CN117470497A - 一种光纤几何参数测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光纤几何参数测试技术领域，提供一种光纤几何参数测试系统及测试方法，包括光源以及沿光源光轴方向依次设置的达曼光栅、光纤夹具单元、镜头单元以及探测器，还包括与探测器连接的控制器；光纤夹具单元用于夹持多个待测光纤，多个待测光纤沿垂直于光源的光轴方向排布并形成待测光纤阵列，多个待测光纤的轴向均平行于光源的光轴方向；其中，光源发出的光束经达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个待测光纤的一端端面上，镜头单元用于对多个待测光纤的另一端端面进行成像，探测器用于采集镜头单元的成像图像并存储至控制器中，控制器通过图像处理得到待测光纤阵列的几何参数，从而实现大量光纤的批量测试。

Description

一种光纤几何参数测试系统及测试方法

技术领域

本发明涉及光纤几何参数测试技术领域，尤其涉及一种光纤几何参数测试系统及测试方法。

背景技术

随着网络的普及以及干线光缆网传输能力的不断提高，光纤接入网已成为光通信发展的重点之一，对光纤的质量检测也日益重要，而光纤的几何尺寸测试是光纤质量检测的重要测试内容之一。

目前，对光纤几何参数测试方式是用光纤夹具夹持被测光纤试样，并使被测光纤试样处于平直状态，在被测光纤试样的一端设置照明光源，用物镜测试被测光纤试样的另一端端面并成像，由摄像头拍摄物镜的成像图像并输送给控制器，由控制器根据摄像头拍摄到的图像计算获得被测光纤试样的几何尺寸。但是，这种测试方式一次只能进行一根光纤的几何参数测试，不具备光纤几何参数的批量测试能力，尤其当大批量进行测试时，就会导致测试耗时较长的问题。

因此，有必要提供一种新的技术方案以解决上述技术问题。

发明内容

本发明提供一种光纤几何参数测试系统及测试方法，用以解决现有技术中的光纤几何参数测试装置一次只能进行一根光纤的几何参数测试，当需要测试大批量的光纤时会存在耗时较长的问题。

本发明提供一种光纤几何参数测试系统，包括光源以及沿所述光源光轴方向依次设置的达曼光栅、光纤夹具单元、镜头单元以及探测器，还包括控制器，所述探测器与所述控制器连接；

所述光纤夹具单元用于夹持多个待测光纤，多个所述待测光纤沿垂直于所述光源的光轴方向排布并形成待测光纤阵列，并且多个所述待测光纤的轴向均平行于所述光源的光轴方向；

其中，所述光源发出的光束经所述达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个所述待测光纤的一端端面上，所述镜头单元用于对多个所述待测光纤的另一端端面进行成像，所述探测器用于采集所述镜头单元的成像图像并存储至所述控制器中，所述控制器通过图像处理得到所述待测光纤阵列的几何参数。

可选的，在垂直于所述光源光轴方向的平面上，多个子光束以点阵形式形成聚焦光斑阵列，所述聚焦光斑阵列与所述待测光纤阵列重叠，并且所述聚焦光斑阵列中聚焦光斑的直径大于或等于所述待测光纤阵列中的待测光纤的直径。

可选的，所述聚焦光斑的中心点与所述待测光纤的轴心点重合。

可选的，所述光纤几何参数测试系统还包括光纤准直器，所述光纤准直器位于所述光源与所述达曼光栅之间并沿所述光源的光轴方向设置，所述光源与所述光纤准直器通过第一光纤连接，所述光源发出的光束通过所述光纤准直器准直后射向所述达曼光栅。

可选的，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光纤准直器与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述滤光片切换装置发出滤光片切换指令，所述滤光片切换装置根据所述滤光片切换指令控制所述滤光片底座移动以切换所述滤光片，使得多个所述滤光片中的目标滤光片位于所述光源的光轴上。

可选的，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述镜头切换装置发出镜头切换指令，所述镜头切换装置根据所述镜头切换指令控制所述镜头底座移动以切换所述成像镜头，使得多个所述成像镜头中的目标成像镜头位于所述光源的光轴上。

