CN117129559A - 检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种检测装置及检测方法，该检测装置用于对待检测加热片的发热元件进行缺陷检测；该装置包括：电源模块和导线模块；电源模块通过导线模块与发热元件电连接，并且电源模块、导线模块以及发热元件形成导电回路；电源模块用于通过导线模块向发热元件施加目标电压；其中，目标电压用于对发热元件进行缺陷检测；目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，从而将发热元件的细微缺陷显现化，提高加热片的发热元件缺陷检测的精准度，并且提高加热片的发热元件缺陷检测的效率以及降低检测复杂度。

Description

检测装置及检测方法

技术领域

本申请涉及电池技术领域，具体涉及一种检测装置及检测方法。

背景技术

电池加热片是一种常见的加热元件,主要用于保暖、防冻、加热等方面。在现实生活中,电加热片被广泛应用于汽车防冻保暖、家用电器保温加热、户外露营等方面，电池发热元件若存在缺陷在使用过程中存在易燃等安全问题，因此，需要对电池发热元件进行缺陷检测。

目前加热片的发热元件的缺陷检测方法一般通过训练识别模型，利用发热元件图像进行缺陷检测，但实际应用过程中，若缺陷尺寸细微的情况下，通过图像来进行缺陷检测存在无法识别的问题。

发明内容

鉴于上述问题，本申请提供一种检测装置及检测方法，能够解决目前加热片的发热元件通过图像进行缺陷识别存在的缺陷尺寸细微的情况下无法识别的问题。

第一方面，本申请提供了一种检测装置，该检测装置用于对待检测加热片的发热元件进行缺陷检测；该装置包括：电源模块和导线模块；电源模块通过导线模块与发热元件电连接，并且电源模块、导线模块以及发热元件形成导电回路；电源模块用于通过导线模块向发热元件施加目标电压；其中，目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值；所述检测装置还包括支撑模块；所述支撑模块用于承载所述待检测加热片；所述支撑模块包括第一支架组件和第二支架组件；所述第一支架组件和第二支架组件相对间隔设置并均用于承载所述待检测加热片；其中，所述第一支架组件和第二支架组件之间具有支架间距，所述支架间距不大于所述待检测加热片任意两相对边缘相距的距离。

本申请实施例的技术方案中，本方案通过电源模块、导线模块与待检测加热片的发热元件形成导电回路，在此基础上，电源模块通过导线模块向发热元件输送目标电压，倘若发热元件具有缺陷，这样会使得目标电压汇聚在发热原件的缺陷处，由于目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，这样在导电回路导通后会击穿发热元件缺陷处周围介质，从而造成发热元件拉弧烧蚀，这样即使发热元件的缺陷为细微缺陷，在电源模块输送目标电压后通过发热元件是否发生拉弧烧蚀现象即可判定发热元件是否存在缺陷，从而将发热元件的细微缺陷显现化，提高加热片的发热元件缺陷检测的精准度，并且提高加热片的发热元件缺陷检测的效率以及降低检测复杂度；同时，本方案设置支撑模块承载待测加热片，使得待检测加热片可以同时放置于第一支架组件和第二支架组件上，使得在对待测加热片进行缺陷测试的情况下更加便利。

在一些实施例中，电源模块包括输出正极和输出负极，导线模块包括第一导线和第二导线，发热元件包括发热元件第一端和发热元件第二端；输出正极通过第一导线与发热元件第一端电连接，输出负极通过第二导线与发热元件第二端连接，以形成导电回路。

在一些实施例中，第一支架组件包括第一支架、第一支撑底座和第二支撑底座，第二支架组件包括第二支架、第三支撑底座和第四支撑底座；第一支撑底座的顶部和第二支撑底座的顶部分别与第一支架的两个端部连接，第三支撑底座的顶部和第四支撑底座的顶部分别与第二支架的两个端部连接；第一支架和第二支架用于承载待检测加热片。

在一些实施例中，第一支架和第二支架为弧形结构支架；其中，第一支架和第二支架的弧形结构凸起面为远离支撑底座的一面。本实施方式设计第一支架和第二支架为弧形结构支架，使得待检测加热片中的发热元件（例如加热片金属丝）能够尽量分离，从而使得具有略微断裂的加热片金属丝也能够达到有效分离，进而避免加热片金属丝断裂但断裂处还处于连接状态带来的检测遗漏问题，从而提高检测的有效性。

