CN110109787B - 基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法 - Google Patents

基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。通过本测试方法，可提前预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。

Description

基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法
技术领域
本发明涉及固态硬盘技术领域，特别是涉及一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
目前，随着固态硬盘技术的发展，为了让使固态硬盘整体工作功耗降低，固态硬盘需要频繁的进出低功耗状态，以保证固态硬盘的功耗足够低。
在传统技术中，根据固态硬盘工作原理，由于进入低功耗状态时，硬盘内部数据的写入动作，导致存储颗粒的消耗。然而，在现有技术中，并无此测试项对由于频繁进出低功耗造成的存储颗粒损耗进行测试，因此无法预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，所述方法包括：
获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；
根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；
读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；
强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；
读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
在其中一个实施例中，所述强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数的步骤还包括：
通过DM软件进行一次随机LBA写操作；
强制所述固态硬盘进入低功耗状态；
读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态；
重复上述步骤以使所述固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。
在其中一个实施例中，在所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤之后还包括：
对所述固态硬盘进行写半盘处理。
在其中一个实施例中，所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤包括：
根据所述测试请求在所述固态硬盘中安装测试系统；
将所述固态硬盘静置一定时间；
通过读取内部日志文件，确认所述固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。
一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，所述基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置包括：
获取模块，所述获取模块用于获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；
安装模块，所述安装模块用于根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；
读取模块，所述读取模块用于读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；
低功耗模块，所述低功耗模块用于强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；
判断模块，所述判断模块用于读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
在其中一个实施例中，所述低功耗模块还用于：
通过DM软件进行一次随机LBA写操作；
强制所述固态硬盘进入低功耗状态；
读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态；
重复上述步骤以使所述固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。
在其中一个实施例中，所述装置还包括：
写半盘处理模块，所述写半盘处理模块用于对所述固态硬盘进行写半盘处理。
在其中一个实施例中，所述安装模块还用于：
根据所述测试请求在所述固态硬盘中安装测试系统；
将所述固态硬盘静置一定时间；
通过读取内部日志文件，确认所述固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
上述基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。本发明根据固态硬盘工作原理，由于进入低功耗状态时，硬盘内部数据的写入动作，导致存储颗粒的消耗，结合硬盘的日常工作场景，实现了在短时间内能够模拟硬盘生命周期内的存储颗粒的消耗。此外，通过本测试方法，可提前预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。
附图说明
图1为一个实施例中基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法的流程示意图；
图2为另一个实施例中基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法的流程示意图；
图3为在一个实施例中基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法的流程示意图；
图4为一个实施例中基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法的完整流程图；
图5为一个实施例中基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置的结构框图；
图6为另一个实施例中基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置的结构框图；
图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
为了让使固态硬盘整体工作功耗降低，固态硬盘需要频繁的进出低功耗状态，以保证固态硬盘的功耗足够低。以前并无此测试项对由于频繁进出低功耗造成的存储颗粒损耗进行测试。本发明提供了一种方法能够模拟固态硬盘生命使用周期内进出低功耗状态所消耗的存储颗粒总数。通过本测试方法，可提前预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，该方法包括：
步骤102，获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；
步骤104，根据测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；
步骤106，读取固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；
步骤108，强制固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到一定时间段内进出低功耗状态的次数；
步骤110，读取固态硬盘内部日志和存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
本实施例根据固态硬盘工作原理，由于进入低功耗状态时，硬盘内部数据的写入动作，导致存储颗粒的消耗。结合硬盘的日常工作场景，提出一种方法在短时间内能够模拟硬盘生命周期内的存储颗粒的消耗，并在测试过程，通过读取内部log文件读取硬盘写入数据量和单个颗粒的消耗次数，让硬盘快速进出低功耗状态，来检测颗粒消耗次数是否能够支撑整个生命周期。
具体地，首先，获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求。接着，根据该测试请求的具体内容，先安装测试系统并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数。例如：可以静置1小时，通过内部日志文件，确认1小时进出低功耗状态次数。然后，先读取固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值。强制固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到一定时间段内进出低功耗状态的次数。最后，读取固态硬盘内部日志和存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
在本实施例中，通过获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；根据测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；读取固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；强制固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到一定时间段内进出低功耗状态的次数；读取固态硬盘内部日志和存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。本实施例中，根据固态硬盘工作原理，由于进入低功耗状态时，硬盘内部数据的写入动作，导致存储颗粒的消耗，结合硬盘的日常工作场景，实现了在短时间内能够模拟硬盘生命周期内的存储颗粒的消耗。此外，通过本测试方法，可提前预知低功耗的进出是否会导致固态硬盘过早磨穿。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，该方法中强制固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到一定时间段内进出低功耗状态的次数的步骤还包括：
