连接件205与第二铜片204连接；

弹性凸块401随圆筒201旋转卡入至第二个半圆槽402中时，NPN型三极管600上的基极通过连接件205与第一铜片203保持连接，并且NPN型三极管600上的发射极通过连接件205与第二铜片204连接；

弹性凸块401随圆筒201旋转卡入至第三个半圆槽402中时，NPN型三极管600上的集电极通过连接件205与第一铜片203连接，并且NPN型三极管600上的基极通过连接件205与第二铜片204连接；

弹性凸块401随圆筒201旋转卡入至第四个半圆槽402中时，NPN型三极管600上的发射极通过连接件205与第一铜片203连接，并且NPN型三极管600上的基极通过连接件205与第二铜片204保持连接；

第一铜片203和第二铜片204分别与测量组件300上的正极和负极连接；

采用上述方案，通过旋转圆筒201使弹性凸块401分别卡入至不同的半圆槽402中；

初始时，如附图5所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的基极、集电极进行检测；

弹性凸块401卡入第二个半圆槽402中时，如附图6所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的NPN型三极管600上基极、发射极进行检测；

半圆槽402弹性凸块401卡入第三个半圆槽402中时，如附图7所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的集电极、基极进行检测；

弧形弹簧403弹性凸块401卡入第四个半圆槽402中时，如附图8所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的发射极、基极进行检测；

同时测量组件300将检测的数据传输到显示屏700处显示，以便于人们读数。

如图2至10所示，测量组件300包括设置于其内部的电源和测量表，测量组件300每一次对NPN型三极管600进行测量后将数据传输至显示屏700处显示；

绝缘盘202旋转并且弹性凸块401未卡入至半圆槽402中时，第一铜片203与第二铜片204两者至多通过连接件205与NPN型三极管600其中一个引脚接触，测量组件300内部电路断路，并且显示屏700上无示数；

弹性凸块401卡入至半圆槽402中时，第一铜片203与第二铜片204均通过连接件205与对应的引脚接触，测量组件300内部电路通路；

防护外壳100内部设置有弧形弹簧403，其两端分别与圆筒201和防护外壳100固定连接，弧形弹簧403用于圆筒201旋转后的复位；

采用上述方案，旋转绝缘盘202带动弹性凸块401旋转并卡入至半圆槽402中时，这时人们旋转时会感到轻微的振动杆，此时提醒人们观察显示屏700上的示数是否出现压降。

如图1、图2、图3、图5和图6所示，上料组件500包括固接于防护外壳100一端用于顶撑支撑台501的弹簧杆502；

铰接于防护外壳100顶部的门板504；

活动连接于防护外壳100内部的拉绳503；

弹性连接于防护外壳100底部的弹性卡块505；

开设于圆筒201底部的卡槽506；

门板504旋转时拉动拉绳503并使支撑台501朝向拉绳503一侧移动，并且弹性卡块505受自身弹力复位卡入至卡槽506中，用于对圆筒201的周向限位；

连接件205由铜制成，其朝向上料组件500一侧呈喇叭状，且具有弹性，其用于与NPN型三极管600上的引脚连接

支撑台501带动其上方的NPN型三极管600朝向连接件205移动时，NPN型三极管600上的引脚分别对应插入至三个连接件205中；

支撑台501朝向弹性卡块505一侧移动并使其收缩至防护外壳100内部，弹性卡块505脱离卡槽506内部；

采用上述方案，旋转门板504并通过拉绳503拉动支撑台501朝向拉绳503移动，此时弹性卡块505受自身弹力也朝向拉绳503移动，其底端卡入至卡槽506中并对圆筒201进行周向限位，同时弹簧杆502被压缩，此时操作人员即可过防护外壳100上的开口将NPN型三极管600放入至支撑台501上，随后关闭门板504，这时支撑台501受弹簧杆502弹力复位，同时NPN型三极管600朝向连接件205一侧移动，并使NPN型三极管600引脚卡入至连接件205中，同时支撑台501会挤压弹性卡块505收缩至防护外壳100内部，其底端会脱离卡槽506的卡接，此时圆筒201即可旋转。

本发明的工作原理及使用流程：

首先操作人员旋转门板504，其旋转时通过拉绳503拉动支撑台501朝向拉绳503移动，并使得弹簧杆502被压缩，此时操作人员即可过防护外壳100上的开口将NPN型三极管600放入至支撑台501上，随后关闭门板504，这时支撑台501受弹簧杆502弹力复位，同时NPN型三极管600朝向连接件205一侧移动，并使NPN型三极管600引脚卡入至连接件205中；

当支撑台501朝向拉绳503一侧移动时，此时弹性卡块505受自身弹力也朝向拉绳503移动，其底端卡入至卡槽506中并对圆筒201进行周向限位，当门板504复位时，此时支撑台501会挤压弹性卡块505收缩至防护外壳100内部，其底端会脱离卡槽506的卡接，此时圆筒201即可旋转；

随后旋转圆筒201使弹性凸块401分别卡入至不同的半圆槽402中；装置初始时，如附图5所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的基极、集电极进行检测；弹性凸块401卡入第二个半圆槽402中时，如附图6所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的NPN型三极管600上基极、发射极进行检测；半圆槽402弹性凸块401卡入第三个半圆槽402中时，如附图7所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的集电极、基极进行检测；弧形弹簧403弹性凸块401卡入第四个半圆槽402中时，如附图8所示，测量组件300上正、负极分别对应NPN型三极管600上的发射极、基极进行检测；同时测量组件300将检测的数据传输到显示屏700处显示，以便于人们读数。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种半导体器件测试装置，包括防护外壳（100）、NPN型三极管（600）和显示屏（700），其特征在于，还包括：