可选的，所述光纤夹具单元包括多个光纤夹具和一个第一调整架，多个所述光纤夹具安装在所述第一调整架上，所述第一调整架与所述控制器连接，多个所述光纤夹具沿垂直于所述光源的光轴方向排布并形成光纤夹具阵列，所述待测光纤阵列对应的夹持在所述光纤夹具阵列上，所述控制器还用于控制所述第一调整架移动以调整所述待测光纤阵列的位置；

所述光纤几何参数测试系统还包括第二调整架，所述探测器安装在所述第二调整架上，所述第二调整架与所述控制器连接，所述控制器还用于控制所述第二调整架移动以调整所述探测器的位置。

本发明还提供一种光纤几何参数测试方法，采用如上任一项所述的光纤几何参数测试系统进行测试，包括以下步骤：

步骤1，将多个待测光纤沿垂直于光源的光轴方向安装在光纤夹具单元上以形成待测光纤阵列，并且多个所述待测光纤的轴向均平行于所述光源的光轴方向；

步骤2，打开光源，所述光源发出的光束经达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个所述待测光纤的一端端面上，多个所述待测光纤的另一端端面成像在镜头单元上；

步骤3，探测器采集所述镜头单元的成像图像，并存储至控制器中；

步骤4，所述控制器对探测器采集的成像图像进行图像处理，并获取所述待测光纤阵列的几何参数。

可选的，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光源与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接；

当需要切换所述滤光片时，所述测试方法还包括以下步骤：

所述控制器向所述滤光片切换装置发出滤光片切换指令，所述滤光片切换装置根据所述滤光片切换指令控制所述滤光片底座移动以切换所述滤光片，使得多个所述滤光片中的目标滤光片位于所述光源的光轴上。

可选的，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接；

当需要切换所述成像镜头时，所述测试方法还包括以下步骤：

所述控制器向所述镜头切换装置发出镜头切换指令，所述镜头切换装置根据所述镜头切换指令控制所述镜头底座移动以切换所述成像镜头，使得多个所述成像镜头中的目标成像镜头位于所述光源的光轴上。

本发明的上述技术方案具有以下有益效果：

本发明提供的一种光纤几何参数测试系统及测试方法，通过在光源的光轴方向上设置待测光纤阵列，以及在光源与待测光纤阵列之间设置达曼光栅，光源发出的光束经达曼光栅分为多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个待测光纤的一端端面上，镜头单元可以对多个待测光纤的另一端端面进行成像，探测器可以采集镜头单元的成像图像并存储至控制器中，控制器通过图像处理得到待测光纤阵列的几何参数，从而实现了大量光纤的批量测试，节省了测试时间，提升了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的光纤几何参数测试系统的示意图；

图2为本发明实施例提供的光纤几何参数测试系统的主视图；

图3为本发明实施例提供的光纤夹具单元在侧视视角下的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的待测光纤阵列和聚焦光斑阵列的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的聚焦光斑与待测光纤的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的光纤几何参数测试方法流程图。

附图标记：

1、光源；2、光纤准直器；3、滤波单元；4、达曼光栅；5、待测光纤阵列；6、第一调整架；7、镜头单元；8、探测器；9、第二调整架；10、控制器；11、聚焦光斑阵列；111、聚焦光斑；12、光纤夹具阵列；121、光纤夹具；13、连接架；31、滤光片组；32、滤光片底座；33、滤光片切换装置；51、待测光纤；511、纤芯；512、包层；71、镜头组；72、镜头底座；73、镜头切换装置。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-图3，本发明提供一种光纤几何参数测试系统，用于测试待测光纤的几何参数，其包括光源1以及沿光源1的光轴方向依次设置的达曼光栅4、光纤夹具单元(12和6)、镜头单元7以及探测器8，还包括控制器10，探测器8与控制器10连接。

