CN117147257A - 圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法及再结晶试样 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及再结晶技术领域，公开了一种圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法及再结晶试样，圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法包括：将单晶高温合金试棒切割形成单晶圆形试样；对单晶圆形试样两端端面进行研磨、抛光、腐蚀；测定单晶圆形试样的晶向；标记特定晶向的变形位置；对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形；对经过特定晶向变形的单晶圆形试样进行热处理，以得到圆形单晶高温合金再结晶试样。本发明能够得到压痕表面为曲面的圆形单晶高温合金再结晶试样，有利于充分模拟再结晶对实际透平叶片力学性能的影响，而且试样的晶向能够在试样本体直观显示。
Description
技术领域
本发明涉及再结晶技术领域，具体涉及一种圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法及再结晶试样。
背景技术
单晶透平叶片是现代先进燃气轮机的关键热端部件，叶片的三维形貌属于复杂自由曲面，具有变截面、强扭曲和易变形等技术特点，其基体材料单晶高温合金具有晶界强化元素含量非常低的特点。单晶透平叶片在制造过程中涉及多个工序流程，很小的塑性变形即能在后续的热处理中引入再结晶，再结晶在单晶高温合金中作为一种缺陷组织，重新引入了横向晶界，将显著降低合金的高温拉伸、持久及疲劳性能，成为叶片服役过程中的重大隐患。
为了便于模拟再结晶对单晶透平叶片的高温拉伸、持久及疲劳等力学性能的影响，往往选取单晶透平叶片对应的单晶高温合金试样进行相应的力学性能研究。由于单晶高温合金存在各向异性，不同晶向的变形有着不同的塑性变形空间分布，进而会影响单晶高温合金中再结晶的分布。
但是，现有技术中关于单晶高温合金再结晶试样的制备方法中，试样的压痕表面通常为平面，而实际的透平叶片具有复杂的自由曲面，因此，仅利用压痕表面为平面的试样开展试验研究难以充分模拟再结晶对实际透平叶片力学性能的影响。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法及再结晶试样，以解决现有技术中仅利用压痕表面为平面的试样开展试验研究难以充分模拟再结晶对实际透平叶片力学性能的影响的问题。本发明利用金相法确定变形晶向，再在圆形试样表面进行压痕，经过一定条件的热处理后得到再结晶，得到了压痕表面为曲面的圆形单晶高温合金再结晶试样，有利于充分模拟再结晶在实际透平叶片中的形成规律，而且通过本发明所制得的单晶高温合金再结晶试样的变形晶向能够在试样本体直观显示，与此同时，本发明的操作步骤更为简单，有助于促进实验开展，加速关于特定晶向变形与单晶高温合金再结晶形成规律之间的相关研究。
第一方面，本发明提供了一种圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，包括：
将单晶高温合金试棒切割形成单晶圆形试样；
对单晶圆形试样两端端面进行研磨、抛光、腐蚀，以使单晶圆形试样的两端端面能够观察到沿X向和Y向整齐排列的树枝晶；
测定单晶圆形试样的晶向，分别以单晶圆形试样轴向两端的两个端面圆心为原点，标记为第一晶向[0 1 0]和第二晶向[1 0 0]；
标记特定晶向的变形位置，分别在两个端面上任取一个偏离第一晶向同为θ的晶向，记为变形晶向[sinθcosθ0]，将两个端面上的变形晶向沿单晶圆形试样的侧表面连接形成目标位置线，目标位置线的中点即为特定晶向的变形位置；
在特定晶向的变形位置对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形；
