CN117139079B - 补涂控制方法、极片补涂设备及极片生产系统 - Google Patents

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Abstract

本申请公开一种补涂控制方法、极片补涂设备及极片生产系统，涉及极片加工技术领域，补涂控制方法包括以下步骤：获取测量装置检测的一次涂布后的极片的厚度相关参数；在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布后的极片进行补涂。通过对厚度相关参数的异常判断从而对极片的涂布情况进行判断，在厚度相关参数存在异常的情况下，一次涂布的极片存在涂布异常，控制补涂装置对一次涂布后的极片进行补涂，因而能够缓解当前的涂布异常问题，提高极片的涂布均匀性，减小加工克重与设计克重之间的差异，从而缓解在后工序处理中产品出现的粘结力不足、开裂、负极容量与正极容量的比值异常、析锂、低容等缺陷，提升成品电芯的品质。

Description

补涂控制方法、极片补涂设备及极片生产系统
技术领域
本申请涉及极片加工技术领域，特别涉及补涂控制方法、极片补涂设备及极片生产系统。
背景技术
涂布工艺广泛应用于纸张和薄膜等基材的涂布及复合包装。涂布工艺也是电池制造关键工序，涂布质量不仅会直接影响后工序的加工效果，并且与电池容量、寿命、安全性等密切相关，因此，如何保证极片在进入烘干等后工序时的涂布质量成为电池制造技术领域亟待解决的技术问题。
发明内容
鉴于上述问题，本申请提供一种补涂控制方法、极片补涂设备及极片生产系统，能够缓解一次涂布后极片表面存在的涂布不良的情况。
第一方面，本申请提供了一种补涂控制方法，极片包括沿其长度方向分布的多个极片段，每一所述极片段包括沿其厚度方向分布的多个检测区域；
所述补涂控制方法包括以下步骤：
获取测量装置检测的每一极片段中的至少部分检测区域的厚度相关参数；
在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布后的极片进行补涂；
其中，所述在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布的极片进行补涂的步骤至少包括：
将厚度相关参数存在异常的检测区域作为待补涂区域；
获取所述待补涂区域的边缘与所述补涂装置间的距离参数，并获取极片输送的速度参数；
根据所述距离参数和所述速度参数计算得到设定时间；
控制补涂装置在设定时间后对所述待补涂区域进行补涂。
本申请实施例的技术方案中，对一次涂布后的极片进行检测，通过对厚度相关参数的异常判断从而对极片的涂布情况进行判断，在厚度相关参数存在异常的情况下，一次涂布的极片存在涂布异常，这种异常可能是局部划痕、局部漏涂甚至是局部涂布厚度不满足一次涂布要求等情况，控制补涂装置对一次涂布后的极片进行补涂，因而能够缓解当前的涂布异常问题，提高极片的涂布均匀性，减小加工克重与设计克重之间的差异，从而缓解在后工序处理中产品出现的粘结力不足、开裂、负极容量与正极容量的比值异常、析锂、低容等缺陷，提升成品电芯的品质。
通过将极片划分布的多个极片段，从而提高极片的涂布检测精度，以各极片段作为分区，判断各极片段的涂布异常情况，从而能够提高补涂精度，减轻经过补涂装置补涂后出现的局部厚度超过涂布要求的情况。每一所述极片段包括沿其厚度方向分布的多个检测区域，对单个极片段进行更加细致的划分，根据测量装置的检测范围和结构设置，可以对每一极片段上的多个检测区域进行全检或者抽检，能够节约补涂的涂料用量，进一步提高补涂精度，减轻经过补涂装置补涂后出现的局部厚度超过涂布要求的情况。
在一些实施例中，所述厚度相关参数包括每个所述检测区域的厚度平均值，和/或所述测量装置检测时的多个检测点的坐标。厚度相关参数作为补涂控制的判断基础，可以是较为明确的厚度平均值，以便于直接进行数值比较判断异常情况，也可以是所述测量装置检测时的多个检测点的坐标，可以对坐标进行进一步计算也可以进行单个检测点的数值比对，获得更加精准的检测结果，由于补涂控制涉及到补涂方位、涂布量等参数，因此可以同时输出每个所述检测区域的厚度平均值和所述测量装置检测时的多个检测点的坐标，以便于对更多信息的确认和计算。
