CN117406056A - 边界值确定方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种边界值确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：根据待测电子器件的稳定运行数据，对所述待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；根据所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标取值范围；根据所述目标取值范围和所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制所述目标指标在所述目标取值范围内的概率分布曲线；根据所述概率分布曲线，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标边界值。采用本方法能够更加高效、准确的确定电子器件在某一指标下的边界值。

Description

边界值确定方法、装置、计算机设备和存储介质

技术领域

本申请涉及电子器件测试技术领域，特别是涉及一种边界值确定方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着电子产品越来越复杂，集成元件种类越来越多、集成元件数量越来越密集，对电子设备的整体适用环境要求越来越高，对电子器件的可靠性也越来越严格。因此，如何确定电子设备中的电子器件的指标的边界值显得尤为重要。例如，针对芯片本身来说，需要准确确定芯片的电压、电流等指标的边界值，以保证芯片的正常运行。

现有技术中，对电子器件的指标的边界值的确定方式，通常是直接获取电子器件的设计厂家所提供的指标的边界值，或者通过对电子器件进行大量测试确定电子器件的指标的适用范围，进而估计电子器件的指标的边界值。然而，这种边界值确定方式，存在效率较低、准确性较低等问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够更加高效、准确的确定电子器件在某一指标下的边界值的边界值确定方法、装置、计算机设备和存储介质。

第一方面，本申请提供了一种边界值确定方法，包括：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

在其中一个实施例中，根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，包括：

采用多种毛刺测试方案，依次对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

其中，多种毛刺测试方案均是基于待测电子器件的稳定运行数据构建的，且每一毛刺测试方案均包括一个目标指标的毛刺取值区间和毛刺时长区间。

在其中一个实施例中，多种毛刺测试方案包括第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案；第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据待测电子器件的稳定运行数据构建的；第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况构建的。

在其中一个实施例中，稳定运行数据包括待测电子器件稳定运行时目标指标的参考边界值；运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况。

在其中一个实施例中，根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围，包括：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值；

将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

在其中一个实施例中，根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线，包括：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数；

根据待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，以及待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率；

根据各异常运行概率，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

第二方面，本申请还提供了一种边界值确定装置，包括：

情况获取模块，用于根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

范围确定模块，用于根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

曲线绘制模块，用于根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

边界值确定模块，用于根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

第三方面，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

上述边界值确定方法、装置、计算机设备和存储介质，通过根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，能够更加精准、高效的获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；进而根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，能够更加准确的确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；进一步的，通过根据目标取值范围和运行状况，绘制的目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线，能够实现更加准确、高效的确定待测电子器件在目标指标下的边界值的效果，进而有助于对待测电子器件进行进一步优化，以及板级和设备级开发，避免对待测电子器件产生过度防护。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中边界值确定方法的流程示意图；

图2为一个实施例中概率分布曲线的示意图；

图3为一个实施例中确定目标取值范围的流程示意图；

图4为一个实施例中绘制概率分布曲线的流程示意图；

图5为另一个实施例中边界值确定方法的流程示意图；

图6为一个实施例中边界值确定装置的结构框图；

图7为另一个实施例中边界值确定装置的结构框图；

图8为又一个实施例中边界值确定装置的结构框图；

图9为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请实施例提供的边界值确定方法，可以应用于如何对目标电子器件在目标指标下的边界值进行确定的场景中。可选的，该方法可以应用于服务器环境中。数据存储系统可以存储服务器需要处理的数据，例如待测电子器件的稳定运行数据、待测电子器件在目标指标下的目标取值范围等数据。数据存储系统可以集成在服务器上，也可以放在云上或其他网络服务器上。

具体的，服务器可以根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在目标指标毛刺下的运行情况；进而根据待测电子器件在目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围，并绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；进一步的，根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标表的边界值。服务器可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。

在一个示例性的实施例中，如图1所示，提供了一种边界值确定方法，以该方法应用于服务器为例进行说明，可以理解的是，该方法也可以应用于包括终端和服务器的系统，并通过终端和服务器的交互实现。包括以下步骤101至步骤104。其中：

S101，根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况。

其中，待测电子器件即为存在目标指标的边界值确定需求的电子器件，可以为芯片、电阻、电容等；稳定运行数据即为预先设定的待测电子器件能够稳定运行的数据，例如某一芯片的稳定运行数据为5V；目标指标即为存在边界值确定需求的待测电子器件的某一指标，可以为电流、电压等指标。毛刺测试即为向待测电子器件注入目标指标毛刺，以测试待测电子器件在目标指标毛刺下的运行情况；运行情况可以包括待测电子器件在目标指标毛刺下正常运行的情况、待测电子器件在目标指标毛刺下异常运行的情况等。