在一些实施例中，支撑模块还包括滑动组件，滑动组件的第一端与第一支撑底座连接，滑动组件的第二端与所述第三支撑底座连接，其中，第一支撑底座与第三支撑底座相对；滑动组件用于通过自身伸缩改变第一支架组件和第二支架组件之间的间距。本实施方式设计的滑动组件通过自身伸缩，从而改变第一支架组件和第二支架组件之间的间距，进而可使得支撑模块可承载不同尺寸的加热片，进而实现多种不同尺寸的加热片的缺陷检测。

在一些实施例中，其中，具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质包括空气或空气与金属丝的结合体。

在一些实施例中，检测装置还包括控制模块，控制模块与电源模块通信连接；控制模块用于控制电源模块向发热元件输送目标电压。

在一些实施例中，所述检测装置还包括图像识别模块；图像识别模块，用于对通电后的发热元件进行拍摄，获得识别图像；并根据识别图像确定通电后的发热元件是否存在缺陷。

第二方面，本申请提供了一种检测方法，用于对待检测加热片中的发热元件进行缺陷检测，检测方法包括：控制电源模块向待检测加热片中的发热元件施加目标电压；其中，所述目标电压的电压值大于或等于所述具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值；在电源模块施加目标电压的时间达到目标时间的过程中，根据发热元件是否存在烧蚀现象，确定发热元件是否存在缺陷。

本申请实施例的技术方案中，本方案通过电源模块、导线模块与待检测加热片的发热元件形成导电回路，在此基础上，电源模块通过导线模块向发热元件输送目标电压，倘若发热元件具有缺陷，这样会使得目标电压汇聚在发热原件的缺陷处，由于目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，这样在导电回路导通后会击穿发热元件缺陷处周围介质，从而造成发热元件拉弧烧蚀，这样即使发热元件的缺陷为细微缺陷，在电源模块输送目标电压后通过发热元件是否发生拉弧烧蚀现象即可判定发热元件是否存在缺陷，从而将发热元件的细微缺陷显现化，提高加热片的发热元件缺陷检测的精准度，并且提高加热片的发热元件缺陷检测的效率以及降低检测复杂度。

第三方面，本申请提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式中的所述方法。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式中的所述方法。

第五方面，本申请提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式中的所述方法。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

通过阅读对下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本申请的限制。而且在全部附图中，用相同的附图标号表示相同的部件。在附图中：

图1为本申请实施例提供的检测装置的第一结构示意图；

图2为本申请实施例提供的检测装置的第二结构示意图；

图3为本申请实施例提供的检测装置的第三结构示意图；

图4为本申请实施例提供的支撑模块的一种结构示意图；

图5为本申请实施例提供的检测装置的第四结构示意图；

图6为本申请实施例提供的检测装置的第五结构示意图；

图7为本申请实施例提供的检测装置的第六结构示意图；

图8为本申请实施例提供的检测方法的流程示意图；

图9为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

A-待检测加热片；A1-发热元件；A11-发热元件第一端；A12-发热元件第二端；10-电源模块；110-输出正极；120-输出负极；20-导线模块；210-第一导线；220-第二导线；30-支撑模块；310-第一支架组件；3110-第一支架；3120-第一支撑底座；3130-第二支撑底座；320-第二支架组件；3210-第二支架；3220-第三支撑底座；3230-第四支撑底座；330-滑动组件；3310-滑动套筒；3320-滑动螺杆；40-控制模块；50-图像识别模块；9-电子设备；901-处理器；902-存储器；903-通信总线。

具体实施方式

下面将结合附图对本申请技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本申请的保护范围。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

在本申请实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

在本申请实施例的描述中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

在本申请实施例的描述中，术语“多个”指的是两个以上（包括两个），同理，“多组”指的是两组以上（包括两组），“多片”指的是两片以上（包括两片）。

在本申请实施例的描述中，技术术语“中心”“纵向”“横向”“长度”“宽度”“厚度”“上”“下”“前”“后”“左”“右”“竖直”“水平”“顶”“底”“内”“外”“顺时针”“逆时针”“轴向”“径向”“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。