在一些实施例中，所述厚度相关参数包括每个所述检测区域的厚度平均值；
所述在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布的极片进行补涂的步骤包括：
将多个所述厚度平均值分别与预设厚度值比较，计算得到多个厚度差值；
当其中一个厚度差值不低于预设差值，确认对应的检测区域的厚度相关参数存在异常；
控制补涂装置对该检测区域进行补涂。
该实施例中，通过厚度差值进行数值比对，在各极片段的多个检测区域内，当其中一个厚度差值不低于预设差值，确认该检测区域存在涂布异常，需要控制补涂，而其他的区域则不需要补涂。
在一些实施例中，所述厚度相关参数包括所述测量装置检测时的多个检测点的坐标；
所述在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布的极片进行补涂的步骤包括：
根据各所述检测区域的多个检测点的坐标计算各所述检测区域的厚度平均值；
将所述厚度平均值与预设厚度不符的检测区域作为待补涂区域；
根据所述待补涂区域的多个检测点的坐标建立所述待补涂区域的立体模型，确认补涂量；
根据所述补涂量控制补涂装置对所述待补涂区域进行补涂。
该实施例中，先通过坐标点计算对应检测区域的厚度平均值便于异常判断，然后通过坐标点构建立体模型，从而通过模型中凹陷位置的体积确认补涂量，从而控制补涂装置的流量，实现精准补涂，可以改善材料浪费。
在一些实施例中，所述在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布的极片进行补涂的步骤包括：
将厚度相关参数存在异常的检测区域作为待补涂区域；
获取所述待补涂区域的边缘与所述补涂装置间的距离参数，并获取极片输送的速度参数；
根据所述距离参数和所述速度参数计算得到设定时间；
控制补涂装置在设定时间后对所述待补涂区域进行补涂。
该实施例中，极片始终是保持一定的速度移动的，通过距离和速度的关系可以计算出补涂区域在极片的带动下，从测量装置所在的位置移动至补涂装置所在的位置所花费的时间，从而使得补涂装置不仅能够精准定位，而且可以根据计算的设定时间在合适的时机进行补涂，从而改善错涂、漏涂的情况。
在一些实施例中，所述补涂控制方法还包括：
对补涂后的极片进行辊压。
辊压是对涂层的压实，使得极片厚度更均匀。
第二方面，本申请提供了一种极片补涂设备，包括：
输送装置，用于使得极片沿第一方向传输；
测量装置，用于对一次涂布的极片进行厚度相关参数检测；
补涂装置，沿第一方向与所述测量装置间隔，用于对一次涂布的极片补涂；以及，
控制器，用于根据所述测量装置的检测结果控制所述补涂装置工作。
本申请实施例的技术方案中，具有一定长度的极片在输送装置的作用下沿第一方向传输，依次经过测量装置和补涂装置，控制器根据测量装置的检测结果控制所述补涂装置工作，从而对检测结果存在异常的极片段进行补涂。因而能够缓解一次涂布异常的问题，提高极片在进入后工序时涂布的均匀性，减小加工克重与设计克重之间的差异，从而提升成品电芯的品质。
在一些实施例中，所述控制器包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的补涂控制程序，所述补涂控制程序配置为实现补涂控制方法的步骤。
该实施例通过将补涂控制方法集成在控制器中，实现各结构部件通过补涂控制方法进行检测和补涂操作。
在一些实施例中，所述补涂装置包括间隔排布的多个涂布头，所述控制器用于根据所述测量装置的检测结果控制各所述涂布头工作；和/或，
所述测量装置间隔设有多个。
该实施例中，多个涂布头能够在极片被划分为多个检测区域时对应，控制器根据检测结果控制对应的涂布头工作即可，有利于精准涂布，测量装置的数量的增加可以增加对极片测量时的总的检测范围。
在一些实施例中，所述测量装置能够沿第二方向活动，第二方向与第一方向在水平面内相交设置。该实施例中通过控制测量装置移动，从而能够沿着极片的宽度方向进行检测，从而在测量装置的探测范围不足以覆盖极片时仍能够完成检测，移动的设置形式还有利于在极片被划分为多个检测区域时进行不同的极片段的不同检测区域的抽检。
