CN117014066A - 一种激光器筛选方法、筛选器、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及光通信技术领域,具体地说涉及一种激光器筛选方法、筛选器、电子设备及存储介质;通过向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计处的多个激光器的发光功率或获取不同温度点的多个激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个激光器的发光功率变化率或电流变化率;最后根据多个激光器的发光功率变化率或电流变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器,通过选取光功率或电流随温度变化量差不多的激光器作为同一组安装在光模块上,实现了不同温度下的激光器光功率的一致性。
Description
技术领域
本发明属于光通信技术领域,具体地说,涉及一种带有温度补偿的光模块调节方法。
背景技术
随着光模块速率的提高,多光路通道的模块种类越来越多,需求量也在增大。有些需求方对多路光模块的发射光功率的一致性提出了要求,但是很少有光模块厂商能做好光功率的一致性。光模块对于出光功率的要求一般是有一个固定范围(例如要求三温出光大小都在-2dBm到+2dBm之间),光模块在生产过程中为了提高调测效率,一般只会在常温的时候调试,高低温使用固定的温度补偿然后测试。但是由于激光器的一致性不好,会经常导致常温调试光功率一样,到了高低温相差很大,所以在生产过程中经常出现高温光功率小于标准和低温大于标准的情况,不能很好地控制光模块在不同温度下的光功率一致性,多通道光功率一致性更是难以实现。
发明内容
本发明针对上述不能很好地控制光模块在不同温度下的光功率一致性且多通道光功率一致性难以实现的问题,提出一种激光器筛选方法、筛选器、电子设备及存储介质,通过向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计处的多个激光器的发光功率或获取不同温度点的多个激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个激光器的发光功率变化率或电流变化率;最后根据多个激光器的发光功率变化率或电流变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器,通过选取光功率或电流随温度变化量差不多的激光器作为同一组安装在光模块上,实现了不同温度下的激光器光功率的一致性。
本发明具体发明内容如下:
第一方面,提出一种激光器筛选方法,包括:
向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计输出的多个激光器的发光功率;然后计算多个激光器的发光功率变化率;最后根据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
发光功率变化率为不同温度点的发光功率的变化率。
为了更好地实现本发明,进一步地,计算多个激光器发光功率变化率具体包括:
根据不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计输出的多个激光器的发光功率,计算出激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C;
根据激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C,计算出多个激光器的发光功率变化率。
为了更好地实现本发明,进一步地,根据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的发光功率变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
第二方面,提出一种激光器筛选方法,激光器包括背光检测光电二极管,方法包括:
向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个激光器的电流变化率;最后根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
电流变化率为不同温度点的第二电流的变化率。
为了更好地实现本发明,进一步地,根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的电流变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
第三方面,提出一种激光器筛选器,与多个激光器和光功率计耦合;包括处理器、电流单元;处理器的输入端与光功率计的输出端、多个激光器的输出端耦合,处理器的输出端与电流单元的输入端耦合;电流单元的输出端与多个激光器的输入端耦合;多个激光器的输出端与光功率计的输入端耦合;
处理器用于,控制电流单元向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器处的驱动电流和光功率计处的多个激光器的发光功率;然后计算多个激光器的发光功率变化率;最后根据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
发光功率变化率为不同温度点的发光功率的变化率。
为了更好地实现本发明,进一步地,处理器计算多个激光器的发光功率变化率具体包括:
根据不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计输出的多个激光器的发光功率,计算出激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C;
根据激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C,计算出多个激光器的发光功率变化率。
为了更好地实现本发明,进一步地,据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的发光功率变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
第四方面,提出一种激光器筛选器,与多个激光器耦合;激光器筛选器包括处理器、电流单元;激光器包括背光检测光电二极管;处理器的输入端与多个激光器的背光检测二极管耦合,处理器的输出端与电流单元的输入端耦合;电流单元的输出端与多个激光器的输入端耦合;