可选的，在需要对待测电子器件在目标指标下的边界值进行确定时，可以根据待测电子器件的种类、编号等属性数据，从数据存储系统中查找并获取预先存储的待测电子器件的稳定运行数据；进一步的，可以将待测电子器件的稳定运行数据输入至毛刺测试模型中，通过毛刺测试模型，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，进而获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况。

S102，根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

其中，目标取值范围即为需要确定的待测电子器件在目标指标下的边界值所处的取值范围。

可选的，获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况后，可以将各运行情况输入至预先训练好的情况分析模型中，通过情况分析模型，对待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况进行分析，得到待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

S103，根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

其中，概率分布曲线即为以在目标取值范围内的目标指标为横坐标，以待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标下的运行情况为异常运行情况的概率为纵坐标，所构建的概率分布曲线。

可选的，可以根据待测电子器件在目标指标毛刺下的运行情况，对待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行情况进行统计，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的运行情况为异常运行情况的概率，进而以在目标取值范围内的目标指标为横坐标，以待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标下的运行情况为异常运行情况的概率为纵坐标，构建待测电子器件的目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。例如，若目标指标为电压，目标指标范围为4.0V-4.04V，则可以确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的运行情况为异常运行情况的概率，进而根据异常运行情况的概率和目标指标范围，绘制得到如图2所示的概率分布曲线。

S104，根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

其中，目标边界值即为通过毛刺测试所确定的待测电子器件在目标指标下的边界值。

可选的，得到概率分布曲线后，可以根据预先设定的目标概率值，从概率分布曲线中查找目标概率值所对应的目标指标值，将该目标指标值作为待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

例如，若预先设定的目标概率值为80%，则可以根据上述图2的概率分布曲线，确定目标概率值为80%所对应的目标指标值为4.006V，进而可以确定待测电子器件在电压下的目标边界值为4.006V。

上述边界值确定方法，通过根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，能够更加精准、高效的获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；进而根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，能够更加准确的确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；进一步的，通过根据目标取值范围和运行状况，绘制的目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线，能够实现更加准确、高效的确定待测电子器件在目标指标下的边界值的效果，进而有助于对待测电子器件进行进一步优化，以及板级和设备级开发，避免对待测电子器件产生过度防护。

为了能够更加准确的获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，在上述实施例的基础上，在一个示例性的实施例中，进一步对上述S101进行细化，可以采用多种毛刺测试方案，依次对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况。

其中，多种毛刺测试方案均是基于待测电子器件的稳定运行数据构建的，且每一毛刺测试方案均可以包括一个目标指标的毛刺取值区间、毛刺时长区间或毛刺产生周期与延迟等参数。

在本实施例中，毛刺测试方案即为用于对待测电子器件进行毛刺测试的方案，一个毛刺测试方案可以包括多次毛刺测试，每一毛刺测试均包括一个毛刺值和毛刺时长。毛刺取值区间即为每一毛刺测试方案中的各毛刺测试对应的毛刺值的取值范围；毛刺时长区间即为每一毛刺测试方案中的各毛刺测试对应的毛刺时长的范围。例如，若目标指标为电压，一个毛刺测试方案可以包括100次毛刺测试，毛刺取值区间可以为3V-5V，毛刺时长区间可以为0ms-10ms。

可选的，可以将待测电子器件的稳定运行数据输入至预先训练好的方案生成模型中，通过方案生成模型，根据待测电子器件的稳定运行数据，生成待测电子器件的毛刺测试方案；进一步的，可以根据毛刺测试方案，对待测电子器件的目标指标进行多次毛刺测试，并对待测电子器件在各毛刺测试对应的目标指标毛刺下的运行情况进行获取。

可以理解的是，通过根据待测电子器件的稳定运行数据，能够更加合理的确定毛刺测试方案；进一步的，根据多种毛刺测试方案，对待测电子器件进行毛刺实验，能够实现更加合理、准确的获取待测电子器件子各目标指标毛刺下的运行情况的效果。

进一步的，在一个示例性的实施例中，多种毛刺测试方案包括第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案；第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据待测电子器件的稳定运行数据构建的；第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况构建的。