在一些实施例中，所述极片补涂设备还包括压辊，所述压辊位于所述补涂装置背向所述测量装置的一侧，所述压辊用于与极片的表面接触。该实施例通过压辊对极片表面的涂层的压实，使得极片厚度更均匀。
第三方面，本申请提供了一种极片生产系统，包括：
涂布装置，用于对极片进行一次涂布；
烘干装置，沿第一方向与所述涂布装置间隔，用于烘烤涂布后的极片；以及，
极片补涂设备，设于涂布装置和烘干装置之间。
本申请实施例的技术方案中，极片来料沿第一方向依次经过涂布装置、极片涂布设备和烘干装置，从而在一次涂布后通过检测结果进行极片补涂，使得极片表面涂布更加均匀后，进入烘干装置进行涂层的烘干，提升涂布在烘干前的涂布效果，从而能够缓解极片烘干时由于涂布不良造成的极片局部粘接力不足出现的开裂，进而缓解产品出现的负极容量与正极容量的比值异常、析锂、低容等缺陷，提升成品电芯的品质。
上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本申请一些实施例的极片补涂设备的结构示意图；
图2为本申请一些实施例提出的控制器的模块示意图；
图3为本申请一些实施例提出的补涂控制方法的流程示意图；
图4为本申请一些实施例提出的补涂控制方法的又一流程示意图；
具体实施方式中的附图标号如下：
极片补涂设备100，极片200；
测量装置1，补涂装置2，压辊3。
具体实施方式
下面将结合附图对本申请技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本申请的保护范围。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
在本申请实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
在本申请实施例的描述中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
在本申请实施例的描述中，术语“多个”指的是两个以上（包括两个），同理，“多组”指的是两组以上（包括两组），“多片”指的是两片以上（包括两片）。
在本申请实施例的描述中，技术术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。
在本申请实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”“相连”“连接”“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
目前，从市场形势的发展来看，电池的应用越加广泛。电池不仅被应用于水力、火力、风力和太阳能电站等储能电源系统，而且还被广泛应用于电动自行车、电动摩托车、电动汽车等电动交通工具，以及军事装备和航空航天等多个领域。随着动力电池应用领域的不断扩大，其市场的需求量也在不断地扩增，对于电池的性能要求也在不断提高，而电池的制造工艺与电池容量、寿命、安全性等密切相关。
本申请的发明人注意到，在电池制造工艺中，涂布工艺作为关键工序之一，极片涂布过程一般是一次涂布后进入烘干等后工序进行进一步处理，但是涂布工艺的过程存在诸多影响质量的情况，极片一般是整卷的料材，在进入涂布时，由于料材收放时背辊存在异物、或者涂布设备的喷头堵塞都容易在极片的涂层表面产生划痕，同时，由于涂布控制和设备误差也存在一些极片表面涂布不均匀的情况。这种在极片经过一次涂布进入烘干时，这些涂布不良的位置在烘干的过程中容易出现开裂问题。
基于此，为了解决涂布不均造成后工序质量缺陷的问题，经过深入研究，提出了一种补涂控制方法、极片补涂设备及极片生产系统，适用于需要极片涂布的各类产品的制造场景中，例如，电动车辆、船舶或飞行器等设备的电池进行制造加工的具体应用场景中。
为了更好的理解本申请实施例，下面将结合附图，详细描述根据本申请实施例提供的补涂控制方法、极片补涂设备及极片生产系统。
极片生产系统包括涂布装置、烘干装置和极片补涂设备100，涂布装置用于对极片进行一次涂布；烘干装置沿第一方向与涂布装置间隔，用于烘烤涂布后的极片；极片补涂设备100设于涂布装置和烘干装置之间。
如图1中所示，第一方向即为极片的长度方向，第二方向即为极片的宽度方向。
