CN117170515A - 一种信号校准方法、装置和存储介质 - Google Patents

Abstract

一种信号校准方法、装置和存储介质，所述方法包括：执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；其中，每个校准点均为所述施力位置点；根据所述拟合模型获取所述触控面板上每个施力位置点对应的传感器响应信号，并根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数；执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准。

Description

一种信号校准方法、装置和存储介质

技术领域

本文涉及触控技术，尤指一种信号校准方法、装置和存储介质。

背景技术

触控类产品，由于受到触控面板结构、与触控面板接触的传感器工艺、布局、以及每个传感器特性差异等因素的影响，以相同的力施加在触控面上的不同部分，通过传感器获得的响应信号的差异较大，影响用户体验，因此在触控面板上施力后，通常需要对获得的传感器响应信号进行校准。

发明内容

本申请提供了一种信号校准方法、装置和存储介质，能够实现对触控面板上传感器响应信号的校准。

本申请提供的信号校准方法，包括：

执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；

根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；其中，每个校准点均为所述施力位置点；

根据所述拟合模型获取所述触控面板上每个施力位置点对应的传感器响应信号，并根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数；

执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准。

作为一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在所述触控面板的拐角位置的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，获取在分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下，获得的传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；

根据所述对应关系确定与所述传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该传感器确定的校准点；

根据所述局部极大值和所述局部极小值绘制鞍部曲线；

根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据该传感器确定的校准点。

作为一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与所述触控面板的一边界线相邻，且距离该边界线在第二预设范围内的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，将该传感器划分为两个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；

对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；

将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点；

根据由所述多个子传感器确定的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值绘制鞍部曲线；

根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点。

作为一示例性实施例，所述根据所述鞍部曲线选择施力位置点，包括：

当用于绘制鞍部曲线的局部极大值的数量为两个时，确定两个局部极大值的连接线与所述鞍部曲线的第一交点；

分别以所述两个局部极大值中的每个局部极大值为起点，分别沿着水平和垂直方向向所述鞍部曲线引垂线；

将两条垂线与所述鞍部曲线的交点中，将距离所述第一交点最近的点对应的施力位置点作为选择的施力位置点。

作为一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与触控面板几何中心距离第三预设范围内的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，将该传感器划分为四个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；

对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；

将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点。

作为一示例性实施例，所述确定多个校准点，还包括：

将触控面板边界线的中心点和触控面板的几何中心点作为校准点。

作为一示例性实施例，根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数，包括：

获取该传感器响应信号特征值；

将该传感器响应信号特征值的倒数作为所述校准系数。

作为一示例性实施例，执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准，包括：

执行信号校准时，将在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号乘以该对应施力位置点的响应信号校准系数，得到该对应施力位置点上经过校准的传感器响应信号。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如前任一项所述的方法。

本申请实施例还提供了一种信号校准装置，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述程序在被所述处理器读取执行时，实现如前任一所述的方法

与相关技术相比，本申请包括执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；其中，每个校准点均为所述施力位置点；根据所述拟合模型获取所述触控面板上每个施力位置点对应的传感器响应信号，并根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数；执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准，保证了校准精度。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本申请技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。

图1为本申请实施例提供的一种信号校准方法流程图；

图2为本申请实施例提供的一种设置在触控面板的拐角位置的传感器的示意图；

图3为基于图2所示传感器布局确定的传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系示意图；

图4为基于图2所示传感器布局确定的局部极大值和局部极小值示意图；

图5为基于图2所示传感器布局在鞍部曲线上确定校准点的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种设置在触控面板的边界线附近的传感器的示意图；

图7为基于图6所示布局确定的局部极大值和局部极小值示意图；

图8为本申请实施例提供的一种设置在触控面板内部的传感器示意图；

图9为基于图8所示布局确定的局部极大值和局部极小值示意图；

图10为基于图2所示传感器布局获得的4个通道输出的模拟值、实际观测值、以及模拟值和实际观测值的差值的示意图；

图11为基于图2所示传感器布局获得的通过模拟得到的触控面板在各个位置点的响应信号特征值以及通过传感器实际获得的响应信号特征值的对比图；

图12为本申请实施例提供的一种信号校准装置结构图。

具体实施方式

本申请描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本申请所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在具体实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。