在本申请实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”“相连”“连接”“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。

电池加热片是一种常见的加热元件,主要用于保暖、防冻、加热等方面。在现实生活中,电加热片被广泛应用于汽车防冻保暖、家用电器保温加热、户外露营等方面，电池发热元件若存在缺陷在使用过程中存在易燃等安全问题，因此，需要对电池发热元件进行缺陷检测。

目前加热片的发热元件的缺陷检测方法一般是通过训练识别模型，利用发热元件图像进行缺陷检测。但这种识别模型基于图像检测的方式在缺陷尺寸较为显著（例如缺陷处尺寸＞0.1mm）的情况下，可以检测出发热元件的缺陷，但在实际生产过程中，加热片的发热元件的缺陷尺寸可能存在细微缺陷（例如缺陷尺寸＜0.1mm）的情况，这样使得识别模型并不能够基于发热元件图像实现缺陷识别，并且目前识别模型的检测方式需要获取充足的训练样本充分训练获得，准备过程复杂且计算量大。

本申请基于加热片的发热元件在高压下，其缺陷处会出现拉弧烧蚀现象，设计一种检测装置和检测方法，通过电源模块、导线模块与发热元件形成导电回路，并且电源模块通过导线模块向发热元件施加高压（目标电压），从而通过发热元件是否出现拉弧烧蚀现象从而对发热元件是否存在缺陷进行检测，进而提高发热元件的缺陷检测效率和精准度。另外，本方案还设计弧形支撑模块使得加热片放置在弧形支撑模块的情况下，实现加热片的发热元件形变，进而使得发热元件的微裂纹分离，提高探测度；同时，本方案设计的支撑模块底部设置滑动组件可调节支撑模块的支架的间距，从而使得本方案设计的检测装置可适应不同尺寸的加热片。

基于上述思路，本申请首先提供一种检测装置，该检测装置可对加热片的发热元件进行缺陷检测，如图1所示，该检测装置包括：电源模块10和导线模块20，电源模块10通过导线模块20与待检测加热片A的发热元件A1电连接，并且电源模块10、导线模块20以及发热元件A1形成导电回路。其中，该发热元件A1可以是把电能转换成热能达到加热目的的所有元器件，例如，加热片金属丝、加热片金属条、螺旋式电阻丝等导电发热器件。

上述设计的检测装置，在对发热元件A1进行缺陷检测的情况下，电源模块10通过导线模块20向发热元件A1施加目标电压，其中，该目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，从而通过目标电压对发热元件A1进行缺陷检测。其中，在发热元件A1为加热片金属丝的情况下，加热片金属丝的缺陷可包含金属丝完全断裂和金属丝部分断裂两种缺陷，在这样的情况下，该具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质包含如下两种情况下：1、倘若加热片金属丝完全断裂，那么具有缺陷的发热元件的缺陷处（例如加热片金属丝断裂处）的周围介质只包含有空气，即周围介质为空气。2、倘若加热片金属丝部分断裂，则说明加热片金属丝还存在有些线连接的情况下，那么具有缺陷的发热元件的缺陷处（例如加热片金属丝断裂处）的周围介质不仅包含有空气，还包含有金属丝，即周围介质为空气与金属丝的结合体。

具体地，倘若发热元件具有缺陷，这样会使得目标电压汇聚在发热原件的缺陷处（例如加热片金属丝的断裂两端），由于目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，例如，在金热片金属丝完全断裂的情况下，目标电压的电压值大于或等于加热片金属丝断裂处两端之间的空气的击穿电压值，或在加热片金属丝部分断裂的情况下，目标电压的电压值大于或等于加热片金属丝断裂处两端之间的空气与金属丝的结合体的击穿电压值，这样在导电回路导通后会击穿发热元件缺陷处周围介质，从而造成发热元件拉弧烧蚀，这样即使发热元件的缺陷为细微缺陷（缺陷尺寸＜0.1mm），在电源模块10输送目标电压后通过发热元件是否发生拉弧烧蚀现象即可判定发热元件是否存在缺陷。其中，空气的击穿电压值与空气与金属丝结合体的击穿电压值可能存在不同，常规情况下，空气的击穿电压值大于空气与金属丝结合体的击穿电压值，基于此，本方案的目标电压的电压值的设计可设计为大于空气的击穿电压值即可，具体数值可根据实际应用场景进行适应性调整。