对经过特定晶向变形的单晶圆形试样进行热处理，以得到圆形单晶高温合金再结晶试样。
与相关技术中方形样品的特定晶向变形的单晶高温合金再结晶制备方法和纵截面样品的特定晶向变形的单晶高温合金再结晶制备方法相比，本发明通过上述方法能够得到压痕表面为曲面的圆形单晶高温合金再结晶试样，有利于充分模拟再结晶在实际透平叶片中的形成规律，而且通过本发明所制得的单晶高温合金再结晶试样的变形晶向能够在试样本体直观显示，与此同时，本发明的操作步骤更为简单，有助于促进实验开展，加速关于特定晶向变形与单晶高温合金再结晶形成规律之间的相关研究。
在一种可选的实施方式中，所述单晶圆形试样的直径为D，D满足D≥3mm，以保证再结晶在单晶圆形试样内能够充分生长。
在一种可选的实施方式中，所述单晶圆形试样的长度为L，L满足L≥10mm，以保证再结晶在单晶圆形试样内能够充分生长。
在一种可选的实施方式中，所述单晶圆形试样的表面粗糙度Ra满足Ra≤0.4，以使得单晶圆形试样的表面缺陷或残余变形降到最低。
在一种可选的实施方式中，所述对单晶圆形试样两端端面进行研磨包括：将切割好的单晶圆形试样两端端面在磨样机上磨制，从粗到细对单晶圆形试样两端的端面依次用120#、240#、400#、800#、1200#和2000#砂纸进行研磨，提高单晶圆形试样两端的端面的光滑度，避免单晶圆形试样两端的端面产生的表面损伤在后续热处理过程中形成再结晶；
所述对单晶圆形试样两端端面进行抛光包括：依次用颗粒度为2.5μm、0.25μm、0.05μm的金刚石喷雾对单晶圆形试样两端的端面进行抛光，以提高单晶圆形试样两端的端面的光滑度，为后续的化学腐蚀提供条件。
在一种可选的实施方式中，所述对单晶圆形试样两端端面进行化学腐蚀包括：化学腐蚀液的体积比为CH3COOH：HNO3：H2O：HF＝33：33：33：1，以得到清晰的排列整齐的“十字”状的树枝晶。
在一种可选的实施方式中，得到圆形单晶高温合金再结晶试样后，沿单晶圆形试样横端面的压痕边缘切开，并将其研磨、机械抛光至压痕中心后进行化学腐蚀，对得到的圆形单晶高温合金再结晶试样进行观察。
在一种可选的实施方式中，所述对单晶圆形试样进行特定晶向的压痕变形包括：
将单晶圆形试样放置于V形槽夹具内固定；
打开硬度计，将硬度计压头对准特定晶向的变形位置，使压头与单晶圆形试样接触，通过压头垂直于单晶圆形试样中心施加试验力，以造成特定晶向变形位置的压痕变形，硬度计压头对单晶圆形试样的特定晶向变形位置的压痕时间为T，T满足10秒≤T≤15秒；
卸载后关闭硬度计，取出完成特定晶向变形的单晶圆形试样。
通过V形槽固定夹具对单晶圆形试样进行固定，以确保在压痕过程中单晶圆形试样不会发生移位，避免单晶圆形试样侧表面在变形压痕过程中滚动。
在一种可选的实施方式中，单晶圆形试样完成特定晶向的压痕变形前后，对单晶圆形试样进行表面清洗，以去掉试样表面的污渍、附着物等，防止在热处理过程中表面附着物挥发或渗入单晶圆形试样表层。
第二方面，本发明还提供了一种再结晶试样，所述再结晶试样通过如上述所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法制成。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例的一种单晶高温合金圆形试样两端端面枝晶分布示意图；
图2为图1中的晶粒取向示意图；
图3为本发明实施例的一种对单晶高温合金圆形试样标记特定晶向变形位置的原理示意图；
图4为本发明实施例的一种在[0 1 0]变形晶向下单晶圆形试样横截面再结晶分布示意图；
图5为本发明实施例的一种在[110]变形晶向下单晶圆形试样横截面再结晶分布示意图；
图6为图1中单晶高温合金圆形试样的尺寸示意图；
图7为本发明实施例的一种V形槽夹具对单晶高温合金圆形试样的固定示意图。
附图标记说明：
10、端面；100、原点；20、侧表面；200、目标位置线；201、特定晶向的变形位置；30、V形槽夹具。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
下面结合图1至图7，描述本发明的实施例。