本申请包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本申请已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本申请中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。

此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本申请实施例的精神和范围内。

本申请实施例提供了一种信号校准方法，如图1所示，所述方法包括：

步骤S100执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；

步骤S101根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；

其中，每个校准点均为所述施力位置点；

步骤S102根据所述拟合模型获取所述触控面板上每个施力位置点对应的传感器响应信号，并根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数；

步骤S103执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准。

由于传感器的空间布局会影响传感器响应信号，空间布局不一样，以相同作用力对触控面板打点后，传感器响应信号也可能存在不一样，本申请实施例记载的技术方案中，根据传感器的空间布局确定校准点，并根据对所述多个校准点的打点结果确定传感器响应信号的拟合模型，使得建立的所述拟合模型更加贴合真实的传感器响应信号，保证了校准精度。

在一示例性实施例中，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在所述触控面板的拐角位置的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，获取在分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下，获得的传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；

根据所述对应关系确定与所述传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该传感器确定的校准点；

根据所述局部极大值和所述局部极小值绘制鞍部曲线；

根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据该传感器确定的校准点。

所述传感器响应信号特征值可以包括：传感器响应信号最大值、积分值或能量值。

图2为一种设置在触控面板的拐角位置的传感器的示意图。该示意图的触控面板采用方形触控面板，方形触控面板的4个拐角位置均设置一个传感器。首先，对触控面板上的所有施力位置点以相同的作用力进行打点，分别获取每个传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；以传感器响应信号特征值为最大值为例，图3用4个子图分别示出了4个传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系；ch1～ch4分别表示4个传感器；每个传感器对应的子图中，横、纵坐标分别表示施力位置，不同位置上的不同颜色用以区分响应信号最大值的不同数值；再根据所述对应关系确定与所述传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的传感器响应信号最大值的局部极大值和局部极小值；由于4个传感器在整个触控面板内是对称结构，以传感器1为例，图4为传感器1响应信号最大值的局部极大值和局部极小值示意图，a为局部极小值，b、c为局部极大值。a、b和c对应的施力位置点为根据传感器1确定的校准点。

在一示例性实施例中，所述根据所述鞍部曲线选择施力位置点，包括：

当用于绘制鞍部曲线的局部极大值的数量为两个时，确定两个局部极大值的连接线与所述鞍部曲线的第一交点；

分别以所述两个局部极大值中的每个局部极大值为起点，分别沿着水平和垂直方向向所述鞍部曲线引垂线；

将两条垂线与所述鞍部曲线的交点中，距离所述第一交点最近的点对应的施力位置点作为选择的施力位置点。

本申请实施例在选取极大值和极小值对应的施力位置点作为校准点的基础上，在鞍部曲线上再继续选择校准点，相对仅选取极大值和极小值对应的施力位置点作为校准点，可以更加准确的反映传感器响应信号的变化趋势，进而确保依据传感器响应信号变化趋势获得传感器响应信号的拟合模型更加准确。

以图4为例，首先，根据局部极大值和局部极小值绘制鞍部曲线，如图5所示，连接点P1-P2-P3-P4所在的曲线即为鞍部曲线；两个极大值的连线与鞍部曲线相交，记交点为第一交点；以两个局部极大值为起点，分别沿着水平和垂直方向向所述鞍部曲线引垂线，将两条垂线与所述鞍部曲线的交点中，距离所述第一交点最近的点，即为图中P3点，将P3对应的施力位置点继续作为传感器1的校准点。

这样，根据传感器1可以确定4个校准点：分别为a、b、c和P3对应的施力位置点。根据4个传感器(传感器1～4)可以确定4*4＝16个校准点。

作为另一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与所述触控面板的一边界线相邻，且距离该边界线在第二预设范围内的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，将该传感器划分为两个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；