具体地，作为一种可能的实施方式，本申请方案可通过工作人员观测发热元件A1是否发生拉弧烧蚀现象从而判定发热元件是否存在缺陷；作为另一种可能的实施方式，本方案也可以在发热元件A1通电后对发热元件A1进行图像拍摄，从而基于拍摄图像确定发热元件A1是否发生拉弧烧蚀现象从而判定发热元件是否存在缺陷。

上述设计的检测装置，本方案通过电源模块10、导线模块20与加热片A的发热元件A1形成导电回路，在此基础上，电源模块10通过导线模块20向发热元件A1输送目标电压，倘若发热元件具有缺陷，这样会使得目标电压汇聚在发热原件的缺陷处，由于目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，这样在导电回路导通后会击穿发热元件缺陷处周围介质，从而造成发热元件拉弧烧蚀，这样即使发热元件的缺陷为细微缺陷，在电源模块输送目标电压后通过发热元件是否发生拉弧烧蚀现象即可判定发热元件是否存在缺陷，从而将发热元件的细微缺陷显现化，提高加热片的发热元件缺陷检测的精准度，并且提高加热片的发热元件缺陷检测的效率以及降低检测复杂度。

在本实施例的可选实施方式中，作为一种可能的实施方式，如图2所示，本方案设计的电源模块10可包括输出正极110和输出负极120，导线模块20可包括第一导线210和第二导线220，发热元件A1包括发热元件第一端A11和发热元件第二端A12。

上述设计的实施方式，在形成导电回路的情况下，电源模块10的输出正极110可通过第一导线210与发热元件第一端A11电连接，输出负极120通过第二导线220与发热元件第二端A12连接，从而形成导电回路。作为另一种可能的实施方式，在某些情况下，本方案的第一导线210和第二导线220可以不接于发热元件的两个端部，也可以接于发热元件的中部，例如，可在发热元件中部构建相应的测试端。

在本实施例的可选实施方式中，如图3所示，本方案设计的检测装置还可包括支撑模块30，该支撑模块30用于承载待检测加热片A，即待检测加热片A可放置于支撑模块30上。

上述设计的实施方式，本方案设置支撑模块30承载待检测加热片A，使得在对待测加热片进行缺陷测试的情况下更加便利。

在本实施例的可选实施方式中，如图3所示，本方案设计的支撑模块30可包括第一支架组件310和第二支架组件320，第一支架组件310和第二支架组件320相对间隔设置，并且第一支架组件310和第二支架组件320均用于承载待检测加热片，其中，第一支架组件310和第二支架组件320之间的支架间距不大于待检测加热片A任意两相对边缘的距离，这样可使得待检测加热片A可以同时放置于第一支架组件310和第二支架组件320上，从而达到稳固放置的效果。

在本实施例的可选实施方式中，作为一种可能的实施方式，如图4所示，本方案设计的第一支架组件310包括第一支架3110、第一支撑底座3120和第二支撑底座3130，第二支架组件320包括第二支架3210、第三支撑底座3220和第四支撑底座3230；第一支撑底座3120的顶部和第二支撑底座3130的顶部分别与第一支架3110的两个端部连接，第三支撑底座3220的顶部和第四支撑底座3230的顶部分别与第二支架3210的两个端部连接；第一支架3110和第二支架3210用于承载待检测加热片。其中，支撑底座和支架可通过多种方式连接，例如，可通过粘接、焊接以及卡扣的方式连接；另外，本方案设计的支撑底座不仅可以为如图3所示的棱柱型，还可以为圆柱形或其他能够达到稳定支撑的形状。

作为另一种可能的实施方式，本方案设计的第一支撑组件和第二支撑组件可与图3所示的结构一致，但每个支撑组件可为支架以及两个支撑底座一体成形（附图未示出）。

在本实施例的可选实施方式中，作为一种可能的实施方式，本方案设计的第一支架3110和第二支架3210可相对于地面呈水平；作为另一种可能的实施方式，如图4所示，本方案设计的第一支架3110和第二支架3210均可为弧形结构支架，并且第一支架3110和第二支架3210的弧形结构凸起面为远离支撑底座的一面。