涂布装置可以为具备输送功能和喷涂功能的构件，例如包括输送带、喷头，也可以为仅具有喷涂功能的构件，通过在料卷和装置之间增设输送机构实现传输功能，涂布装置的涂布形式可以为喷涂、辊涂等。
烘干装置可以包括烘干通道，极片从入口进入经过一段距离的高温烘烤，从出口流出的时候完成烘干，也可以是一定长度的极片进入烘干装置后输送停顿，保持一定的烘干时长后移出。烘干装置可以是热风烘干、加热管对炉内空气加热从而烘干等形式。
极片补涂设备100对一次涂布的极片进行检测和补涂，根据一次涂布不同的涂布效果，可以是持续补涂也可以是间歇补涂，在一次涂布均匀性稳定的情况下，极片补涂设备100也可以不工作，具体的涂布频率需要根据一次涂布的检测结果判断。
本申请实施例的技术方案中，极片来料沿第一方向依次经过涂布装置、极片涂布设备和烘干装置，从而在一次涂布后通过检测结果进行极片补涂，使得极片表面涂布更加均匀后，进入烘干装置进行涂层的烘干，提升涂布在烘干前的涂布效果，从而能够缓解极片烘干时由于涂布不良造成的极片局部粘接力不足出现的开裂，进而缓解产品出现的负极容量与正极容量的比值异常、析锂、低容等缺陷，提升成品电芯的品质。
该实施例中极片补涂设备100应用在涂布和烘干工序之间，根据不同产品的加工工序和加工工艺不同，极片补涂设备100也可以应用在其他工序之间。
请参照图1，图1为本申请一些实施例的极片补涂设备100的结构示意图。极片补涂设备100包括输送装置、测量装置1、补涂装置2和控制器，输送装置用于使得极片沿第一方向传输；测量装置1用于对一次涂布的极片进行厚度相关参数检测；补涂装置2沿第一方向与测量装置1间隔，用于对一次涂布的极片补涂；控制器用于根据测量装置1的检测结果控制补涂装置2工作。
输送装置可以是传送带式输送，极片放置在传送带的表面，随传送带的移动而移动，也可以是滚筒式输送，极片通过多个间隔的滚筒被输送，极片可能局部悬空。
测量装置1为能够进行数据测量以便于后续分析评价异常的装置，其具体结构形式不做限定，可以为智能测厚仪，具有一定的扫描区域，根据原理不同具有超声波测厚仪、电磁感应测厚仪、激光测厚仪等，通过穿透涂层能够得到涂层的厚度，其测量的信息均可以上传至控制器中，以便于控制器进行结果分析从而对补涂装置2发出工作指令。
补涂装置2可以为具备输送功能和喷涂功能的构件，也可以为仅具有喷涂功能的构件，补涂装置2的涂布形式可以为喷涂、辊涂等。
厚度相关参数为能够直接评价厚度状况的数据，也可以只是采集到的信息，用来通过计算或者分析得到能够评价厚度状况的数据，可以指具体的数值，也可以是范围值，也可以是图片，也可以是坐标点数据，还可以是色度值。
本申请实施例的技术方案中，具有一定长度的极片在输送装置的作用下沿第一方向传输，依次经过测量装置1和补涂装置2，控制器根据测量装置1的检测结果控制补涂装置2工作，从而对检测结果存在异常的极片段进行补涂。因而能够缓解一次涂布异常的问题，提高极片在进入后工序时涂布的均匀性，减小加工克重与设计克重之间的差异，从而提升成品电芯的品质。
在一些实施例中，控制器包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的补涂控制程序，补涂控制程序配置为实现补涂控制方法的步骤。
应当理解，在本申请实施例中，所称处理器可以是中央处理单元(CentralProcessingUnit，CPU)，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-ProgrammableGateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器提供指令和数据。存储器的一部分或全部还可以包括非易失性随机存取存储器。例如，存储器还可以存储设备类型的信息。
存储器可以存储测量装置1的检测结果，处理器对检测结果进行分析计算，其进行数据处理的步骤为：Q1获取测量装置1检测的一次涂布后的极片的厚度相关参数；Q2在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置2对一次涂布后的极片进行补涂。
