CN114896105A - 电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质 - Google Patents
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Abstract
本公开提供了一种电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质。该方法包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。该方法能够提高可靠性评估结果的准确性。
Description
技术领域
本公开属于设备测试领域，特别涉及一种电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质。
背景技术
可靠性是指产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定的功能的能力。
对于可靠性水平较高且使用寿命较长的电子设备，当其可靠性指标为给定任务时长下的任务可靠度，通过开展可靠性试验进行可靠性评估时，通常需要假定电子设备服从寿命型指数分布，将可靠度转化为平均故障间隔时间后，再根据相关标准确定可靠性统计试验方案，开展试验，基于试验结果进行可靠性评估。
由于存在基于假定条件的转换，所以该方式得到的可靠性评估结果不够准确。
发明内容
本公开实例提供了一种电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质，能够提供可靠性评估结果的准确性。所述技术方案如下：
一方面，本公开实施例提供了一种电子设备的可靠性评估方法，所述方法包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。
可选地，所述根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，包括：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的任务时间和所述任务时间对应的可靠度；根据抽样原理，基于所述可靠度，确定所述试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数。
可选地，所述根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性，包括以下至少一种：
根据所述试验总次数和所述成功试验次数，确定所述电子设备的可靠度的点估计结果；
根据所述试验总次数、所述成功试验次数和置信度，确定电子设备的可靠度的单侧置信下限，所述置信度是基于所述可靠性指标确定的；
根据任务时间和所述可靠度的点估计结果，确定平均故障间隔时间的点估计结果，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的；
根据任务时间和所述可靠度的单侧置信下限，确定平均故障间隔时间的单侧置信下限，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的。
可选地，所述方法还包括：
根据电子设备包含的元器件的信息，确定第一失效率和第二失效率，其中，第一失效率为每种所述元器件在第一环境温度下的工作失效率，第二失效率为所述电子设备在所述第一环境温度下的工作失效率，所述第一环境温度为所述电子设备正常工作时的环境温度；
根据所述加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子；
根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子、所述第一失效率和所述第二失效率，确定所述电子设备的加速因子；
根据所述任务时长和所述电子设备的加速因子，确定所述加速寿命试验的试验时长。
可选地，所述根据加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子，包括：确定每种所述元器件的激活能；基于所述第一环境温度、第二环境温度和所述激活能，根据所述加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子。
可选地，所述根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子、所述第一失效率和所述第二失效率，确定所述电子设备的加速因子，包括：
将每种所述元器件的加速因子与对应的权重值相乘的乘积之和，确定为所述电子设备的加速因子，每种所述元器件对应的所述权重值等于所述元器件对应的所述第一失效率与所述第二失效率的比值。
另一方面，本公开实施例提供了一种电子设备的可靠性评估装置，所述装置包括：试验方案确定模块、获得模块和评估模块。其中，试验方案确定模块用于根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得模块用于获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；评估模块用于根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。
又一方面，本公开实施例还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：处理器和用于存储处理器可执行指令的存储器。其中，所述处理器被配置为执行所述可执行指令，以实现前述方法。
又一方面，本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，当计算机可读存储介质中的指令由计算机设备的处理器执行时，使得计算机设备能够执行前述方法。
又一方面，本公开实施例还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，所述计算机程序/指令被处理器执行时实现前述方法。