根据本发明的实施例，一方面，提供了一种圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，包括：
将单晶高温合金试棒切割形成单晶圆形试样；
对单晶圆形试样两端端面进行研磨、抛光、腐蚀，以使单晶圆形试样的两端端面能够观察到沿X向和Y向整齐排列的树枝晶；
测定单晶圆形试样的晶向，分别以单晶圆形试样轴向两端的两个端面圆心为原点，标记为第一晶向[0 1 0]和第二晶向[1 0 0]；
标记特定晶向的变形位置，分别在两个端面上任取一个偏离第一晶向[0 1 0]同为θ的晶向，记为变形晶向[sinθcosθ0]，将两个端面上的变形晶向沿单晶圆形试样的侧表面连接形成目标位置线，目标位置线的中点即为特定晶向的变形位置；
在特定晶向的变形位置对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形；
对经过特定晶向变形的单晶圆形试样进行热处理，以得到圆形单晶高温合金再结晶试样。
需要说明的是，通过对单晶圆形试样两端端面进行研磨、抛光、腐蚀，以使单晶圆形试样的两端端面能够观察到图1中所示的沿X向和Y向整齐排列的树枝晶，其中，X向和Y向相互垂直。请参见图2和图3所示，在测定单晶圆形试样的晶向时，分别以单晶圆形试样轴向两端的两个端面10的圆心为原点100，标记为第一晶向[0 1 0]和第二晶向[1 0 0]，从而确定单晶圆形试样的晶粒取向；在标记特定晶向的变形位置时，分别在两个端面10上任取一个偏离第一晶向[0 1 0]同为θ的晶向，记为变形晶向[sinθcosθ0]，将两个端面10上的变形晶向[sinθcosθ0]沿单晶圆形试样的侧表面20连接形成目标位置线200，目标位置线200的中点即为特定晶向的变形位置201，由于该特定晶向的变形位置201位于单晶圆形试样的侧表面20上，从而能够为单晶圆形试样提供曲面型的压痕表面，有利于充分模拟再结晶在实际透平叶片中的形成规律。
需要指出的是，为了便于充分模拟再结晶对实际透平叶片力学性能的影响，相较于其他合金，单晶高温合金是一种更为理想的试验材质，如未特别指出，本实施实例中所提及的试棒以及由其制成的圆形试样的材质均为单晶高温合金。但是，在具体实施过程中，试棒以及由其制成的圆形试样还可以选用其他合金材质，不仅限于本实施例中所述的情况，例如，定向凝固高温合金虽然存在一些晶向偏离，但是基本上也保留了单晶特征，因此，对于采用诸如定向凝固高温合金材质的试样，本发明亦具有参考和执行的价值。
需要说明的是，对经过特定晶向变形的单晶圆形试样可进行真空热处理，真空环境能够避免氧化对再结晶形成的含量产生影响，热处理效果更好；热处理温度须在该单晶圆形试样的再结晶温度范围内并保温一定时间才会发生再结晶，其中，不同类型合金的再结晶温度有不同的定义，单晶圆形试样的再结晶温度应结合一般的再结晶温度定义和具体合金特点去判定。
值得说明的是，相关技术中提到了一种方形样品的特定晶向变形的单晶高温合金再结晶制备方法，该方法通过将定向凝固合金试棒切成薄片型晶体学平面，通过X射线衍射仪对晶体学平面进行测定，并使用布氏硬度测试仪对薄片进行研磨和压痕；首先，该方法中的薄片型试样的压痕表面为平面，利用压痕表面为平面的薄片试样开展试验研究难以充分模拟再结晶在实际透平叶片中的形成规律，其次，通过该方法所制得的单晶高温合金再结晶试样的晶向无法在试样本体直观显示，第三，使用X射线衍射仪确定晶向的操作步骤较为繁琐。相关技术中还提到了一种纵截面样品的特定晶向变形的单晶高温合金再结晶制备方法，该方法通过采用晶体劳厄衍射仪对单晶试棒铸件进行晶向测量，在单晶试棒上切割出不同偏离角度的纵截面试样，并在垂直于该纵截面的表面进行压痕；首先，该方法中的不同偏离角度的纵截面试样的压痕表面均为平面，利用压痕表面为平面的薄片试样开展试验研究难以充分模拟再结晶在实际透平叶片中的形成规律，其次，通过该方法所制得的单晶高温合金再结晶试样的晶向无法在试样本体直观显示，第三，使用晶体劳厄衍射仪确定晶向的操作步骤亦较为繁琐。