处理器用于,控制电流单元向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个激光器的电流变化率;最后根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
电流变化率为不同温度点的第二电流的变化率。
为了更好地实现本发明,进一步地,根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的电流变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
第五方面,提出一种电子设备,包括上述第三方面提出的激光器筛选器和多个激光器;激光器筛选器用于筛选出安装在同一光模块上的激光器。
第六方面,提出一种电子设备,包括上述第四方面提出的激光器筛选器和多个激光器;激光器包括背光检测二极管;激光器筛选器用于筛选出安装在同一光模块上的激光器。
第七方面,提出一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质包括指令,当指令在上述第五方面提出的电子设备上运行时,使得电子设备执行上述第一方面的激光器筛选方法。
第八方面,提出一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质包括指令,当指令在上述第六方面提出的电子设备上运行时,使得电子设备执行上述第二方面提出的激光器筛选方法。
本发明具有以下有益效果:
(1)本发明通过计算多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器,并通过选取光功率随温度变化量差不多的激光器作为同一组安装在光模块上,实现了不同温度下的激光器光功率的一致性。
(2)本发明通过计算多个激光器的电流变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器,并通过选取光功率随温度变化量差不多的激光器作为同一组安装在光模块上,仅通过测量激光器背光检测光电二极管的电流,免去了通过光纤连接光功率计进行光功率测量的麻烦,实现了不同温度下的激光器光功率的一致性,大大提高了效率。
(3)本发明通过计算光功率变化率或电流变化率,不需要在测试时对高温或低温进行温度补偿,解决了低温光功率超标准以及高温光功率小于标准的问题,大大提高了调测效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种激光器筛选器与激光器连接的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的又一种激光器筛选器与激光器连接的结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,应当理解,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例,因此不应被看作是对保护范围的限定。基于本发明中的实施例,本领域普通技术工作人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;也可以是直接相连,也可以是通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例1:
随着光模块速率的提高,多光路通道的模块种类越来越多,需求量也在增大。有些需求方对多路光模块的发射光功率的一致性的提出了要求,但是很少有光模块厂商能做好光功率的一致性。本发明通过研究激光器发光规律(通过实践得到光器件TO发射光功率表达式如下:P=(AT+C)I+B。其中A、B、C为激光器的固有参数,A是描述激光器发光效率随温度变化的斜率,C是描述激光器原始发光效率,B表示整体光路耦合的损失,T是温度,I是激光器驱动电流),本实施例提出一种解决多通道发射光功率一致性的方法,并同时解决经常低温光功率超标准以及高温光小的问题。
光模块对于出光功率的要求一般是有一个固定范围(例如要求三温出光大小都在-2dBm到+2dBm之间),光模块在生产过程中为了提高调测效率,一般只会在常温的时候调试,高低温使用固定的温度补偿然后测试。但是由于激光器的一致性不好,会经常导致常温调试光功率一样,到了高低温相差很大,所以在生产过程中经常出现高温光功率小于标准和低温大于标准的情况,多通道光功率一致性更是难以实现。由激光器的光功率表达式P=(AT+C)I+B式不难看出,当选取的激光器的参数A差别比较大的时候,即使常温出光很接近也会由于温度的不同会带入比较大的差值。当选取的激光器的参数A、C比较接近的时候,这样就能更好地控制光模块在各个温度下的光功率一致性,这里也不难解释以前经常发现PSM8(一种八通道的高速光模块)在生产的时候常温8路同样是0dBm的光,同样的温补,而有的通道激光器出光功率在低温时光功率为1dBm,而有的却是2.4dBm,其中原因就是不同激光器参数A、C相差较大所致。为了更好地控制光模块在不同温度下的光功率一致性,我们可以选取光功率随温度变化量差不多的激光器作为同一组然后装上模块。
激光器的发光功率表达式为:
P=(AT+C)I+B
P为发光平均功率,a为激光器发光效率随温度变化的斜率,b为激光器的整体光路耦合的损失,c为激光器原始发光效率,I为激光器驱动电流;
对于一个激光器,可以测不同I不同T的三组数据来粗略确定它的三个特性参数A、B、C。
对于一个激光器的特性参数A、B、C来讲,测量样本数越多越准确,回归拟合越准确,三组值只是方便地粗略测量,可以多用几组数据进行回归拟合。
本实施例提出一种激光器筛选方法,包括:
向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计输出的多个激光器的发光功率;然后计算多个激光器的发光功率变化率;最后根据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
发光功率变化率为不同温度点的发光功率的变化率。
计算多个激光器发光功率变化率具体包括:
根据不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计输出的多个激光器的发光功率,计算出激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C;