其中，光纤夹具单元(12和6)用于夹持多个待测光纤51，多个待测光纤51沿垂直于光源1的光轴方向排布并形成待测光纤阵列5，并且多个待测光纤51的轴向均平行于光源1的光轴方向。

光源1用于发射光束，光源1发出的光束经达曼光栅4分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个待测光纤51的一端端面上，每个子光束的光线可从对应待测光纤51靠近光源1一侧的端面进入待测光纤51的内部，并传导至待测光纤51的相对另一端。镜头单元7用于对多个待测光纤51的另一端端面进行测试并成像，探测器8用于采集镜头单元7的成像图像并存储至控制器10中，控制器10通过图像处理得到待测光纤阵列5中的每个待测光纤51的几何参数。

在一种实施例中，光源1发射的光为线偏振光，但不以此为限。

本发明通过达曼光栅和待测光纤阵列的设置，可以使光源发出的光束被达曼光栅分为对应待测光纤阵列的多个子光束，并利用镜头单元、探测器以及控制器对待测光纤阵列的端面图像进行采集及处理，在一次测试过程中便可同时对待测光纤阵列中的每个待测光纤的几何参数进行测试，从而实现对大量光纤的批量测试，极大程度的减少了测试时间。

请参阅图4，在垂直于光源1的光轴方向的平面上，从达曼光栅4射出的多个子光束以点阵形式形成聚焦光斑阵列11，聚焦光斑阵列11的分布形式与待测光纤阵列5的分布形式一致，聚焦光斑阵列11与待测光纤阵列5重叠，并且聚焦光斑阵列11中聚焦光斑111的直径大于或等于待测光纤阵列5中的待测光纤51的直径。这样，可以保证每个待测光纤51的端面都能被聚焦光斑111完全覆盖，可避免因聚焦光斑111对待测光纤51的端面覆盖不完全而导致测试结果不精准的问题。

请参阅图5，每个聚焦光斑111的中心点与对应的待测光纤51的轴心点重合。其中，待测光纤51包括纤芯511和包裹在纤芯511外围的包层512，每个聚焦光斑111的中心点与纤芯511的中心点重合。

请参阅图2和图3，光纤夹具单元包括多个光纤夹具121和一个第一调整架6，多个光纤夹具121安装在第一调整架6上，第一调整架6与控制器10连接，多个光纤夹具121沿垂直于光源1的光轴方向排布并形成光纤夹具阵列12，待测光纤阵列5对应的夹持在光纤夹具阵列12上。具体地，多个光纤夹具121分别沿第一方向和第二方向排布，第一方向和第二方向相互垂直，并且第一方向和第二方向均垂直于光源1的光轴方向，其中，相邻两个光纤夹具121之间的距离相等，相应的，夹持在相邻两个光纤夹具121上的两个待测光纤51之间的距离也相等。

其中，多个光纤夹具121均可拆卸的安装在第一调整架6上，光纤夹具121的数量可以与批量测试的待测光纤阵列5中的待测光纤51的数量相同。具体地，在测试之前，可根据批量测试的待测光纤51的数量在第一调整架6上安装相应数量的光纤夹具121，每个光纤夹具121可通过一连接架13连接固定在第一调整架6上，当然还可以通过其他方式固定，此处不做限制。

其中，控制器10可用于控制第一调整架6移动以调整待测光纤阵列5的位置，使得待测光纤阵列5和聚焦光斑阵列11能够良好的重合。

请继续参阅图1和图2，光纤几何参数测试系统还包括第二调整架9，探测器8安装在第二调整架9上，第二调整架9与控制器10连接，控制器10还用于控制第二调整架9移动以调整探测器8的位置，从而使探测器8上成像质量清晰。

进一步的，光纤几何参数测试系统还包括光纤准直器2，光纤准直器2位于光源1与达曼光栅4之间并沿光源1的光轴方向设置。其中，光源1可以为光纤耦合输出光源，但不以此为限。光源1与光纤准直器2通过第一光纤连接，光源1发出的光束通过光纤准直器2准直后射向达曼光栅4，由此可以将光源1发出光束转变为准直光(平行光)，这样在准直光穿过达曼光栅4后有利于形成聚焦光斑大小一致的点阵式聚焦光斑阵列11。