与上述提及的相关技术中的方形样品的特定晶向变形的单晶高温合金再结晶制备方法和纵截面样品的特定晶向变形的单晶高温合金再结晶制备方法相比，本发明通过将单晶高温合金试棒切割形成单晶圆形试样；对单晶圆形试样两端端面进行研磨、抛光、腐蚀，以使单晶圆形试样的两端端面能够观察到沿X向和Y向整齐排列的树枝晶；测定单晶圆形试样的晶向，分别以单晶圆形试样轴向两端的两个端面圆心为原点，标记为第一晶向[01 0]和第二晶向[1 0 0]；标记特定晶向的变形位置，分别在两个端面上同时任取一个偏离第一晶向[0 1 0]为θ的晶向，记为变形晶向[sinθcosθ0]，将两个端面上的变形晶向沿单晶圆形试样的侧表面连接形成目标位置线，目标位置线的中点即为特定晶向的变形位置；在特定晶向的变形位置对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形；对经过特定晶向变形的单晶圆形试样进行热处理；沿单晶圆形试样横截面的压痕边缘切开，并将其研磨、机械抛光至压痕中心后进行化学腐蚀，以得到压痕表面为曲面的圆形单晶高温合金再结晶试样，有利于充分模拟再结晶对实际透平叶片力学性能的影响，而且通过本发明所制得的单晶高温合金再结晶试样的晶向能够在试样本体直观显示，与此同时，本发明的操作步骤更为简单，有助于促进实验开展，加速关于特定晶向变形与单晶高温合金再结晶形成规律之间的相关研究。
在一个实施例中，所述单晶圆形试样的直径为D，D满足D≥3mm。
需要说明的是，在单晶圆形试样的压痕载荷小于10kN，再结晶最大深度达到2mm时，压痕深度达到0.2mm，随着压痕载荷的进一步增大，再结晶最大深度增大速率缓慢，因此，为保证再结晶在单晶圆形试样内能够充分生长，单晶圆形试样的直径D的取值范围为D≥3mm。
在一个实施例中，所述单晶圆形试样的长度为L，L满足L≥10mm。
需要说明的是，由于对单晶圆形试样进行变形的硬度计中，布氏硬度计压头直径最大，布氏硬度计压头最大直径可达10mm，因此，为保证再结晶在单晶圆形试样内能够充分生长，单晶圆形试样的长度L的取值范围为L≥10mm。
在一个实施例中，所述单晶圆形试样的表面粗糙度Ra满足Ra≤0.4。
需要说明的是，单晶圆形试样的表面粗糙度须不超过0.4，以使得单晶圆形试样的表面缺陷或残余变形降到最低。
需要说明的是，可选用金相法对单晶圆形试样两端截面进行磨制、抛光、腐蚀，并测定晶粒取向。
在一个实施例中，对单晶圆形试样两端端面进行研磨包括：将切割好的单晶圆形试样两端端面在磨样机上磨制，从粗到细对单晶圆形试样两端的端面依次用120#、240#、400#、800#、1200#和2000#砂纸进行研磨；
对单晶圆形试样两端端面进行抛光包括：依次用颗粒度为2.5μm、0.25μm、0.05μm的金刚石喷雾对单晶圆形试样两端的端面进行抛光。
需要说明的是，在对单晶圆形试样两端端面进行研磨时，可从粗到细对单晶圆形试样两端的端面依次用120#、240#、400#、800#、1200#和2000#砂纸进行研磨，一方面能够保证单晶圆形试样两端的端面的光滑度，另一方面能够避免单晶圆形试样两端的端面产生表面损伤，防止在后续热处理过程中由于样品表面损伤而引起再结晶；在对单晶圆形试样两端端面进行抛光时，可依次用颗粒度为2.5μm、0.25μm、0.05μm的金刚石喷雾对单晶圆形试样两端的端面进行抛光，以提高单晶圆形试样两端的端面的光滑度，为后续的化学腐蚀提供条件。
在一个实施例中，对单晶圆形试样两端端面进行化学腐蚀包括：化学腐蚀液的体积比为CH3COOH：HNO3：H2O：HF＝33：33：33：1。
需要说明的是，在对单晶圆形试样两端端面进行化学腐蚀时，化学腐蚀液的体积比为CH3COOH：HNO3：H2O：HF＝33：33：33：1，以得到清晰的排列整齐的“十字”状的树枝晶。
在一个实施例中，对单晶圆形试样进行表面清洗，以去掉试样表面的油污、附着物等，防止在压痕过程中硬度计压头从单晶圆形试样表面滑脱。
在一个实施例中，得到圆形单晶高温合金再结晶试样后，沿单晶圆形试样横端面的压痕边缘切开，并将其研磨、机械抛光至压痕中心后进行化学腐蚀，对得到的圆形单晶高温合金再结晶试样进行观察。