根据激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C,计算出多个激光器的发光功率变化率。
根据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的发光功率变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
工作原理:本实施例通过计算多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器,并通过选取光功率随温度变化量差不多的激光器作为同一组安装在光模块上,实现了不同温度下的激光器光功率的一致性。
实施例2:
本实施例在上述实施例1的基础上,提出一种激光器筛选方法,激光器包括背光检测光电二极管,方法包括:
向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个激光器的电流变化率;最后根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
电流变化率为不同温度点的第二电流的变化率。
进一步地,根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的电流变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
工作原理:本实施例通过计算多个激光器的电流变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器,并通过选取光功率随温度变化量差不多的激光器作为同一组安装在光模块上,仅通过测量激光器背光检测光电二极管的电流,免去了通过光纤连接光功率计进行光功率测量的麻烦,实现了不同温度下的激光器光功率的一致性,大大提高了效率。
本实施例的其他部分与上述实施例1相同,故不再赘述。
实施例3:
本实施例在上述实施例1的基础上,如图1所示,提出一种激光器筛选器,与多个激光器和光功率计耦合;包括处理器、电流单元;处理器的输入端与光功率计的输出端、多个激光器的输出端耦合,处理器的输出端与电流单元的输入端耦合;电流单元的输出端与多个激光器的输入端耦合;多个激光器的输出端与光功率计的输入端耦合;
处理器用于,控制电流单元向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器处的驱动电流和光功率计处的多个激光器的发光功率;然后计算多个激光器的发光功率变化率;最后根据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
发光功率变化率为不同温度点的发光功率的变化率。
进一步地,处理器计算多个激光器的发光功率变化率具体包括:
根据不同温度点的多个激光器的驱动电流和光功率计输出的多个激光器的发光功率,计算出激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C;
根据激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C,计算出多个激光器的发光功率变化率。
进一步地,据多个激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的发光功率变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
本实施例的其他部分与上述实施例1-2任一项相同,故不再赘述。
实施例4:
本实施例在上述实施例1-3任一项的基础上,如图2所示,提出一种激光器筛选器,与多个激光器耦合;激光器筛选器包括处理器、电流单元;激光器包括背光检测光电二极管;处理器的输入端与多个激光器的背光检测二极管耦合,处理器的输出端与电流单元的输入端耦合;电流单元的输出端与多个激光器的输入端耦合;
处理器用于,控制电流单元向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个激光器的电流变化率;最后根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器;
电流变化率为不同温度点的第二电流的变化率。
为了更好地实现本发明,进一步地,根据多个激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个激光器具体包括:
根据多个激光器的电流变化率,将多个激光器按照设定数值范围进行分类得到分类结果,根据分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
本实施例的其他部分与上述实施例1-3任一项相同,故不再赘述。
实施例5:
本实施例在上述实施例1-4任一项的基础上,以一个具体的实施例进行说明。
本实施例为了实现不同温度下的光功率的一致性,可以取不同温度下光功率变化量相近的激光器作为同一组,具体实现方法如下:
1.首先通过至少3组数据测试出特性参数A、B、C。例如测得如下三组数据:T1温度时加电流I1光功率为P1,T2温度时加电流I2光功率为P2,T3温度时加电流I3光功率为P3。那么就可以求出对应于此激光器的特性参数。
A=(I3*P2+I1*(P3-P2)+(I2-I3)*P1-P3*I2)/(I1*(I3*T3-I2*T2)-I2*I3*T3+I2*I3*T2+I1*(I2-I3)*T1);
B=(I1*(I3*T3*P2-P3*I2*T2)+I1*T1*(P3*I2-I3*P2)+(I2*I3*T2-I2*I3*T3)*P1)/(I1*(I3*T3-I2*T2)-I2*I3*T3+I2*I3*T2+I1*(I2-I3)*T1);
C=-(I3*T3*P2+I1*T1*(P3-P2)+(I2*T2-I3*T3)*P1-P3*I2*T2)/(I1*(I3*T3-I2*T2)-I2*I3*T3+I2*I3*T2+I1*(I2-I3)*T1);
2.计算理论上25℃和60℃的光功率变化比例;
以温度25℃加30mAbias(具体值为同类别激光器在25℃时最佳眼图时候的bias为基准),计算60℃加50mAbias(具体值为同类别激光器在60℃时最佳眼图时候的bias为基准)时候的光功率变化比例:
P25℃=(25A+B)*30+C;
P60℃=(60A+B)*50+C;
光功率变化比例
;