上述设计的支撑模块，本方案设计第一支架3110和第二支架3210为弧形结构支架，并且第一支架3110和第二支架3210的弧形结构凸起面为远离支撑底座的一面，这样使得待检测加热片A放置于第一支架3110和第二支架3210上的情况下，待检测加热片A的形状也会随着成为弧状，使得待检测加热片A向远离支撑底座的方向略微拱起，这样可使得待检测加热片A中的发热元件A1（例如加热片金属丝）能够尽量分离，从而使得具有略微断裂的加热片金属丝也能够达到有效分离，进而避免加热片金属丝断裂但断裂处还处于连接状态带来的检测遗漏问题，从而提高检测的有效性。

在本实施例的可选实施方式中，如图5所示，支撑模块30还包括滑动组件330，滑动组件330的一端与第一支撑底座3120连接，滑动组件330的另一端与第三支撑底座3220连接，滑动组件330可自身伸缩，从而改变第一支架组件310和第二支架组件320之间的间距。

具体地，如图5所示，滑动组件330包括滑动套筒3310和滑动螺杆3320，滑动套筒3310的套筒内沿设置有与滑动螺杆3320配合的螺纹，滑动螺杆3320的第一端通过螺纹与滑动套筒3310的第一端连接，滑动螺杆3320的第二端与第一支撑底座3120连接，滑动套筒3310的第二端与第三支撑底座3220连接，其中，第一支撑底座3120与第三支撑底座3220相对；滑动组件330用于通过滑动螺杆3320在滑动套筒3310内旋转伸缩，以改变第一支架组件310和第二支架组件320之间的间距。

上述设计的支撑模块，本方案设计的滑动组件330通过滑动螺杆3320在滑动套筒3310内旋转伸缩，从而改变第一支架组件310和第二支架组件320之间的间距，进而可使得支撑模块30可承载不同尺寸的加热片，进而实现多种不同尺寸的加热片的缺陷检测。

在本实施例的可选实施方式中，前文描述到本方案设计的目标电压的电压值大于空气击穿电压值以及空气与金属丝结合体的击穿电压值，例如，在标准大气压下，1cm的空气距离需要电压30kV才能击穿，1mm的距离需要电压3kV才能击穿，本方案为了适应发热元件细微缺陷（例如小于0.1mm）的情况，因此，本方案设计的目标电压的电压值可为300V到30kV之间的任意数值。优选地，本方案在专门针对细微缺陷的情况下，本方案设计的目标电压的电压值可包括300V到400V之间的任意电压值，例如，具体可为300V、310V、320V、330V、340V、350V、360V、370V、380V、390V以及400V电压值中的任意一个。

在本实施例的可选实施方式中，如图6所示，本方案设计的检测装置还可包括控制模块40，控制模块40与电源模块10通信连接，例如，可为电连接或无线连接；控制模块40用于控制电源模块10向发热元件A1输送目标电压。

在本实施方式中，用户或工作人员可通过控制模块40向电源模块10发送控制信号，使得电源模块10向发热元件A1输送目标电压。当然，除了本实施方式以外，用户或工作人员还可以直接操作电源模块10向发热元件A1输送目标电压。

在本实施例的可选实施方式中，如图7所示，本方案设计的检测装置还可包括图像识别模块50，图像识别模块用于对通电后的发热元件进行拍摄，获得识别图像；并根据识别图像确定通电后的发热元件是否存在缺陷。

具体地，本方案可通过发热元件烧蚀的图像样本训练神经网络模型，从而获得烧蚀识别模型，图像识别模块50可通过烧蚀识别模型对待检测的加热片A的发热元件A1的识别图像自动识别进而获得识别结果。