需要说明的是，偏离第一晶向[0 1 0]的角度θ可采用不同的取值，例如，在一个实施例中，当变形晶向偏离第一晶向[0 1 0]的角度θ为0°时，变形晶向为[0 1 0]，沿变形晶向的变形位置对单晶圆形试样进行压痕变形，经过一定的热处理后形成再结晶，沿单晶圆形试样横截面的压痕边缘切开，并将其研磨、机械抛光至压痕中心后进行化学腐蚀，采用体视显微镜可观察到如图4所示的再结晶低倍形貌；当变形晶向偏离第一晶向[0 1 0]的角度θ为45°时，变形晶向为[1 1 0]，沿变形晶向的变形位置对单晶圆形试样进行压痕变形，经过一定的热处理后形成再结晶，沿单晶圆形试样横截面的压痕边缘切开，并将其研磨、机械抛光至压痕中心后进行化学腐蚀，采用体视显微镜可观察到如图5所示的再结晶低倍形貌；由于在空气中热处理的样品的再结晶深度明显大于真空热处理的样品的再结晶深度，因此对单晶圆形试样的热处理可在真空条件下进行，以避免空气条件对再结晶生成含量造成影响。
在一个实施例中，所述对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形包括：
将单晶圆形试样放置于V形槽夹具内固定；
打开硬度计，将硬度计压头对准特定晶向的变形位置，使压头与单晶圆形试样接触，通过压头垂直于单晶圆形试样中心施加试验力，以造成特定晶向变形位置的压痕变形，硬度计压头对单晶圆形试样的特定晶向的变形位置的压痕时间为T，T满足10秒≤T≤15秒；
卸载后关闭硬度计，取出完成特定晶向变形的单晶圆形试样。
需要说明的是，在单晶圆形试样侧表面的特定晶向的变形位置对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形，可采用硬度计压痕变形的方式进行，其中，硬度计可选用布氏硬度计，也可选用维氏硬度计，本实施例中以布氏硬度计为例进行说明。由于单晶圆形试样侧表面为曲面，在变形压痕过程中容易滚动，不便于进行压痕，且布氏硬度计对样品进行布氏硬度测定时一般要求样品表面平坦光滑，因此需为变形压痕试验设计V形槽固定夹具，以对单晶圆形试样进行固定。图7示出了本发明实施例的一种V形槽夹具对单晶高温合金圆形试样的固定示意图，对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形包括：将单晶圆形试样放置于V形槽夹具30内固定，以确保在压痕过程中单晶圆形试样不会发生移位；打开布氏硬度计，将布氏硬度计压头对准特定晶向的变形位置并保持垂直，使压头与单晶圆形试样接触，通过压头垂直于单晶圆形试样中心施加试验力，压痕时间T满足10秒≤T≤15秒，以造成特定晶向的变形位置充分的压痕变形；待卸载后关闭布氏硬度计，取出完成特定晶向变形的单晶圆形试样。
在一个实施例中，单晶圆形试样完成特定晶向压痕变形前后，对单晶圆形试样可利用酒精进行表面清洗，以去掉试样表面的污渍、附着物等，防止在压痕过程中圆形试样滑脱或在热处理过程中表面附着物挥发或渗入单晶圆形试样表层。
需要说明的是，上述实施例中通过金相法对单晶圆形试样定向变形制备再结晶，不仅操作步骤简单，而且晶向显示直观，对促进实验开展、加速该方面研究具有较大帮助。作为替代的实施方式，确定晶向的方法还可以通过X射线衍射仪、晶体劳厄衍射仪、EBSD分析法进行，但是，通过X射线衍射仪、晶体劳厄衍射仪、EBSD分析法进行制样、分析等操作步骤繁琐，且晶向显示不够直观，故在具体实施过程中，优选通过金相法对单晶圆形试样定向变形制备再结晶。
根据本发明的实施例，另一方面，还提供了一种再结晶试样，所述再结晶试样通过如上述所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法制成。
虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。
Claims (10)
1.一种圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，包括：
将单晶高温合金试棒切割形成单晶圆形试样；
