CN117253525A - 基于固态硬盘的uber测试方法、装置和计算机设备 - Google Patents

基于固态硬盘的uber测试方法、装置和计算机设备 Download PDF

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    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
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Abstract

本申请涉及一种基于固态硬盘的UBER测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；计算磨损总时间，SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。本发明确保SSD固态盘测试时间的准确性和磨损应力均匀，保证SSD固态硬盘UBER验证结果的可靠性。

Description

基于固态硬盘的UBER测试方法、装置和计算机设备
技术领域
本发明涉及固态硬盘测试技术领域，特别是涉及一种基于固态硬盘的UBER测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
SSD固态硬盘在设计阶段，会进行UBER测试验证NAND Flash介质可靠性，该测试项目是按照JESD219中业务模型要求，SSD主控下发读写业务对板载NAND Flash颗粒进行磨损测试，模拟现实使用过程中NAND Flash的磨损场景，在JESD218B要求的时间内将NANDFlash磨损到生命末期，观察SSD固态硬盘在整个生命周期内误码率、坏块率、失效率是否到达可靠性要求，得出SSD固态硬盘数据可靠性结论。
目前，UBER测试方法一般是定期巡查，根据当前写入情况，人为评估一个磨损速度满足测试时间要求，再进行业务大小调整，调整时间会出现延迟，调整无法准确的保持整个过程中保持一个相同的NAND Flash磨损速度，这样会造成NAND Flash磨损应力不均的问题，测试时间不准确与协议有偏差，测试结果不可靠。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于固态硬盘的UBER测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种基于固态硬盘的UBER测试方法，所述方法包括：
对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；
进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；
计算磨损总时间，SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；
如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；
如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；
如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
等待一段时间后，再次监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间并与标准时间进行对比，进行NAND Flash颗粒的业务大小控制，按照上述循环直至UBER测试结束。
在其中一个实施例中，在所述对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序的步骤之后还包括：
待UBER测试程序烧录完毕后，将待测固态硬盘与测试治具连接，放入温箱并按照预设温度和程序进行UBER测试。
在其中一个实施例中，所述标准时间为JESD218B标准规范中规定的标准时间。
一种基于固态硬盘的UBER测试装置，所述装置包括：
烧录模块，所述烧录模块用于对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；
测试模块，所述测试模块用于进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；
计算模块，所述计算模块用于计算磨损总时间；
判断模块，所述判断模块用于SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；
业务控制模块，所述业务控制模块用于如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。
在其中一个实施例中，所述装置还包括循环模块，所述循环模块用于：
等待一段时间后，再次监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间并与标准时间进行对比，进行NAND Flash颗粒的业务大小控制，按照上述循环直至UBER测试结束。
在其中一个实施例中，所述测试模块还用于：
待UBER测试程序烧录完毕后，将待测固态硬盘与测试治具连接，放入温箱并按照预设温度和程序进行UBER测试。
在其中一个实施例中，所述标准时间为JESD218B标准规范中规定的标准时间。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
上述基于固态硬盘的UBER测试方法、装置、计算机设备和存储介质，通过对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；计算磨损总时间，SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。本发明通过控制主控获取NAND写擦除寿命数值，调节读写NAND Flash颗粒业务的大小，可以实现控制不同WA情况下，均匀的进行NAND Flash颗粒读写擦除，确保SSD固态盘测试时间的准确性和磨损应力均匀，保证SSD固态硬盘UBER验证结果的可靠性。
附图说明
图1为一个实施例中基于固态硬盘的UBER测试方法的流程示意图；
图2为一个实施例中基于固态硬盘的UBER测试方法的发明构思图；
图3为另一个实施例中基于固态硬盘的UBER测试方法的流程示意图；
图4为一个实施例中基于固态硬盘的UBER测试装置的结构框图；
图5为另一个实施例中基于固态硬盘的UBER测试装置的结构框图；
图6为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