可选的，可以将待测电子器件的稳定运行数据输入至预先训练好的方案生成模型中，通过方案生成模型，根据待测电子器件的稳定运行数据，生成待测电子器件的第一毛刺测试方案；采用第一毛刺测试方案，对待测电子器件进行毛刺测试，获取第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；进一步的，可以将获取的运行情况和待测电子器件的稳定运行数据输入至方案生成模型中，通过方案生成模型，根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件的运行情况，生成待测电子器件的第二毛刺测试方案，进而采用第二毛刺测试方案，对待测电子器件进行毛刺测试，获取第二毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况。

例如，若目标指标为电压，第一毛刺测试方案包括100次毛刺测试，毛刺取值区间为3V-5V，毛刺时长区间为0ms-10ms，采用第一毛刺测试方案，对待测电子器件进行毛刺测试，获取到待测电子器件的运行情况，经过统计得知，待测电子器件在毛刺值为3.5V以下的运行情况均为异常运行，在毛刺值为4.5V以上的运行情况均未正常运行；进一步的，可以将运行情况和待测电子器件输入至方案生成模型中，通过方案生成模型，可以得到第二毛刺测试方案，第二毛刺测试方案可以包括1000次毛刺测试，毛刺取值区间为3.5V-4.5V，毛刺时长区间为0ms-10ms。

需要说明的是，通过根据第一毛刺测试方案下待测电子器件的运行情况和待测电子器件的稳定运行数据，能够更加合理的确定第二毛刺测试方案；采用两个毛刺测试方案，对待测电子器件进行毛刺测试，能够使获取到的待测电子器件的运行情况更加准确，进而实现提高确定待测电子器件的边界值的准确性的效果。

在上述实施例的基础上，在一个示例性的实施例中，稳定运行数据包括待测电子器件稳定运行时目标指标的参考边界值；运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况。

其中，参考边界值即为预先设定的待测电子器件能够运行的边界数据，例如某一芯片的参考边界值为4V；正常运行情况可以为待测电子器件未触发保护机制，正常运行的情况；异常运行情况即为待测电子器件触发保护机制，异常运行的情况。

可选的，若待测电子器件的参考边界值为4V，则运行情况可以包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于4V时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于4V时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于4V时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于4V时的正常运行情况。

可以理解的是，通过将运行情况分为正常运行情况、异常运行情况和特殊运行情况，能够更加准确、方便的对运行情况进行统计，进而实现更加准确的确定待测电子器件的目标边界值的效果。

为了能够更加准确的确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围，在上述实施例的基础上，在一个示例性的实施例中，如图3所示，进一步的对上述S102进行细化，具体可以包括步骤S301至步骤S302。其中：

S301，根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值。

其中，特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况；目标指标最大值即为待测电子器件的运行情况为特殊情况下的目标指标的最大值；目标指标最小值即为待测电子器件的运行情况为特殊情况下的目标指标的最小值。

可选的，获取到待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况后，可以对运行情况进行统计，提取出运行情况为特殊运行情况下，各目标指标毛刺对应的目标指标值；进一步的，可以将提取出的目标指标值进行比较，确定出目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值。

S302，将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

其中，目标取值范围即为待测电子器件在目标指标下的边界值的取值范围。

可选的，确定目标指标最大值和目标指标最小值后，可以根据目标指标最大值和目标指标最小值，得到由目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间；进一步的，可以将该取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。例如，若确定目标指标毛刺的目标指标最大值为3.9V，目标指标最小值为4.1V，则可以确定目标取值范围为3.9V-4.1V。

可以理解的是，通过确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值，进而将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围，能够实现更加准确、合理的得到待测电子器件在目标指标下的目标取值范围的效果。

为了能够更加准确的绘制概率分布曲线，在一个示例性的实施例中，如图4所示，进一步的对上述S103进行细化，具体可以包括步骤S401至S403。其中：

S401，根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数。

其中，异常次数即为待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的运行情况为异常运行的次数，可以包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况。

可选的，确定目标取值范围后，可以对待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的运行情况进行统计，进而确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的运行情况为异常运行的异常次数。

S402，根据待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，以及待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率。

其中，毛刺测试总数即为待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下进行毛刺测试的总数。

可选的，可以对待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的运行情况进行统计，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下进行毛刺测试的毛刺测试总数；进一步的，可以将待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数和毛刺测试总数的比值，作为待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率。例如，若待测电子器件在目标取值范围内的某一目标指标毛刺下的异常次数为8次，待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下进行毛刺测试的毛刺测试总数为20次，则可以确定待测电子器件在目标取值范围内的该目标指标毛刺下的异常运行概率为0.4。

