CN117401487A - 膜的接续控制方法及系统、含膜的物品的制造方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种膜的接续控制方法及系统、含膜的物品的制造方法。适当地有效利用在产品的制造等中使用的卷筒膜。膜的接续控制方法是对膜的接续进行控制的膜的接续控制系统的动作方法，该膜被从将长尺寸的膜卷绕于卷芯而成的卷筒抽出来使用，并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续来连续使用，膜的接续控制方法包括以下步骤：缺陷检测步骤(S02)，在与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前检测卷芯缺陷，该卷芯缺陷是产生于膜并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷；以及位置决定步骤(S03)，根据所检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。

Description

膜的接续控制方法及系统、含膜的物品的制造方法

技术领域

本发明涉及一种对从卷筒抽出来使用的膜的接续进行控制的膜的接续控制方法和膜的接续控制系统、以及包括膜的接续控制方法的含膜的物品的制造方法。

背景技术

以往，在以光学树脂膜等膜为材料来制造产品的情况下，使膜从将长尺寸的膜卷绕于卷芯(芯)而成的卷筒抽出来在制造中使用。另外，通过将抽出膜的卷筒膜与其它卷筒膜连接在一起，从而能够将不同的卷筒之间的膜连续地使用于制造中(例如，参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2020-201458号公报

发明内容

发明要解决的问题

卷筒上的膜由于各种原因而产生离卷芯越近则越强地显现出的缺陷即卷芯缺陷。产生卷芯缺陷的原因是因卷紧而对卷芯的过度加压、压力的不均衡(折痕、褶皱)、将膜固定于卷芯的胶带等构件的凹凸转印、温湿度等保管卷筒的保管环境以及保管时间等的推移等。产生了卷芯缺陷的膜不适合在产品的制造中使用。

对此，将卷筒膜用尽地进行制造，并在后续的工序中进行产品或中间物是否良好的判定。然而，使用产生了缺陷的膜制造出的产品或中间物会被废弃从而产生浪费。

或者，也考虑在制造时若卷筒膜的剩余成为预先设定的统一的长度则不将此后的膜使用于制造。然而，卷筒膜中的产生卷芯缺陷的部分对于各卷筒而不同。因此，在上述的方法中，会产生能够使用于产品的制造却被废弃的膜、或者尽管产生了缺陷却被使用于产品的制造的膜。

本发明是鉴于上述而完成的，其目的在于提供一种能够适当地有效利用在产品的制造等中使用的卷筒膜的膜的接续控制方法、含膜的物品的制造方法以及膜的接续控制系统。

用于解决问题的方案

为了达成上述目的，本发明所涉及的膜的接续控制方法是对膜的接续进行控制的膜的接续控制系统的动作方法，所述膜被从将长尺寸的膜卷绕于卷芯而成的卷筒抽出来使用，并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续来连续使用，所述膜的接续控制方法包括以下步骤：缺陷检测步骤，在与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前检测卷芯缺陷，所述卷芯缺陷是产生于膜并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷；以及位置决定步骤，根据在所述缺陷检测步骤中检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。

在本发明所涉及的膜的接续控制方法中，检测卷芯缺陷，并根据检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。因而，根据本发明所涉及的膜的接续控制方法，能够将在产品的制造等中使用的卷筒膜使用到对于每个卷筒而言适当的部分，从而能够适当地有效利用膜。

也可以是，在缺陷检测步骤中，获取与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前的膜的图像，并根据该图像来检测膜的卷芯缺陷。根据该结构，能够适当且可靠地检测膜的卷芯缺陷，其结果是，能够适当且可靠地有效利用膜。

也可以是，作为卷芯缺陷的检测对象的膜与其它系统的膜进行粘贴来使用，在位置决定步骤中，以使在与其它系统的膜进行了粘贴时作为卷芯缺陷的检测对象的膜的接头与其它系统的膜的接头之间的距离成为预先设定的长度以上的方式决定位置。根据该结构，能够减少在将多张膜粘贴在一起后因将膜彼此连接而引起问题的部分。

本发明所涉及的含膜的物品的制造方法包括上述的膜的接续控制方法。

另外，本发明除了能够如上述那样记述为膜的接续控制方法的发明以外，还能够如下面这样记述为膜的接续控制系统的发明。这些发明是仅类型不同而实质相同的发明，发挥同样的作用和效果。