再进一步的，光纤几何参数测试系统还包括滤波单元3，滤波单元3位于光纤准直器2与达曼光栅4之间，用于对光纤准直器2准直后的光束进行过滤，以选择特定波长的光透过并射向达曼光栅4。滤波单元3包括滤光片组31、滤光片底座32和滤光片切换装置33，滤光片组31包括多个滤光片，多个滤光片间隔的固定在滤光片底座32上，多个滤光片分别为不同中心波长的带通滤光片，能够分别使不同波长的光透过，在使用时可选择合适的滤光片对准光源1的光轴即可。其中，滤光片出射光横截面与滤光片组中的滤光片通光面重合。滤光片底座32与滤光片切换装置33连接，滤光片切换装置33与控制器10连接，控制器10还用于向滤光片切换装置33发出滤光片切换指令，滤光片切换装置33根据滤光片切换指令控制滤光片底座32移动以切换滤光片，使得多个滤光片中的目标滤光片位于光源1的光轴上。这样，可根据测试需求选择特定波长的光进行照射，可以提升测试的适应性和准确性。

其中，光纤准直器2和滤波单元3的设置，可以使光源1发射的光经过准直、滤波后照射到达曼光栅4上，达曼光栅4对入射光进行分束，透射光以点阵的形式照射到待测光纤阵列5上，并利用镜头单元7和探测器8对待测光纤阵列5的端面图像进行采集，以及利用控制器10对图像进行处理，实现光纤几何参数的批量处理。

其中，镜头单元7包括镜头组71、镜头底座72和镜头切换装置73，镜头组71包括多个成像镜头，多个成像镜头间隔的固定在镜头底座72上，多个成像镜头分别为不同放大倍率的成像镜头，以满足不同放大倍率的成像需求。镜头底座72与镜头切换装置73连接，镜头切换装置73与控制器10连接。控制器10还用于向镜头切换装置73发出镜头切换指令，镜头切换装置73根据镜头切换指令控制镜头底座72移动以切换成像镜头，使得多个成像镜头中的目标成像镜头位于光源1的光轴上。

具体地，控制器10中包括主控单元和图像处理单元，滤光片切换装置33与主控单元的第一端口连接，第一调整架6与主控单元的第二端口连接，镜头切换装置73与主控单元的第三端口连接，第二调整架9与主控单元的第四端口连接；图像处理单元的第一端口与主控单元的第五端口连接，探测器8与图像处理单元的第二端口连接。其中，图像处理单元中存储有几何参数处理算法，能够利用几何参数处理算法对采集到的图像进行处理，得到待测光纤的几何参数。

其中，探测器8可以为CCD或CMOS，第一调整架6和第二调整架9可以均为五维高精度调整架。

请参阅图6，本发明还提供一种光纤几何参数测试方法，该测试方法采用如上所述的光纤几何参数测试系统进行测试，具体包括以下步骤：

步骤1，将多个待测光纤沿垂直于光源的光轴方向安装在光纤夹具单元上以形成待测光纤阵列，并且多个待测光纤的轴向均平行于光源的光轴方向。

其中，待测光纤阵列如图3和图4中所示，具体请参照上文中的描述，此处不再赘述。

步骤2，打开光源，光源发出的光束经达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个待测光纤的一端端面上，多个待测光纤的另一端端面成像在镜头单元上。

其中，结合图4所示，在垂直于光源的光轴方向的平面上，从达曼光栅射出的多个子光束以点阵形式形成聚焦光斑阵列11，聚焦光斑阵列11的分布形式与待测光纤阵列5的分布形式一致，聚焦光斑阵列11与待测光纤阵列5重叠。