为了便于叙述，此处以图2所示的控制器为本实施例提供的补涂控制方法的具体应用环境，该控制器的模块图仅为一种可能的示例，而非对本申请实施例提供的补涂控制方法的具体载体应用进行限制。
根据本申请的一些实施例，可选地，补涂装置2包括间隔排布的多个涂布头，控制器用于根据测量装置1的检测结果控制各涂布头工作。
涂布头的排布方式可以根据极片的区域划分方式确定，当极片沿其宽度方向划分时，多个涂布头沿着第二方向间隔，根据空间范围和涂布头的结构尺寸，多个涂布头可以沿着同一直线排布，也可以是错落分布。多个涂布头的数量应当与极片的检测区域的数量对应。
该实施例中，多个涂布头能够在极片被划分为多个检测区域时对应，控制器根据检测结果控制对应的涂布头工作即可，有利于精准涂布。
根据本申请的一些实施例，可选地，测量装置1间隔设有多个。
不同型号不同原理的测量装置1的检测覆盖面积可能不同，测量装置1的数量的增加可以增加对极片测量时的总的检测范围。
测量装置1设置多个时，可以沿着第二方向间隔排布，从而适应极片的宽度，根据空间范围和测量装置1的结构尺寸，也可以是错落分布。每个测量装置1的检测范围可以相同也可以不同，每个测量装置1的结构可以相同也可以不同，各测量装置1也可以是在第一方向间隔分布，此时可以针对同一检测区域进行多次检测以提高检测精度。
在一些实施例中，测量装置1能够沿第二方向活动，该实施例中通过控制测量装置1移动，从而能够沿着极片的宽度方向进行检测，从而在测量装置1的探测范围不足以覆盖极片时仍能够完成检测，可移动的设置形式还有利于在极片被划分为多个检测区域时进行不同的极片段的不同检测区域的抽检。
当测量装置1设置一个时，由于极片在检测过程中是持续活动的，随着测量装置1的移动形成Z字形的检测轨迹，当测量装置1设置多个时，合理的设置单个或者多个测量装置1的活动时机，即可在灵活检测的同时避免干涉。
在一些实施例中，极片补涂设备100还包括压辊3，压辊3位于补涂装置2背向测量装置1的一侧，压辊3用于与极片的表面接触。
相应的，极片的补涂工艺为：检测、补涂、辊压。
该实施例通过压辊3对极片表面的涂层的压实，使得极片厚度更均匀。
根据本申请的一些实施例，参见图1，本申请提供的极片补涂设备100，极片沿着第一方向延伸，依靠料卷的辊轴和间隔排布且上下错落的滚筒输送，对应测量装置1的位置设置一个承载台面，极片在承载台面的作用下能够保持平整，方便测量装置1的检测，测量装置1能够沿第二方向移动，对极片上划分的多个检测区域进行抽检，补涂装置2的涂布头对应其中一个滚筒的侧面，极片经过补涂装置2后先向下延伸绕设压辊3后回到沿第一方向延伸。极片在进入设备和流出设备时存在高度落差。便于结构之间的错落分布，有利于减小整体设置空间。
根据本申请的一些实施例中，申请提供的极片补涂设备100，极片始终沿着第一方向延伸，通过传送带进行水平输送，传送带依次经过测量装置1、补涂装置2和压辊3。该实施例中，测量装置1、多个涂布头和压辊3均处在传送带的上方。
在本申请的一些实施例中，参照图3至图4，本申请实施例提出了一种补涂控制方法，补涂控制方法可以包括以下步骤：
S10：获取测量装置1检测的一次涂布后的极片的厚度相关参数；
应当理解的是，当极片进行一次涂布以后，通过测量装置1对极片的涂布情况进行检测，厚度相关参数作为判定或者计算的基础数据。
S20：在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置2对一次涂布后的极片进行补涂。
可以理解的是，根据不同的厚度相关参数，对于异常判断的方式并不相同，例如，当厚度相关参数是厚度值，可以通过直接对比或者差值计算的方式判断是否存在异常，当厚度相关参数是点坐标时，可以通过进一步的计算得到便于评价的数值，当厚度相关参数是图片信息时，通过转换为电子信号或者分析图片颜色的方式判断是否存在异常，当厚度相关参数是色度值时，根据不同色度值涂层厚度的对照关系可以判断当前是否存在薄涂。
对一次涂布后的极片进行检测，通过对厚度相关参数的异常判断从而对极片的涂布情况进行判断，在厚度相关参数存在异常的情况下，一次涂布的极片存在涂布异常，这种异常可能是局部划痕、局部漏涂甚至是局部涂布厚度不满足一次涂布要求等情况，控制补涂装置2对一次涂布后的极片进行补涂，因而能够缓解当前的涂布异常问题，提高极片的涂布均匀性，减小加工克重与设计克重之间的差异，从而缓解在后工序处理中产品出现的粘结力不足、开裂、负极容量与正极容量的比值异常、析锂、低容等缺陷，提升成品电芯的品质。