即，本发明所涉及的膜的接续控制系统对膜的接续进行控制，所述膜被从将长尺寸的膜卷绕于卷芯而成的卷筒抽出来使用，并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续来连续使用，所述膜的接续控制系统具备：缺陷检测单元，其在与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前检测卷芯缺陷，所述卷芯缺陷是产生于膜并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷；以及位置决定单元，其根据由所述缺陷检测单元检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。

发明的效果

根据本发明，能够适当地有效利用在产品的制造等中使用的卷筒膜。

附图说明

图1是示出本发明的实施方式所涉及的膜的接续控制系统和制造装置的结构的图。

图2是示意性示出产生于膜的卷芯缺陷的图。

图3是示出获取用于检测卷芯缺陷的图像的结构的例子的图。

图4是示出作为通过本发明的实施方式所涉及的膜的接续控制系统执行的处理的膜的接续控制方法、以及包括该接续控制方法的含膜的物品的制造方法的流程图。

具体实施方式

下面，结合附图来详细地说明本发明所涉及的膜的接续控制方法、含膜的物品的制造方法以及膜的接续控制系统的实施方式。此外，在附图的说明中，对同一要素标注同一附图标记，并省略重复的说明。

图1示出本实施方式所涉及的膜的接续控制系统10。接续控制系统10是对从卷筒抽出来使用的膜的接续进行控制的系统(装置)。另外，在图1中示意性示出使用膜作为材料来进行制造的制造装置100。

制造装置100制造包含膜的物品。在本实施方式中，所制造的物品是将多张膜进行粘贴而层叠得到的层叠膜。例如，层叠膜是在作为偏振片的光学树脂膜的两面粘贴作为保护膜或光学功能膜的光学树脂膜所得到的层叠光学膜。这样的层叠膜例如被使用于偏光板的制造。但是，所制造的物品只要是包含膜的物品即可，无需是层叠膜。另外，膜也可以是光学树脂膜以外的膜。另外，由制造装置100制造的物品既可以是最终的产品，也可以是用于制造最终的产品的中间物。

如图1所示，膜200为长尺寸，形成为卷绕于卷芯的卷筒210。膜200从卷筒210抽出来使用于制造中。膜200例如是上述的作为保护膜或光学功能膜的光学树脂膜。准备多个相同种类的膜200(卷筒210)，并进行将它们连接在一起的接续。即使能够使用于制造的一个卷筒210的膜200耗尽，也能够通过与备用的其它卷筒210的膜200进行接续，来连续地使用膜200进行制造。

另外，如图1所示，也可以使用未进行接续的膜300。膜300从卷筒310抽出来使用于制造中。膜300例如是上述的作为偏振片的光学树脂膜。但是，该膜300也可以与上述的膜200同样地进行接续。另外，也可以将膜300设为比膜200长。即，也可以将膜300设为长卷膜，将膜200设为短卷膜。

如图1所示，在本实施方式中，在制造装置100中，在膜300的两面分别粘贴膜200来制造层叠膜400。像这样将进行接续的膜200与其它系统的膜200粘贴在一起。在本实施方式中，在图1中，存在从膜300的左侧与膜300进行粘贴的系统的膜200和从膜300的右侧与膜300进行粘贴的系统的膜200这两个系统。在上述的例子中，粘贴是隔着膜300间接地进行的，但也可以在膜200之间直接进行。层叠膜400被卷绕于卷芯而形成为卷筒410。使用于制造中的膜200、300的卷筒210、310被预先决定位置地配置于制造装置100。

制造装置100具备用于搬送膜200、300的搬送辊110。搬送辊110被预先决定位置地设置。搬送辊110搬送膜200、300的搬送路径设为能够进行上述的膜200的接续和膜200、300的粘贴。在图1中用空心的箭头示出膜200、300的搬送路径的搬送方向。

制造装置100具备用于进行膜200、300的粘贴的两个夹持辊120。通过使被搬送的膜200、300穿过两个夹持辊120来进行上述的膜200、300的粘贴，从而制造出层叠膜400。