其中，镜头单元中包括成像镜头，镜头单元通过成像镜头来测试待测光纤阵列5的另一端端面并成像。

步骤3，探测器采集镜头单元的成像图像，并存储至控制器中。

步骤4，控制器对探测器采集的成像图像进行图像处理，并获取待测光纤阵列的几何参数。

其中，控制器包括图像处理单元，图像处理单元中存储有几何参数处理算法，利用几何参数处理算法对采集到的成像图像进行处理，得到待测光纤阵列的几何参数。

进一步的，结合图1所示，光纤几何参数测试系统还包括滤波单元3，滤波单元3位于光源1与达曼光栅4之间，滤波单元3包括滤光片组31、滤光片底座32和滤光片切换装置33，滤光片组31包括多个滤光片，多个滤光片间隔的固定在滤光片底座32上，滤光片底座32与滤光片切换装置33连接，滤光片切换装置33与控制器10连接。镜头单元7包括镜头组71、镜头底座72和镜头切换装置73，镜头组71包括多个成像镜头，多个成像镜头间隔的固定在镜头底座72上，镜头底座72与镜头切换装置73连接，镜头切换装置73与控制器10连接。其中，多个滤光片分别为不同中心波长的带通滤光片，多个成像镜头分别为不同放大倍率的成像镜头。

在上述步骤2之前，可以根据测试需求选择合适的滤光片作为目标滤光片，选择合适的成像镜头作为目标成像镜头，目标滤光片可将光源发出的光束进行特定波长的滤光后射出，目标成像镜头用来测试待测光纤阵列5的另一端端面并成像。因此，当需要切换滤光片和成像镜头时，在上述步骤2之前还包括以下步骤：

控制器向滤光片切换装置发出滤光片切换指令，滤光片切换装置根据滤光片切换指令控制滤光片底座移动以切换滤光片，使得多个滤光片中的目标滤光片位于光源的光轴上；

控制器向镜头切换装置发出镜头切换指令，镜头切换装置根据镜头切换指令控制镜头底座移动以切换成像镜头，使得多个成像镜头中的目标成像镜头位于光源的光轴上。

进一步的，结合图1所示，光纤几何参数测试系统还包括第一调整架6和第二调整架9，待测光纤阵列5通过光纤夹具阵列12安装在第一调整架6上，第一调整架6与控制器10连接，探测器8安装在第二调整架9上，第二调整架9与控制器10连接。

在上述步骤2中，当光源发出的光束经达曼光栅分束后形成多个子光束后，还包括以下步骤：控制器控制第一调整架移动以调整待测光纤阵列的位置，使得待测光纤阵列和聚焦光斑阵列能够良好的重合。

在上述步骤2之后，并在上述步骤3之前，测试方法还包括以下步骤：控制器控制第二调整架移动以调整探测器的位置，从而使探测器上成像质量清晰。

综上，本发明提出的光纤几何参数测试系统及测试方法，采用达曼光栅对入射光进行分束，照射到待测光纤阵列上，利用成像系统采集测试图像并处理，实现光纤几何参数的批量处理，节省测试时间及成本，另外，可通过切换滤光片与成像镜头匹配不同的待测光纤尺寸，操作灵活，适应性强。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种光纤几何参数测试系统，其特征在于，包括光源以及沿所述光源光轴方向依次设置的达曼光栅、光纤夹具单元、镜头单元以及探测器，还包括控制器，所述探测器与所述控制器连接；

所述光纤夹具单元用于夹持多个待测光纤，多个所述待测光纤沿垂直于所述光源的光轴方向排布并形成待测光纤阵列，并且多个所述待测光纤的轴向均平行于所述光源的光轴方向；

其中，所述光源发出的光束经所述达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个所述待测光纤的一端端面上，所述镜头单元用于对多个所述待测光纤的另一端端面进行成像，所述探测器用于采集所述镜头单元的成像图像并存储至所述控制器中，所述控制器通过图像处理得到所述待测光纤阵列的几何参数。

2.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，在垂直于所述光源光轴方向的平面上，多个子光束以点阵形式形成聚焦光斑阵列，所述聚焦光斑阵列与所述待测光纤阵列重叠，并且所述聚焦光斑阵列中聚焦光斑的直径大于或等于所述待测光纤阵列中的待测光纤的直径。