另外，本方案的图像识别模块50还可将通电后的发热元件的识别图像保存，进而作为追溯证据。

本申请还提供一种检测方法，用于对待检测加热片中的发热元件进行缺陷检测，该检测方法可应用于计算设备，该计算设备可包括控制模块、芯片等，如图8所示，该检测方法包括：

步骤S800：控制电源模块向待检测加热片中的发热元件施加目标电压。

步骤S810：在电源模块施加目标电压的时间达到目标时间的过程中，根据发热元件是否存在烧蚀现象，确定发热元件是否存在缺陷。

在上述实施方式中，电源模块可为前文描述到的检测装置的电源模块10，在执行本方案之前，本方案可如前文检测装置描述的内容相同，可先将电源模块、导线模块以及待检测加热片中的发热元件组成导线回路，在此情况下，本方案可向电源模块发送控制信号，从而控制电源模块通过导线模块向待检测加热片中的发热元件施加目标电压。

在电源模块输出目标电压的时间达到目标时间的过程中，本方案可根据发热元件是否存在烧蚀现象，确定发热元件是否存在缺陷。具体地，本方案设计的目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，从而通过目标电压对发热元件A1进行缺陷检测。其中，在发热元件A1为加热片金属丝的情况下，加热片金属丝的缺陷可包含金属丝完全断裂和金属丝部分断裂两种缺陷，在这样的情况下，该具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质包含如下两种情况下：1、倘若加热片金属丝完全断裂，那么具有缺陷的发热元件的缺陷处（加热片金属丝断裂处）的周围介质只包含有空气，即周围介质为空气。2、倘若加热片金属丝部分断裂，则说明加热片金属丝还存在有些线连接的情况下，那么具有缺陷的发热元件的缺陷处（加热片金属丝断裂处）的周围介质不仅包含有空气，还包含有金属丝，即周围介质为空气与金属丝的结合体。

具体地，倘若发热元件具有缺陷，这样会使得目标电压汇聚在发热原件的缺陷处（例如加热片金属丝的断裂两端），由于目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，例如，在金热片金属丝完全断裂的情况下，目标电压的电压值大于或等于加热片金属丝断裂处两端之间的空气的击穿电压值，或在加热片金属丝部分断裂的情况下，目标电压的电压值大于或等于加热片金属丝断裂处两端之间的空气与金属丝的结合体的击穿电压值，这样在导电回路导通后会击穿发热元件缺陷处周围介质，从而造成发热元件拉弧烧蚀，这样即使发热元件的缺陷为细微缺陷（缺陷尺寸＜0.1mm），在电源模块10输送目标电压后通过观测发热元件是否发生拉弧烧蚀现象即可判定发热元件是否存在缺陷。其中，空气的击穿电压值与空气与金属丝结合体的击穿电压值可能存在不同，常规情况下，空气的击穿电压值大于空气与金属丝结合体的击穿电压值，基于此，本方案的目标电压的电压值的设计可设计为大于空气的击穿电压值即可，具体数值可根据实际应用场景进行适应性调整。

具体地，对于步骤S810，作为一种可能的实施方式，本方案可通过对发热元件进行拍摄并通过拍摄图像自动识别发热元件是否存在烧蚀现象，例如，本方案可通过发热元件烧蚀的图像样本训练神经网络模型，从而获得烧蚀识别模型，进而通过烧蚀识别模型对拍摄的发热元件图像自动识别进而获得识别结果；对于步骤S810，作为另一种可能的实施方式，本方案可通过人员观测发热元件是否存在烧蚀现象，从而确定发热元件是否存在缺陷。

另外，本方案设计的目标时间可根据实际应用场景进行适应性调整，本方案设计的目标时间可具体为3秒到10秒中的任意时间数值，例如，目标时间可为3秒、4秒、5秒、6秒、7秒、8秒、9秒以及10秒中的任意一个。

上述设计的检测方法，本方案通过电源模块、导线模块与待检测加热片的发热元件形成导电回路，在此基础上，电源模块通过导线模块向发热元件输送目标电压，倘若发热元件具有缺陷，这样会使得目标电压汇聚在发热原件的缺陷处，由于目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值，这样在导电回路导通后会击穿发热元件缺陷处周围介质，从而造成发热元件拉弧烧蚀，这样即使发热元件的缺陷为细微缺陷，在电源模块输送目标电压后通过发热元件是否发生拉弧烧蚀现象即可判定发热元件是否存在缺陷，从而将发热元件的细微缺陷显现化，提高加热片的发热元件缺陷检测的精准度，并且提高加热片的发热元件缺陷检测的效率以及降低检测复杂度。

