CN117135830A - 一种用于背钻对准度检测的pcb及其制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于背钻对准度检测的PCB及其制作方法,属于PCB制作技术领域,包括:在内层基板上蚀刻出内层图形并压合,得到基础板;在基础板上钻孔并在钻出的孔上沉积铜;在沉积铜后的孔上进行深钻,钻出对准度coupon;将需要堵的孔用树脂堵孔;在未堵的孔的孔壁上沉积铜;制作外层图形和防焊层;本发明能够提高背钻对准度检测精度。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于背钻对准度检测的PCB及其制作方法,属于PCB制作技术领域。
背景技术
随着sever产品技术的运用及推广,通信产品BGA(Ball Grid Array Package)尺寸设计越来越小,孔到铜及背钻孔到铜的距离设计越来越小,为了监控BGA处背钻到铜的安全距离,目前业内大都是通过过程监控或破坏性切片进行检测,整个质量监控反应弧长,覆盖面低、成本贵、漏失率高等问题。因此在PCB working panel的四角设计一种背钻对准度精度coupon,在在半成品及成品电测通过oepn/short可以对PCB内背钻对准度进行监控,也可以监控背钻对准度能力,coupon是为了在印刷电路板(PCB)生产过程中方便定位,而在PCB上添加的一段带有孔洞的附加材料。
目前业内采用背钻绕线coupon设计的方式来实现,即在背钻位置的每个钻过层设计比背钻孔径大的同心pad(焊盘),同时此pad与测试孔形成链路,背钻完成后在其孔边会形成一个绕线,其原理是通过Pad的大小设计及最终背钻完成后形成的绕线是否被钻断或链路open/short来判定背钻的对准度及能力,若链路open,说明绕线已断,即代表背钻对准度已偏移设定值,若链路short绕线未断,即代表背钻对准度正常。但绕线设计的制作在过程中存在如下问题,会导致实际coupon表现不能真实的体现BGA处的背钻表现,同时能力评估也无法得到实际效果。
1.PCB BGA处内层的设计会与背钻绕线coupon的内层设计不一样,包括绕线的DFM(可制造性设计),及绕线coupon的残铜率设计均会影响背钻时绕线的表现,通常出现的问题是,coupon绕线比目标值大或是小,且出现线路滑移。
2.目前会出现在ET测试时出现open现象,但切片分析背钻孔非常正,但线路没有了,其实是被蚀刻了,因此PCB背钻时机的选择要根据产品流程具体设定,从而绕线coupon在运用上受到流程的局部限制。
综上所述,目前对背钻对准度检测的精确度还有待提高。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于背钻对准度检测的PCB及其制作方法,解决现有技术中存在的背钻对准度检测精度低的问题。
为实现以上目的,本发明是采用下述技术方案实现的:
第一方面,本发明提供了一种用于背钻对准度检测的PCB制作方法,包括:
在内层基板上蚀刻出内层图形并压合,得到基础板;
在所述基础板上钻孔并在钻出的孔上沉积铜;
在沉积铜后的孔上进行深钻,钻出对准度coupon;
将需要堵的孔用树脂堵孔;
在未堵的孔的孔壁上沉积铜;
制作外层图形和防焊层。
结合第一方面,进一步的,所述压合包括:根据预设的内层基板的结构次序,使用粘结片贴在各内层基板之间,叠合好后使用热压机将内层基板压合在一起。
结合第一方面,进一步的,所述钻孔包括通过数控钻孔机钻出需要电镀和需要压接/插拔元器件的通孔。
结合第一方面,进一步的,所述深钻包括使用深镀控制钻孔的方式在需要压接/插拔元器件的通孔上进行深钻。
结合第一方面,进一步的,所述沉积铜包括利用化学沉铜和电镀铜的方法使孔沉积>20um的铜在孔壁上。
结合第一方面,进一步的,所述制作外层图形和防焊层包括:
使用全板影像或图形电镀影像转移制作出外层图形;
根据数据进行油墨覆盖形成防焊层。
第二方面,本发明还提供了一种用于背钻对准度检测的PCB,根据第一方面中任一项所述方法制备得到。
与现有技术相比,本发明所达到的有益效果是:
本发明提供的一种用于背钻对准度检测的PCB及其制作方法,通过钻孔后不堵孔再沉积铜的方式制备PCB,在背钻对准度检测时能够避免绕线滑移,测试链路open/short来判断和检测背钻对准度,更有效、真实体现了对准度水平,在制作过程中,antipad(反焊盘)要比传统绕线内层更好制作,大小及偏移更好控制;并且克服了绕线coupon设计成品绕线偏大或偏小问题,克服了绕线coupon内层设计残铜率无法精准把握而导致的压合时滑移导致的绕线漂移,有背绕线coupon设计的PCB流程,当背钻的via孔为非堵孔,或是背钻为半堵孔时在背钻时机的选择上要避开蚀刻前背钻,本发明扩充了此流程。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种用于背钻对准度检测的PCB的制作方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的PCB的俯视图;
图3是本发明实施例提供的PCB的剖视图;
图4是本发明实施例提供的内层基板制作示意图;
图5是本发明实施例提供的antipad制作示意图;
图6是本发明实施例提供的背钻底孔的示意图;
图7是本发明实施例提供的背钻底孔电镀示意图;
图8是本发明实施例提供的背钻孔的示意图;
图9是本发明实施例提供的背钻孔电镀示意图;
图10是本发明实施例提供的外层图形制作示意图;
图11是本发明实施例提供的防焊层制作示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述,以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
如图1所示,本发明提供了一种用于背钻对准度检测的PCB的制作方法,包括以下步骤:
(1)内层基板制作:如图4所示,根据线路板结构制作相应的内层板,通过内层压干膜、内层曝光机的图像转移,使用酸性蚀刻,在每个个内层基板上蚀刻出内层图形1。
(1.1)数据设计部分,antipad大小设计D+0.5/D+1/D+1.5/D+2/D+2.5/D+3…(备注:考虑棕化咬铜量,D为背钻孔径,D+0.5代表antipad比背钻孔径单边大0.5mil),背钻对准度和antipad大小对照情况如表1所示:
表1-背钻对准度和antipad大小对照表
背钻对准度 | 1mil | 2mil | 3mil | 4mil | 5mil | 6mil |
antipad大小 | D+0.5 | D+1 | D+1.5 | D+2 | D+2.5 | D+3 |
(1.2)背钻对准度coupon内层全铜设定,即保障了网络又保障了残铜率.