本公开实施例提供的技术方案带来的有益效果包括：
本公开实施例无需先根据假定条件对可靠性指标进行转换，再确定统计试验方案，这样，能够避免假定条件带来的不确定性，有利于提高可靠性评估结果的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本公开实施例提供的一种电子设备的可靠性评估方法的流程图；
图2是本公开实施例提供的另一种电子设备的可靠性评估方法的流程图；
图3是本公开实施例提供的一种电子设备的可靠性评估装置的结构示意图；
图4是本公开实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。
为了便于理解本公开实施例，下面先对相关名词进行解释。
可靠度：可靠性的概率度量。产品的可靠度越高，产品可以无故障工作的时间就越长。
平均故障间隔时间：在规定的条件下和在规定的时间内，产品故障的总数与寿命单位总数之比称为“故障率”。平均故障间隔时间是故障率的倒数。
本公开实施例提供了一种电子设备的可靠性评估方法，如图1所示，该方法包括：
101：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，统计试验方案包括试验总次数以及试验总次数对应的最低成功试验次数。
也即是，在本公开实施例中，通过二项分布确定可靠性试验的统计试验方案。二项分布是多个独立的成功/失败试验中成功的次数的离散概率分布，其中每次试验的成功概率为p。
本公开实施例对电子设备的类型不做限制，包括但不限于计算机、电脑、路由器等各类电子信息设备。
102：获得可靠性试验的试验结果，可靠性试验包括满足统计试验方案的多次加速寿命试验。
其中，试验结果包括试验总次数和成功试验次数。
103：根据试验结果，评估电子设备的可靠性。
本公开实施例无需先根据假定条件对可靠性指标进行转换，再确定统计试验方案，这样，能够避免假定条件带来的不确定性，有利于提高可靠性评估结果的准确性。
图2为本公开实施例提供的另一种电子设备的可靠性评估方法的流程图。
如图2所示，该方法包括：
201：根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的任务时间和任务时间对应的可靠度。
在本公开实施例中，可靠性指标是指：在某一置信度下，电子设备连续工作指定工作时长的情况下的可靠度不低于阈值。其中，指定工作时长即任务时长。阈值即可靠度的单侧置信下限。
这里，置信度、指定工作时长和阈值均可以根据实际需要进行设置。示例性地，置信度为80％，指定工作时长为120h，阈值为65％。
202：根据抽样原理，基于可靠度，确定可靠性试验的统计试验方案。
其中，可靠度采用前述置信度和阈值表示。可靠性试验的统计试验方案包括试验总次数和试验总次数对应的最低成功试验次数以及无失败试验情况下的最低试验次数。
在该步骤202中，可以根据公式(1)确定试验总次数对应的最低成功试验次数。
公式(1)中，RM表示前述阈值；c表示置信度；N表示试验总次数；n表示最低成功试验次数。
当每次试验均成功时，即无失败试验的情况下，n＝N，根据置信度和阈值确定出零失败方案(N，N)的最低试验总次数。例如，根据公式(2)确定该最低试验总次数。
公式(2)中，N表示试验总次数，RM表示前述阈值；c表示置信度，
表示取整运算，只取该计算结果的整数部分。
当c等于80％和阈值等于65％时，确定出来的最低试验总次数等于4。
表一 试验总次数和可接受的最高失败次数(部分数据)
通过步骤201～202可以实现根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案。
203：确定第一环境温度和第二环境温度。
其中，第一环境温度为电子设备正常工作的环境温度，第二环境温度是在可靠性试验条件下的环境温度。第一环境温度低于第二环境温度。
在一些示例中，第一环境温度和第二环境温度均为摄氏温度，单位为℃。
在另一些示例中，第一环境温度和第二环境温度均为热力学温度，单位为K。
热力学温度可以基于摄氏温度换算得到，换算公式为公式(3)。
Tr＝tr+273.15 (3)
公式(3)中，Tr表示热力学温度；tr表示摄氏温度。
示例性地，第一环境温度和第二环境温度可以如表二所示。
表二 电子设备的第一环境温度和第二环境温度
| 类别 | 第一环境温度 | 第二环境温度 |
| 摄氏温度(℃) | 25 | 75 |
| 热力学温度(K) | 298.15 | 348.15 |
204：根据电子设备所包含的元器件的信息，确定第一失效率和第二失效率。
在本公开实施例中，电子设备包括多种元器件。元器件类型包括但不限于电容、电阻、电感、连接器、以及集成电路等等。每种元器件的数量根据实际需要设置，本公开对此不做限制。
示例性地，元器件的信息包括但不限于元器件的种类、数量和元器件的激活能中的至少一种。
在一些示例中，电子设备由7种不同的元器件组成，通过查阅资料获得每种元器件的激活能，各类元器件的数量和元器件的激活能分别如表三所示。
表三 电子设备的元器件类别、数量和激活能
步骤204中，第一失效率为电子设备包含的元器件在第一环境温度下的工作失效率。不同种类的元器件对应的工作失效率相同或者不同。第二失效率为电子设备在第一环境温度下的工作失效率。
该步骤204可以包括：根据电子设备可靠性预计手册(例如GJB/Z 299C)，确定第一失效率和第二失效率。
第一失效率可以采用以下公式(4)计算，第二失效率可以采用公式(5)计算。
λi＝miλmi (4)
公式(4)中，λi表示电子设备中第i种元器件对应的第一失效率；mi表示电子设备中第i种元器件的个数；λmi表示第i种元器件的单个元器件失效率。
公式(5)中，λS表示第二失效率；n-受试设备中元器件的种类数；λi表示电子设备中第i种元器件对应的第一失效率。
根据公式(4)和公式(5)可以得到表三所示电子设备对应的第一失效率和第二失效率，如表四所示。
表四 电子设备的第一失效率和第二失效率