制造装置100具备接续装置130。接续装置130设置于膜200的搬送路径上的、膜200的卷筒210与夹持辊120之间的位置。接续装置130通过对成为接续对象的一张膜200进行切割(切断)，并将成为接续对象的另一张膜200粘附于被切割了的膜200，由此进行膜200的接续。接续是通过将旧的膜200(被切割了的膜200)的后端部与新的膜200的前端部在重叠的状态下进行粘接固定来进行的。或者，接续是通过将旧的膜200的后端部与新的膜200的前端部不进行重叠而用胶带等固定来进行的。接续装置130如后述那样接受接续控制系统10的控制来进行接续。

作为制造装置100，使用以往的进行上述的工序的制造装置即可。使用于制造中的膜200、300的卷筒210、310也可以是以往的卷筒。

例如，如本实施方式那样被粘贴的膜200的长边方向的长度即卷绕长度也可以为400m以上、800m以上或者1200m以上。或者，在与本实施方式不同而不进行粘贴的情况下，膜200的卷绕长度也可以为5000m以上或10000m以上。膜200的宽度即整卷(日文：原反)宽度也可以为2000mm以下、1200m～2000m或者1500m～2000m。膜200的厚度也可以为200μm以下、100μm以下、50μm以下或者30μm以下。卷筒210的膜卷径也可以为直径φ300mm以上、φ400mm以上或者φ500mm以上。

从卷筒210抽出的膜200由于各种原因而产生卷芯缺陷，该卷芯缺陷是离卷芯越近则越强地显现出的缺陷。产生卷芯缺陷的原因是因卷紧而对卷芯的过度加压、压力的不均衡(折痕、褶皱)、将膜固定于卷芯的胶带等构件的凹凸转印、温湿度等保管卷筒的保管环境以及保管时间等的推移等。产生了卷芯缺陷的膜200不适合使用于产品的制造。膜200越长、越宽、越薄，则卷芯缺陷越显著。

在图2中示意性地示出产生于膜200的卷芯缺陷D的例子。图2所示的卷芯缺陷D是由于将膜200固定于卷筒210的卷芯的胶带220的凹凸转印而产生于膜200上的凹凸。该卷芯缺陷D在膜200抽出的方向上大致周期性地显现。

由于胶带220的凹凸转印在越靠近卷芯的部分处越强，因此上述的卷芯缺陷D离卷芯越近则被越强地显现出。在该情况下，离卷芯越近，则产生于膜200的凹凸的高低差越大。在图2中，黑色越浓则表示卷芯缺陷D的显现程度越强。卷芯缺陷D的强度为一定强度以上的膜200不适合使用于制造中。例如，图2所示的卷芯缺陷D的强度不那么强的OK所表示的范围的膜200能够使用于制造中，但卷芯缺陷D的强度强的NG所表示的范围的膜200不能够使用于制造中。此外，卷芯缺陷只要是产生于膜200并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷即可，也可以是上述以外的缺陷。例如，卷芯缺陷也可以是膜200的变形、形状的不均匀或者颜色的不均匀。

接续控制系统10用于对膜200的接续进行控制来适当地有效利用在制造中使用的卷筒膜。接续位置之后的膜200不被使用于制造中，通常会被废弃。接续控制系统10进行的控制用于减少尽管能够使用于制造中却被废弃的膜200以及尽管不适合在制造中使用却被使用于制造中的膜200。

具体地说，接续控制系统10是作为包括CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)、存储器等硬件的计算机的PC(个人计算机)或服务器装置等。这些构成要素通过程序等进行动作，由此发挥接续控制系统10的后述的各功能。此外，接续控制系统10既可以由一个计算机实现，也可以通过多个计算机利用网络相互连接而构成的计算机系统来实现。

接下来，说明本实施方式所涉及的接续控制系统10的功能。如图1所示，接续控制系统10构成为具备缺陷检测部11和位置决定部12。

缺陷检测部11是在与从其它卷筒210抽出的膜200进行接续之前检测产生于膜200并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷即卷芯缺陷的缺陷检测单元。即，缺陷检测部11进行膜200的缺陷的检查。缺陷检测部11也可以获取与从其它卷筒210抽出的膜200进行接续之前的膜200的图像，并根据该图像来检测膜的卷芯缺陷。例如，缺陷检测部11如下面那样检测产生于膜200的卷芯缺陷。

为了通过缺陷检测部11进行卷芯缺陷的检测，在制造装置100中事先设置用于获取在该检测中使用的信息的装置。该装置例如是光源21和摄像机22。此外，也可以将包括构成接续控制系统10的计算机和上述的装置21、22的系统设为接续控制系统。