S403，根据各异常运行概率，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

可选的，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率后，可以将目标取值单位范围内的各目标指标毛刺作为横坐标，各异常运行概率作为纵坐标，绘制得到目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

可以理解的是，通过确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，结合待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，能够更加准确的确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率，进而能够实现更加准确的绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线的效果。

在一个实施例中，如图5所示，提供了一种边界值确定方法的优选实例。具体过程如下：

S501，根据待测电子器件的稳定运行数据，构建第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间。

S502，根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，构建第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间。

S503，采用第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案，依次对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况。

其中，稳定运行数据包括待测电子器件稳定运行时目标指标的参考边界值；运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况。

S504，根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值。

S505，将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

S506，根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数。

S507，根据待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，以及待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率。

S508，根据各异常运行概率，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

S509，根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

上述S501-S509的具体过程可以参见上述方法实施例的描述，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的边界值确定方法的边界值确定装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个边界值确定装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于边界值确定方法的限定，在此不再赘述。

在一个示例性的实施例中，如图6所示，提供了一种边界值确定装置1，包括：情况获取模块10、范围确定模块20、曲线绘制模块30和边界值确定模块40，其中：

情况获取模块10，用于根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况。

范围确定模块20，用于根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

曲线绘制模块30，用于根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

边界值确定模块40，用于根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

在一个示例性的实施例中，上述情况获取模块10可以用于：

采用多种毛刺测试方案，依次对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况。

其中，多种毛刺测试方案均是基于待测电子器件的稳定运行数据构建的，且每一毛刺测试方案均包括一个目标指标的毛刺取值区间和毛刺时长区间。

在一个示例性的实施例中，上述情况获取模块10中的多种毛刺测试方案包括第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案；第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据待测电子器件的稳定运行数据构建的；第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况构建的。

在一个示例性的实施例中，上述情况获取模块10中的稳定运行数据包括待测电子器件稳定运行时目标指标的参考边界值；运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况。

在一个示例性的实施例中，在上述图6的基础上，如图7所示，上述范围确定模块20可以包括：

数值确定单元21，用于根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值。

范围确定单元22，用于将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

在一个示例性的实施例中，在上述图6或图7的基础上，如图8所示，上述曲线绘制模块30可以包括：

次数确定单元31，用于根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数。

概率确定单元32，用于根据待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，以及待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率。

曲线绘制单元33，用于根据各异常运行概率，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

上述边界值确定装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个示例性的实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图9所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口(Input/Output，简称I/O）和通信接口。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储待测电子器件的稳定运行数据、待测电子器件在目标指标下的目标取值范围等数据。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种边界值确定方法。

本领域技术人员可以理解，图9中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个示例性的实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况的逻辑时，还实现以下步骤：

采用多种毛刺测试方案，依次对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；其中，多种毛刺测试方案均是基于待测电子器件的稳定运行数据构建的，且每一毛刺测试方案均包括一个目标指标的毛刺取值区间和毛刺时长区间。

在一个实施例中，多种毛刺测试方案包括第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案；第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据待测电子器件的稳定运行数据构建的；第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况构建的。

在一个实施例中，稳定运行数据包括待测电子器件稳定运行时目标指标的参考边界值；运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围的逻辑时，还实现以下步骤：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值；将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围的逻辑时，还实现以下步骤：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数；根据待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，以及待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率；根据各异常运行概率，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

在一个实施例中，计算机程序根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

采用多种毛刺测试方案，依次对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；其中，多种毛刺测试方案均是基于待测电子器件的稳定运行数据构建的，且每一毛刺测试方案均包括一个目标指标的毛刺取值区间和毛刺时长区间。

在一个实施例中，多种毛刺测试方案包括第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案；第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据待测电子器件的稳定运行数据构建的；第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况构建的。

在一个实施例中，稳定运行数据包括待测电子器件稳定运行时目标指标的参考边界值；运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况。

在一个实施例中，计算机程序根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值；将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

在一个实施例中，计算机程序根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数；根据待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，以及待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率；根据各异常运行概率，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围；

根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线；

根据概率分布曲线，确定待测电子器件在目标指标下的目标边界值。

在一个实施例中，计算机程序根据待测电子器件的稳定运行数据，对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