对单晶圆形试样两端端面进行研磨、抛光、腐蚀，以使单晶圆形试样的两端端面能够观察到沿X向和Y向整齐排列的树枝晶；
测定单晶圆形试样的晶向，分别以单晶圆形试样轴向两端的两个端面圆心为原点，标记第一晶向[0 1 0]和第二晶向[1 0 0]；
标记特定晶向的变形位置，分别在两个端面上任取一个偏离第一晶向同为θ的晶向，记为变形晶向[sinθcosθ0]，将两个端面上的变形晶向沿单晶圆形试样的侧表面连接形成目标位置线，目标位置线的中点即为特定晶向的变形位置；
在特定晶向的变形位置对单晶圆形试样进行特定晶向压痕变形；
对经过特定晶向变形的单晶圆形试样进行热处理，以得到圆形单晶高温合金再结晶试样。
2.根据权利要求1所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，所述单晶圆形试样的直径为D，D满足D≥3mm。
3.根据权利要求1所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，所述单晶圆形试样的长度为L，L满足L≥10mm。
4.根据权利要求1所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，所述单晶圆形试样的表面粗糙度Ra满足Ra≤0.4。
5.根据权利要求1所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，所述对单晶圆形试样两端端面进行研磨包括：将切割好的单晶圆形试样两端端面在磨样机上磨制，从粗到细对单晶圆形试样两端的端面依次用120#、240#、400#、800#、1200#和2000#砂纸进行研磨；
所述对单晶圆形试样两端端面进行抛光包括：依次用颗粒度为2.5μm、0.25μm、0.05μm的金刚石喷雾对单晶圆形试样两端的端面进行抛光。
6.根据权利要求5所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，所述对单晶圆形试样两端端面进行化学腐蚀包括：
化学腐蚀液的体积比为CH3COOH：HNO3：H2O：HF＝33：33：33：1。
7.根据权利要求1所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，得到圆形单晶高温合金再结晶试样后，沿单晶圆形试样横端面的压痕边缘切开，并将其研磨、机械抛光至压痕中心后进行化学腐蚀，对得到的圆形单晶高温合金再结晶试样进行观察。
8.根据权利要求1-7中任意一项所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，所述对单晶圆形试样进行特定晶向的压痕变形包括：
将单晶圆形试样放置于V形槽夹具内固定；
打开硬度计，将硬度计压头对准特定晶向的变形位置，使压头与单晶圆形试样接触，通过压头垂直于单晶圆形试样中心施加试验力，以造成特定晶向变形位置的压痕变形，硬度计压头对单晶圆形试样的特定晶向变形位置的压痕时间为T，T满足10秒≤T≤15秒；
卸载后关闭硬度计，取出完成特定晶向变形的单晶圆形试样。
9.根据权利要求8所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法，其特征在于，单晶圆形试样完成特定晶向压痕变形前后，对单晶圆形试样进行表面清洗。
10.一种再结晶试样，其特征在于，所述再结晶试样通过如上述权利要求1-9中任意一项所述的圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法制成。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311135829.8A CN117147257A (zh) | 2023-09-04 | 2023-09-04 | 圆形单晶高温合金再结晶试样的制备方法及再结晶试样 |
Applications Claiming Priority (1)
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