(1.3)antipad大小设计可以根据实际能力设计,如步骤(1.1),若是监控产品板表现,antipad大小可设计同PCB内CBD2M同步,若是能力测试板可以从小到大依次设计,如图5所示。
(2)内层基板压合:根据线路板结构次序,使用热压机把线路板压合在一起,需注意Coupon的局部涨缩。
(3)外层钻孔电镀:使用数控钻孔机钻出需电镀的通孔,再利用化学沉铜和电镀铜使孔上沉积一定的铜在孔壁上,如图6和图7所示。
数控钻孔机钻出的通孔孔位精度需管控,控制Cpk≧1.33(根据需求设定公差),并通过照X-ray查看antipad与孔位的表现。
(4)深镀钻孔:在背钻coupon及PCB内需要背钻的通孔使用深度控制钻孔的方式进行深钻,把相应深镀的孔壁铜钻除,并通过AOI检测设备检测残铜,如图8所示。
(5)树脂堵孔:对需要堵孔的via孔及背钻孔进行树脂塞孔,coupon内的via孔不塞孔,可通过选塞的方式完成。
(6)电镀capping,将POFV孔电镀capping,并将背钻coupon背钻孔壁进行电镀,使得底孔+背钻部分导通形成链路,如图9所示。
电镀后在ET测试机进行测试,open判定背钻对于对准度要求下OK,short代表NG。
(7)外层线路制作:根据线路图使用全板影像或图形电镀影像转移制作出外层图形,如图10所示。
(8)防焊制作:根据图形制作相应的油墨覆盖,如图11所示。
(9)通过后面成型、表面处理、功能性测试等工艺流程制作到相应成品,最终制得的PCB如图2和图3所示。
通过实际生产验证,采用相同的ET测试机进行测试,通过本发明提供的方法制作的PCB,对准度检测精确度可达到100%,而采用传统背钻绕线方式制作的PCB,对准度检测精确度仅有80%左右。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。
Claims (7)
1.一种用于背钻对准度检测的PCB制作方法,其特征在于,包括:
在内层基板上蚀刻出内层图形并压合,得到基础板;
在所述基础板上钻孔并在钻出的孔上沉积铜;
在沉积铜后的孔上进行深钻,钻出对准度coupon;
将需要堵的孔用树脂堵孔;
在未堵的孔的孔壁上沉积铜;
制作外层图形和防焊层。
2.根据权利要求1所述的用于背钻对准度检测的PCB制作方法,其特征在于,所述压合包括:根据预设的内层基板的结构次序,使用粘结片贴在各内层基板之间,叠合好后使用热压机将内层基板压合在一起。
3.根据权利要求1所述的用于背钻对准度检测的PCB制作方法,其特征在于,所述钻孔包括通过数控钻孔机钻出需要电镀和需要压接/插拔元器件的通孔。
4.根据权利要求3所述的用于背钻对准度检测的PCB制作方法,其特征在于,所述深钻包括使用深镀控制钻孔的方式在需要压接/插拔元器件的通孔上进行深钻。
5.根据权利要求1所述的用于背钻对准度检测的PCB制作方法,其特征在于,所述沉积铜包括利用化学沉铜和电镀铜的方法使孔沉积>20um的铜在孔壁上。
6.根据权利要求1所述的用于背钻对准度检测的PCB制作方法,其特征在于,所述制作外层图形和防焊层包括:
使用全板影像或图形电镀影像转移制作出外层图形;
根据数据进行油墨覆盖形成防焊层。
7.一种用于背钻对准度检测的PCB,其特征在于,根据权利要求1至6中任一项所述方法制备得到。
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