3.根据光功率变化比例η的大小把激光器进行分类;将η≤10%分为1类;将10%<η≤20%分为2类;将20%<η≤30%分为3类;将30%<η≤40%分为4类;将40%<η≤50%分为5类;将η>50%分为不良激光器;
4.选取同一类的激光器安装在同一个光模块上;
例如测得5PCS激光器参数如表1所示;
表1 5PCS激光器参数表
因此可以看出激光器2和激光器3是同属于第一类激光器,可以选做同一模块的激光器,这样就能很容易保证激光器三温时的光功率一致性。
装上模块调好眼图后激光器2和激光器3的三温发光功率如表2所示;
表2 激光器2和激光器3的三温发光功率表
由此可见,此方法的准确性很高。
本实施例的其他部分与上述实施例1-4任一项相同,故不再赘述。
实施例6:
在激光器大量生产过程中测试光功率是一件比较麻烦的事情,每个激光器都用光纤连接到光功率计去测量光功率然后计算参数相对麻烦。鉴于此,对于有背光检测光电二极管MPD的激光器也可以借用激光器里的背光检测光电二极管MPD电流来进行上述分类操作。因为背光检测光电二极管MPD的电流是一个相对方便测量的量。这样便能大大提效率。
激光器对应背光检测二极管的输出电流IMPD=P*k,其中k是MPD的响应度。
实现方法如下:
1.分别测试25℃加30mA bias,60℃加50mA bias时候的MPD的输出电流IMPD25℃和IMPD60℃;
2.计算不同温度的背光检测二极管MPD电流变化比例;
;
3.根据电流变化比例η大小把激光器进行分类;η≤10%分为1类;10%<η≤20%分为2类;20%<η≤30%分为3类;30%<η≤40%分为4类;40%<η≤50%分为5类;η>50%为不良;
4.选取同一类的激光器装上同一个光模块;
例如测得5PCS激光器参数如表3所示;
表3 5PCS激光器参数表
因此可以看出激光器2和激光器3是同属于第一类激光器,可以选做同一模块的激光器,这样就能很容易保证激光器三温时的光功率一致性。
本实施例的其他部分与上述实施例1-5任一项相同,故不再赘述。
实施例7:
本实施例在实施例1-6任一项的基础上,提出一种电子设备,包括上述的激光器筛选器和多个激光器;激光器筛选器用于筛选出安装在同一光模块上的多个激光器。
进一步地,提出一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质包括指令,当指令在如上述的电子设备上运行时,使得电子设备执行上述的激光器筛选方法。
本实施例还提供一种芯片系统。该芯片系统包括至少一个处理器和至少一个接口电路。至少一个处理器和至少一个接口电路可通过线路互联。处理器用于支持芯片系统实现上述方法实施例中的各个功能或者步骤,至少一个接口电路可用于从其它装置(例如存储器)接收信号,或者,向其它装置(例如通信接口)发送信号。该芯片系统可以包括芯片,还可以包括其他分立器件。
本实施例还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质包括指令,当指令在上述的电子设备上运行时,使得上述电子设备执行上述第二方面的各个功能或步骤。
本申请实施例涉及的处理器可以是一个芯片。例如,可以是现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA),可以是专用集成芯片(application specificintegrated circuit,ASIC),还可以是系统芯片(system on chip,SoC),还可以是中央处理器(central processor unit,CPU),还可以是网络处理器(network processor,NP),还可以是数字信号处理电路(digital signal processor,DSP),还可以是微处理器(microcontroller unit,MCU),还可以是可编程处理器(programmable logic device,PLD)或其他集成芯片。
应理解,在本申请的各种实施例中,上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的模块及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统、装置和模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的,例如,模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个设备,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,设备或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块,既可以位于一个设备,或者也可以分布到多个设备上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个设备中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个设备中。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件程序实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品的形式来实现。该计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行计算机程序指令时,全部或部分地产生按照本申请实施例的流程或功能。计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或者数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DigitalSubscriber Line,DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可以用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。可用介质可以是磁性介质(例如,软盘、硬盘、磁带),光介质(例如,DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘(Solid State Disk,SSD))等。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例,并非对本发明做任何形式上的限制,凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化,均落入本发明的保护范围之内。