光源21和摄像机22针对每个作为卷芯缺陷的检测对象的膜200的卷筒210进行设置。在图1所示的例子中，针对从四个卷筒210抽出的膜200分别设置光源21和摄像机22。光源21和摄像机22被定位于膜200的搬送方向上的在接续装置130前面的位置(即，接续工序上游的位置)地进行设置。具体地说，设置光源21和摄像机22的位置是从卷筒210抽出膜200的位置附近，例如距该位置2000mm以下或1000mm以下。

光源21是向作为卷芯缺陷的检测对象的膜200的表面照射光的装置。光源21的光用于使得摄像机22能够获取适合于检测卷芯缺陷的图像。摄像机22是对膜200进行拍摄的摄像装置。通过摄像机22的拍摄所得到的图像被使用于由缺陷检测部11进行的膜200的卷芯缺陷的检测中。即，在本实施方式中，根据膜200的外观来进行缺陷的检查。

摄像机22设置于能够对膜200的两面中的设置有光源21一侧的面进行拍摄的位置。即，光源21和摄像机22均设置于膜200的两面中的同一面侧。摄像机22设置为对使光源21的光(散射)反射的膜200的部位进行拍摄。摄像机22以聚焦于膜200中的来自光源21的光反射(照射)的部分(光源反射像)的端部的方式进行拍摄。

摄像机22连续地对膜200进行拍摄。例如，以使搬送的膜200的所有部分拍进通过拍摄得到的图像中的任一图像中的方式进行拍摄。摄像机22以能够向接续控制系统10发送信息的方式与接续控制系统10连接。摄像机22每当进行拍摄时，向接续控制系统10发送通过拍摄得到的图像。作为光源21和摄像机22，使用以往的光源和摄像机即可。

缺陷检测部11接收并获取从摄像机22发送的图像。缺陷检测部11当从摄像机22接收到图像时，根据该图像来检测膜200的卷芯缺陷。缺陷检测部11通过图像解析来从图像中提取卷芯缺陷的特征。例如，作为卷芯缺陷的特征，缺陷检测部11从图像中提取表示膜200的卷芯缺陷的强度的值(例如，表示值越大则越强地显现出卷芯缺陷的值)。使用机器学习(AI(人工智能))等现有技术来进行通过图像解析从图像提取卷芯缺陷特征的处理即可。此时，产生了卷芯缺陷的膜的图像和没有产生卷芯缺陷的膜的图像也可以用作教师数据。

缺陷检测部11基于从图像中提取出的卷芯缺陷的特征，来检测产生于膜200的卷芯缺陷。例如，缺陷检测部11将上述的与卷芯缺陷的特征有关的值同预先设定的阈值进行比较来检测卷芯缺陷。缺陷检测部11在与卷芯缺陷的特征有关的值为阈值以上的情况下判断为拍进图像中的膜200产生了卷芯缺陷，在上述的与卷芯缺陷的特征有关的值低于阈值的情况下判断为拍进图像中的膜200没有产生卷芯缺陷。

此处判断的卷芯缺陷也可以设为不适合制造层叠膜的水平的缺陷。因而，即使产生了卷芯缺陷，但如果是实质上无碍于层叠膜的制造的轻微缺陷(例如，在将层叠膜粘附于玻璃来制造偏光板时凹凸会消失那样的缺陷)，则也可以设为没有产生卷芯缺陷。

另外，缺陷检测部11也可以不是根据一个图像而是根据按时间序列的多个图像来检测卷芯缺陷。例如，也可以是，缺陷检测部11预先存储与膜200的卷筒相应的周期，在该周期内连续预先设定的次数地检测到缺陷的情况下判断为膜200产生了卷芯缺陷。

缺陷检测部11也可以在卷筒210中的膜200的剩余量变为预先设定的长度(例如200m)时进行卷芯缺陷的检测。这是因为考虑到在上述的长度以上的部分不易产生卷芯缺陷。在该情况下，光源21和摄像机22仅在通过缺陷检测部11进行卷芯缺陷的检测时进行动作即可(下面也同样)。此外，也可以设为，针对各卷筒210事先设置传感器(例如编码器)等，从而在接续控制系统10中掌握在各卷筒210的膜200的哪个部分(例如，卷筒210的剩余的长度)进行上述的检测以及进行接续(具体地说，用于接续的膜200的切割)，并利用于各功能。