205：根据加速寿命试验的加速模型，确定每种元器件的加速因子。
加速寿命试验的基本思想是利用高应力下的寿命特征去外推正常应力水平下的寿命特征。加速模型用于表示寿命特征与应力水平之间的关系。本公开实施例对加速模型的类型不做限制，包括但不限于阿伦尼斯(Arrhenius)模型。
该步骤205可以包括：确定每种所述元器件的激活能；基于所述第一环境温度、第二环境温度和所述激活能，根据所述加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子。
示例性地，加速因子可以基于公式(6)得到。
公式(6)中，Ai表示第i种元器件的加速因子；Ei表示第i种元器件的激活能(eV)，激活能是使分子开始活动的能量；k表示玻尔兹曼常数(通常为8.623×10-5eV/K)；T0表示第一环境温度(这里为热力学温度)；Td表示第二环境温度(这里为热力学温度)。
表五 电子设备中元器件的激活能和加速因子的对应关系表
| 元器件类别 | 元器件激活能(E<sub>i</sub>) | 加速因子(A<sub>i</sub>) |
| A | 0.78 | 78.036 |
| B | 0.81 | 92.273 |
| C | 0.79 | 82.519 |
| D | 0.86 | 122.005 |
| E | 0.71 | 52.781 |
| F | 0.84 | 109.108 |
| G | 0.75 | 65.996 |
206：根据电子设备所包含的元器件的加速因子、第一失效率和第二失效率，确定电子设备的加速因子。
示例性地，该步骤206包括：将每种元器件的加速因子与对应的权重值相乘的乘积之和，确定为电子设备的加速因子，每种元器件对应的权重值等于元器件对应的第一失效率与第二失效率的比值。该方式能够准确确定电子设备的加速因子。
示例性地，可以根据公式(7)确定电子设备的加速因子。
公式(7)中，As表示电子设备的加速因子；λi表示第i种元器件的第一失效率；λS表示第二失效率；Ai表示第i种元器件的加速因子。
根据表四和表五结果，应用公式(7)，确定出电子设备的加速因子为84.946。
207：根据任务时长和电子设备的加速因子，确定试验时长。
该步骤207可以包括：将任务时长除以电子设备的加速因子，得到试验时长，该试验时长也可以称为加速试验时长。
示例性地，试验时长可以采用公式(8)确定：
公式(8)中，Ts表示试验时长；As表示电子设备的加速因子；T表示任务时长。
应用公式(8)，确定出受试设备的每次试验的试验时间为：Ts＝1.41h。
208：获得可靠性试验的试验结果。
在一些示例中，可靠性试验包括基于多个电子设备的多次加速寿命试验。试验结果包括试验总次数和成功试验次数。
这N次加速寿命试验分别针对N个电子设备中的一个电子设备进行。这N个电子设备可以是从多个电子设备中随机抽取的。
这里，加速寿命试验即让N个电子设备在前述第二环境温度下工作试验时长，然后判断N个电子设备是否能够正常工作，正常工作的电子设备的数量等于成功试验次数；不能正常工作的电子设备的数量等于失败试验次数。
209：根据试验结果，评估电子设备的可靠性。
示例性地，可靠性包括可靠度和平均故障间隔时间中的至少一种。
在本公开实施例中，电子设备的可靠度采用点估计(point estimation)结果和区间估计结果中的至少一种表示。点估计是用样本统计量来估计总体参数。
当电子设备的可靠度采用点估计结果表示时，该步骤208包括：根据试验总次数和成功试验次数，确定电子设备的可靠度的点估计结果。
示例性地，可以根据公式(9)计算电子设备的可靠度的点估计结果。
公式(9)中，
表示可靠度的点估计结果；N表示试验总次数；n表示成功试验次数；r表示失败试验次数，r＝N-n。
当电子设备的可靠度采用区间估计结果表示时，该步骤208包括：根据试验总次数、成功试验次数和置信度，确定可靠度的单侧置信下限。
示例性地，可以根据公式(10)计算置信度为c的电子设备的可靠度的单侧置信下限。
公式(10)中，N表示试验总次数；n表示成功试验次数；Rl表示可靠度的单侧置信下限；c表示置信度。
在本实施例中，试验总次数为8，成功试验次数为7，失败试验次数为1，置信度为80％。根据公式(9)计算得到的可靠度的点估计结果为87.5％。根据公式(10)计算得到的可靠度的单侧置信下限为66.9％。
当电子设备的可靠性包括平均故障间隔时间时，平均故障间隔时间采用点估计结果和区间估计结果中的至少一种表示。
当平均故障间隔时间采用点估计结果表示时，该步骤208包括：根据任务时间和可靠度的点估计结果，确定平均故障间隔时间的点估计结果。
示例性地，可以根据公式(11)计算平均故障间隔时间的点估计结果。
公式(11)中，
表示平均故障间隔时间的点估计结果；T表示任务时间。
当平均故障间隔时间采用区间估计结果表示时，该步骤208包括：根据任务时间和可靠度的单侧置信下限，确定平均故障间隔时间的单侧置信下限。
示例性地，可以根据公式(12)计算置信度为c的平均故障间隔时间的单侧置信下限。
公式(12)中，θl表示平均故障间隔时间的单侧置信下限；T表示任务时间；Rl表示可靠度的单侧置信下限。
本实施例中，T＝120h，
Rl＝66.9％，c＝80％，根据公式(11)得到该电子设备的平均故障间隔时间的点估计结果
根据公式(12)得到在置信度为80％的条件下的平均故障间隔时间的单侧置下限θl＝298.53h。
在一些示例中，可靠度包括电子设备的可靠度的点估计结果和区间估计结果、以及平均故障间隔时间的点估计结果和区间估计结果。这样，可以对电子设备的可靠度进行全面评估。
本公开实施例无需先根据假定条件对可靠性指标进行转换，再确定统计试验方案，这样，能够避免假定条件带来的不确定性，有利于提高可靠性评估结果的准确性。并且，可靠性试验通过加速寿命试验进行，能够较大程度地缩短试验时间，降低试验成本。