采用多种毛刺测试方案，依次对待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；其中，多种毛刺测试方案均是基于待测电子器件的稳定运行数据构建的，且每一毛刺测试方案均包括一个目标指标的毛刺取值区间和毛刺时长区间。

在一个实施例中，多种毛刺测试方案包括第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案；第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据待测电子器件的稳定运行数据构建的；第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据稳定运行数据和第一毛刺测试方案下待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况构建的。

在一个实施例中，稳定运行数据包括待测电子器件稳定运行时目标指标的参考边界值；运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的正常运行情况、待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；特殊运行情况包括待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值高于参考边界值时的异常运行情况和待测电子器件在目标指标毛刺下的目标指标值低于参考边界值时的正常运行情况。

在一个实施例中，计算机程序根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标指标下的目标取值范围的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值；将目标指标最大值和目标指标最小值所构成的取值区间，作为待测电子器件在目标指标下的目标取值范围。

在一个实施例中，计算机程序根据目标取值范围和待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线的逻辑被处理器执行时，还实现以下步骤：

根据待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数；根据待测电子器件在目标取值范围内的毛刺测试总数，以及待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定待测电子器件在目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率；根据各异常运行概率，绘制目标指标在目标取值范围内的概率分布曲线。

需要说明的是，本申请所涉及的数据（包括但不限于待测电子器件的稳定运行数据、待测电子器件在目标指标下的目标取值范围等数据），均为经过各方充分授权的数据，且相关数据的收集、使用和处理需要符合相关规定。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器（ReRAM）、磁变存储器（Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM）、铁电存储器（Ferroelectric Random Access Memory，FRAM）、相变存储器（Phase Change Memory，PCM）、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic RandomAccess Memory，DRAM）等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种边界值确定方法，其特征在于，所述方法包括：

根据待测电子器件的稳定运行数据，对所述待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

根据所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标取值范围；

根据所述目标取值范围和所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制所述目标指标在所述目标取值范围内的概率分布曲线；

根据所述概率分布曲线，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标边界值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据待测电子器件的稳定运行数据，对所述待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，包括：

采用多种毛刺测试方案，依次对所述待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

其中，所述多种毛刺测试方案均是基于所述待测电子器件的稳定运行数据构建的，且每一毛刺测试方案均包括一个目标指标的毛刺取值区间和毛刺时长区间。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多种毛刺测试方案包括第一毛刺测试方案和第二毛刺测试方案；所述第一毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据所述待测电子器件的稳定运行数据构建的；所述第二毛刺测试方案中的毛刺取值区间是根据所述稳定运行数据和所述第一毛刺测试方案下所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况构建的。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述稳定运行数据包括所述待测电子器件稳定运行时所述目标指标的参考边界值；所述运行情况包括所述待测电子器件在所述目标指标毛刺下的目标指标值高于所述参考边界值时的正常运行情况、所述待测电子器件在所述目标指标毛刺下的目标指标值低于所述参考边界值时的异常运行情况，以及特殊运行情况；所述特殊运行情况包括所述待测电子器件在所述目标指标毛刺下的目标指标值高于所述参考边界值时的异常运行情况和所述待测电子器件在所述目标指标毛刺下的目标指标值低于所述参考边界值时的正常运行情况。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标取值范围，包括：

根据所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定所述待测电子器件的运行情况为特殊运行情况时，所对应的目标指标毛刺的目标指标最大值和目标指标最小值；

将所述目标指标最大值和所述目标指标最小值所构成的取值区间，作为所述待测电子器件在所述目标指标下的目标取值范围。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标取值范围和所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制所述目标指标在所述目标取值范围内的概率分布曲线，包括：

根据所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定所述待测电子器件在所述目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数；

根据所述待测电子器件在所述目标取值范围内的毛刺测试总数，以及所述待测电子器件在所述目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常次数，确定所述待测电子器件在所述目标取值范围内的各目标指标毛刺下的异常运行概率；

根据各异常运行概率，绘制所述目标指标在所述目标取值范围内的概率分布曲线。

7.一种边界值确定装置，其特征在于，所述装置包括：

情况获取模块，用于根据待测电子器件的稳定运行数据，对所述待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；

范围确定模块，用于根据所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标取值范围；

曲线绘制模块，用于根据所述目标取值范围和所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制所述目标指标在所述目标取值范围内的概率分布曲线；

边界值确定模块，用于根据所述概率分布曲线，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标边界值。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。