缺陷检测部11对使用于层叠膜400的制造中的、即为了与膜300进行粘贴而被搬送的膜200进行卷芯缺陷的检测即可，无需对接续前的备用的膜200进行卷芯缺陷的检测。缺陷检测部11当检测到膜200的卷芯缺陷时，向位置决定部12通知该检测到卷芯缺陷的意思。另外，缺陷检测部11也可以将表示被检测到卷芯缺陷的膜200的信息(例如，表示是图1中的左侧的膜200还是右侧的膜200的信息)和表示膜200上的被检测到卷芯缺陷的位置的信息一起输出到位置决定部12，将这些信息使用于位置决定部12中的控制。

用于检测卷芯缺陷的光源21和摄像机22能够设为上述以外的结构。例如，如图3的(a)所示，也可以将光源21设为向膜200照射设置有网格掩模的网格图案的光。通过摄像机22进行拍摄得到作为网格图案的光的反射像的图像，也可以检测该反射像的变形来检测卷芯缺陷。

另外，在膜200由使光透过的构件构成的情况下，也可以设为，如图3的(b)所示，以对膜200的一个面倾斜地照射光的方式配置光源21，并在膜200的相反侧的面配置摄像机22，来拍摄光源21的透过了膜200的光。在该情况下，例如，光源21和摄像机22也可以配置为光的照射方向和摄像方向相对于膜200成45°±15°。另外，在该情况下，也可以设为对来自光源21的光的一半进行遮光(狭缝)。

缺陷检测部11也可以通过上述以外的方法检测膜200的卷芯缺陷。另外，缺陷检测部11也可以使用膜200的图像以外的信息来检测膜200的卷芯缺陷。检测卷芯缺陷的方法和使用于卷芯缺陷的检测中的信息也可以设为与所检测的卷芯缺陷的类别相应。

位置决定部12是根据由缺陷检测部11检测到的卷芯缺陷来决定卷筒210上的膜200的要与从其它卷筒210抽出的膜200进行接续的位置的位置决定单元。位置决定部12也可以以使在与其它系统的膜200进行了粘贴时作为卷芯缺陷的检测对象的膜200的接头与其它系统的膜200的接头之间的距离成为预先设定的长度以上的方式决定位置。卷筒210的膜200的使用量根据与其它卷筒210的膜200进行接续的位置而决定。因而，位置决定部12决定卷筒210的膜200的使用量(卷出量)。例如，位置决定部12如下面那样决定卷筒210的膜200的接续位置。

位置决定部12从缺陷检测部11接受检测到膜200的卷芯缺陷的意思的通知。位置决定部12接受该通知后，将膜200的搬送方向(长边方向)上的、紧挨着被检测到的卷芯缺陷的位置之前的位置决定为接续位置。在图2所示的例子中，将膜200的搬送方向(长边方向)上的紧挨着最初设为NG的卷芯缺陷D之前的位置P决定为接续位置。

位置决定部12当决定了膜200的接续位置时，对接续装置130进行控制使得对该膜200在所决定的接续位置进行切割并与其它卷筒210的膜200进行接续。此外，为了进行该控制，接续控制系统10与接续装置130以能够进行信息的发送和接收的方式连接。接续装置130接受该控制而进行接续。与控制相应的接续装置130的动作与以往的接续装置同样地进行即可。

在如上述那样对各膜200独立地决定接续位置的情况下，进行粘贴的两个系统的膜200(在图1的例子中为从左右分别与膜300粘贴的两张膜200)的接续位置有可能在层叠膜400上相接近。通常来说，膜200的接续位置处的膜200的厚度形成为在膜200的厚度方向上突出的凸状。这是因为，由于利用胶带等将两张膜200连结，因此膜200增厚与胶带等的厚度相应的量。因此，当膜200的接续位置通过夹持辊120而被粘贴于膜300时，由于该接续位置的部分的原因而可能会在粘贴内表面产生气泡或褶皱。尤其当膜200的接续位置的凹凸差大时该情况变得显著。

另外，缺陷以气泡或褶皱为起点进一步发展扩散，从而在层叠膜400大范围地形成无法使用的不良部。关于该不良部，当两张膜200的接续位置相接近时它们的凹凸相互影响，形成比由各自的接续位置造成的不良部更大范围的不良部。因此，位置决定部12也可以将两张膜200的接续位置即接头之间的距离设为不会互相影响的距离。