Claims (14)
1.一种激光器筛选方法,其特征在于,包括:
向多个激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个所述激光器的驱动电流和光功率计处的多个所述激光器的发光功率;然后计算多个所述激光器的发光功率变化率;最后根据多个所述激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器;
所述发光功率变化率为不同温度点的所述发光功率的变化率。
2.如权利要求1所述的一种激光器筛选方法,其特征在于,所述计算多个所述激光器的发光功率变化率具体包括:
根据不同温度点的多个所述激光器的驱动电流和所述光功率计处的多个所述激光器的发光功率,计算出激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C;
根据激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C,计算出多个所述激光器的发光功率变化率。
3.如权利要求1所述的一种激光器筛选方法,其特征在于,所述根据多个所述激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器具体包括:
根据多个所述激光器的发光功率变化率,将多个所述激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据所述分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
4.一种激光器筛选方法,其特征在于,激光器包括背光检测光电二极管,所述方法包括:
向多个所述激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个所述激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个所述激光器的电流变化率;最后根据多个所述激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器;
所述电流变化率为不同温度点的所述第二电流的变化率。
5.如权利要求4所述的一种激光器筛选方法,其特征在于,所述根据多个所述激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器具体包括:
根据多个所述激光器的电流变化率,将多个所述激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据所述分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
6.一种激光器筛选器,与多个激光器和光功率计耦合;其特征在于,包括处理器、电流单元;所述处理器的输入端与所述光功率计的输出端、多个所述激光器的输出端耦合,所述处理器的输出端与所述电流单元的输入端耦合;所述电流单元的输出端与多个所述激光器的输入端耦合;多个所述激光器的输出端与所述光功率计的输入端耦合;
所述处理器用于,控制所述电流单元向多个所述激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个所述激光器处的驱动电流和所述光功率计处的多个所述激光器的发光功率;然后计算多个所述激光器的发光功率变化率;最后根据多个所述激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器;
所述发光功率变化率为不同温度点的所述发光功率的变化率。
7.如权利要求6所述的一种激光器筛选器,其特征在于,所述处理器计算多个所述激光器的发光功率变化率具体包括:
根据不同温度点的多个所述激光器的驱动电流和所述光功率计处的多个所述激光器的发光功率,计算出激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C;
根据激光器发光效率随温度变化的斜率A、激光器的整体光路耦合的损失B、激光器原始发光效率C,计算出多个所述激光器的发光功率变化率。
8.如权利要求6所述的一种激光器筛选器,其特征在于,所述据多个所述激光器的发光功率变化率筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器具体包括:
根据多个所述激光器的发光功率变化率,将多个所述激光器按照设定数值范围进行分类,得到分类结果,根据所述分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
9.一种激光器筛选器,与多个激光器耦合;其特征在于,所述激光器筛选器包括处理器、电流单元;所述激光器包括背光检测光电二极管;所述处理器的输入端与多个所述激光器的背光检测二极管耦合,所述处理器的输出端与所述电流单元的输入端耦合;所述电流单元的输出端与多个所述激光器的输入端耦合;
所述处理器用于,控制所述电流单元向多个所述激光器输出第一电流,获取不同温度点的多个所述激光器的背光检测光电二极管处的第二电流;然后计算多个所述激光器的电流变化率;最后根据多个所述激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器;
所述电流变化率为不同温度点的所述第二电流的变化率。
10.如权利要求9所述的一种激光器筛选器,其特征在于,所述根据多个所述激光器的电流变化率,筛选出安装在同一光模块上的多个所述激光器具体包括:
根据多个所述激光器的电流变化率,将多个所述激光器按照设定数值范围进行分类得到分类结果,根据所述分类结果筛选出属于同一分类的激光器安装在同一光模块上。
11.一种电子设备,其特征在于,包括如权利要求6-8任一项所述的激光器筛选器和多个激光器;所述激光器筛选器用于筛选出安装在同一光模块上的激光器。
12.一种电子设备,其特征在于,包括如权利要求9-10任一项所述的激光器筛选器和多个激光器;所述激光器包括背光检测二极管;所述激光器筛选器用于筛选出安装在同一光模块上的激光器。