在一些实施例中，考虑到极片来料一般是整卷料材，总长度可以达到几十米甚至几百米，并且在极片加工完成后，需要对其进行裁剪以适应相应的产品的尺寸，因此，可以预先将极片进行划分，具体的，所述极片包括沿其长度方向分布的多个极片段，步骤S10中，获取测量装置1检测的每一极片段的厚度相关参数。
需要说明的是，多个极片段可以是根据极片后工序的裁切尺寸划分，也可以是适配检测范围和检测频率的合理划分，这里所说的划分是在测量装置1检测时程序设定的虚拟划分。例如，将极片按照每10cm划分为一个极片段。
该实施例中，通过将极片划分为多个极片段，从而提高极片的涂布检测精度，以各极片段作为分区，判断各极片段的涂布异常情况，从而能够提高补涂精度，减轻经过补涂装置2补涂后出现的局部厚度超过涂布要求的情况。
在一些实施例中，由于极片涂布时的涂布异常存在分散性和不确定性，进一步的，每一极片段包括沿其厚度方向分布的多个检测区域，此时，获取测量装置1检测的每一极片段的厚度相关参数的步骤中，
获取测量装置1检测的每一极片段中的至少部分检测区域的厚度相关参数。
应当理解的是，根据测量装置1的结构形式和探测面积，可以是单个探测面积不足以覆盖极片宽度的测量装置1在第二方向活动以进行抽检，此时，每个极片段中可能部分检测区域被检测，并且随着测量装置1的移动，每个极片段中被检测到的检测区域的方位可能不同。也可以是在测量装置1的探测面积能够覆盖极片宽度时，对每个极片段的所有检测区域进行全检。
例如，将每个极片段沿其宽度方向划分为10个以上的检测区域，从而提高检测精度，进而提高补涂精度。
该实施例中，对单个极片段进行更加细致的划分，根据测量装置1的检测范围和结构设置，可以对每一极片段上的多个检测区域进行全检或者抽检，能够节约补涂的涂料用量，进一步提高补涂精度，减轻经过补涂装置2补涂后出现的局部厚度超过涂布要求的情况。
根据本申请的一些实施例，可选地，厚度相关参数包括每个检测区域的厚度平均值，和/或测量装置1检测时的多个检测点的坐标。
厚度相关参数作为补涂控制的判断基础，可以是较为明确的厚度平均值，以便于直接进行数值比较判断异常情况，也可以是所述测量装置1检测时的多个检测点的坐标，坐标轴的原点可以是测量装置1的初始位置、极片的进料位置等，可以对坐标进行进一步计算也可以进行每个检测点的坐标比对，获得更加精准的检测结果，由于补涂控制涉及到补涂方位、涂布量等参数，因此可以同时输出每个检测区域的厚度平均值和测量装置1检测时的多个检测点的坐标，以便于对更多信息的确认和计算。
极片在沿着第一方向移动时，以单个测量装置1为例，测量装置1对于各检测区域的探测对应呈现具有一定长度和一定宽度的路径，当测量装置1能够沿着第二方向活动时，单个检测区域内，可能存在两段不同长度、甚至不同延伸方向的路径，应当对每一个路径对应的探测结果形成相应的厚度相关参数，即存在一个检测区域中有两个检测信息的情况。
在一些实施例中，当厚度相关参数包括每个检测区域的厚度平均值时，步骤S20包括：
S201：将多个厚度平均值分别与预设厚度值比较，计算得到多个厚度差值；
应当理解的是，厚度差值是绝对值，每个检测区域获得一个厚度差值。
S202：当其中一个厚度差值不低于预设差值，确认对应的检测区域的厚度相关参数存在异常。
当厚度差值不低于预设差值时，说明此时的涂布厚度的误差超过的设定的允许误差，对于漏涂、划痕、薄涂的位置则需要补涂。
例如，设定差值为7μm，厚度差值为A，当A≥7μm，说明此时的涂布厚度与预设涂布要求不符。
应当理解的是，以上提供了判断检测区域存在异常的一种方式，当厚度相关参数为其他数值时，也可以采用其他的判断方式。
S203：控制补涂装置2对该检测区域进行补涂。
该实施例中，通过厚度差值进行数值比对，在各极片段的多个检测区域内，当其中一个厚度差值不低于预设差值，确认该检测区域存在涂布异常，需要控制补涂，而其他的区域则不需要补涂。
在一些实施例中，当厚度相关参数包括测量装置1检测时的多个检测点的坐标时，步骤S20包括：
S201’：根据各检测区域的多个检测点的坐标计算各检测区域的厚度平均值；