目前，现有一般SSD UBER测试步骤：将待测SSD烧录UBER程序，完成烧录后，链接SSD测试治具，放入温箱按照预设程序对NAND Flash颗粒读写擦磨损，同时进行检测SSD是否存在异常，间隔一段时间查询磨损次数，通过t＝TBW/S计算预估总时间是否满足测试目标时长要求，若不一致，手动修改读写业务大小；这种情况下存在时间延迟，在整个测试周期内出现对不同时间段NAND Flash颗粒擦写次数不同，导致磨损压力应力不均，测试时间不准确，测试结果不可靠。
基于此，本发明提出一种基于固态硬盘的UBER测试方法，旨在可以提高UBER测试的准确性和效率。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种基于固态硬盘的UBER测试方法，该方法包括：
步骤102，对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；
步骤104，进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；
步骤106，计算磨损总时间，SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；
步骤108，如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NANDFlash颗粒的业务；
步骤110，如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NANDFlash颗粒的业务；
步骤112，如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NANDFlash颗粒的业务大小。
在本实施例中，提出了一种基于固态硬盘的UBER测试方法，该方法构思如图2所示。区别于传统测试过程中通过人工巡查磨损情况；计算实际磨损总时间t是否符合预期，合理修改业务大小的方式。传统方案在测试过程中，温箱的温度是恒定的，这样使SSD盘片也处于一个恒定温度的环境，按照固定业务大小，运行UBER磨盘业务，理论上整个测试时间上磨盘的速度和应力应该一致，但实际在这种情况下，SSD存在写放大WA，导致每次写入盘片数据不一致，需要调整业务大小，保证实际写入数据量保持一致，在采取人工定期巡查，人为评估一个磨损速度满足时间要求，再调整业务大小，调整时间会出现延迟，调整无法准确的保持整个过程中保持一个相同的NAND Flash磨损速度，这样会造成NAND Flash磨损应力不均的问题，测试时间不准确与协议有偏差，测试结果不可靠。
在本方案中，通过控制主控获取NAND写擦除寿命数值，调节读写NAND Flash颗粒业务的大小，可以实现控制不同WA情况下，均匀的进行NAND Flash颗粒读写擦除，确保SSD固态盘测试时间的准确性和磨损应力均匀，保证SSD固态硬盘UBER验证结果的可靠性。
具体地，UBER测试开始按照业务协议要求模型SSD主控对板在的NAND Flash颗粒发起读写操作，实现NAND Flash的写擦除寿命测试，SSD主控通过下发读写命令的计数获得NAND Flash颗粒写擦除次数。
主控采集到NAND Flash写擦除次数，对比颗粒预写擦除次数，调节读写业务大小，实现对NAND Flash颗粒写擦除时间的控制；可以使SSD固态硬盘NAND Flash颗粒的读写擦除时间与JESD218B要求t目标相同，实现磨损应力相同，提升验证结果的准确性和可靠性。
在一个实施例中，标准时间为JESD218B标准规范中规定的标准时间。
按照JESD218B要求环境温度条件固定，测试时间t目标也是定值，SSD整个生命周期总写入量TBW也是定值，假如读写数据速度为S，则t＝TBW/S；WA(写放大)在不同生命周期内是在变化的，要达到在整个测试t时间内平稳磨盘的效果，S就会跟随WA变化而变化。
在上述实施例中，通过对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；计算磨损总时间，SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。本发明通过控制主控获取NAND写擦除寿命数值，调节读写NAND Flash颗粒业务的大小，可以实现控制不同WA情况下，均匀的进行NAND Flash颗粒读写擦除，确保SSD固态盘测试时间的准确性和磨损应力均匀，保证SSD固态硬盘UBER验证结果的可靠性。
在一个实施例中，方法还包括：等待一段时间后，再次监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间并与标准时间进行对比，进行NAND Flash颗粒的业务大小控制，按照上述循环直至UBER测试结束。
在一个实施例中，在对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序的步骤之后还包括：待UBER测试程序烧录完毕后，将待测固态硬盘与测试治具连接，放入温箱并按照预设温度和程序进行UBER测试。
本实施例中，提出了一种基于固态硬盘的UBER测试方法，其具体的流程图可参考图3所示，包括如下实现步骤：
3.1对需要测试的SSD烧录UBER测试程序。
3.2完成程序烧录后，再将SSD与测试治具连接。
3.3放入温箱，按照预设温度和程序进行UBER测试。
3.4实时监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间t。
3.5SSD主控制器判断总时间t与标准时间t目标是否相对，如果磨损总时间t低于标准时间t目标，SSD主控制器则增大对该NAND Flash颗粒的业务；如果磨损总时间t高于标准时间t目标，SSD主控制器则减小对该NAND Flash颗粒的业务；如果磨损总时间t等于标准时间t目标，SSD主控制器则保持对该NAND Flash颗粒的业务大小。
3.6等待X分钟后，再次监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间t，对比磨损时间，进行NAND Flash颗粒的业务大小控制，按照以上循环直到UBER测试结束。
3.7UBER测试结束，得出测结果。
在本实施例中，通过控制主控获取NAND写擦除寿命数值，调节读写NAND Flash颗粒业务的大小，可以实现控制不同WA情况下，均匀的进行NAND Flash颗粒读写擦除，保证SSD固态盘测试时间的准确性和磨损应力均匀，验证结果可靠。