旋转组件（200），所述旋转组件（200）套设于防护外壳（100）的中部；

测量组件（300），所述测量组件（300）固接于防护外壳（100）的内部；

定位组件（400），所述定位组件（400）设置于旋转组件（200）顶部；

上料组件（500），所述上料组件（500）活动连接于防护外壳（100）远离测量组件（300）一侧；

所述旋转组件（200）包括套设于防护外壳（100）中部的圆筒（201）和绝缘盘（202），还包括：

固接于绝缘盘（202）一侧的第一铜片（203）和第二铜片（204），并且圆筒（201）旋转时带动绝缘盘（202）旋转；

等距离固接于防护外壳（100）中部的连接件（205）；

所述定位组件（400）包括弹性连接于圆筒（201）顶部的弹性凸块（401），所述防护外壳（100）的外部开设有四个半圆槽（402），所述弹性凸块（401）随圆筒（201）旋转时，逐个与半圆槽（402）配合；

其中，所述防护外壳（100）的内部活动连接有支撑台（501）用于放置NPN型三极管（600）；

初始时，所述弹性凸块（401）位于第一个半圆槽（402）中，并且NPN型三极管（600）上的基极通过连接件（205）与第一铜片（203）连接，所述NPN型三极管（600）上的集电极通过另一个连接件（205）与第二铜片（204）连接；

所述弹性凸块（401）随圆筒（201）旋转卡入至第二个半圆槽（402）中时，NPN型三极管（600）上的基极通过连接件（205）与第一铜片（203）保持连接，并且NPN型三极管（600）上的发射极通过连接件（205）与第二铜片（204）连接；

所述弹性凸块（401）随圆筒（201）旋转卡入至第三个半圆槽（402）中时，NPN型三极管（600）上的集电极通过连接件（205）与第一铜片（203）连接，并且NPN型三极管（600）上的基极通过连接件（205）与第二铜片（204）连接；

所述弹性凸块（401）随圆筒（201）旋转卡入至第四个半圆槽（402）中时，NPN型三极管（600）上的发射极通过连接件（205）与第一铜片（203）连接，并且NPN型三极管（600）上的基极通过连接件（205）与第二铜片（204）保持连接；

所述第一铜片（203）和第二铜片（204）分别与测量组件（300）上的正极和负极连接。

2.根据权利要求1所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述测量组件（300）包括设置于其内部的电源和测量表，所述测量组件（300）每一次对NPN型三极管（600）进行测量后将数据传输至显示屏（700）处显示。

3.根据权利要求1所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述连接件（205）由铜制成，其朝向上料组件（500）一侧呈喇叭状，且具有弹性，其用于与NPN型三极管（600）上的引脚连接。

4.根据权利要求1所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述绝缘盘（202）旋转并且弹性凸块（401）未卡入至半圆槽（402）中时，第一铜片（203）与第二铜片（204）两者至多通过连接件（205）与NPN型三极管（600）其中一个引脚接触，所述测量组件（300）内部电路断路，并且显示屏（700）上无示数。

5.根据权利要求4所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述弹性凸块（401）卡入至半圆槽（402）中时，第一铜片（203）与第二铜片（204）均通过连接件（205）与对应的引脚接触，所述测量组件（300）内部电路通路。

6.根据权利要求1所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述防护外壳（100）内部设置有弧形弹簧（403），其两端分别与圆筒（201）和防护外壳（100）固定连接，所述弧形弹簧（403）用于圆筒（201）旋转后的复位。

7.根据权利要求1所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述上料组件（500）包括固接于防护外壳（100）一端用于顶撑支撑台（501）的弹簧杆（502）；

铰接于防护外壳（100）顶部的门板（504）；

活动连接于防护外壳（100）内部的拉绳（503）；

弹性连接于防护外壳（100）底部的弹性卡块（505）；

开设于圆筒（201）底部的卡槽（506）；

所述门板（504）旋转时拉动拉绳（503）并使支撑台（501）朝向拉绳（503）一侧移动，并且弹性卡块（505）受自身弹力复位卡入至卡槽（506）中，用于对圆筒（201）的周向限位。

8.根据权利要求7所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述支撑台（501）带动其上方的NPN型三极管（600）朝向连接件（205）移动时，所述NPN型三极管（600）上的引脚分别对应插入至三个连接件（205）中。

9.根据权利要求8所述的半导体器件测试装置，其特征在于：所述支撑台（501）朝向弹性卡块（505）一侧移动并使其收缩至防护外壳（100）内部，所述弹性卡块（505）脱离卡槽（506）内部。

10.一种半导体器件的测试方法，应用于如权利要求1所述的半导体器件测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

S1、操作人员通过上料组件（500）将NPN型三极管（600）上的引脚分别插入至对应的连接件（205）中，通过操作人员旋转圆筒（201）使弹性凸块（401）分别卡入至不同的半圆槽（402）中；

初始时，测量组件（300）上正、负极分别对应NPN型三极管（600）上的基极、集电极进行检测；

弹性凸块（401）卡入第二个半圆槽（402）中时，测量组件（300）上正、负极分别对应NPN型三极管（600）上的NPN型三极管（600）上基极、发射极进行检测；

半圆槽（402）弹性凸块（401）卡入第三个半圆槽（402）中时，测量组件（300）上正、负极分别对应NPN型三极管（600）上的集电极、基极进行检测；

弧形弹簧（403）弹性凸块（401）卡入第四个半圆槽（402）中时，测量组件（300）上正、负极分别对应NPN型三极管（600）上的发射极、基极进行检测，完成操作。