S202’：将厚度平均值与预设厚度不符的检测区域作为待补涂区域；
S203’：根据待补涂区域的多个检测点的坐标建立待补涂区域的立体模型，确认补涂量；
应当理解的是，通过多个检测点的坐标可以建立立体模型，从而能够计算出沟壑部分的体积，即为相应的补涂量。
检测的坐标原点可以是测量装置1的初始位置，也可以是极片的进料位置。
S204’：根据补涂量控制补涂装置2对待补涂区域进行补涂。
该实施例中，先通过坐标点计算对应检测区域的厚度平均值便于异常判断，然后通过坐标点构建立体模型，从而通过模型中凹陷位置的体积确认补涂量，从而控制补涂装置2的流量，实现精准补涂，可以改善材料的浪费。
应当理解的是，基于多个检测点的坐标，也可以计算得到各检测区域的厚度平均值以后，通过进一步计算厚度差值进行比较判断出待补涂区域。
在一些实施例中，步骤S20包括：
S21：将厚度相关参数存在异常的检测区域作为待补涂区域；
应当理解的是，基于不同的厚度相关参数，可以通过不同的方式判断各检测区域是否存在异常，厚度相关参数的异常可以体现在多涂、漏涂、划痕、薄涂等方面，待补涂区域应当对应具有漏涂、划痕、薄涂等涂布缺陷的区域，漏涂、划痕、薄涂一类的缺陷是能够通过补涂 的方式进行改善的。
S22：获取待补涂区域的边缘与补涂装置2间的距离参数，并获取极片输送的速度参数；
根据初始布局设置，补涂装置2和测量装置1的检测位置之间的距离是固定不变的，当补涂装置2和测量装置1其中之一为可活动部件时，距离参数就会随着设备的运行而不断发生改变。极片应当保持一定的速度输送，即在经过测量装置1和补涂装置2时的速度一致。
应当理解的是，补涂装置2和测量装置1的距离参数应当考虑到极片在二者之间的运行轨迹，当极片的活动轨迹为直线时，距离参数为直线距离，当极片的活动轨迹为曲线时，距离参数同样应当对应为极片处在二者之间的段落的总长。
例如，极片的移动速度50-70m/min，测量装置1能够在不大于1s的时间内完成一个极片段中至少部分检测区域的探测。
S23：根据距离参数和速度参数计算得到设定时间；
利用距离、速度和时间的公式可以计算出待补涂区域的边缘移动至补涂装置2处的时间，该时间即为设定时间。
S24：控制补涂装置2在设定时间后对待补涂区域进行补涂。
该实施例中，极片始终是保持一定的速度移动的，通过距离和速度的关系可以计算出补涂区域在极片的带动下，从测量装置1所在的位置移动至补涂装置2所在的位置所花费的时间，从而使得补涂装置2不仅能够精准定位，而且可以根据计算的设定时间在合适的时机进行补涂，从而改善错涂、漏涂的情况。
在一些实施例中，补涂控制方法还包括：
S30：对补涂后的极片进行辊压。
辊压通常通过一个可转动的压辊贴合图层表面，当极片被传送带传输以具有平整面时，辊压可以是基于上下方位上进行辊压，当极片被滚筒带动而出现输送方向折转时，辊压的方向根据极片的折转方向合理设置。
应当理解的是，辊压是对涂层的压实，使得极片厚度更均匀。
根据本申请的一些实施例，极片生产系统的补涂装置2包括多个涂布头，相应的，请参照图4，极片的生产过程为：通过涂布装置进行一次涂布，在一次涂布后，通过测量装置1对一次涂布的极片200中各检测区域的厚度平均值，将所述厚度平均值与预设厚度不符的检测区域作为待补涂区域，根据测量装置1探测过程中获取的坐标建立面积与深度的立体模型，计算补涂量，在建立立体模型的同时，根据待补涂区域与补涂装置2之间的距离和极片200的移动速度计算与设定时间，控制补涂装置2在设定时间后根据所述补涂量对所述待补涂区域进行补涂，完成补涂后的极片200进入烘干装置内进行烘干，并在烘干完成后辊压。