对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；

将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点；

根据由所述多个子传感器确定的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值绘制鞍部曲线；

根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点。

图6为一种设置在触控面板的边界线附近的传感器的示意图。该示意图的触控面板采用方形触控面板，分别距离其中两条对边在第二预设范围内的位置上各设置一个传感器。首先，对于每个传感器，将该传感器划分为两个子传感器，两个子传感器分别位于触控面板区域的L区域和R区域，L区域和R区域组成了整个触控面板，如图7所示；分别在L区域和R区域上的所有施力位置点以相同的作用力进行打点，获取位于每个区域的子传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系；当传感器靠近边界线的中心位置时，L区域和R区域呈现对称特性，可以仅获取位于L区域或R区域的子传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系；其次，根据获取的位于每个区域的子传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系，确定极大值和极小值，并将确定的极大值和极小值对应的施力位置点作为根据对应子传感器确定的校准点；将根据2个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由这2个子传感器组成的传感器确定的校准点；再根据由所述2个子传感器确定的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值绘制鞍部曲线；根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据由所述2个子传感器组成的传感器确定的校准点；当传感器靠近边界线的中心位置时，绘制的鞍部曲线也是触控面板的中轴线。

作为另一示例性实施例，设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与触控面板几何中心距离第三预设范围内的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，将该传感器划分为四个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；

对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；

将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点。

图8为一种设置在触控面板内部的传感器示意图。该示意图的触控面板采用方形触控面板，在触控面板内部设置一个传感器(虽然图中仅设置了一个传感器，但并不排除可设置多个传感器的情况)。首先，将该传感器划分为四个子传感器，四个子传感器分别位于触控面板区域的I区域、II区域、III区域和IV区域，且这四个区域组成了整个触控面板，如图9所示；分别在I区域、II区域、III区域和IV区域上的所有施力位置点以相同的作用力进行打点，获取位于每个区域的子传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系；当传感器在触控面板的几何中心位置时，I区域、II区域、III区域和IV区域呈现对称特性，可以仅获取位于其中一个区域的子传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系；其次，根据获取的位于每个区域的子传感器响应信号最大值与施力位置点的对应关系，确定极大值和极小值，并将确定的极大值和极小值对应的施力位置点作为根据对应子传感器确定的校准点；将根据四个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由这四个子传感器组成的传感器确定的校准点。

在一示例性实施例中，所述确定多个校准点，还包括：将触控面板的背景约束点作为校准点；本申请实施例记载的背景约束点指的是能够约束触控面板的远场线性背景趋势的点位集合。由于触控面板的远场具有随着距离增加，信号强度几乎线性降低的特点，因此可以认为远场具有线性背景趋势。

在一示例性实施例中，将触控面板的背景约束点作为校准点，包括：

将触控面板边界线的中心点和触控面板的几何中心点作为校准点。

优选的，当触控面板是方形时，边界线的中心点可以为4条边的中心点；当触控面板是圆形时，边界线中心点可以为经过圆心的两条垂直直径与圆边的4个交点。理论上3个点就能定义一个面，本实施例选择了4个中心点和一个几何中心点，共5个点，作为触控面板的背景约束点，可以提高背景约束的准确度。以图2所示布局的传感器为例，总共可以确定4*4+5＝16+5＝21个校准点。

在一示例性实施例中，根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型，包括：

根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的所述传感器的响应信号，基于最小二乘法，建立所述拟合模型，使得在任一施力位置点施加作用力后，通过所述拟合模型获得的传感器响应信号特征值与通过传感器获得的传感器响应信号特征值的差值的平方和最小。