步骤202，通过DM软件进行一次随机LBA写操作；
步骤204，强制固态硬盘进入低功耗状态；
步骤206，读一个LBA以使固态硬盘退出低功耗状态；
步骤208，重复步骤202-步骤206多次，以使固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。
在一个实施例中，在根据测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤之后还包括：
对固态硬盘进行写半盘处理。
具体地，参考图4，在测试过程，通过读取内部log文件读取硬盘写入数据量和单个颗粒的消耗次数，让硬盘快速进出低功耗状态，来检测颗粒消耗次数是否能够支撑整个生命周期。具体的测试步骤如下：
1、硬盘安装测试系统。
2、静置1小时，通过内部日志文件，确认1小时进出低功耗状态次数。
3、让硬盘填半盘。
4、读取硬盘内部日志初始值。
5、使用DM软件进行1次随机LBA写。
6、强制硬盘进入低功耗状态。
7、读一个LBA使硬盘低功耗状态退出。
8、重复5-7多次，使其达到生命周期内进出低功耗的次数。
9、读取硬盘内部日志，和步骤4的初始值进行比较，判断是否瞒足要求。
在一个实施例中，如图3所示，提供了一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，该方法中根据测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤包括：
步骤302，根据测试请求在固态硬盘中安装测试系统；
步骤304，将固态硬盘静置一定时间；
步骤306，通过读取内部日志文件，确认固态硬盘在一定时间段内进出低功耗状态的次数。
具体地，在本实施例中实现了模拟固态硬盘生命周期内由于进出低功耗状态造成对存储颗粒的消耗，并且在测试过程中通过读取内部文件读取硬盘写入数据量和单个颗粒的消耗次数，让硬盘快速进出低功耗状态，来检测颗粒消耗次数是否能够支撑整个生命周期。
应该理解的是，虽然图1-4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-4中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图5所示，提供了一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置500，包括：
获取模块501，用于获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；
安装模块502，用于根据测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；
读取模块503，用于读取固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；
低功耗模块504，用于强制固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到一定时间段内进出低功耗状态的次数；
判断模块505，用于读取固态硬盘内部日志和存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
在一个实施例中，低功耗模块504还用于：
通过DM软件进行一次随机LBA写操作；
强制固态硬盘进入低功耗状态；
读一个LBA以使固态硬盘退出低功耗状态；
重复上述步骤以使固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。
在一个实施例中，如图6所示，提供了一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置500，还包括：
写半盘处理模块506，用于对固态硬盘进行写半盘处理。
在一个实施例中，安装模块502还用于：
根据测试请求在固态硬盘中安装测试系统；
将固态硬盘静置一定时间；
通过读取内部日志文件，确认固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。
关于基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置的具体限定可以参见上文中对于基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器以及网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法。
本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以上各个方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以上各个方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，所述方法包括：
获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；
根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；
读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；
强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；
读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
2.根据权利要求1所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，其特征在于，所述强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数的步骤还包括：
通过DM软件进行一次随机LBA写操作；
强制所述固态硬盘进入低功耗状态；
读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态；
重复通过DM软件进行一次随机LBA写操作，强制所述固态硬盘进入低功耗状态，读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态的步骤以使所述固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。
3.根据权利要求2所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，其特征在于，在所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤之后还包括：
对所述固态硬盘进行写半盘处理。
4.根据权利要求1-3任一项所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数的步骤包括：
根据所述测试请求在所述固态硬盘中安装测试系统；
将所述固态硬盘静置一定时间；
通过读取内部日志文件，确认所述固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。
5.一种基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置包括：
获取模块，所述获取模块用于获取基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试请求；
安装模块，所述安装模块用于根据所述测试请求安装测试系统，并通过内部日志文件确定一定时间段内进出低功耗状态次数；
读取模块，所述读取模块用于读取所述固态硬盘内部日志的存储颗粒初始值；
低功耗模块，所述低功耗模块用于强制所述固态硬盘循环进出低功耗状态，使其达到所述一定时间段内进出低功耗状态的次数；
判断模块，所述判断模块用于读取所述固态硬盘内部日志和所述存储颗粒初始值进行比较，判断存储颗粒消耗次数是否能够满足需求。
6.根据权利要求5所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述低功耗模块还用于：
通过DM软件进行一次随机LBA写操作；
强制所述固态硬盘进入低功耗状态；
读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态；
重复通过DM软件进行一次随机LBA写操作，强制所述固态硬盘进入低功耗状态，读一个LBA以使所述固态硬盘退出低功耗状态的步骤以使所述固态硬盘达到生命周期内进出低功耗的次数。
7.根据权利要求6所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述装置还包括：
写半盘处理模块，所述写半盘处理模块用于对所述固态硬盘进行写半盘处理。
8.根据权利要求5-7任一项所述的基于模拟固态硬盘低功耗状态下存储颗粒消耗的测试装置，其特征在于，所述安装模块还用于：
根据所述测试请求在所述固态硬盘中安装测试系统；
将所述固态硬盘静置一定时间；
通过读取内部日志文件，确认所述固态硬盘在所述一定时间段内进出低功耗状态的次数。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
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