3.根据权利要求2所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述聚焦光斑的中心点与所述待测光纤的轴心点重合。

4.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括光纤准直器，所述光纤准直器位于所述光源与所述达曼光栅之间并沿所述光源的光轴方向设置，所述光源与所述光纤准直器通过第一光纤连接，所述光源发出的光束通过所述光纤准直器准直后射向所述达曼光栅。

5.根据权利要求4所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光纤准直器与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述滤光片切换装置发出滤光片切换指令，所述滤光片切换装置根据所述滤光片切换指令控制所述滤光片底座移动以切换所述滤光片，使得多个所述滤光片中的目标滤光片位于所述光源的光轴上。

6.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接，所述控制器还用于向所述镜头切换装置发出镜头切换指令，所述镜头切换装置根据所述镜头切换指令控制所述镜头底座移动以切换所述成像镜头，使得多个所述成像镜头中的目标成像镜头位于所述光源的光轴上。

7.根据权利要求1所述的光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光纤夹具单元包括多个光纤夹具和一个第一调整架，多个所述光纤夹具安装在所述第一调整架上，所述第一调整架与所述控制器连接，多个所述光纤夹具沿垂直于所述光源的光轴方向排布并形成光纤夹具阵列，所述待测光纤阵列对应的夹持在所述光纤夹具阵列上，所述控制器还用于控制所述第一调整架移动以调整所述待测光纤阵列的位置；

所述光纤几何参数测试系统还包括第二调整架，所述探测器安装在所述第二调整架上，所述第二调整架与所述控制器连接，所述控制器还用于控制所述第二调整架移动以调整所述探测器的位置。

8.一种光纤几何参数测试方法，采用权利要求1-7任一项所述的光纤几何参数测试系统进行测试，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，将多个待测光纤沿垂直于光源的光轴方向安装在光纤夹具单元上以形成待测光纤阵列，并且多个所述待测光纤的轴向均平行于所述光源的光轴方向；

步骤2，打开光源，所述光源发出的光束经达曼光栅分束后形成多个子光束，多个子光束一一对应的照射在多个所述待测光纤的一端端面上，多个所述待测光纤的另一端端面成像在镜头单元上；

步骤3，探测器采集所述镜头单元的成像图像，并存储至控制器中；

步骤4，所述控制器对探测器采集的成像图像进行图像处理，并获取所述待测光纤阵列的几何参数。

9.根据权利要求8所述的光纤几何参数测试方法，其特征在于，所述光纤几何参数测试系统还包括滤波单元，所述滤波单元位于所述光源与所述达曼光栅之间，所述滤波单元包括滤光片组、滤光片底座和滤光片切换装置，所述滤光片组包括多个滤光片，多个所述滤光片间隔的固定在所述滤光片底座上，所述滤光片底座与所述滤光片切换装置连接，所述滤光片切换装置与所述控制器连接；

当需要切换所述滤光片时，所述测试方法还包括以下步骤：

所述控制器向所述滤光片切换装置发出滤光片切换指令，所述滤光片切换装置根据所述滤光片切换指令控制所述滤光片底座移动以切换所述滤光片，使得多个所述滤光片中的目标滤光片位于所述光源的光轴上。

10.根据权利要求8所述的光纤几何参数测试方法，其特征在于，所述镜头单元包括镜头组、镜头底座和镜头切换装置，所述镜头组包括多个成像镜头，多个所述成像镜头间隔的固定在所述镜头底座上，所述镜头底座与所述镜头切换装置连接，所述镜头切换装置与所述控制器连接；

当需要切换所述成像镜头时，所述测试方法还包括以下步骤：

所述控制器向所述镜头切换装置发出镜头切换指令，所述镜头切换装置根据所述镜头切换指令控制所述镜头底座移动以切换所述成像镜头，使得多个所述成像镜头中的目标成像镜头位于所述光源的光轴上。