示例性的，以图2所示布局的传感器为例。

对于传感器1，采用最小二乘法建立的拟合模型可以为4阶或4阶以上的曲面多项式，如：

Fit1＝a(1)*X.^4+a(2)*Y.^4+a(3)*X.^3.*Y+a(4)*Y.^3.*X+a(5)*Y.^2.*X.^2+a(6)*X.^3+a(7)*Y.^3+a(8)*X.^2.*Y+a(9)*Y.^2.*X+a(10)*X.^2+a(11)*Y.^2+a(12)*X.*Y+a(13)*X+a(14)*Y+a(15)；

拟合的准则是，通过所述拟合模型获得的传感器响应信号特征值Fit1与通过传感器实际获得的传感器响应信号特征值的差值的平方和最小；

其中，Fit1可以是最大幅值、幅值积分值、能量值等，X、Y为校准点坐标，a(1)～a(15)为以最小二乘算法计算的多项式系数；

对于传感器2，采用最小二乘法建立的拟合模型可以为：

Fit2＝b(1)*X.^4+b(2)*Y.^4+b(3)*X.^3.*Y+b(4)*Y.^3.*X+b(5)*Y.^2.*X.^2+b(6)*X.^3+b(7)*Y.^3+b(8)*X.^2.*Y+b(9)*Y.^2.*X+b(10)*X.^2+b(11)*Y.^2+b(12)*X.*Y+b(13)*X+b(14)*Y+b(15)；

对于传感器3，采用最小二乘法建立的拟合模型可以为：

Fit3＝c(1)*X.^4+c(2)*Y.^4+c(3)*X.^3.*Y+c(4)*Y.^3.*X+c(5)*Y.^2.*X.^2+c(6)*X.^3+c(7)*Y.^3+c(8)*X.^2.*Y+c(9)*Y.^2.*X+c(10)*X.^2+c(11)*Y.^2+c(12)*X.*Y+c(13)*X+c(14)*Y+c(15)；

对于传感器4，采用最小二乘法建立的拟合模型可以为：

Fit4＝d(1)*X.^4+d(2)*Y.^4+d(3)*X.^3.*Y+d(4)*Y.^3.*X+d(5)*Y.^2.*X.^2+d(6)*X.^3+d(7)*Y.^3+d(8)*X.^2.*Y+d(9)*Y.^2.*X+d(10)*X.^2+d(11)*Y.^2+d(12)*X.*Y+d(13)*X+d(14)*Y+d(15)。

图10给出了通过所述4个传感器代表的4个通道输出的模拟值、实际观测值(实际获得值)、以及模拟值和实际观测值的差值的示意图。从图中可以看出，4个通道输出的模拟值和实际观测值差异很小，即4个通道输出的实际观测值可以被有效的模拟出来。

在本应用示例中，可以将各个通道在相同位置点的模拟信号之和，作为模拟得到的触控面板在对应位置点的响应信号特征值，即

Fit＝Fit1+Fit2+Fit3+Fit4＝(a(1)+b(1)+c(1)+d(1))*X.^4+(a(2)+b(2)+c(2)+d(2))*Y.^4+(a(3)+b(3)+c(3)+d(3))*X.^3.*Y+(a(4)+b(4)+c(4)+d(4))*Y.^3.*X+(a(5)+b(5)+c(5)+d(5))*Y.^2.*X.^2+(a(6)+b(6)+c(6)+d(6))*X.^3+(a(7)+b(7)+c(7)+d(7))*Y.^3+(a(8)+b(8)+c(8)+d(8))*X.^2.*Y+(a(9)+b(9)+c(9)+d(9))*Y.^2.*X+(a(10)+b(10)+c(10)+d(10))*X.^2+(a(11)+b(11)+c(11)+d(11))*Y.^2+(a(12)+b(12)+c(12)+d12))*X.*Y+(a(13)+b(13)+c(13)+d(13))*X+(a(14)+b(14)+c(14)+d(14))*Y+(a(15)+b(15)+c(15)+d(15))。