应该理解的是，虽然图1-图3的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-图3中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图4所示，提供了一种基于固态硬盘的UBER测试装置400，该装置包括：
烧录模块401，所述烧录模块用于对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；
测试模块402，所述测试模块用于进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；
计算模块403，所述计算模块用于计算磨损总时间；
判断模块404，所述判断模块用于SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；
业务控制模块405，所述业务控制模块用于如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。
在一个实施例中，如图5所示，提供了一种基于固态硬盘的UBER测试装置400，该装置还包括循环模块406，所述循环模块用于：
等待一段时间后，再次监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间并与标准时间进行对比，进行NAND Flash颗粒的业务大小控制，按照上述循环直至UBER测试结束。
在一个实施例中，所述测试模块402还用于：
待UBER测试程序烧录完毕后，将待测固态硬盘与测试治具连接，放入温箱并按照预设温度和程序进行UBER测试。
在一个实施例中，所述标准时间为JESD218B标准规范中规定的标准时间。
关于基于固态硬盘的UBER测试装置的具体限定可以参见上文中对于基于固态硬盘的UBER测试方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括通过装置总线连接的处理器、存储器以及网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作装置、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作装置和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种基于固态硬盘的UBER测试方法。
本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以上各个方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上各个方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一种非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种基于固态硬盘的UBER测试方法，所述方法包括：
对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；
进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；
计算磨损总时间，SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；
如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；
如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；
如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。
2.根据权利要求1所述的基于固态硬盘的UBER测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
等待一段时间后，再次监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间并与标准时间进行对比，进行NAND Flash颗粒的业务大小控制，按照上述循环直至UBER测试结束。
3.根据权利要求2所述的基于固态硬盘的UBER测试方法，其特征在于，在所述对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序的步骤之后还包括：
待UBER测试程序烧录完毕后，将待测固态硬盘与测试治具连接，放入温箱并按照预设温度和程序进行UBER测试。
4.根据权利要求1-3任一项所述的基于固态硬盘的UBER测试方法，其特征在于，所述标准时间为JESD218B标准规范中规定的标准时间。
5.一种基于固态硬盘的UBER测试装置，其特征在于，所述装置包括：
烧录模块，所述烧录模块用于对需要测试的固态硬盘烧录UBER测试程序；
测试模块，所述测试模块用于进行UBER测试并实时监控NAND Flash写入量；
计算模块，所述计算模块用于计算磨损总时间；
判断模块，所述判断模块用于SSD主控制器判断所述磨损总时间与标准时间是否相等；
业务控制模块，所述业务控制模块用于如果所述磨损总时间低于标准时间，则SSD主控制器则增大对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间高于标准时间，则SSD主控制器则减小对NAND Flash颗粒的业务；如果所述磨损总时间等于标准时间，则SSD主控制器则保持对NAND Flash颗粒的业务大小。
6.根据权利要求5所述的基于固态硬盘的UBER测试装置，其特征在于，所述装置还包括循环模块，所述循环模块用于：
等待一段时间后，再次监控NAND Flash写入量，计算磨损总时间并与标准时间进行对比，进行NAND Flash颗粒的业务大小控制，按照上述循环直至UBER测试结束。
7.根据权利要求6所述的基于固态硬盘的UBER测试装置，其特征在于，所述测试模块还用于：
待UBER测试程序烧录完毕后，将待测固态硬盘与测试治具连接，放入温箱并按照预设温度和程序进行UBER测试。
8.根据权利要求5-7任一项所述的基于固态硬盘的UBER测试装置，其特征在于，所述标准时间为JESD218B标准规范中规定的标准时间。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
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