图3是本公开实施例提供的一种电子设备的可靠性评估装置的结构示意图。如图3所示，该装置300包括：试验方案确定模块301、获得模块302和评估模块303。其中，试验方案确定模块301用于根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；获得模块302用于获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；评估模块303用于根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。
可选地，所述试验方案确定模块301用于根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的任务时间和所述任务时间对应的可靠度；根据抽样原理，基于所述可靠度，确定所述试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数。
可选地，所述获得模块302用于按照以下至少一种评估电子设备的可靠性：
根据所述试验总次数和所述成功试验次数，确定所述电子设备的可靠度的点估计结果；
根据所述试验总次数、所述成功试验次数和置信度，确定电子设备的可靠度的单侧置信下限，所述置信度是基于所述可靠性指标确定的；
根据任务时间和所述可靠度的点估计结果，确定平均故障间隔时间的点估计结果，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的；
根据任务时间和所述可靠度的单侧置信下限，确定平均故障间隔时间的单侧置信下限，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的。
可选地，所述装置还包括：失效率确定模块304、第一加速因子确定模块305、第二加速因子确定模块306和试验时长确定模块307。其中，失效率确定模块304用于根据电子设备包含的元器件的信息，确定第一失效率和第二失效率，其中，第一失效率为每种所述元器件在第一环境温度下的工作失效率，第二失效率为所述电子设备在所述第二环境温度下的工作失效率，所述第一环境温度为所述电子设备正常工作时的环境温度。第一加速因子确定模块305用于根据加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子。第二加速因子确定模块306用于根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子、所述第一失效率和所述第二失效率，确定所述电子设备的加速因子。试验时长确定模块307用于根据所述任务时长和所述电子设备的加速因子，确定所述加速寿命试验的试验时长。
可选地，第一加速因子确定模块305用于确定每种所述元器件的激活能；基于所述第一环境温度、第二环境温度和所述激活能，根据所述加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子。
可选地，第二加速因子确定模块306用于将每种所述元器件的加速因子与对应的权重值相乘的乘积之和，确定为所述电子设备的加速因子，每种所述元器件对应的所述权重值等于所述元器件对应的所述第一失效率与所述第二失效率的比值。
需要说明的是：上述实施例提供的电子设备的可靠性评估装置在评估电子设备的可靠性时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的电子设备的可靠性评估装置与电子设备的可靠性评估方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
图4是本公开实施例提供的计算机设备的结构框图。如图4所示，该计算机设备400包括：处理器401和存储器402。
处理器401可以包括一个或多个处理核心，比如5核心处理器、8核心处理器等。处理器401可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器401也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器401可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器401还可以包括AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
存储器402可以包括一个或多个计算机可读介质，该计算机可读介质可以是非暂态的。存储器402还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器402中的非暂态的计算机可读介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器401所执行以实现本公开实施例中提供的方法。
本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构并不构成对计算机设备400的限定，可以包括比图示更多或更少的组件，或者组合某些组件，或者采用不同的组件布置。
本发明实施例还提供了一种非临时性计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由计算机设备400的处理器执行时，使得计算机设备400能够执行本公开实施例中提供的方法。
一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，计算机程序/指令被处理器执行时实现本公开实施例中提供的方法。
以上仅为本公开的可选实施例，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电子设备的可靠性评估方法，其特征在于，所述方法包括：
根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；
获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；
根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，包括：
