CN215640052U - 一种光纤型光源光斑性能检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光纤型光源光斑性能检测装置，包括检测接口、光纤接口和透镜组件，还包括CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块，所述一个检测接口通过多路光纤通道分别连多个光纤接口，每个光纤接口依次连接透镜组件和CMOS传感器，所述多个CMOS传感器与一个多路开关连接，所述多路开关分别连接控制器和图像处理模块，本实用新型通过采用CMOS传感器采集透镜组件整形后输出的光束，图像处理模块对已获得的图像信号进行减去参考暗电流信号的预处理，将数据传输至光谱仪进行分析与处理，在光斑性能的检测中降低了设备成本，减少了设备工作量，提高了检测精度，极大提高了光斑性能检测的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及光源检测设备领域，尤其涉及一种光纤型光源光斑性能检测装置。
背景技术
光源发出的光束经过聚焦后形成光斑，光斑呈现出高斯分布的特性，光的强度表现为中心强而边缘弱。实际上，光源通常发出的是非均匀光束，高斯分布是最为重要的很平面分布模式，绝大多数气体激光器和一些特殊设计的半导体激光器的辐射方向图与高斯分布是一致的。假设用透镜或者透镜组合来聚焦高斯光束的话，则在焦平面上产生的光斑分布仍然是呈现高斯分布特性的。
光斑的检测与分析在光学系统成像质量、激光光束评价等方面具有非常重要的作用。以往的检测方法采用基于彩色CCD的检测系统进行测量，整个系统需要先通过显微物镜将光斑进行方法，然后再对放大后的光斑进行成像后，在此基础上进行光斑的检测，再通过图像采集卡和计算机系统进行分析，但是CCD传感器造价比较昂贵不适用于光源光斑检测装置，而使用CMOS传感器可能会出现暗电流，导致检测不精确。
发明内容
为解决上述的问题，本实用新型提供一种光纤型光源光斑性能检测装置。
本实用新型通过以下技术方案实现：
一种光纤型光源光斑性能检测装置，包括检测接口、光纤接口和透镜组件，还包括CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块，所述一个检测接口通过多路光纤通道分别连多个光纤接口，每个光纤接口依次连接透镜组件和CMOS传感器，所述多个CMOS传感器与一个多路开关连接，所述多路开关分别连接控制器和图像处理模块。
进一步的，还包括供电模块，所述供电模块分别与CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块连接。
进一步的，所述图像处理模块连接外部设备，所述外部设备包括光谱仪。
进一步的，所述光纤接口为FC圆形螺纹光纤接口，且光纤接口至少有两个。
进一步的，所述CMOS传感器上装配有APS传感器，且CMOS传感器至少有两个。
进一步的，所述光纤通道包裹有金属套，与检测接口连接后通过螺丝扣进行固定。
进一步的，所述光纤通道采用中心玻璃芯的单模光纤通道。
进一步的，所述透镜组件安装有可拆卸式不透可见光黑色滤光片。
本实用新型的有益效果：
本实用新型通过采用CMOS传感器采集透镜组件整形后输出的光束，通过控制器控制多路开关将每一路的数据信息分开发送至图像处理模块，图像处理模块对已获得的图像信号进行减去参考暗电流信号的预处理后，数据传输至光谱仪进行分析与处理，在光斑性能的检测中降低了设备成本，减少了设备工作量，提高了检测精度，极大提高了光斑性能检测的效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的结构框图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本实用新型作进一步的详细说明，本实用新型的示意性实施方式及其说明仅用于解释本实用新型，并不作为对本实用新型的限定。
实施例1
如图1，一种光纤型光源光斑性能检测装置，包括检测接口、光纤接口和透镜组件，还包括CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块，所述一个检测接口通过多路光纤通道分别连多个光纤接口，每个光纤接口依次连接透镜组件和CMOS传感器，所述多个CMOS传感器与一个多路开关连接，所述多路开关分别连接控制器和图像处理模块。
进一步的，还包括供电模块，所述供电模块分别与CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块连接。
进一步的，所述图像处理模块连接外部设备，所述外部设备包括光谱仪。
进一步的，所述光纤接口为FC圆形螺纹光纤接口，且光纤接口至少有两个。
进一步的，所述CMOS传感器上装配有APS传感器，且CMOS传感器至少有两个。
进一步的，所述光纤通道包裹有金属套，与检测接口连接后通过螺丝扣进行固定。
进一步的，所述光纤通道采用中心玻璃芯的单模光纤通道。
进一步的，所述透镜组件安装有可拆卸式不透可见光黑色滤光片。
实施例2
在实施例1的技术上，本实施例提出了一种光纤型光源光斑性能检测装置具体实施流程。
进一步的，所述实施流程如下：
1.检测接口接收光线；
2.光线通过光纤接口连接的单模光纤通道进行传输；
3.光线通过透镜组件整形后输出，通过采集进入图像处理模块，其中不透可见光黑色滤光片进入光路后，图像处理模块对黑色图像信号采样，得到CMOS传感器暗电流的信息；
4.控制器控制多路开关控制每一路CMOS传感器将数据信息分开传输至图像处理模块，减少不必要的传输通道浪费；
5.图像处理模块通过参考记录在暗电流信息表中的数据计算得到成像面要生成的暗电流，并且基于对于每个成像面计算出的暗电流值来执行暗电流消除处理。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (8)
1.一种光纤型光源光斑性能检测装置，包括检测接口、光纤接口和透镜组件，其特征在于，还包括CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块，所述一个检测接口通过多路光纤通道分别连多个光纤接口，每个光纤接口依次连接透镜组件和CMOS传感器，所述多个CMOS传感器与一个多路开关连接，所述多路开关分别连接控制器和图像处理模块。
2.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置，其特征在于，还包括供电模块，所述供电模块分别与CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块连接。
3.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置，其特征在于，所述图像处理模块连接外部设备，所述外部设备包括光谱仪。
4.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置，其特征在于，所述光纤接口为FC圆形螺纹光纤接口，且光纤接口至少有两个。
5.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置，其特征在于，所述CMOS传感器上装配有APS传感器，且CMOS传感器至少有两个。
6.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置，其特征在于，所述光纤通道包裹有金属套，与检测接口连接后通过螺丝扣进行固定。
7.根据权利要求6所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置，其特征在于，所述光纤通道采用中心玻璃芯的单模光纤通道。
8.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置，其特征在于，所述透镜组件安装有可拆卸式不透可见光黑色滤光片。
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