位置决定部12针对各系统的膜200事先存储所决定的接续位置。位置决定部12在从缺陷检测部11接受通知并决定接续位置时，在如上述那样决定了接续位置的情况下，判断在层叠膜400上该接续位置与所存储的其它系统的膜200的接续位置的间隔是否为预先设定的长度以上。位置决定部12预先存储有膜200的接续位置与该接续位置会是层叠膜400的哪个位置的对应关系，基于该存储来进行上述的判断。预先设定的长度L例如也可以满足0mm＜L，以避免使接续位置的凹凸变为最大的接续位置重叠。或者，长度L也可以满足50mm≤L或100mm≤L以使接续位置成为不互相影响的间隔。并且，长度L也可以满足250mm≤L或500mm≤L，以使接续位置相距卷筒210的半周以上(例如，6英尺的卷芯的圆周为478mm)。

位置决定部12当判断为上述的间隔为预先设定的长度以上时，如上述那样决定接续位置。位置决定部12当判断为上述的间隔不为预先设定的长度以上时，将接续位置决定为在搬送方向上向后移动后的位置以使上述的间隔成为预先设定的长度。在该情况下，膜200的被缺陷检测部11检测为存在卷芯缺陷的部分有可能被使用于层叠膜400的制造中。因而，也可以使缺陷检测部11对卷芯缺陷的检测的基准更严格(例如下调阈值)，来防止膜200的不适当的部分被使用于层叠膜400的制造中。位置决定部12像这样决定了接续位置后，与上述同样地控制接续装置130即可。以上为本实施方式所涉及的膜的接续控制系统10的功能。

接下来，使用图4的流程图来说明作为通过本实施方式所涉及的膜的接续控制系统10执行的处理(膜的接续控制系统10进行的动作方法)的膜的接续控制方法、以及包括该接续控制方法的含膜的物品的制造方法。

在本处理中，通过制造装置100利用膜200、300来制造层叠膜400(S01)。此外，层叠膜400的制造工序(S01)在进行之后的处理的期间也持续地进行。

接着，通过接续控制系统10的缺陷检测部11来检测膜200的卷芯缺陷(S02，缺陷检测步骤)。膜200的卷芯缺陷的检测例如根据通过摄像机22进行拍摄而得到的被光源21照射了光的膜200的图像来进行。接着，通过位置决定部12根据由缺陷检测部11检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒210抽出的膜200进行接续的接续位置(S03，位置决定步骤)。

接着，通过位置决定部12来控制接续装置130以在所决定的接续位置进行膜200的接续(S04)。根据该控制，来通过接续装置130进行膜200的接续。此外，按使用于层叠膜400的制造中的膜200的系统重复进行S02～S04的处理。以上为通过本实施方式所涉及的膜的接续控制系统10执行的处理和含膜的物品的制造方法。

在本实施方式中，检测卷芯缺陷，并根据所检测到的卷芯缺陷来决定卷筒210上的膜200的要与从其它卷筒210抽出的膜200进行接续的位置。因而，根据本实施方式，能够将使用于制造中的卷筒210的膜200使用到对于各卷筒210而言适当的部分，从而能够适当地有效利用膜200。具体地说，与当卷筒膜的剩余量变为预先设定的统一的长度时进行接续等情况相比，接续控制系统10能够减少尽管能够使用于制造中却被废弃的膜200、或者尽管不适合在制造中使用却被使用于制造中的膜200。

另外，如本实施方式那样，也可以获取与从其它卷筒210抽出的膜200进行接续之前的膜200的图像，并根据该图像来检测膜200的卷芯缺陷。根据该结构，能够适当且可靠地检测膜200的卷芯缺陷，其结果是能够适当且可靠地有效利用膜200。但是，卷芯缺陷的检测未必都需要根据图像来进行，利用任意的方法进行即可。

另外，如本实施方式那样，也可以是，作为卷芯缺陷的检测对象的膜200与其它系统的膜200粘贴来使用，从而以使在与其它系统的膜200进行了粘贴时与其它系统的膜200之间的接头间的距离成为预先设定的长度以上的方式决定接续位置。根据该结构，能够减少在将多张膜200粘贴在一起后因将上述的膜200彼此连接而引起问题的部分。但是，不同的系统的多张膜200的粘贴未必都需要进行。