根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的任务时间和所述任务时间对应的可靠度；
根据抽样原理，基于所述可靠度，确定所述试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性，包括以下至少一种：
根据所述试验总次数和所述成功试验次数，确定所述电子设备的可靠度的点估计结果；
根据所述试验总次数、所述成功试验次数和置信度，确定电子设备的可靠度的单侧置信下限，所述置信度是基于所述可靠性指标确定的；
根据任务时间和所述可靠度的点估计结果，确定平均故障间隔时间的点估计结果，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的；
根据任务时间和所述可靠度的单侧置信下限，确定平均故障间隔时间的单侧置信下限，所述任务时间是基于所述可靠性指标确定的。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据电子设备包含的元器件的信息，确定第一失效率和第二失效率，其中，第一失效率为每种所述元器件在第一环境温度下的工作失效率，第二失效率为所述电子设备在所述第二环境温度下的工作失效率，所述第一环境温度为所述电子设备正常工作时的环境温度；
根据所述加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子；
根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子、所述第一失效率和所述第二失效率，确定所述电子设备的加速因子；
根据所述任务时长和所述电子设备的加速因子，确定所述加速寿命试验的试验时长。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述加速寿命试验的加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子，包括：
确定每种所述元器件的激活能；
基于所述第一环境温度、第二环境温度和所述激活能，根据所述加速模型，确定所述电子设备中各个元器件的加速因子。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述电子设备所包含的各种元器件的加速因子、所述第一失效率和所述第二失效率，确定所述电子设备的加速因子，包括：
将每种所述元器件的加速因子与对应的权重值相乘的乘积之和，确定为所述电子设备的加速因子，每种所述元器件对应的所述权重值等于所述元器件对应的所述第一失效率与所述第二失效率的比值。
7.一种电子设备的可靠性评估装置，其特征在于，所述装置包括：
试验方案确定模块，用于根据电子设备的可靠性指标，确定可靠性试验的统计试验方案，所述统计试验方案包括试验总次数以及所述试验总次数对应的最低成功试验次数；
获得模块，用于获得可靠性试验的试验结果，所述可靠性试验包括满足所述统计试验方案的多次加速寿命试验，所述试验结果包括试验总次数和成功试验次数；
评估模块，用于根据所述试验结果，评估电子设备的可靠性。
8.一种计算机设备，其特征在于，包括：
处理器；
用于存储处理器可执行指令的存储器；
其中，所述处理器被配置为执行所述可执行指令，以实现如权利要求1至6任一项所述的方法。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，当计算机可读存储介质中的指令由计算机设备的处理器执行时，使得计算机设备能够执行如权利要求1至6任一项所述的方法。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其特征在于，所述计算机程序/指令被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210405356.8A CN114896105A (zh) | 2022-04-18 | 2022-04-18 | 电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210405356.8A CN114896105A (zh) | 2022-04-18 | 2022-04-18 | 电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114896105A true CN114896105A (zh) | 2022-08-12 |
Family
ID=82717265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210405356.8A Pending CN114896105A (zh) | 2022-04-18 | 2022-04-18 | 电子设备的可靠性评估方法、装置、设备和介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114896105A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117688735A (zh) * | 2023-11-30 | 2024-03-12 | 中国人民解放军92493部队试验训练总体研究所 | 基于随机模拟的指数寿命型参数指标的设备可靠性检测方法 |
-
2022
- 2022-04-18 CN CN202210405356.8A patent/CN114896105A/zh active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117688735A (zh) * | 2023-11-30 | 2024-03-12 | 中国人民解放军92493部队试验训练总体研究所 | 基于随机模拟的指数寿命型参数指标的设备可靠性检测方法 |
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