13.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括指令,当所述指令在如权利要求11所述的电子设备上运行时,使得所述电子设备执行如权利要求1-3任一项所述的激光器筛选方法。
14.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括指令,当所述指令在如权利要求12所述的电子设备上运行时,使得所述电子设备执行如权利要求4-5任一项所述的激光器筛选方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117233457A (zh) * | 2023-11-16 | 2023-12-15 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种测试激光器高速调制电流的方法及设备 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1389963A (zh) * | 2001-10-26 | 2003-01-08 | 惠州市中科光电有限公司 | 半导体激光器老化筛选设备和筛选方法 |
CN101095269A (zh) * | 2004-02-21 | 2007-12-26 | 菲尼萨公司 | 用于粗波分复用系统的温度控制 |
CN101183136A (zh) * | 2007-12-18 | 2008-05-21 | 吉林大学 | 高功率半导体激光器可靠性检测方法 |
US20080319690A1 (en) * | 2007-06-20 | 2008-12-25 | Usa As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics & Space Administration | Forward Voltage Short-Pulse Technique for Measuring High Power Laser Diode Array Junction Temperature |
CN201853943U (zh) * | 2010-11-04 | 2011-06-01 | 美泰普斯光电科技(大连)有限公司 | 半导体激光器老化测试控制系统 |
CN108037390A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-05-15 | 武汉电信器件有限公司 | 一种筛选光模块退化的检测方法和装置 |
CN109802724A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-05-24 | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 | 监控光模块激光器寿命的方法、装置 |
CN116804697A (zh) * | 2023-06-25 | 2023-09-26 | 武汉敏芯半导体股份有限公司 | 激光器芯片的老化条件获取方法、系统及芯片筛选方法 |
-
2023
- 2023-09-27 CN CN202311258558.5A patent/CN117014066B/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1389963A (zh) * | 2001-10-26 | 2003-01-08 | 惠州市中科光电有限公司 | 半导体激光器老化筛选设备和筛选方法 |
CN101095269A (zh) * | 2004-02-21 | 2007-12-26 | 菲尼萨公司 | 用于粗波分复用系统的温度控制 |
US20080319690A1 (en) * | 2007-06-20 | 2008-12-25 | Usa As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics & Space Administration | Forward Voltage Short-Pulse Technique for Measuring High Power Laser Diode Array Junction Temperature |
CN101183136A (zh) * | 2007-12-18 | 2008-05-21 | 吉林大学 | 高功率半导体激光器可靠性检测方法 |
CN201853943U (zh) * | 2010-11-04 | 2011-06-01 | 美泰普斯光电科技(大连)有限公司 | 半导体激光器老化测试控制系统 |
CN108037390A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-05-15 | 武汉电信器件有限公司 | 一种筛选光模块退化的检测方法和装置 |
CN109802724A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-05-24 | 青岛海信宽带多媒体技术有限公司 | 监控光模块激光器寿命的方法、装置 |
CN116804697A (zh) * | 2023-06-25 | 2023-09-26 | 武汉敏芯半导体股份有限公司 | 激光器芯片的老化条件获取方法、系统及芯片筛选方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
卢洋洋;周平;朱巍巍;张磊;杨林;: "用于光学向量矩阵乘法器的光源阵列系统", 红外与激光工程, no. 01 * |
蒋列;周晓伟;倪演海;颜学龙;: "一种波长可调谐激光器的应用研究", 装备制造技术, no. 06 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117233457A (zh) * | 2023-11-16 | 2023-12-15 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种测试激光器高速调制电流的方法及设备 |
CN117233457B (zh) * | 2023-11-16 | 2024-03-12 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种测试激光器高速调制电流的方法及设备 |
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