图11给出了通过模拟得到的触控面板在各个位置点的响应信号特征值以及通过传感器实际获得的响应信号特征值的对比图。左图为通过传感器实际获得的响应信号特征值，右图为通过模拟得到的响应信号特征值，通过对比可见，二者差异很小。

在一示例性实施例中，根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数，包括：

获取该传感器响应信号特征值；

将该传感器响应信号特征值的倒数作为所述校准系数。

在一示例性实施例中，执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准，包括：

执行信号校准时，将在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号乘以该对应施力位置点的响应信号校准系数，得到该对应施力位置点上经过校准的传感器响应信号。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如前任一实施例所述的方法。

本申请实施例还提供了一种信号校准装置，如图12，包括存储器1201和处理器1202，所述存储器1201存储有程序，所述程序在被所述处理器1202读取执行时，实现如前任一实施例所述的方法。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

Claims (10)

1.一种信号校准方法，所述方法包括：

执行信号校准之前，确定多个校准点，包括：根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点；

根据分别对所述多个校准点进行打点后获得的传感器响应信号，建立用于描述分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下获得的传感器响应信号的拟合模型；其中，每个校准点均为所述施力位置点；

根据所述拟合模型获取所述触控面板上每个施力位置点对应的传感器响应信号，并根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数；

执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在所述触控面板的拐角位置的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，获取在分别对所述触控面板上的所有施力位置点以相同作用力施力下，获得的传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；

根据所述对应关系确定与所述传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该传感器确定的校准点；

根据所述局部极大值和所述局部极小值绘制鞍部曲线；

根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据该传感器确定的校准点。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与所述触控面板的一边界线相邻，且距离该边界线在第二预设范围内的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，将该传感器划分为两个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；

对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；

将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点；

根据由所述多个子传感器确定的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值绘制鞍部曲线；

根据所述鞍部曲线选择施力位置点继续作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，

所述根据所述鞍部曲线选择施力位置点，包括：

当用于绘制鞍部曲线的局部极大值的数量为两个时，确定两个局部极大值的连接线与所述鞍部曲线的第一交点；

分别以所述两个局部极大值中的每个局部极大值为起点，分别沿着水平和垂直方向向所述鞍部曲线引垂线；

将两条垂线与所述鞍部曲线的交点中，将距离所述第一交点最近的点对应的施力位置点作为选择的施力位置点。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

设置在与触控面板不同区域接触的传感器包括：设置在与触控面板几何中心距离第三预设范围内的传感器；

所述根据设置在与触控面板不同区域接触的传感器确定多个校准点，包括：

对每个传感器，将该传感器划分为四个子传感器，两个子传感器分别位于不同的触控面板区域，且不同的触控面板区域组成了整个触控面板；

对于每一子传感器，获取在对其所在的触控面板区域内的所有施力位置点施加相同作用力的情况下，该子传感器响应信号特征值与施力位置点的对应关系；根据所述对应关系确定在该区域内，与该子传感器距离第一预设范围内的施力位置点对应的子传感器响应信号特征值的局部极大值和局部极小值，并将所述局部极大值和所述局部极小值对应的施力位置点分别作为根据该子传感器确定的校准点；

将根据多个子传感器确定的校准点的集合，作为根据由所述多个子传感器组成的传感器确定的校准点。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述确定多个校准点，还包括：

将触控面板边界线的中心点和触控面板的几何中心点作为校准点。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

根据由所述拟合模型获取的该传感器响应信号确定对应施力位置点的响应信号校准系数，包括：

获取该传感器响应信号特征值；

将该传感器响应信号特征值的倒数作为所述校准系数。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，

执行信号校准时，根据每个施力位置点对应的响应信号校准系数，对在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号进行校准，包括：

执行信号校准时，将在对应施力位置点施力后获得的传感器响应信号乘以该对应施力位置点的响应信号校准系数，得到该对应施力位置点上经过校准的传感器响应信号。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1至8中任一项所述的方法。

10.一种信号校准装置，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述程序在被所述处理器读取执行时，实现如权利要求1至8任一所述的方法。