根据本申请的一些实施例，如图9所示，本申请提供一种电子设备9，包括：处理器901和存储器902，处理器901和存储器902通过通信总线903和/或其他形式的连接机构（未标出）互连并相互通讯，存储器902存储有处理器901可执行的计算机程序，当计算设备运行时，处理器901执行该计算机程序，以执行时执行任一可选的实现方式中外端机执行的方法，例如步骤S800至S810：控制电源模块向待检测加热片中的发热元件施加目标电压；在电源模块施加目标电压的时间达到目标时间的过程中，根据发热元件是否存在烧蚀现象，确定发热元件是否存在缺陷。

本申请提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行前述任一可选的实现方式中的方法。

其中，存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory, 简称SRAM），电可擦除可编程只读存储器（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory, 简称EEPROM），可擦除可编程只读存储器（Erasable Programmable Read Only Memory, 简称EPROM），可编程只读存储器（Programmable Red-Only Memory, 简称PROM），只读存储器（Read-OnlyMemory, 简称ROM），磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

本申请提供一种计算机程序产品，该计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行任一可选的实现方式中的方法。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本申请的权利要求和说明书的范围当中。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本申请并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (9)

1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置用于对待检测加热片的发热元件进行缺陷检测；所述装置包括：电源模块和导线模块；

所述电源模块通过导线模块与所述发热元件电连接，并且所述电源模块、导线模块以及发热元件形成导电回路；

所述电源模块用于通过所述导线模块向所述发热元件施加目标电压；其中，所述目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值；

所述检测装置还包括支撑模块；所述支撑模块用于承载所述待检测加热片；

所述支撑模块包括第一支架组件和第二支架组件；所述第一支架组件和第二支架组件相对间隔设置并均用于承载所述待检测加热片；其中，所述第一支架组件和第二支架组件之间具有支架间距，所述支架间距不大于所述待检测加热片任意两相对边缘相距的距离。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述电源模块包括输出正极和输出负极，所述导线模块包括第一导线和第二导线，所述发热元件包括发热元件第一端和发热元件第二端；

所述输出正极通过第一导线与所述发热元件第一端电连接，所述输出负极通过第二导线与所述发热元件第二端连接，以形成所述导电回路。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一支架组件包括第一支架、第一支撑底座和第二支撑底座，所述第二支架组件包括第二支架、第三支撑底座和第四支撑底座；

所述第一支撑底座的顶部和所述第二支撑底座的顶部分别与所述第一支架的两个端部连接，所述第三支撑底座的顶部和所述第四支撑底座的顶部分别与所述第二支架的两个端部连接；

所述第一支架和第二支架用于承载所述待检测加热片。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述第一支架和所述第二支架为弧形结构支架；其中，所述第一支架和所述第二支架的弧形结构凸起面为远离支撑底座的一面。

5.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述支撑模块还包括滑动组件，所述滑动组件的第一端与所述第一支撑底座连接，所述滑动组件的第二端与所述第三支撑底座连接，其中，所述第一支撑底座与第三支撑底座相对；

所述滑动组件用于通过自身伸缩改变所述第一支架组件和第二支架组件之间的间距。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，其中，所述具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质包括空气或空气与金属丝的结合体。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括控制模块，所述控制模块与所述电源模块通信连接；

所述控制模块用于控制所述电源模块向所述发热元件输送所述目标电压。

8.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括图像识别模块；

所述图像识别模块，用于对通电后的发热元件进行拍摄，获得识别图像；并根据所述识别图像确定通电后的发热元件是否存在缺陷。

9.一种检测方法，其特征在于，用于对待检测加热片中的发热元件进行缺陷检测，所述检测方法包括：

控制电源模块向待检测加热片中的发热元件施加目标电压；其中，所述目标电压的电压值大于或等于具有缺陷的发热元件的缺陷处周围介质的击穿电压值；

在电源模块施加目标电压的时间达到目标时间的过程中，根据所述发热元件是否存在烧蚀现象，确定所述发热元件是否存在缺陷。