另外，如本实施方式那样，膜200的接续控制也可以使用于包含该膜200的物品的制造方法。此外，在本实施方式中，所制造的物品是层叠膜400，但也可以是层叠膜400以外的物品。此外，在本实施方式中，设为成为接续的控制对象的膜200被使用于制造中。然而，膜只要是从卷筒抽出来使用并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续后被连续地使用即可，未必需要使用于制造中。

本公开的膜的接续控制方法、含膜的物品的制造方法以及膜的接续控制系统具有下面的结构。

[1]一种膜的接续控制方法，是对膜的接续进行控制的膜的接续控制系统的动作方法，所述膜被从将长尺寸的膜卷绕于卷芯而成的卷筒抽出来使用，并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续来连续使用，所述膜的接续控制方法包括以下步骤：

缺陷检测步骤，在与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前检测卷芯缺陷，所述卷芯缺陷是产生于膜并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷；以及

位置决定步骤，根据在所述缺陷检测步骤中检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。

[2]根据[1]所记载的膜的接续控制方法，其中，在所述缺陷检测步骤中，获取与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前的膜的图像，并根据该图像来检测膜的卷芯缺陷。

[3]根据[1]或[2]所记载的膜的接续控制方法，其中，

作为卷芯缺陷的检测对象的膜与其它系统的膜进行粘贴来使用，

在所述位置决定步骤中，以使在与其它系统的膜进行了粘贴时作为卷芯缺陷的检测对象的膜的接头与其它系统的膜的接头之间的距离成为预先设定的长度以上的方式决定位置。

[4]一种含膜的物品的制造方法，包括根据[1]～[3]中的任一项所记载的膜的接续控制方法。

[5]一种膜的接续控制系统，对膜的接续进行控制，所述膜被从将长尺寸的膜卷绕于卷芯而成的卷筒抽出来使用，并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续来连续使用，所述膜的接续控制系统具备：

缺陷检测单元，其在与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前检测卷芯缺陷，所述卷芯缺陷是产生于膜并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷；以及

位置决定单元，其根据由所述缺陷检测单元检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。

附图标记说明

10：膜的接续控制系统；11：缺陷检测部；12：位置决定部；21：光源；22：摄像机；100：制造装置；110：搬送辊；120：夹持辊；130：接续装置；200、300：膜；400：层叠膜；210、310、410：卷筒；220：胶带。

Claims (5)

1.一种膜的接续控制方法，是对膜的接续进行控制的膜的接续控制系统的动作方法，所述膜被从将长尺寸的膜卷绕于卷芯而成的卷筒抽出来使用，并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续来连续使用，所述膜的接续控制方法包括以下步骤：

缺陷检测步骤，在与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前检测卷芯缺陷，所述卷芯缺陷是产生于膜并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷；以及

位置决定步骤，根据在所述缺陷检测步骤中检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。

2.根据权利要求1所述的膜的接续控制方法，其中，

在所述缺陷检测步骤中，获取与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前的膜的图像，并根据该图像来检测膜的卷芯缺陷。

3.根据权利要求1或2所述的膜的接续控制方法，其中，

作为卷芯缺陷的检测对象的膜与其它系统的膜进行粘贴来使用，

在所述位置决定步骤中，以使在与其它系统的膜进行了粘贴时作为卷芯缺陷的检测对象的膜的接头与其它系统的膜的接头之间的距离成为预先设定的长度以上的方式决定位置。

4.一种含膜的物品的制造方法，包括根据权利要求1或2所述的膜的接续控制方法。

5.一种膜的接续控制系统，对膜的接续进行控制，所述膜被从将长尺寸的膜卷绕于卷芯而成的卷筒抽出来使用，并且与从其它卷筒抽出的膜进行接续来连续使用，所述膜的接续控制系统具备：

缺陷检测单元，其在与从其它卷筒抽出的膜进行接续之前检测卷芯缺陷，所述卷芯缺陷是产生于膜并且离卷芯越近则越强地显现出的缺陷；以及

位置决定单元，其根据由所述缺陷检测单元检测到的卷芯缺陷，来决定卷筒上的膜的要与从其它卷筒抽出的膜进行接续的位置。