根据本申请的一些实施例，极片生产系统的测量装置1为激光测厚仪，补涂装置2包括智能控制的多个涂布头，烘干装置为热风烘干，相应的，极片的生产过程为：通过涂布装置进行一次涂布，在一次涂布后，通过激光测厚仪检测一次涂布的极片200中各检测区域的厚度平均值，将各厚度平均值与预设差值比较，识别得到存在异常的检测区域，将需要补涂的区域作为待补涂区域，根据激光测厚仪探测过程中获取的坐标建立面积与深度的立体模型，计算补涂量，同时根据待补涂区域与补涂装置2之间的距离和极片200的移动速度计算与设定时间，在此过程中可以增加CCD检测装置，以检测极片200移送过程中待检测区域的位置是否变化，根据设定时间和补涂量控制相应的涂布头在特定的时机按照补涂量工作以完成补涂，极片200经过极片补涂设备100后进入烘干装置内进行烘干并在烘干完成后辊压。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所做的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种补涂控制方法，其特征在于，极片包括沿其长度方向分布的多个极片段，每一所述极片段包括沿其厚度方向分布的多个检测区域；
所述补涂控制方法包括以下步骤：
获取测量装置检测的每一极片段中的至少部分检测区域的厚度相关参数；
在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布后的极片进行补涂；
其中，所述在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布的极片进行补涂的步骤至少包括：
将厚度相关参数存在异常的检测区域作为待补涂区域；
获取所述待补涂区域的边缘与所述补涂装置间的距离参数，并获取极片输送的速度参数；
根据所述距离参数和所述速度参数计算得到设定时间；
控制补涂装置在设定时间后对所述待补涂区域进行补涂。
2.如权利要求1所述的补涂控制方法，其特征在于，所述厚度相关参数包括每个所述检测区域的厚度平均值，和/或所述测量装置检测时的多个检测点的坐标。
3.如权利要求1所述的补涂控制方法，其特征在于，所述厚度相关参数包括每个所述检测区域的厚度平均值；
所述在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布的极片进行补涂的步骤包括：
将多个所述厚度平均值分别与预设厚度值比较，计算得到多个厚度差值；
当其中一个厚度差值不低于预设差值，确认对应的检测区域的厚度相关参数存在异常；
控制补涂装置对该检测区域进行补涂。
4.如权利要求1所述的补涂控制方法，其特征在于，所述厚度相关参数包括所述测量装置检测时的多个检测点的坐标；
所述在厚度相关参数存在异常的情况下，控制补涂装置对一次涂布的极片进行补涂的步骤包括：
根据各所述检测区域的多个检测点的坐标计算各所述检测区域的厚度平均值；
将所述厚度平均值与预设厚度不符的检测区域作为待补涂区域；
根据所述待补涂区域的多个检测点的坐标建立所述待补涂区域的立体模型，确认补涂量；
根据所述补涂量控制补涂装置对所述待补涂区域进行补涂。
5.如权利要求1所述的补涂控制方法，其特征在于，所述补涂控制方法还包括：
对补涂后的极片进行辊压。
6.一种极片补涂设备，其特征在于，包括：
输送装置，用于使得极片沿第一方向传输；
测量装置，用于对一次涂布的极片进行厚度相关参数检测；
补涂装置，沿第一方向与所述测量装置间隔，用于对一次涂布的极片补涂；以及，
控制器，用于根据所述测量装置的检测结果控制所述补涂装置工作，所述控制器包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的补涂控制程序，所述补涂控制程序配置为实现如权利要求1至5中任一项所述的补涂控制方法的步骤。
7.如权利要求6所述的极片补涂设备，其特征在于，所述补涂装置包括间隔排布的多个涂布头，所述控制器用于根据所述测量装置的检测结果控制各所述涂布头工作；和/或，
所述测量装置间隔设有多个。
8.如权利要求6所述的极片补涂设备，其特征在于，所述测量装置能够沿第二方向活动，第二方向与第一方向在水平面内相交设置。
9.如权利要求6所述的极片补涂设备，其特征在于，所述极片补涂设备还包括压辊，所述压辊位于所述补涂装置背向所述测量装置的一侧，所述压辊用于与极片的表面接触。
10.一种极片生产系统，其特征在于，包括：
涂布装置，用于对极片进行一次涂布；
烘干装置，沿第一方向与所述涂布装置间隔，用于烘烤涂布后的极片；以及，
极片补涂设备，包括如权利要求6至9任意一项所述的极片补涂设备，设于涂布装置和烘干装置之间。
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